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WO2000060660A1 - Procede de conception d'un dispositif a semi-conducteur et support d'enregistrement exploitable sur ordinateur - Google Patents

Procede de conception d'un dispositif a semi-conducteur et support d'enregistrement exploitable sur ordinateur Download PDF

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WO2000060660A1
WO2000060660A1 PCT/JP1999/001729 JP9901729W WO0060660A1 WO 2000060660 A1 WO2000060660 A1 WO 2000060660A1 JP 9901729 W JP9901729 W JP 9901729W WO 0060660 A1 WO0060660 A1 WO 0060660A1
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Kazuhiko Eguchi
Toshiyuki Majima
Teruya Tanaka
Kenji Oshima
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Hitachi, Ltd.
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    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
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    • G06F30/39Circuit design at the physical level
    • G06F30/392Floor-planning or layout, e.g. partitioning or placement

Definitions

  • FIG. 16 is an explanatory diagram showing an example of a membership function and fuzzy variables
  • Fig. 17 is a configuration diagram showing an example of an experimental software system
  • Fig. 18 is a configuration diagram showing a hardware system example
  • Figure 19 is an explanatory diagram showing an example of inference in the early generations
  • Fig. 20 is an explanatory diagram showing an example of initial placement by fuzzy inference
  • Fig. 21 is an explanatory diagram showing an example of an individual by genetic algorithm
  • Figs. 22 to 24 are examples of experimental results of fuzzy inference and genetic algorithm.
  • FIG. 25 is a graph showing an example of progress of costs
  • FIGS. 26 to 28 are explanatory diagrams showing examples of logical cluster division.
  • Fig. 5 shows a model of the arrangement of objects.
  • Fig. 5 (a) shows the shape and netlist of block 1
  • Fig. 5 (b) shows the chip area.
  • rectangular blocks 1 are shown connected by wiring paths.
  • the aspect ratio and dimensions of each rectangular block 1 are also shown.
  • This figure also shows semiconductor chips whose dimensions and aspect ratios correspond to each other.
  • the basic operation is as follows.
  • FIG. 16 shows the membership functions and fuzzy variables used in the experimental software.
  • the parameters for the fuzzy variables are determined based on the knowledge of the skilled technician.
  • Block 1 (A) is created by connecting Block 1 (B) and Block 1 (C).
  • Block 1 (B, C) is a lower-level block. It is created by connecting 1.
  • An example of such a hierarchical relationship is shown in Fig. 26, for example.
  • a to Z represent logic elements (block 1).

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Description

明 細 書 半導体装置の設計方法及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 技術分野
本発明は、 半導体装置の設計技術に関し、 特に V L S I (Very Large Scale Integration) などの集積回路を実装する半導体チップ設計の初心者に対して、 複 雑な設計の開始段階でよい初期条件を与えることができる半導体装置の設計方法、 およびその設計方法を実現するためのプログラムを記録したところのコンビユー タ読み取り可能な記録媒体に適用して有効な技術に関する。 背景技術
本発明者が検討した技術として、 V L S Iなどの集積回路を実装する半導体装 置の設計は、システム仕様に基づいて集積回路の機能設計を行う機能設計工程と、 これにより得られた設計データに基づいて集積回路を論理ゲートレベルで論理設 計を行う論理設計工程と、 これにより得られた設計データに基づいて論理ゲート をトランジスタレベルで回路設計を行う回路設計工程と、 論理設計工程により得 られた設計データと、 回路設計工程により得られた設計データとに基づいて論理 ゲートの配置 ·配線を行うレイァゥト設計工程などを含み、 設計技術者によりシ ステム仕様を満足するように前記各設計工程が進められ、 以降の製造 ·試験工程 を経て半導体装置が完成されるようになつている。
たとえば、 前記レイアウト設計工程において、 V L S Iのフロアプランとは、 V L S Iチップ上における機能ブロックの概略相対配置を決めることである。 い わゆるスタンダードセルと呼ばれる、 プリミティブな論理構成要素であるセル ( N A N Dゲート、 N O Rゲート、 フリ ップフロップなど) によって構成されるラ ンダムロジック回路の配置問題は、 長年に渡る、 数多くの研究者の努力により極 めて高度に自動化されており、 かつそれをインプリメントした有効な E D A ( Electronic Design Automation) ツーノレ力 レヽくつ力、商品ィ匕されてレヽる。
しかし、 近年の高度な V L S Iはスタンダードセルの部分だけではなく、 大き なメモリブロック、 C P Uモジュール、 数多くの周辺機器のブロック、 時にはァ ナログモジュールなども搭載する。 従って、 これらのブロックの相対配置を決め るフロアプランは、 最終的なチップのサイズと性能を決定付ける重要な設計工程 となっている。 既に、 いくつかのフロアプランツールが商品化されており、 これ らはチップ設計を支援する有益な情報を提供してユーザーフレンドリーなフロア プラン操作の環境を提供するが、 基本的には編集ツールである。
実際の設計現場では、 このフロアプランの配置判断はいまだに設計者の洞察力 に頼っている。 そして、 その結果 「誰が」 やったかに強く依存する。 かつ、 この 作業は手間がかかる仕事であり、 一般的に熟練技術者はより短い時間で、 初心者 あるいはまだ経験が十分でない技術者よりよい結果を与える。 しかし、 熟練技術 者であっても設計完了までに要する時間は最初にどんな情報が与えられたかに依 存する。 非熟練技術者の場合は、 設計結果である最終チップの設計品質、 設計完 了までに要する時間もどのような初期値が与えられたかに強く依存する。
そこで、 前記のような V L S Iのフロアプランについて、 本発明者が検討した 結果を以下に示す。 すなわち、 本発明においては、 自動設計によって一度に最終 設計結果を与えることよりも、 熟練技術者、 非熟練技術者を問わず、 フロアブラ ン設計開始に当たってのよりよい初期値を与えるにはどうしたらよいかを主眼と する。 このアプローチとして、
( 1 ) 最適化処理手法 (たとえば遺伝的アルゴリズム) によりグローバル最適化 問題として解くことを試みた。
( 2 ) 実際の設計現場には熟練技術者の知見とノウハウがいっぱいあるが、 言語 以前の形態で伝えられているものも多い。 これらを自然言語の形である程度整理 し、 フアジィルール化を試みた。
( 3 ) 前項で得られたフアジィルールを基にマクロなプロックの初期配置の推論 を試みた。 全部のブロックをフアジィ推論で求めるのはルールの複雑化とパラメ
—タ調整の困難化を招き現実性から遠ざかる。 しかし、 いくつかの決定優先度の 高いプロックはファジィ推論で十分決定できる有意性を確かめた。
( 4 ) 前項のフアジィ推論で求めた配置情報を遺伝的アルゴリズムの初期データ 生成に応用し、 フアジィ推論で実用的に決定できるプロックはそのままにして、 ファジィ推論で配置決定することに有意性が少ない、 または無いプロックは遺伝 的ァルゴリズムの最適化問題解決に任せる手法を考えた。
( 5 ) 上記 (1 ) か ( 4 ) 項をインプリメントする実験プログラムを開発し、 計算機実験を行い、 対象例によっては熟練技術者の設計結果に迫る結果を得るこ とができた。
詳細は後述するように、 この例では、 3種類の例題について、 熟練技術者によ る設計結果と遺伝的アルゴリズムだけによる結果、 初期世代の生成にフアジィ推 論を採用した結果の比較を示す。 遺伝的アルゴリズムだけの場合は、 熟練技術者 による結果とはまだ大きな開きがあるが、 フアジィ推論との組み合わせでは人間 が設計した結果に近い結果を得ることもできる見通しを得た。 たとえば、 遺伝的 アルゴリズムなどの最適化処理手法だけを用いた技術としては、 特開平 1 0— 2 7 5 1 7 5号公報に記載される技術などがある。
そこで、 本発明の目的は、 フロアプラン設計、 さらに論理クラスタ分割の開始 に当たってのよりよい初期値を与えることができ、 特に半導体チップ設計などの 複雑な設計の開始段階でよい初期条件を与えることができる半導体装置の設計方 法、 さらにこの設計方法をプログラムとして記憶したコンピュータ読み取り可能 な記録媒体を提供するものである。
本発明の前記ならぴにその他の目的と新規な特徴は、 本明細書の記述およぴ添 付図面から明らかになるであろう。 発明の開示
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、 次のとおりである。
本発明によれば、 前記 (1 ) 〜 (5 ) のアプローチに基づき、 遺伝的アルゴリ ズムなどの最適化処理手法と、 熟練技術者の知見とノウハウのフアジィルール化 によるフアジィ推論とを採用した設計方法が提供される。
次に、 さらに具体的に述べていくことにする。
本発明は、システム仕様に基づいて集積回路の機能設計を行う機能設計工程と、 これにより得られた設計データに基づいて集積回路を論理ゲートレベルで論理設 計を行う論理設計工程と、 これにより得られた設計データに基づいて論理ゲ一ト をトランジスタレベルで回路設計を行う回路設計工程と、 論理設計工程により得 られた設計データと、 回路設計工程により得られた設計データとに基づいて論理 ゲートの配置 ·配線を行うレイァゥト設計工程と、 を含む半導体装置の設計方法 に、 たとえば適用される。
すなわち、 本発明の一例による半導体装置の設計方法では、 前記各設計工程の 設計データの作成において、 フアジィ推論を用いて複数の設計データ群を作成す る工程と、 乱数的に複数の設計データ群を作成する工程と、 前記各工程により作 成された複数の設計データ群に基づいて、 最適化処理手法を用いて適合度の高い 設計データ群を選択する工程と、 この選択された設計データ群に基づいて、 最適 化処理手法を用いてさらに次の複数の設計データ群の作成を適合度の高い設計デ 一タ群を選択しながら順次繰り返して、 最適解となる設計データ群を作成するェ 程が設けられる。
また、 本発明による他の半導体装置の設計方法では、 前記各設計工程の設計デ —タの作成において、 フアジィ推論を用いて最適解となる一部分の設計データ群 を作成する工程と、 乱数的に複数の設計データ群を作成する工程と、 この作成さ れた複数の設計データ群に基づいて、 最適化処理手法を用いて適合度の高い設計 データ群を選択する工程と、 この選択された設計データ群に基づいて、 最適化処 理手法を用いてさらに次の複数の設計データ群の作成を適合度の高い設計データ 群を選択しながら順次繰り返して、 最適解となる他部分の設計データ群を作成す る工程が設けられる。
さらに、 本発明は、 前記半導体装置の設計方法をコンピュータに実行させるた めのプログラムを記録した、 コンピュータ読み取り可能な記録媒体をも提供する ものである。
特に、 本発明は、 前記レイアウト設計工程におけるフロアプランニングに適用 し、 最適化処理手法として遺伝的アルゴリズムを用い、 遺伝的アルゴリズムの初 期の設計データ群をフアジィ推論を用いて生成し、 最適解となる設計データ群を 用いて複数のブロックを半導体チップ上に配置するものである。 さらに、 このフ ロアプランニングにおけるコーディング、 評価関数、 突然変異、 フアジィ推論に ついては、 それぞれ後述において詳細する特徴を有するものである。 また、 本発明は、 前記論理設計工程における論理クラスタ分割に適用し、 最適 化処理手法として遺伝的アルゴリズムを用い、 遺伝的アルゴリズムの初期の設計 データ群をフアジィ推論を用いて生成し、 最適解となる設計データ群を用いて複 数のブロックをクラスタに分割するものである。 さらに、 この論理クラスタ分割 におけるフアジィ推論、 評価関数については、 それぞれ後述において詳細する特 徴を有するものである。
本願において開示される発明のうち、 代表的なものによって得られる効果を簡 単に説明すれば、 以下のとおりである。
( 1 ) 本発明の半導体装置の設計方法、 コンピュータ読み取り可能な記録媒体に よれば、 遺伝的アルゴリズムなどの最適化処理手法と、 技術者の知見とノウハウ のフアジィルール化によるフアジィ推論とが採用され、 レイアウト設計工程のフ ロアプランニングへ適用されることにより、 フロアプラン設計開始に当たっての よりよい初期値を与えることができるようになる。 特に、 半導体チップ設計の初 心者などに対して、 複雑な設計の開始段階でよい初期条件を与えることが可能と なる。
( 2 ) 本発明の半導体装置の設計方法、 コンピュータ読み取り可能な記録媒体に よれば、 遺伝的アルゴリズムなどの最適化処理手法と、 技術者の知見とノウハウ のフアジィルール化によるフアジィ推論とが採用され、 論理設計工程の論理クラ スタ分割へ適用されることにより、 論理クラスタの分割に当たってのよりよい初 期値を与えることができるようになる。 特に、 半導体チップ設計の初心者などに 対して、 複雑な設計の開始段階でよい初期条件を与えることが可能となる。
( 3 ) この結果、 本発明によれば、 レイアウト設計工程のフロアプランニング、 論理設計工程の論理クラスタ分割において、 よりよい初期状態によるフロアブラ ンニングと論理クラスタ分割とを提供することができるので、 熟練技術者、 非熟 練技術者を問わず、 半導体装置の設計における最終半導体チップの設計効率と設 計品質との両面でよりよい効果を得ることができる自動設計を実現することが可 能となる。 図面の簡単な説明
図 1は本発明の一実施の形態である半導体装置の設計方法を示すフロー図、 図 2は本実施の形態の半導体装置において、 フロアプランニング例を示す説明図、 図 3は遺伝的アルゴリズムを示すフロー図、図 4はコーディング例を示す説明図、 図 5は配置モデル例を示す説明図、 図 6は評価関数の評価項目例を示す説明図、 図 7は突然変異例を示す説明図、図 8から図 1 0はテストデータ例を示す説明図、 図 1 1から図 1 3は遺伝的アルゴリズムの実験結果例を示す説明図、 図 1 4およ ぴ図 1 5はフアジィ推論のルール例を示す説明図、 図 1 6はメンバーシップ関数 例とフアジィ変数例を示す説明図、 図 1 7は実験的ソフトウェアのシステム例を 示す構成図、 図 1 8はハードウェアのシステム例を示す構成図、 図 1 9は初期世 代の推論例を示す説明図、図 2 0はファジィ推論による初期配置例を示す説明図、 図 2 1は遺伝的アルゴリズムによる個体例を示す説明図、 図 2 2から図 2 4はフ アジィ推論と遺伝的アルゴリズムの実験結果例を示す説明図、 図 2 5はコストの 経過例を示すグラフ、 図 2 6から図 2 8は論理クラスタ分割例を示す説明図、 で ある。 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明の実施の形態を図 1〜図 2 8の図面に基づいて詳細に説明する。 なお、 実施の形態を説明するための全図において同一の部材には同一の符号を付 し、 その繰り返しの説明は省略する。
まず、 図 1により本実施の形態の半導体装置の設計方法の一例を説明する。 本実施の形態の半導体装置の設計方法は、 たとえば V L S Iチップの設計方法 とされ、 システム仕様に基づいて集積回路の機能設計を行う機能設計工程 (S 1 0 1 ) と、 これにより得られた設計データに基づいて集積回路を論理ゲートレべ ルで論理設計を行う論理設計工程 (S 1 0 2 ) と、 これにより得られた設計デー タに基づいて論理ゲートをトランジスタレベルで回路設計を行う回路設計工程 ( S 1 0 3 ) と、 論理設計工程により得られた設計データと、 回路設計工程により 得られた設計データとに基づいて論理ゲートの配置 ·配線を行うレイァゥト設計 工程 (S 1 0 4 ) などからなり、 これらの設計工程により得られた設計データに 基づいてチップ製造工程 (S I 05) が行われ、 さらにパッケージング 'テステ イング工程 (S 106) を経て半導体装置が完成されるようになっている。
本実施の形態においては、 各設計工程の設計データを作成する際に、 遺伝的ァ ルゴリズムなどの最適化処理手法と、 熟練技術者の知見とノゥハウのフアジィル ール化によるフアジィ推論とを用いて、 フアジィ推論で求めた配置情報を遺伝的 アルゴリズムの初期データ生成に応用し、 フアジィ推論で実用的に決定できるブ ロックはそのままにして、 フアジィ推論で配置決定することに有意性が少ない、 または無いプロックは遺伝的アルゴリズムの最適化問題解決に任せる手法を採用 したものである。
次に、 ステップ S 104のレイアウト設計工程におけるフロアプランニングに 適用した一例を、 たとえば図 2に示すように、 内部領域に各ブロック 1 (#0〜 #9) が配置され、 その周辺部に I ZOバッファ 2が配置されるような VL S I チップの配置 '配線について、 各項目別に順に説明する。 ここでは、 3種類の例 題について、 遺伝的アルゴリズム、 フアジィ推論を用いた例を示す。
1. 遺伝的アルゴリズムによるフロアプランニング
この遺伝的アルゴリズムの ED Aに対する幾つかの例は、 主としてこのアルゴ リズムの最適化の能力および局所的最適化を回避する能力を目的物として得るこ とができる。 ここでは、 遺伝的アルゴリズムの VL S I設計のフロアプランニン グ段階での応用を提案することにより、 半導体チップの設計の初心者であっても 複雑な設計工程の開始時点において、 よりよい初期条件を与えられるようにする 技術である。
この遺伝的アルゴリズムの一般的な手順は、たとえば図 3に一例を示すように、 まず、 初期世代を設定し (S 301) 、 評価関数による適合度を評価する (S 3 02) 。 そして、 次の世代への、 エリート保存 (S 303) 、 選択 Z交差 (S 3 04) 、 突然変異 (S 305) 、 淘汰 (S 306) を終了条件まで繰り返して行 う (S 307) 。 終了条件に達したことで終了となる。
1. 1. コーディング
コーディングとは、染色体と目的とする最適化問題との対応付けのことである。 この例に関するコーディング方式を、 たとえば図 4に示す。 図 4 (a) はチップ の内部領域に配置されるブロック 1、 図 4 (b) は染色体の構造を表す。 ここで、 各ブロック 1の寸法を示す幅を W、 高さを Hとして、 その中心の X— Y座標を ( X i, Y i ) 、 回転を R iとする。 たとえば R i = 0の場合は縦長、 R i = 1の 場合は横長の形状とする。
まず、 図に示すような X— Y座標を定義する。 この場合、 ブロック 1の回転も 考慮する。 3個の染色体を用意し、 これらをそれぞれ X染色体、 Y染色体、 回転 染色体とする。 図 4に示されている (X0, YO) に位置し、 回転 (R) が 0の ブロック 1 (#0) を以下に示すように表す。
• X染色体の 0番目の遺伝子は X 0である。
· Y染色体の 0番目の遺伝子は Y 0である。
•回転染色体の 0番目の遺伝子は 0である。
次に、 (X l, Y 1) に位置し、 90度回転したブロック 1 (# 1) を以下に 示す。
♦ X染色体の 1番目の遺伝子は X 1である。
· Y染色体の 1番目の遺伝子は Y 1である。
•回転染色体の 1番目の遺伝子は 1である。
ブロック 1同士が重なりあったり、 ブロック 1が枠からはみ出すことはこのコ 一ディング方式では許容されている。 この評価関数を評価することによってプロ ック 1同士の重なり合いやはみ出しを排除する方法を採用している。
1. 2. 遺伝的アルゴリズムのフロアプランニングに対する応用
目的物の配置のモデルを、 たとえば図 5に示す。 図 5 (a) はブロック 1の形 状とネットリスト、 図 5 (b) はチップ領域をそれぞれ表す。 この図において矩 形のブロック 1は配線経路により接続されて示されている。 おのおのの矩形プロ ック 1の縦横比および寸法も示されている。 この図にはそれぞれ寸法と縦横比が 対応した半導体チップも示されている。 基本的な操作は以下の通りである。
(1) 初期世代をランダムに発生させる。
(2) 評価関数を計算することにより適合度を評価する。
(3) 子孫を発生させる。 エリート個体を保存する。 選択、 交差、 突然変異を実 行する。 (4) 2および 3の操作を繰り返す。
(5) 発生操作をある程度繰り返した後、 最も良好な子孫を選択する。
1. 3. 評価関数
評価関数の構成要素のための最小アイテム数を熟練設計者のやり方を基に選択 する。 評価関数を評価するときは、 ブロック 1間の実質配線長 L i、 ブロック 1 同士の重複部分 S i、 ブロック 1の指定領域からのはみ出し部分 OV iを考慮に 入れる。 評価関数パラメータの計算は、 たとえば図 6に一例を示す。 図 6 (a ) は実質配線長、 図 6 (b) は重複部分、 図 6 (c) ははみ出し部分をそれぞれ表 す。 L iは接続本数により重み付けされた各プロック 1の実質中心間配線長であ り、 ブロック 1相互の配線長とブロック 1と I ZOバッファ 2との間の配線長と を含んでいる。 ブロック 1と I /〇バッファ 2との間の配線経路はブロック 1同 士の配線長に対して 1 0倍の重み付けを行っている。 I ZOバッファ 2の相互接 続の総数はピンの本数により制限を受ける。 VL S Iの外部ピンの本数は数十本 から数百本にわたり様々である。 現在の技術では、 1 0 2 4本のピン本数まで対 応可能である。 一方、 ブロック 1間の配線経路の本数は 1 03から 1 04のオーダ —である。 しかしながら、 1配線経路当たり Ι ΖΟバッファ 2の接続による配置 の品質に対する影響度は、 経験によると、 ブロック 1間の 1配線経路当たりのそ れの 1 0倍から 2 0倍である。
評価関数 Εは下記の式 1によって与えられる。
E = a∑ L i + j3 ∑ S i + 7 ∑OV i · · · 式 1
ここで、 α, β , γは重み付けとしての調整係数である。 各評価項目は図 6に 示される。 予備的な実験結果からひ = 1、 /3 = 1 0、 γ = 1 0 0 0が選定されて いる。
1. 4. 突然変異
突然変異とは、 たとえば図 7に一例を示すように、 前記図 4に示す染色体に対 して (図 7 ( a ) ) 、 選択されたブロック 1をある距離だけランダムに動かす ( 図 7 (b) ) とともに、 選択されたブロック 1の向きをランダムに変更する (図 7 ( c ) ) ことである。 この動かす距離はやはりランダムに決定されるが、 ある 決められた値よりも小さい値とする。 プロック 1群の中でどれくらい突然変異を 行うかの比率はプログラム可能であり、 経験に基づいて決定される。
1 . 5 . テストデータ
実験を目的として、 図 8、 図 9、 図 1 0に示すような 3つの例をテス トデータ として用意した。 テストデータは熟練した設計技術者により独自に設計されたも のに基づいている。 図 8および図 9に対応するテストデータ (1 ) および (2 ) は実際の設計の実施例から構成したものであり、 図 1 0に対応するテストデータ
( 3 ) は、 このアルゴリズムの性能を試すために意図的に作成したものである。 図 8、 図 9、 図 1 0において、 ブロック 1と I ZOバッファ 2間、 ブロック 1間 の配線は、 本数に対応した幅となっている。
プログラムに適用されるものは、 ネットリスト (内部のブロック 1および I Z
〇バッファ 2間の接続情報) 、 目的とするチップの寸法およびそれぞれのブロッ ク 1の寸法に関するデータのみである。
1 . 6 . 遺伝的アルゴリズムの実験結果
図 1 1、 図 1 2、 図 1 3は、 遺伝的アルゴリズムによりフロアプランニングを 行った場合の結果を示す。 各図の左側 (a ) は、 前記図 8から図 1 0の例に対応 したもので、 テストデータを用いて熟練者によって作成されたフロアプランを示 している。 右側の図 (b ) は、 実験的なプログラムにより作成された遺伝的アル ゴリズムの設計結果を示している。 それぞれの場合において、 評価関数の値、 す なわちコストは 6 0回から 6 5回の世代生成 (繰り返し世代) で一定値に収束す る。 初期世代における個体の数は 2 0 0 0に設定してある。 親から発生した子孫 の数は 1 5 0 %であり、 子孫の総数は合計で 3 0 0 0になる。 ただし、 次の世代 を生む親となり得る個体の数は 2 0 0 0である。 残りの 1 0 0 0個の個体は廃棄 される。 突然変異を発生させる比率は 8 %である。 上述のケースでは生き残りェ リートの数は 4 0である。
図 1 1によるテス トデータ (1 ) の場合では、 熟練設計者によって作成された 設計例のコス ト (すなわち評価関数の値) は 7 1 5 5である。 この数字はブロッ ク 1および I /Oバッファ 2間の実質配線長からなる。 従って、 この値が小さい ほど良好な結果が得られたことになる。 遺伝的アルゴリズムを用いて初期世代の 数を 2 0 0 0とし、 7 0世代まで発生させた場合のコストは 9 7 6 6であった。 4 6世代まで発生させたとき、 コス トはこの値に達し、 それ以降は向上が見られ なかった。 従って、 局所的な最適値に収束してしまったと見なし得る。
遺伝的アルゴリズムに基づいた結果を観察すると、 熟練設計者であれば、 技術 者としての個別的な経験に基づきブロック 1 ( # 9 ) 、 ブロック 1 ( # 2 ) およ ぴブロック 1 ( # 8 ) の位置が不適切であると指摘できる。
テス トデータ (2 ) の場合では、 遺伝的アルゴリズムを用いてテストデータ ( 1 ) の場合よりも良好な結果を得ている。 人手による設計ではコス トは 5 0 0 1 であったが、 遺伝的アルゴリズムにより発生させた設計ではコストは 5 2 6 6で あった。 しかしながら、 ここでも熟練技術者であればブロック 1 ( # 2 ) とプロ ック 1 ( # 0 ) は交換されてしかるべきであることが指摘できる。
テストデータ (3 ) に関しては、 遺伝的アルゴリズムに基づく結果は、 5 0世 代目に評価関数が飽和した後でも依然として望ましい水準に達していない。 この 範囲ではまだかなりの改善の余地がある。
2 . 遺伝的ァルゴリズムの分析の問題
遺伝的アルゴリズムは、 生物学の分野における進化の過程を蓋然論的にシミュ レーシヨンしたものである。 このアルゴリズムでは初期世代をランダムに、 無作 為化の方法 ほし数発生法) により決定することが多いので、 最終的な結果はこの 初期条件にしばしば左右される。
遺伝的アルゴリズムは、 一般的に全体的な最適化をめざすものであるが、 最終 結果は初期世代の組み合わせにかなり依存する。 すなわち、 突然変異の効果とし て発生する場合を除いて、 初期世代の遺伝子の中に含まれていなかった情報を構 成要素とする最終結果が生まれる可能性が極めて少ない。 初期世代を構成する個 体は多数そろえることで、よりよい結果を生み出すようにすることが必要である。 しかしながら、 初期世代に多数の個体を用意すると、 それだけで計算時間が必要 になる。 さらに満足のいく結果を得るために何回くらいの世代生成が必要となる かを予測することは困難である。
3 . 遺伝的アルゴリズムにおける初期世代に対して適用するフアジィ推論の提案 遺伝的アルゴリズムは、 最適化問題を解決するには優れた方法であるが、 上述 したように、 まだ多くの改善の余地がある。 産業の現場には実務的経験と多くの 知識の蓄積を有する多数の熟練者がいる。 ここでは、 熟練設計者の知識に基づい たフアジィ推論を、 遺伝的アルゴリズムの操作における最適な初期条件の設定に 応用する方法を提案する。
フアジィ理論は熟練者の知識に基づいて自動制御のシステムを構築する場合に 幅広く応用されている。 フアジィ理論は、 対象物が厳格な数学方程式またはアル ゴリズム的方法論によっては記述できないか、 または記述することが困難である 力 その対象物の极いは言葉によってなら記述できるような場合に優れた適合性 を発揮する。 フアジィ理論に基づいた推論 (フアジィ推論) は、 自動制御の分野 でよく知られている。
ここで、 提案する方法は、 経験を積んだ V L S I設計者の専門知識から抽出し たフアジィ推論を遺伝的アルゴリズムにおける限られた初期条件を得るために応 用するものである。 フアジィ推論を適用するためには、 専門家の知識を入手する 必要がある。 ただし、 自然言語によって記述されたフロアプランニングの配置問 題に適用される知識はしばしば複雑かつ曖昧である。
3 . 1 . 設計の知識
以下に示す一例は、 V L S I設計技術者がフロアプランニングをしているとき に考える事柄 (知識やノウハウ) を記したものである。 なお、 以下におけるモジ ュ一ルはブ口ック 1に対応する。
( 1 ) I ZOバッファ 2 (チップの周辺に配置される) の位置が与えられる。 ( 2 ) チップの外形ができる限り正方形になっているかどうかを確かめる。
( 3 ) チップの寸法ができる限り小さく設定されているかどうかを確かめる。
( 4 ) C P Uコアや R AMなどの比較的大きいブロック 1がチップの縁に沿って、 できれば角に配置されているかどうかを確かめる。
( 5 ) Iノ Oバッファ 2との接続性の高いモジュール (ブロック 1 ) は、 形状や 寸法に関わりなくダイの周辺部、 すなわちチップ領域の縁に沿って配置されるべ きである。
( 6 ) そのモジュールの I ZOバッファ 2との接続性が低い場合は、 モジュール (ブロック 1 ) 寸法がそれ程大きくないか、 あるいはそのモジュールのその他の モジュールとの接続性が高い場合は、 ダイの比較的中央部に配置されてもよい。 ( 7 ) I /Oバッファ 2と内側に配置されるモジュール (ブロック 1 ) との接続 性は、 遠心系と類似に考えることができ、 また内側に配置されるモジュール同士 の接続 14は求心系と類似に考えることができる。
( 8 ) モジュール (ブロック 1 ) 同士はもし相互に高い接続性を呈するのであれ ば、 隣接して配置されるべきである。
上記のガイ ドラインは当然のことながら断定的なものではなく、 実際の設計の シチュエーションでは、 特性、 性能、 コス ト、 その他を比較考量して多くの一層 詳しいガイ ドラインが必要となる。 ただし、 上述の情報に基づいて遺伝的ァルゴ リズムの初期世代に対してファジィ推論を実施するときは、 応用の一般性が損な われることはない。
3 . 2 . フアジィのノレ一ノレ
以下の推論のためのルールは、 上述の設計に関するガイ ドラインに基づいて導 かれる。
( 1 ) チップの中心部付近に配置されるモジュール (ブロック 1 ) は、 I ZOバ ッファ 2に対して接続性の低いものを選び、 このモジュールに対して接続性の高 いモジュールは隣接する位置に配置する。 ただし、 この中心部付近に配置される べきモジュールは、 前述のルールにより選択されたモジュールである場合を除き 比較的小さいモジュールであるべきである。
( 2 ) 隅に配置されるべきモジュール (ブロック 1 ) としては (4つの隅すベて に同様にいえることであるが) 、 寸法が大きく隣接するモジュールに対して中程 度の接続性を有するものを選ぶ。
( 3 ) I ZOバッファ 2に対して比較的高い接続性を有するモジュール (プロッ ク 1 ) は、 有効チップ領域の周辺部に沿って配置されるべきである。 ただし、 前 述のルールの適用の結果としてこの周辺領域が既に他のモジュールが割り当てら れているときは、 この限りではない。
ファジィ推論における上述のルールは、 たとえばチップの中心部付近に配置さ れるモジュールに関しては図 1 4、 チップの隅に配置されるべきモジュールに関 しては図 1 5のようにそれぞれ示すことができる。 たとえば図 1 4において、 I ZOバッファ 2との接続性が低く、 他のモジュールとの接続性が高い場合におい W て、 ブロック 1の寸法が小さい場合には適合度が高く、 中程度の場合には中程度、 大きい場合には適合度が低くなることを表している。 他の場合においても同様で ある。
上述のフアジィのルールのために、 メンバーシップ関数およびフアジィ変数が 開発されている。 たとえば、 図 1 6は、 実験的なソフトウェアにおいて採用され ているメンバ一シップ関数およびフアジィ変数を示すもので、プロック 1の寸法、 モジュール (ブロック 1 ) 間の接続性および I ZOバッファ 2との接続性を評価 するためのものである。 フアジィ変数のためのパラメータは熟練技術者の知識に 基づいて決定される。
たとえば、 図 16 (a) に示す I /Oバッファ 2との接続性については、 配線 量を正規化し、 その平均値を 1. 0とした場合に、 1. 0以下で接続性が低く、 2. 0以上で接続性が高いとしている。 図 16 (b) に示す他のモジュール (ブ ロック 1) との接続性についても、 0. 5以下で接続性が低く、 0. 8付近で接 続性が中程度、 1. 3以上で接続性が高いとしている。 また、 図 16 (c) に示 すブロック 1の寸法については、 平均値を 1. 0にして、 0. 6以下で小さく、 1. 0付近で中程度、 3. 0以上で大きいとしている。 さらに、 適合度の高い、 中程度、 低い位置は図 16 (d) のようになる。
4. 実施
この提案の有効性を検証するための実験的なソフトウエアが開発されており、 このソフトウェアの概要を図 17に示す。 このソフトウェアにおいては、 メイン コントローラ 1 1により、 前述したフアジィ推論 12、 遺伝的アルゴリズム 13 の各機能を動作させ、 結果出力 14を介して図面をリポートとして出力するよう な構成となっている。 フアジィ推論 1 2の機能においては、 パラメータと入力デ —タを読み込み (S 1 701) 、 パラメータ調整の有無を判定し (S 1702) 、 パラメ一タ調整が必要な場合にはパラメータを調整して (S 1 703) 、 チップ の中心部、 隅に配置するブロック 1を推論する (S 1 704) 。 この推論結果を 遺伝的アルゴリズム 1 3の機能において、 初期世代を発生し (S 1705) 、 選 択、 交差、 突然変異、 エリート保存、 淘汰を繰り返して実行する (S 1706) 。 このソフトウェアは、 たとえば図 18に示すように、 前記メインコントローラ 1 1の他に、 R OM、 R AMなどの記憶装置 2 1、 キーボード、 マウスなどの入 力装置 2 2、 ディスプレイ、 プリンタなどの出力装置 2 3、 ディスク装置などの 補助記憶装置 2 4などのハードウエアからなるコンピュータシステム上で動作す るように構成されている。 前記フアジィ推論 1 2、 遺伝的アルゴリズム 1 3など の各アルゴリズムは、 たとえば補助記憶装置 2 4に挿抜自在とされる C D— R O Mなどの記録媒体 2 5にプログラムとして記録され、 このプログラムが記録媒体 2 5から記憶装置 2 1に読み出され、 メインコントローラ 1 1の制御に基づいて 各処理が実行される。
このソフトウェアでは、 遺伝的アルゴリズム 1 3を適用するに先立って、 前記 3 . 2において説明したフアジィのルールに基づいたフアジィ推論 1 2によりブ ロック 1の位置を推論する。 このソフトウェアは、 さらに必要があればフアジィ 変数のためのパラメータを調整する。 このパラメータ調整の手順は、 逆方向伝達 法 (Back propagation Method ; に従つ。
このソフトウエアでは、 まずチップの中心部付近に配置するのに最も適したブ ロック 1を見い出すことを試みる。 このソフトウェアでは、 前記図 1 4に示した フアジィのルールおよび前記図 1 6において説明したメンバーシップ関数を採用 している。 この手続きにより選択されたプロック 1がチップの中心部に配置され る。 選択されたブロック 1は後続のステップの対象物から除外される。
次に、 このソフトウェアでは、 前記図 1 5において説明したフアジィのルール に基づいて各ブロック 1と各隅との適合値を評価する。 メンバ一シップ関数は、 上述したものと同様である。 4つの隅は左上、 左下、 右下および右上の 4隅であ る。 ここでブロック 1 と隅との組み合わせの適合値を試算する。 ブロック 1とこ れが配置される隅との最良の組み合わせが最良の適合性をもたらす。 そこで、 選 択された最良の組み合わせのブロック 1がその隅に配置され、 さらに配置された プロック 1がチップの境界線からはみ出していないことが確認される。
次に、 このソフトウェアでは、 残りのブロック 1の組み合わせを調べ、 残りの 隅に対するプロック 1の配置の仕方の候補を選択する。 このソフトウェアでは、 大きな数字から先に並べられた適合値に従って、 各隅に対する最も適する候補を 発見するように試みる。 ただし、 適合値の程度がある値よりも小さいときは、 こ のソフトウエアでは推論のプロセスを終了し、 2つまたは 3つの候補を推薦する にとどめる。
一旦、 推論の結果が得られると、 従来の方法でも採用されている同様の方法に 従って初期世代をランダムに発生させる (乱数発生) 。 推論されたブロック 1の 遺伝子を推論の結果に基づいて書き換える。 遺伝子の書き換えを行う比率は自由 にプログラミングできる。 ただし、 適合値がある値よりも大きいときは、 その遺 伝子を 1 00%書き換える。 また、 この適合値がその値を下回るときは、 その適 合値により遺伝子の 1 00%ではないあるパーセンテージが書き換えられる。 こ のとき、 このソフトウェアでは通常の遺伝的アルゴリズムを開始する。 たとえば 一例として、 図 1 9はテストデータ (1) の場合の上述のプロセスを示している。 このとき、 ソフトウェアがブロック 1の幾何学的配置と接続性に関する情報と を入力パラメータの組としてデータファイルから読み取る。 このデータファイル カ らはフアジイバラメータも読み出す。 接続性情報は、 表形式で表された接続性 マトリクスにより表現される。 表の右半分はブロック 1と I 〇バッファ 2との 間の接続情報、 左半分はプロック 1間の接続情報をそれぞれ表す。
表に記載されている数はブロック 1間の配線量を正規化した数値である。 1/ Oバッファ 2との接続に関するものはその配線量に対して 1 0倍の重み付けを行 つている。 これは I /Oバッファ 2とブロック 1との配線の絶対値は、 ブロック 1同士の配線の場合と比較してフロアプラン配置における影響力が大きいにも関 わらず、 小さく (全ピン数により制限を受けている) 表現されているからである。 まず、 このソフトウェアでは、 フアジィ推論 1 2によりブロック 1 (# 3) が 中央に配置されるブロック 1として選択される。 その適合値は 0. 80823で ある (S 1 901 ) 。
次に、 隅に配置するブロック 1の組み合わせを推論する。 この場合における最 良の適合性を示す配置は、 ブロック 1 (# 1) を右上隅に配置することである ( 適合値は 0. 5475 1 6) (S 1 902) 。 次に考えられる適合性はブロック 1 (# 0) を左上隅に配置することである (適合値は 0. 459838) (S 1 903) 。 さらに次の適合性は、 ブロック 1 (#4) を左下隅に配置することで ある。 このブロック 1 (#4) の適合値は 0. 3095 1 7である (S 1 904 ) 。 上述の例は意味のある推論である。
右下隅に配置されるべきブロック 1としては、 ブロック 1 (# 7) とブロック 1 (# 9) が候補として考えられる (S 1 9 0 5) 。 しかしながら、 適合値が極 めて小さく、 それぞれ 0. 1 5 0 2 0 4と 0. 1 0 5 0 7 1であるので、 これら の数値が意味のある推論結果と結びつくか否かを判断することは困難である。 ここで編集と併合の機能に基づいてランダムに生成した初期世代の書き換えを 行う (S 1 9 0 6) 。 推論結果が意味のあるときは、 遺伝子の 1 0 0%が置き換 えられる。 右下隅におけるブロック 1 (# 7) とブロック 1 (# 9) のように適 合値が低い (0. 2を下回る) 場合は、 ブロック 1 (# 7) を当てはめる場合と ブロック 1 (# 9) を当てはめる場合とを作成し、 結果の良好な方を採用する。 本実験プログラムはおよそ 4 5 0 0行のコードからなり、 C言語により記述さ れている。
4. 1. 実施の個体例
図 2 0、 図 2 1は、 フアジィ推論 1 2で求められたプロック 1の位置情報 (座 標値など) の、 遺伝的アルゴリズム 1 3の処理への反映方法を示したものである。 図 2 0において、 実線のブロック 1 (# 3, # 0, # 4, # 7, # 1 ) はファ ジィ推論 1 2で求められたものであり、 残りのブロック 1 (破線で示す # 2, # 5, # 6, # 9, # 8) はフアジィ推論 1 2では決定しないで遺伝的ァルゴリズ ム 1 3に任せたものとする。
各ブロック 1に対して、 図 2 1に示すように複数の個体 1から個体 nがあり、 大文字はフアジィ推論 1 2によって求められたブロック 1の中心座標値を示す。 ただし、 回転 (]" = 0または1 ) は乱数発生に従うので、 それぞれのケースにつ いてチップエリアからはみ出さないように調整を行う。 従って、 たとえばブロッ ク 1 (# 0) についていえば、 r 0 = 0の場合の (AO, B O) 、 r 0 = 1の場 合の (A 0, B O) の値は異なるが、 r 0が同じであれば全個体をとおして同一 値となる。 また、 イタリック体数字は乱数により発生する値を示す。
従って、 図 2 1のように、 ブロック 1 (# 0, # 1, # 3 , # 4, # 7 ) につ いては、 フアジィ推論 1 2で決定された値 (遺伝子) が最終解まで引き継がれる。 一方、 ブロック 1 (# 2, # 5, # 6, # 8, # 9) においては、 乱数発生され た値が遺伝的アルゴリズム 1 3により最適化され、 終了条件が成立した時点にお ける最良の個体を解として選択する。 この最良の個体がフロアプランニングにお けるブロック配置の設計データ群となる。
5. 実験結果
図 22、 図 23、 図 24は、 フアジィ理論によるフアジィ推論 1 2を適用した 初期世代に基づいた遺伝的アルゴリズム 1 3によるフロアプランニングをコンビ ユータで実験した結果を示したものである。
5. 1. テストデータ (1)
図 22は、 テス トデータ (1) に関してフアジィ推論 1 2と遺伝的ァルゴリズ ム 1 3とを適用した場合の結果を示している (右側の図 (b) 、 左側 (a) は熟 練設計技術者による結果) 。
ブロック 1 (# 3) が中央に配置され、 ブロック 1 (# 0) が左上隅に配置さ れ、 ブロック 1 (#4) が左下隅に配置され、 ブロック 1 (# 1) が右上隅に配 置され (これは推論の結果) ている点は熟練設計技術者による設計結果と同じで ある。 これらの条件は初期条件として設定され、 遺伝的アルゴリズム 1 3による 操作をしているときでも変更されることのない条件として維持される。 図 22に 示すように、 右下隅に配置されるブロック 1の候補は数 1 0%である。 残りのブ ロック 1がどのように配置されるかは遺伝的アルゴリズム 1 3に委ねられている。 この結果は 1 000個の初期世代に対して 50回の発生操作をすることにより得 られたものである。 必要とされた計算時間は遺伝的アルゴリズム 1 3のみにより 設計を行った場合と比較してはるかに少ないものであった。 前記図 1 1に示す結 果を得るのに要した時間は、 たとえば S p a r c 1 0上で 4時間であつたが、 図 21に示す例では 40分であった。 この実験的ソフトウェアによる結果のコスト は 7476であった。 この値は熟練設計技術者が設計した場合の 7 1 55に近い コストである。 遺伝的アルゴリズム 1 3のみを用いた場合のコストである 976 6と比較すると実質的な進歩が達成できたといえる。
この結果の視覚的印象は良好である。 熟練者が考察して評価した結果では、 実 際的応用に大きな潜在能力があると認められた。
5. 2. テス トデータ (2) 図 23は、 テストデータ (2) の結果を示すものである。 各ブロック 1の相対 位置は熟練設計技術者による設計結果と同様である。
適合値は、 チップの中央に配置するブロック 1 (# 3) の場合が 0. 741 5 09、 左上隅に配置されたブロック 1 (# 0) の場合は 0. 5 1 6279、 左下 隅のブロック 1 (# 5) は 0. 42 1 739、 右下隅のブロック 1 (# 7) は 0. 304884、 右上隅のブロック 1 (# 1) は 0. 242806である。 50回 の世代生成を行った後の結果のコストは 4820であった。 これは初期世代を 1
000個(遺伝的アルゴリズム 1 3のみの場合の半数) に設定した場合であるが、 この遺伝的アルゴリズム 1 3のみの結果と比較して 8%の改善が得られた。 この 値は熟練設計者による結果と比較すると改善されている。
5. 3. テストデータ (3)
図 24は、 テストデータ (3) の結果を示すものである。 チップの中央に配置 されているブロック 1 (# 9) の適合値は 0. 740964であり、 左上隅に配 置されているブロック 1 (# 8) の適合値は 0. 586265である。 右上隅に 配置されているブロック 1 (# 7) の適合値は 0. 231 984である。 左下隅 に対して最も大きな適合性を示すブロック 1はブロック 1 (# 0) でありこれの 適合値が 0. 1 57509であり、 次に大きな適合性を示すプロック 1がプロッ ク 1 (# 1) であり、 0. 1 21 322である。 ブロック 1 (#4) を右下隅に 配置すると 0. 1 2 1 322、 もしブロック 1 (# 1) を右下隅に配置すると、 このときの適合値は 0. 1 1 0256となり、 ブロック 1 (# 6) の場合は 0.
1 10256となる。
このようにして得られた経験と予備的な実験によって分かることは、 適合値が 0. 2を下回った場合はそれが意味をなすかどうかは判断が困難であるとレ、うこ とである。
このことから、 左上隅および右上隅の場合は、 フアジィ推論 1 2により得られ た結果に基づいて配置されるブロック 1の適合性を明らかに上回るブロック 1は 存在しないことが分かる。 し力 しながら、 左下隅に対する配置では、 ブロック 1 (# 0) およびブロック 1 (# 1) がその他のブロック 1と比較してやや適合性 が高いといえる。 右下隅に対する配置では、 ブロック 1 (#4) およびブロック 1 (# 1) がやや適合性の高い候補であるといえる。 ブロック 1 (# 1) を右下 隅に配置した場合の適合値は 0. 1 1 0256であり、 逆に左下隅に配置した場 合の適合値は 0. 1 2 1 322である。 従って、 後者の場合について試行を行つ た。 ブロック 1 (# 9) を中央に配置すること、 ブロック 1 (# 8) を左上隅に 配置すること、 およびブロック 1 (# 7) を右上隅に配置することは固定的なも のとする。 このような条件の下で、 以下の 3通りの組み合わせの善し悪しを調べ ることにする。 すなわちブロック 1 (# 1) を左下隅にブロック 1 (#4) を右 下隅に配置する組み合わせ、 ブロック 1 (# 0) を左下隅にブロック 1 (#4) を右下隅に配置する組み合わせ、 ブロック 1 (# 0) を左下隅にブロック 1 (# 1) を右下隅に配置する組み合わせの 3通りである。
ブロック 1 (# 1) を左下隅に、 ブロック 1 (#4) を右下隅に配置する組み 合わせが最良のコストパフォーマンスとなった。 この場合のコストは 6627で あり、 人手で行った場合の 660 1に近づいており、 遺伝的アルゴリズム 1 3の みで行った場合のコストが 9324であることと比較すると大きく改善している。 この結果を考察したところ、 テストデータ (1) とテストデータ (2) の場合 と同様に十分に満足のいくものであった。 従って、 この目的である 「半導体チッ プ設計などの複雑な設計の開始段階でよい初期条件を与える」 とレ、うことは達成 されたといえる。
5. 4. コスト (評価関数値) の変化
前記式 1により定義される評価関数に基づいてコス トが算出される。 図 25は テストデータ (1) の世代数に対するコストの変化を示すグラフである。
ランダムに発生された初期世代 (個体数 1 000) での遺伝的アルゴリズム 1
3は世代生成 50回でコス トが収束してしまい、 コス トの 10000程度からそ れ以上の改善はほとんどない。 この遺伝的アルゴリズム 1 3は局所的最適条件に 落ち込んでしまった。
初期世代数を 1 000としてフアジィ推論 1 2を伴ったときの遺伝的アルゴリ ズム 1 3の場合は 45世代あたりで収束し、 この場合は熟練者が設計を行った場 合に対してほぼ同レベルに接近している。
6 · ^口 0BH 従って、 前記図 1のステップ S 1 0 4のレイァゥト設計工程におけるフロアプ ランニングに適用した場合において、 V L S Iのフロアプランニングを行うにあ たっては、 遺伝的アルゴリズム 1 3の初期世代を準備するためにフアジィ推論 1 2を適用することを提案してきたが、 実験結果によりこれが実際的な応用にかな り可能性があることが分かった。 この目的は、 「半導体チップ設計などの複雑な 設計の開始段階でよい初期条件を与える」 ということにあるが、 この目的は概ね 達成することができた。 さらに、 実務的経験に基づいてフアジィ推論 1 2のパラ メータを一層適切に調整したり、 各ブロック 1の適合値が低い場合の遺伝子の扱 いなどを考慮することで、 設計効率と設計品質との両面でよりよい効果を得るこ とができる。
次に、 前記図 1のステップ S 1 0 2の論理設計工程における論理クラスタ分割 に適用した一例を、 前記フロアプランニングと同様のフアジィ推論 1 2 a、 遺伝 的アルゴリズム 1 3 aを用いた場合について説明する。
1 1 . 遺伝的アルゴリズムにおける論理クラスタ分割
前記のような V L S Iの設計において、チップ全体を一括して処理することは、 データ規模の点から効率的ではなく、いくつかのプロック 1に分ける必要があり、 これは主にレイァゥトの段階で顕著になる。 大規模な回路を一括で自動配置 ·配 線することは、 ブロック 1内の実装率 (面積当たりのトランジスタ数) の低下を もたらし、 小規模な多数のブロック 1を使用することはブロック 1間の配線領域 の增大を招く。 この解決のためには論理データを適した範囲の大きさに分割する ことが効果的である。
論理データは、通常、 たとえば図 2 6に一例を示すように階層的に作成される。 図 2 6でブロック 1 (A) は、 ブロック 1 ( B ) およびブロック 1 ( C ) とを結 線することで作成されており、 同様にブロック 1 ( B, C ) もさらに下位のプロ ック 1を結線することで作成される。 このような階層関係を表した例を、 たとえ ば図 2 6に示す。 図中、 A〜Zは論理素子 (ブロック 1 ) を表す。
このような論理データを、 その階層構造に着目し、 適したデータをグループに 分割することが、 論理クラスタの分割である。 この分割の例を、 たとえば図 2 8 に示す。 このクラスタ分割を、 前記フロアプランニングと同様に自動化する方法 の一例を以下に示す。
1 2 . 実施
まず、 1つのブロック 1に含まれる論理素子数および内部ネット数が適した範 囲にあり、かつ外部との接続ネット数が少ないものをフアジィ推論により求める。 このとき、 図 2 8のブロック 1 ( C ) のように、 既にクラスタとして求めたもの を含む論理階層の場合、 そのクラスタを除いた範囲をクラスタとして考える。 図 2 7の例では、 クラスタ 3を除きクラスタ 2を作成する。 このフアジィ推論 1 2 aは、全ての階層のブロック 1について行い、該当したものだけをクラスタとし、 該当しない部分は未定のまま残す。
次に、 残った部分に対し乱数的にクラスタの初期値を決定し、 遺伝的アルゴリ ズム 1 3 aにより最適解を求める。 このときの評価関数は、 (クラスタ内の論理 素子数とネット数から求めた推定面積 +プロック 1間ネット数から求めた推定配 線面積) とし、 これが最小のものを選択することで行う。 ここでの面積の推定方 法は、 経験的関数として予め定義しておく。
なお、 面積を最小とする目的や、 このための評価関数は一例であり、 論理回路 を分割する目的に応じた推論ルールと評価関数を用意することで、 全ての論理回 路の分割を自動化することが可能となる。
1 3 · ? fe p冊
従って、 論理設計工程における論理クラスタ分割に適用した場合にも、 論理デ —タを適した範囲の大きさに分割することができるので、 大規模な回路を一括で 自動配置 ·配線する際のプロック 1内の実装率の低下を抑え、 小規模な多数のブ ロック 1を使用する際のプロック 1間の配線領域の増大を抑制することが可能で ある。
以上、 本発明者によってなされた発明をその実施の形態に基づき具体的に説明 したが、 本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、 その要旨を逸脱し ない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。 たとえば、 遺伝的ァルゴ リズムの他に、 シミュレーテツド ·ァニーリングなどの他の最適化処理手法を用 いることも可能である。 あるいは、 フアジィ推論で得られた結果を制約条件 (初 期条件) として、 残りを他のヒューリスティック (発見的) 手法を用いることも 可能である。 産業上の利用可能性
以上のように、 本発明にかかる半導体装置の設計技術は、 特に V L S Iなどの 集積回路を実装する半導体チップ設計の初心者に対して、 複雑な設計の開始段階 でよい初期条件を与えることができる半導体装置の設計方法に有用であり、 この 半導体装置の設計方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録した コンピュータ読み取り可能な記録媒体などにも適用することができる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . システム仕様に基づいて集積回路の機能設計を行う機能設計工程と、
前記機能設計工程により得られた設計データに基づいて前記集積回路を論理ゲ —トレベルで論理設計を行う論理設計工程と、
前記論理設計工程により得られた設計データに基づいて前記論理ゲートをトラ ンジスタレベルで回路設計を行う回路設計工程と、
前記論理設計工程により得られた設計データと、 前記回路設計工程により得ら れた設計データとに基づいて前記論理ゲートの配置 ·配線を行うレイァゥト設計 工程と、 を含み、 前記各設計工程の設計データの作成において、
フアジィ推論を用レ、て複数の設計データ群を作成する第 1工程と、
乱数的に複数の設計データ群を作成する第 2工程と、
前記第 1工程により作成された複数の設計データ群と、 前記第 2工程により作 成された複数の設計データ群とに基づいて、 最適化処理手法を用いて適合度の高 V、設計データ群を選択する第 3工程と、
前記第 3工程により選択された設計データ群に基づいて、 前記最適化処理手法 を用いてさらに次の複数の設計データ群の作成を適合度の高い設計データ群を選 択しながら順次繰り返して、 最適解となる設計データ群を作成する第 4工程と、 を有することを特徴とする半導体装置の設計方法。
2 . システム仕様に基づいて集積回路の機能設計を行う機能設計工程と、
前記機能設計工程により得られた設計データに基づいて前記集積回路を論理ゲ 一トレベルで論理設計を行う論理設計工程と、
前記論理設計工程により得られた設計データに基づいて前記論理ゲートをトラ ンジスタレベルで回路設計を行う回路設計工程と、
前記論理設計工程により得られた設計データと、 前記回路設計工程により得ら れた設計データとに基づいて前記論理ゲートの配置 ·配線を行うレイァゥト設計 工程と、 を含み、 前記各設計工程の設計データの作成において、
フアジィ推論を用いて最適解となる一部分の設計データ群を作成する第 1工程 と、 乱数的に複数の設計データ群を作成する第 2工程と、
前記第 2工程により作成された複数の設計データ群に基づいて、 最適化処理手 法を用いて適合度の高い設計データ群を選択する第 3工程と、
前記第 3工程により選択された設計データ群に基づいて、 前記最適化処理手法 を用いてさらに次の複数の設計データ群の作成を適合度の高い設計データ群を選 択しながら順次繰り返して、 最適解となる他部分の設計データ群を作成する第 4 工程と、 を有することを特徴とする半導体装置の設計方法。
3 . 請求項 1または 2記載の半導体装置の設計方法であって、 前記レイアウト設 計工程は、 複数のプロックを半導体チップ上に配置 ·配線するフロアプランニン グであり、
前記最適化処理手法として遺伝的アルゴリズムを用い、 前記遺伝的ァルゴリズ ムの初期の設計データ群を前記フアジィ推論を用いて生成し、 前記最適解となる 設計データ群を用いて前記複数のブロックを前記半導体チップ上に配置すること を特徴とする半導体装置の設計方法。
4 . 請求項 3記載の半導体装置の設計方法であって、 前記フロアプランニングに おけるコーディングは、
前記各プロックの中心 X— Y座標および回転と、 前記遺伝的アルゴリズムの染 色体とを対応付けすることを特徴とする半導体装置の設計方法。
5 . 請求項 3記載の半導体装置の設計方法であって、 前記フロアプランニングに おける評価は、
前記各ブロック間の実質配線長を L i、 重複部分を S i、 指定領域からのはみ 出し部分を O V iとし、 重み付けの係数をひ, β, γとして、
E = a∑L i + j3∑S i + y∑O V i
の評価関数 Eより求めた値に基づいて前記各プロックの配置 ·配線を評価するこ とを特徴とする半導体装置の設計方法。
6 . 請求項 3記載の半導体装置の設計方法であって、 前記フロアプランニングに おける突然変異は、
前記複数のブロックのうち、 任意のブロックを所定の距離だけ所定の方向に動 かすとともに、 このプロックの向きを所定の方向に変更することを特徴とする半 導体装置の設計方法。
7 . 請求項 3記載の半導体装置の設計方法であって、 前記フロアプランニングに おける前記フアジィ推論は、
前記半導体チップの中心部付近に配置されるプロックは Iノ0バッファに対し て接続性が低く、 寸法が小さいものを選択し、
前記半導体チップの隅に配置されるプロックは寸法が大きく、 隣接するプロッ クとの接続性が中程度のものを選択し、
前記 I Ζοバッファに対して接続性が高いプロックは前記半導体チップの周辺 部に沿って配置する、
というルールに基づくものであることを特徴とする半導体装置の設計方法。
8 . 請求項 1または 2記載の半導体装置の設計方法であって、 前記論理設計工程 は、 複数のプロックをクラスタに分割する論理クラスタ分割であり、
前記最適化処理手法として遺伝的アルゴリズムを用い、 前記遺伝的ァルゴリズ ムの初期の設計データ群を前記フアジィ推論を用いて生成し、 前記最適解となる 設計データ群を用いて前記複数のプロックを前記クラスタに分割することを特徴 とする半導体装置の設計方法。
9 . 請求項 8記載の半導体装置の設計方法であって、 前記論理クラスタ分割にお ける前記フアジィ推論は、
前記各ブロックに含まれる論理素子数および内部ネット数が所定の範囲にあり、 かつ外部との接続ネット数が少ないブロックを求める、 というルールに基づくも のであることを特徴とする半導体装置の設計方法。
1 0 . 請求項 8記載の半導体装置の設計方法であって、 前記論理クラスタ分割に おける評価は、
前記クラスタ内の論理素子数とネット数とから求めた推定面積と、 前記ブロッ ク間のネット数から求めた推定配線面積と、 を加算した評価関数より求めた値に 基づいて前記クラスタの分割を評価することを特徴とする半導体装置の設計方法。
1 1 . システム仕様に基づいて集積回路の機能設計を行う機能設計工程と、 前記機能設計工程により得られた設計データに基づいて前記集積回路を論理ゲ 一トレベルで論理設計を行う論理設計工程と、 前記論理設計工程により得られた設計データに基づいて前記論理ゲートをトラ ンジスタレベルで回路設計を行う回路設計工程と、
前記論理設計工程により得られた設計データと、 前記回路設計工程により得ら れた設計データとに基づいて前記論理ゲートの配置 ·配線を行うレイァゥト設計 工程と、 を含み、 前記各設計工程の設計データの作成において、
フアジィ推論を用いて複数の設計データ群を作成する第 1工程と、
乱数的に複数の設計データ群を作成する第 2工程と、
前記第 1工程により作成された複数の設計データ群と、 前記第 2工程により作 成された複数の設計データ群とに基づいて、 最適化処理手法を用いて適合度の高 い設計データ群を選択する第 3工程と、
前記第 3工程により選択された設計データ群に基づいて、 前記最適化処理手法 を用いてさらに次の複数の設計データ群の作成を適合度の高い設計データ群を選 択しながら順次繰り返して、 最適解となる設計データ群を作成する第 4工程と、 を有する半導体装置の設計方法をコンピュータに実行させるためのプログラム を記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
1 2 . システム仕様に基づいて集積回路の機能設計を行う機能設計工程と、 前記機能設計工程により得られた設計データに基づいて前記集積回路を論理ゲ ―トレベルで論理設計を行う論理設計工程と、
前記論理設計工程により得られた設計データに基づいて前記論理ゲートをトラ ンジスタレベルで回路設計を行う回路設計工程と、
前記論理設計工程により得られた設計データと、 前記回路設計工程により得ら れた設計データとに基づいて前記論理ゲートの配置 ·配線を行うレイァゥト設計 工程と、 を含み、 前記各設計工程の設計データの作成において、
フアジィ推論を用いて最適解となる一部分の設計データ群を作成する第 1工程 と、
乱数的に複数の設計データ群を作成する第 2工程と、
前記第 2工程により作成された複数の設計データ群に基づいて、 最適化処理手 法を用いて適合度の高い設計データ群を選択する第 3工程と、
前記第 3工程により選択された設計データ群に基づいて、 前記最適化処理手法 を用いてさらに次の複数の設計データ群の作成を適合度の高い設計データ群を選 択しながら順次繰り返して、 最適解となる他部分の設計データ群を作成する第 4 工程と、
を有する半導体装置の設計方法をコンピュータに実行させるためのプログラム を記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
1 3 . 請求項 1 1または 1 2記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体であつ て、 前記レイアウト設計工程は、 複数のブロックを半導体チップ上に配置 ·配線 するフロアプランニングであり、
前記最適化処理手法として遺伝的アルゴリズムを用い、 前記遺伝的ァルゴリズ ムの初期の設計データ群を前記フアジィ推論を用いて生成し、 前記最適解となる 設計データ群を用いて前記複数のブロックを前記半導体チップ上に配置すること を特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
1 4 . 請求項 1 3記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、 前記フ ロアプランニングにおけるコーディングは、
前記各ブロックの中心 X— Y座標おょぴ回転と、 前記遺伝的アルゴリズムの染 色体とを対応付けすることを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
1 5 . 請求項 1 3記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、 前記フ ロアプランニングにおける評価は、
前記各ブロック間の実質配線長を L i、 重複部分を S i、 指定領域からのはみ 出し部分を〇V iとし、 重み付けの係数をひ, β , γとして、
Ε = α∑ L i + |3∑ S i + y∑O V i
の評価関数 Eより求めた値に基づいて前記各プロックの配置 ·配線を評価するこ とを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
1 6 . 請求項 1 3記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、 前記フ ロアプランニングにおける突然変異は、
前記複数のブロックのうち、 任意のブロックを所定の距離だけ所定の方向に動 かすとともに、 このプロックの向きを所定の方向に変更することを特徴とするコ ンピュータ読み取り可能な記録媒体。
1 7 . 請求項 1 3記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、 前記フ ロアプランニングにおける前記フアジィ推論は、
前記半導体チップの中心部付近に配置ざれるプロックは I ζοバッファに対し て接続性が低く、 寸法が小さいものを選択し、
前記半導体チップの隅に配置されるプロックは寸法が大きく、 隣接するプロッ クとの接続性が中程度のものを選択し、
前記 I ZOバッファに対して接続性が高いプロックは前記半導体チップの周辺 部に沿って配置する、
というルールに基づくものであることを特徴とするコンピュータ読み取り可能 な記録媒体。
1 8 . 請求項 1 1または 1 2記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体であつ て、 前記論理設計工程は、 複数のブロックをクラスタに分割する論理クラスタ分 割であり、
前記最適化処理手法として遺伝的アルゴリズムを用い、 前記遺伝的ァルゴリズ ムの初期の設計データ群を前記フアジィ推論を用いて生成し、 前記最適解となる 設計データ群を用いて前記複数のプロックを前記クラスタに分割することを特徴 とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
1 9 . 請求項 8記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、 前記論 理クラスタ分割における前記フアジィ推論は、
前記各プロックに含まれる論理素子数および内部ネット数が所定の範囲にあり、 かつ外部との接続ネット数が少ないブロックを求める、 というルールに基づくも のであることを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
2 0 . 請求項 1 8記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、 前記論 理クラスタ分割における評価は、
前記クラスタ内の論理素子数とネット数とから求めた推定面積と、 前記ブロッ ク間のネット数から求めた推定配線面積と、 を加算した評価関数より求めた値に 基づいて前記クラスタの分割を評価することを特徴とするコンピュータ読み取り 可能な記録媒体。
2 1 . フアジィ推論を用いて設計データを作成する第 1工程と、
乱数的に複数の設計データ群を作成する第 2工程と、 前記第 1工程により作成された設計データと、 前記第 2工程により作成された 複数の設計データ群とに基づいて、 最適化処理手法により適合度の高い設計デー タを含む設計データ群を選択する第 3工程と、
前記第 3工程により選択された設計データ群に基づいて、 最適化処理手法によ り適合度の高い設計データを含む設計データ群を選択する第 4工程と、 を有する ことを特徴とする半導体装置の設計方法。
2 2 . フアジィ推論を用いて一部分の設計データを作成する第 1工程と、
乱数的に複数の設計データ群を作成する第 2工程と、
前記第 2工程により作成された複数の設計データ群に基づいて、 最適化処理手 法により適合度の高い設計データを含む設計データ群を選択する第 3工程と、 前記第 3工程により選択された設計データ群に基づいて、 最適化処理手法によ り適合度の高い設計データ群を選択する第 4工程と、 を有することを特徴とする 半導体装置の設計方法。
2 3 . 請求項 2 2記載の半導体装置の設計方法であって、 前記最適化処理手法と して遺伝的アルゴリズムを用い、 前記遺伝的アルゴリズムの初期の設計データを 前記フアジィ推論を用いて生成することを特徴とする半導体装置の設計方法。
2 4. フアジィ推論を用いて設計データを作成する第 1工程と、
乱数的に複数の設計データ群を作成する第 2工程と、
前記第 1工程により作成された設計データと、 前記第 2工程により作成された 複数の設計データ群とに基づいて、 最適化処理手法により適合度の高い設計デー タを含む設計データ群を選択する第 3工程と、
前記第 3工程により選択された設計データ群に基づいて、 最適化処理手法によ り適合度の高い設計データを含む設計データ群を選択する第 4工程と、
をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したことを特徴とするコ ンピュータ読み取り可能な記録媒体。
2 5 . フアジィ推論を用いて一部分の設計データを作成する第 1工程と、
乱数的に複数の設計データ群を作成する第 2工程と、
前記第 2工程により作成された複数の設計データ群に基づいて、 最適化処理手 法により適合度の高い設計デ一タを含む設計データ群を選択する第 3工程と、 前記第 3工程により選択された設計デ一タ群に基づいて、 最適化処理手法によ り適合度の高い設計データ群を選択する第 4工程と、
をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したことを特徴とするコ ンピュータ読み取り可能な記録媒体。
2 6 . 請求項 2 5記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、 前記最 適化処理手法として遺伝的アルゴリズムを用い、 前記遺伝的アルゴリズムの初期 の設計データを前記フアジィ推論を用いて生成することを特徴とするコンビュ一 タ読み取り可能な記録媒体。
2 7 . 請求項 2 1記載の半導体装置の設計方法であって、 前記フアジィ推論にお いては、 メンバーシップ関数が利用されていることを特徴とする半導体装置の設 計方法。
2 8 . 請求項 2 3記載の半導体装置の設計方法であって、 前記フアジィ推論にお いては、 メンバーシップ関数が利用されていることを特徴とする半導体装置の設 計方法。
2 9 . 請求項 2 4記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、 前記フ ァジィ推論においては、 メンバーシップ関数が利用されていることを特徴とする コンピュ一タ読み取り可能な記録媒体。
3 0 . 請求項 2 6記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、 前記フ アジィ推論においては、 メンバーシップ関数が利用されていることを特徴とする コンピュータ読み取り可能な記録媒体。
3 1 . メンバーシップ関数を利用して設計データを作成する第 1工程と、
複数の設計データ群を作成する第 2工程と、
前記第 1工程により作成された設計データと、 前記第 2工程により作成された 複数の設計データ群とに基づいて、 最適化処理手法により適合度の高レ、設計デー タを含む設計データ群を選択する第 3工程と、
前記第 3工程により選択された設計データ群に基づいて、 最適化処理手法によ り適合度の高い設計データ群を選択する第 4工程と、 を含むことを特徴とする半 導体装置の設計方法。
3 2 . 請求項 3 1記載の半導体装置の設計方法であって、 前記第 2工程は、 乱数 的に前記複数の設計データ群を作成することを特徴とする半導体装置の設計方法。
3 3 . 請求項 3 2記載の半導体装置の設計方法であって、 前記最適化処理手法へ 提供されるデータのうち、 一部が前記第 1工程により作成された設計データであ り、 一部が前記第 2工程により作成された設計データであることを特徴とする半 導体装置の設計方法。
3 4 . メンバーシップ関数を利用して設計データを作成する第 1工程と、
複数の設計データ群を作成する第 2工程と、
前記第 1工程により作成された設計データと、 前記第 2工程により作成された 複数の設計データ群とに基づいて、 最適化処理手法により適合度の高い設計デ一 タを含む設計データ群を選択する第 3工程と、
前記第 3工程により選択された設計データ群に基づいて、 最適化処理手法によ り適合度の高い設計データ群を選択する第 4工程と、
をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したことを特徴とするコ ンピュータ読み取り可能な記録媒体。
3 5 . 請求項 3 4記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、 前記第 2工程は、 乱数的に前記複数の設計データ群を作成することを特徴とするコンビ ユータ読み取り可能な記録媒体。
3 6 . 請求項 3 5記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、 前記最 適化処理手法へ提供されるデータのうち、 一部が前記第 1工程により作成された 設計データであり、 一部が前記第 2工程により作成された設計データであること を特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
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