+

WO2018164159A1 - モジュール - Google Patents

モジュール Download PDF

Info

Publication number
WO2018164159A1
WO2018164159A1 PCT/JP2018/008681 JP2018008681W WO2018164159A1 WO 2018164159 A1 WO2018164159 A1 WO 2018164159A1 JP 2018008681 W JP2018008681 W JP 2018008681W WO 2018164159 A1 WO2018164159 A1 WO 2018164159A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
metal pin
extending portion
shield layer
pin
main surface
Prior art date
Application number
PCT/JP2018/008681
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
喜人 大坪
Original Assignee
株式会社村田製作所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社村田製作所 filed Critical 株式会社村田製作所
Publication of WO2018164159A1 publication Critical patent/WO2018164159A1/ja
Priority to US16/562,680 priority Critical patent/US10999956B2/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/552Protection against radiation, e.g. light or electromagnetic waves
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0213Electrical arrangements not otherwise provided for
    • H05K1/0216Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K1/111Pads for surface mounting, e.g. lay-out
    • H05K1/112Pads for surface mounting, e.g. lay-out directly combined with via connections
    • H05K1/113Via provided in pad; Pad over filled via
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/18Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/181Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K5/00Casings, cabinets or drawers for electric apparatus
    • H05K5/06Hermetically-sealed casings
    • H05K5/065Hermetically-sealed casings sealed by encapsulation, e.g. waterproof resin forming an integral casing, injection moulding
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K9/00Screening of apparatus or components against electric or magnetic fields
    • H05K9/0007Casings
    • H05K9/002Casings with localised screening
    • H05K9/0022Casings with localised screening of components mounted on printed circuit boards [PCB]
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K9/00Screening of apparatus or components against electric or magnetic fields
    • H05K9/0064Earth or grounding circuit
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • H01L23/3121Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed a substrate forming part of the encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49805Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers the leads being also applied on the sidewalls or the bottom of the substrate, e.g. leadless packages for surface mounting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49822Multilayer substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/10Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L24/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/065Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H10D89/00
    • H01L25/0655Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H10D89/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices the devices being of types provided for in two or more different subclasses of H10B, H10D, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19105Disposition of discrete passive components in a side-by-side arrangement on a common die mounting substrate
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0213Electrical arrangements not otherwise provided for
    • H05K1/0216Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference
    • H05K1/0218Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference by printed shielding conductors, ground planes or power plane
    • H05K1/0224Patterned shielding planes, ground planes or power planes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/07Electric details
    • H05K2201/0707Shielding
    • H05K2201/0715Shielding provided by an outer layer of PCB
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10227Other objects, e.g. metallic pieces
    • H05K2201/1031Surface mounted metallic connector elements
    • H05K2201/10318Surface mounted metallic pins
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10227Other objects, e.g. metallic pieces
    • H05K2201/10371Shields or metal cases
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10431Details of mounted components
    • H05K2201/10507Involving several components
    • H05K2201/10522Adjacent components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/13Moulding and encapsulation; Deposition techniques; Protective layers
    • H05K2203/1305Moulding and encapsulation
    • H05K2203/1316Moulded encapsulation of mounted components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/13Moulding and encapsulation; Deposition techniques; Protective layers
    • H05K2203/1305Moulding and encapsulation
    • H05K2203/1327Moulding over PCB locally or completely
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/28Applying non-metallic protective coatings
    • H05K3/284Applying non-metallic protective coatings for encapsulating mounted components

Definitions

  • the present invention relates to a module having a shield layer.
  • a module having a configuration in which a component mounted on a wiring board is covered with a sealing resin the surface of the sealing resin layer and the like are covered with a shield layer so that the characteristics are not impaired by the influence of external electromagnetic waves or the like.
  • a shield layer for example, there is a circuit module 100 described in Patent Document 1 shown in FIG.
  • the circuit module 100 is formed on the surface of the circuit board 101, the plurality of element parts 102, the sealing resin layer 103 formed on the upper surface of the circuit board 101 so as to cover the element parts 102, and the surface of the sealing resin layer 103. And a shield layer 104 that shields the influence of external electromagnetic waves and the like.
  • a ground electrode 105, an inner layer pattern 106, and a hole 107 are provided inside the circuit board 101, and a ground electrode 108 is provided on the back surface of the circuit board 101.
  • the grounding electrode 105 provided inside the circuit board 101 is exposed from the side surface of the circuit board 101 and is in contact with the shield layer 104.
  • JP 2004-172176 A (see paragraphs 0021 to 0023, FIG. 2)
  • the present invention has been made in view of the above-described problems, and an object thereof is to provide a module capable of improving electrical connectivity between a shield layer and an electrode formed on a wiring board. .
  • the module of the present invention is attached to a wiring board, a component mounted on one main surface of the wiring board, and an electrode having one end surface formed on the one main surface, On the other hand, a first extending portion extending from the one end surface so as to be away from the main surface, a second extending portion extending from the side opposite to the one end surface of the first extending portion, and the second extending portion.
  • a sealing resin layer that covers except for a part of the extending portion, and a shield layer that covers a side surface of the wiring substrate and a surface of the sealing resin layer, and the shield layer includes the sealing resin layer In contact with a portion of the extension that is not covered by It is characterized.
  • the shield layer covers the metal pin so as to contact a part of the metal pin, the contact area between the shield layer and the metal pin is in contact with the exposed portion of the ground electrode provided inside the circuit board. It becomes larger than the case of doing. Thereby, the electrical connectivity between the shield layer and the electrode formed on the one main surface of the wiring board can be improved. Then, the shield effect by the shield layer can be improved by electrically connecting the electrode to which the metal pin is attached to the ground electrode.
  • the metal pin may have the second extending portion in contact with the shield layer. According to this configuration, since the contact area between the shield layer and the metal pin becomes larger, it is possible to improve the electrical connectivity between the shield layer and the electrode formed on one main surface of the wiring board.
  • the metal pin may have the third extending portion in contact with a side surface of the shield layer. According to this configuration, since the contact area between the shield layer and the metal pin becomes larger, it is possible to improve the electrical connectivity between the shield layer and the electrode formed on one main surface of the wiring board.
  • the third extending portion may extend to a position in contact with the wiring board. According to this configuration, the metal pin can be stably fixed to the wiring board.
  • the third extending portion may not extend to a position in contact with the wiring board.
  • the metal pin is buried in the sealing resin layer except that one end face is exposed from the sealing resin layer, and thus the metal pin is exposed from the sealing resin layer. As a result, there is no gap between the metal pin and one main surface of the wiring board, and the reliability of the module performance is improved.
  • the first extending portion may be connected to a ground electrode provided on the wiring board via the electrode. According to this configuration, it is not necessary to extend the ground electrode to the end of the wiring board in order to connect the ground electrode provided on the wiring board to the shield layer, and the degree of freedom in the design area of the wiring board can be improved. .
  • the shield layer covers the metal pin so as to be in contact with a part of the metal pin, the contact area between the shield layer and the metal pin is in contact with the exposed portion of the ground electrode provided inside the circuit board. It becomes larger than the case of doing. Thereby, the electrical connectivity between the shield layer and the electrode formed on the one main surface of the wiring board can be improved. Then, the shield effect by the shield layer can be improved by electrically connecting the electrode to which the metal pin is attached to the ground electrode.
  • FIG. 2A is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 1 when including the upper surface portion of the shield layer
  • FIG. 2B is an enlarged view of a portion surrounded by a dotted line in FIG.
  • FIG. 2A is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 1 when including the upper surface portion of the shield layer
  • FIG. 2B is an enlarged view of a portion surrounded by a dotted line in FIG.
  • It is a figure which shows a part of cross section of the module which concerns on the modification 2 of 1st Embodiment of this invention.
  • FIG. 8A is a cross-sectional view taken along the line BB of FIG. 7 in a case where the upper surface portion of the shield layer is included
  • FIG. 7B is an enlarged view of a portion surrounded by a dotted line in FIG.
  • FIG. 7B is an enlarged view of a portion surrounded by a dotted line in FIG.
  • FIG. 1 is a plan view of the module 1 according to the first embodiment with the upper surface portion of the shield layer 6 removed, and FIG. 2A shows the case where the upper surface portion of the shield layer 6 is included.
  • 2 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. 1, and FIG. 2B is an enlarged view of a portion surrounded by a dotted line in FIG.
  • the module 1 according to the first embodiment is mounted on, for example, a mother board of an electronic device.
  • the module 1 includes a wiring board 2 having land electrodes 7a and 7b formed on one main surface 2a, and a component 3 mounted on the one main surface 2a so that connection terminals are connected to the land electrodes 7a using solder 10.
  • a metal pin 4 whose one end face 4a is electrically connected to the land electrode 7b and whose pin upper face 4c and pin side outer face 4d, which will be described later, are in contact with and electrically connected to the shield layer 6;
  • a sealing resin layer 5 covering the surface 2a and the component 3 and excluding the pin upper surface 4c and the pin side outer surface 4d of the plurality of metal pins 4, the surface of the sealing resin layer 5, the side surface of the wiring board 2, and the metal
  • a shield layer 6 that covers the pin upper surface 4c and the pin side outer surface 4d.
  • the pin upper surface 4c and the pin side outer surface 4d correspond to “a part of the extending portion of the metal pin” of the present invention.
  • the wiring board 2 is formed of, for example, low temperature co-fired ceramics or glass epoxy resin.
  • a plurality of land electrodes 7a and 7b are formed on one main surface 2a of the wiring board 2, a plurality of external electrodes 8 are formed on the other main surface 2b, and a plurality of wiring electrodes 9a, ground electrodes 9b, and A plurality of via conductors 9c and the like are formed.
  • the land electrode 7a is connected to the wiring electrode 9a via the via conductor 9c
  • the land electrode 7b is connected to the ground electrode 9b via the via conductor 9c
  • the external electrode 8 is connected to the wiring electrode 9a and ground electrode via the via conductor 9c. 9b.
  • the wiring board 2 corresponds to the “wiring board” of the present invention
  • the land electrode 7b corresponds to the “electrode” of the present invention.
  • Each land electrode 7a, 7b, each external electrode 8, each wiring electrode 9a, and each ground electrode 9b are each formed of a metal generally employed as an electrode such as Cu, Ag, or Al.
  • Each via conductor 9c is formed of a metal such as Ag or Cu.
  • the component 3 is mounted on the one main surface 2a of the wiring board 2 by connecting the connection terminals to the land electrodes 7a formed on the one main surface 2a of the wiring board 2 using, for example, solder 10.
  • the plurality of metal pins 4 are provided in the vicinity of each side of the wiring board 2, and are formed of a metal such as copper using a mold, or a rod-shaped or linear or plate-shaped metal such as copper. Or formed by bending.
  • Each metal pin 4 has an inverted U-shape, and is attached so that one end surface 4a is electrically connected to the land electrode 7b using, for example, solder or the like, and the other end surface 4b is in contact with one main surface 2a. is doing.
  • Each metal pin 4 has a first extending portion 15 having a rectangular parallelepiped shape extending from one end surface 4a so as to be away from one main surface 2a.
  • Each metal pin 4 has a second extending portion 16 having a rectangular parallelepiped shape that is bent and extended at a predetermined angle such as a right angle from the side opposite to the one end surface 4 a of the first extending portion 15.
  • Each metal pin 4 is bent from the opposite side of the first extending portion 15 of the second extending portion 16 and extends to a position in contact with the one main surface 2a so as to approach the one main surface 2a.
  • a third extending portion 17 having the same length as the first extending portion 15 having a rectangular parallelepiped shape is provided.
  • the sealing resin layer 5 seals the one main surface 2a, the component 3 and the metal pin 4 so as to cover the one main surface 2a and the component 3 and cover a part of the surface of the metal pin 4.
  • a part of the surface of the metal pin 4 that is not covered by the sealing resin layer 5 is a surface of the second extending portion 16 opposite to the surface facing the one main surface 2a (hereinafter referred to as “pin upper surface”). 4c and the surface of the third extending portion 17 opposite to the surface facing the first extending portion 15 (hereinafter referred to as “pin side outer surface”) 4d.
  • the pin upper surface 4c is on the same surface as the surface (hereinafter referred to as "upper surface") 5a opposite to the surface facing the one main surface 2a in the sealing resin layer 5, and is exposed from the upper surface 5a.
  • the pin side outer surface 4d is on the same surface as the side surface 5b (see FIG. 1) in the sealing resin layer 5, and is exposed from the side surface 5b. That is, the metal pin is exposed from the sealing resin layer 5 over the entire length of the second extending portion 16 and over the entire length of the third extending portion 17.
  • the sealing resin layer 5 can be formed of a resin generally employed as a sealing resin such as an epoxy resin containing a silica filler. Moreover, an alumina filler can also be used for the sealing resin layer 5 in order to give high thermal conductivity.
  • the shield layer 6 includes a surface of the sealing resin layer 5 (upper surface 5a and side surface 5b of the sealing resin layer 5) and an exposed surface of the metal pin 4 from the sealing resin layer 5 (pin upper surface 4c, pin side outer surface 4d. ) And the side surfaces of the wiring board 2 so as to be in contact with each other.
  • the surface (hereinafter referred to as “upper inner wall surface”) 6 a facing the one main surface 2 a of the shield layer 6 and the pin upper surface 4 c of the metal pin 4 are in contact with each other.
  • side inner wall surface 6 b of the side surface portion of the shield layer 6 and the pin side outer surface 4 d of the metal pin 4 are in contact with each other.
  • the shield layer 6 is connected to the ground electrode 9b through the metal pin 4, the land electrode 7b, and the via conductor 9c.
  • the shield layer 6 reduces unnecessary electromagnetic waves radiated from external devices from reaching the component 3 etc. of the module 1 and reduces leakage of unnecessary electromagnetic waves radiated from the component 3 etc. of the module 1 to the outside. It is for doing.
  • the shield layer 6 includes, for example, an adhesion layer laminated on the upper surface 5a and the side surface 5b of the sealing resin layer 5, the pin upper surface 4c and the pin side outer surface 4d of the metal pin 4, and the side surface of the wiring board 2, and an adhesion layer A multilayer structure having a stacked conductive layer and a corrosion-resistant layer stacked on the conductive layer can be formed.
  • the adhesion layer is provided to increase the adhesion strength between the conductive layer and the sealing resin layer 5 and can be formed of a metal such as SUS, for example.
  • the conductive layer is a layer that bears the substantial shielding function of the shield layer 6 and can be formed of, for example, any one of Cu, Ag, and Al.
  • the corrosion resistant layer is provided to prevent the conductive layer from being corroded or scratched, and can be formed of, for example, SUS.
  • a sputtering method, a vapor deposition method, a paste coating method, or the like can be used.
  • Module manufacturing method Next, a method for manufacturing the module 1 will be described. In the first embodiment, after an assembly of a plurality of modules 1 is formed, the module 1 is manufactured by being separated into pieces.
  • a plurality of land electrodes 7a, 7b are formed on one main surface 2a, a plurality of external electrodes 8 are formed on the other main surface 2b, and a plurality of wiring electrodes 9a, a plurality of ground electrodes 9b, An assembly of wiring boards 2 on which via conductors 9c and the like are formed is prepared.
  • Each land electrode 7a, 7b, each external electrode 8, each wiring electrode 9a, and each ground electrode 9b is formed by screen printing a conductive paste containing a metal such as Cu, Ag, or Al. Can do.
  • Each via conductor 9c can be formed by a well-known method after forming a via hole using a laser or the like.
  • the component 3 is mounted on the one main surface 2a of the wiring board 2 by using a known surface mounting technique.
  • the solder 10 is formed on the desired land electrode 7a of the land electrodes 7a of the wiring board 2, and the component 3 is mounted on the corresponding land electrode 7a of the land electrodes 7a on which the solder 10 is formed.
  • the reflow process is performed. Note that the assembly of the wiring boards 2 is cleaned as necessary after the reflow process.
  • one end surface 4a is attached to one main surface 2a of the wiring board 2 so as to be electrically connected to the land electrode 7b using, for example, solder, and the other end surface 4b is in contact with the one main surface 2a.
  • the metal pin 4 is placed.
  • the metal pin 4 is formed of a metal such as copper using a mold, or is formed by bending using a rod-shaped metal such as copper.
  • a temporary sealing resin layer that is a source of the sealing resin layer 5 is formed on 2a.
  • a transfer mold method, a compression mold method, a liquid resin method, a sheet resin method, or the like can be used for forming the temporary sealing resin layer.
  • a general epoxy resin containing silica filler can be used for the temporary sealing resin layer.
  • an epoxy resin containing an alumina filler can be used for the temporary sealing resin layer.
  • plasma cleaning of the wiring board 2 is performed as necessary.
  • the sealing resin layer 5 is formed by polishing the surface of the temporary sealing resin layer opposite to the surface facing the one main surface 2a until the pin upper surface 4c of the metal pin 4 is exposed.
  • module 1 is separated into pieces by dicer or laser processing.
  • the module 1 is singulated so that the pin side outer surface 4 d of the metal pin 4 is exposed from the side surface 5 b of the sealing resin layer 5.
  • the pin upper surface 4 c of the metal pin 4 is exposed from the upper surface 5 a of the sealing resin layer 5, and the pin side outer surface 4 d of the metal pin 4 is exposed from the side surface 5 b of the sealing resin layer 5. Exposed.
  • the shield layer 6 is formed so as to cover the upper surface 5 a and side surface 5 b of the sealing resin layer 5, the pin upper surface 4 c and pin side outer surface 4 d of the metal pin 4, and the side surface of the wiring board 2.
  • the upper inner wall surface 6 a of the shield layer 6 and the pin upper surface 4 c of the metal pin 4 are in contact, and the side inner wall surface 6 b of the shield layer 6 and the pin side outer surface 4 d of the metal pin 4. And are in contact.
  • a sputtering method, a vapor deposition method, a paste coating method, or the like can be used for forming the shield layer 6, for example.
  • the upper inner wall surface 6a of the shield layer 6 and the pin upper surface 4c of the metal pin 4 are in contact, and the side inner wall surface 6b of the shield layer 6 and the pin side outer surface 4d of the metal pin 4 are contacted.
  • the contact area between the shield layer 6 and the metal pin 4 increases.
  • the electrical connectivity between the shield layer 6 and the land electrode 7b formed on the one main surface 2a of the wiring board 2 to which the metal pin 4 is attached can be improved.
  • the land electrode 7b to which the metal pin 4 is attached is electrically connected to the ground electrode 9b via the via conductor 9c, whereby the shield layer 6 is sufficiently electrically connected to the ground electrode 9b.
  • the shielding effect by the shielding layer 6 can be improved.
  • connection location for ground connection of the metal pin 4 can be freely changed by adjusting the length of the metal pin 4, and the degree of freedom of the design area of the wiring board 2 is also improved.
  • the other end surface 4b of the metal pin 4 has shown only the example which contacted the wiring board 2, this other end surface 4b is also a surface electrode of the wiring board 2 (however, this surface electrode is the ground electrode 9b of the wiring board 2). There is no need to connect to the metal pin 4, and the metal pin 4 may be simply fixed) using solder or the like.
  • FIG. 3 is a plan view of the module 1a according to the first modification of the first embodiment with the upper surface portion of the shield layer 6 removed.
  • the module 1a according to the first modification of the first embodiment is different from the module 1 according to the first embodiment described with reference to FIGS. 1 and 2 in that the metal pin 20 has one main surface as shown in FIG. This is a point where one end face of the land electrode 7b is electrically connected to the land electrode 7b near the center away from each side 2a. Since other configurations are the same as those of the module 1 according to the first embodiment, the description thereof is omitted by giving the same reference numerals.
  • the metal pin 20 has a shape in which the second extending portion 16 of the metal pin 4 of the first embodiment is elongated. One end surface of the metal pin 20 is attached so as to be electrically connected to the land electrode 7b near the center away from each side of the one main surface 2a, and the other end surface is attached so as to be in contact with the one main surface 2a. ing. Similarly to the metal pin 4 of the first embodiment, the metal pin 20 is on the same plane as the upper surface 5a of the sealing resin layer 5 and the pin upper surface 20a exposed from the upper surface 5a and the sealing resin layer 5 The pin side portion outer surface 20b is flush with the side surface 5b and exposed from the side surface 5b.
  • the pin upper surface 20a is in contact with the surface (upper inner wall surface) facing the one main surface 2a of the shield layer 6 (not shown in FIG. 3), and the pin side outer surface 20b is the inner surface of the shield layer 6. It is in contact with the wall surface (side wall surface 6b).
  • metal pins metal pins 4 and metal pins 20
  • an arbitrary one formed on one main surface 2a of the wiring board 2 is used.
  • the shield layer 6 can be electrically connected to the ground electrode 9b using the ground electrode.
  • FIG. 4 is a diagram showing a part of a cross section of the module 1b according to the second modification of the first embodiment.
  • the module 1b according to the second modification of the first embodiment is different from the module 1 according to the first embodiment described with reference to FIGS. 1 and 2 in that the third extending portion 28 is as shown in FIG.
  • the metal pin 25 having a shorter shape than the first extending portion 26 is used, and the other end surface 25 b of the metal pin 25 is not in contact with the one main surface 2 a of the wiring board 2. Since other configurations are the same as those of the module 1 according to the first embodiment, the description thereof is omitted by giving the same reference numerals.
  • the one end face 25a of the metal pin 25 is attached so as to be electrically connected to the land electrode 7b using, for example, solder or the like, and the other end face 25b is not in contact with the one main face 2a.
  • the metal pin 25 has a first extending portion 26 having a rectangular parallelepiped shape extending from the one end surface 25a so as to be away from the one main surface 2a. Further, the metal pin 25 has a second extending portion 27 having a rectangular parallelepiped shape that extends from the side opposite to the one end face 25a of the first extending portion 26 at a predetermined angle such as a right angle.
  • the metal pin 25 is bent from the side opposite to the first extending portion 26 of the second extending portion 27 and extends to a position not reaching the one main surface 2a so as to approach the one main surface 2a.
  • the third extending portion 28 is shorter than the first extending portion 26 that is formed.
  • a surface (pin upper surface) 25c opposite to the surface facing the one main surface 2a is on the same surface as the upper surface 5a of the sealing resin layer 5, and is exposed from the upper surface 5a.
  • a surface (pin side outer surface) 25d opposite to the surface facing the first extending portion 26 is on the same surface as the side surface 5b of the sealing resin layer 5, It is exposed from the side surface 5b.
  • the upper inner wall surface 6a of the shield layer 6 and the pin upper surface 25c of the metal pin 25 are in contact with each other, and the side inner wall surface 6b of the shield layer 6 and the pin side portion of the metal pin 25
  • the outer surface 25d is in contact.
  • the shield layer 6 is connected to the ground electrode 9b through the metal pin 25, the land electrode 7b, and the via conductor 9c.
  • the metal pin 25 is buried in the sealing resin layer 5 except that one end face 25a is exposed from the sealing resin layer 5, so that the metal pin
  • the gap between the metal pins 25 and the one main surface 2a of the wiring board 2 due to the exposure of 25 from the sealing resin layer 5 is improved, and the reliability of the performance of the module 1b is improved.
  • reliability may be reduced.
  • moisture or the like enters the wiring board 2, it is possible to prevent problems such as short-circuiting of the wiring board 2, deterioration of characteristics, or migration in the solder of mounting components such as the component 3.
  • FIG. 5 is a view showing a part of a cross section of the module 1c according to the second embodiment.
  • the module 1c according to the second embodiment is different from the module 1b according to the modification 2 of the first embodiment described with reference to FIG. 4 in that the metal pin 30 is located in the upper part of the shield layer 6 as shown in FIG. This is a point that is not in contact with the wall surface 6 a and is in contact with only the side inner wall surface 6 b of the shield layer 6. Since the other configuration is the same as that of the module 1b according to the second modification of the first embodiment, the description thereof is omitted by giving the same reference numerals.
  • the one end surface 30a of the metal pin 30 is attached so as to be electrically connected to the land electrode 7b using, for example, solder or the like, and the other end surface 30b is not in contact with the one main surface 2a.
  • the metal pin 30 has a first extending portion 31 having a rectangular parallelepiped shape extending from the one end surface 30a so as to be away from the one main surface 2a. Further, the metal pin 30 has a second extending portion 32 having a rectangular parallelepiped shape that is bent and extended at a predetermined angle such as a right angle from the side opposite to the one end face 30 a of the first extending portion 31.
  • the metal pin 30 is a rectangular parallelepiped shape that extends from a side opposite to the first extending portion 31 of the second extending portion 32 and extends to a position not reaching the one main surface 2a so as to approach the one main surface 2a. It has the 3rd extension part 33 shorter than the 1st extension part 31 which carried out.
  • a surface (pin upper surface) 30 c opposite to the surface facing the one main surface 2 a is buried in the sealing resin layer 5 and exposed from the upper surface 5 a of the sealing resin layer 5.
  • a surface (pin side portion outer surface) 30d opposite to the surface facing the first extending portion 31 is on the same surface as the side surface 5b of the sealing resin layer 5, It is exposed from the side surface 5b.
  • the side inner wall surface 6 b of the shield layer 6 and the pin side outer surface 30 d of the metal pin 30 are in contact with each other.
  • the upper inner wall surface 6a of the shield layer 6 and the pin upper surface 30c of the metal pin 30 are not in contact with each other.
  • the shield layer 6 is connected to the ground electrode 9b through the metal pin 30, the land electrode 7b, and the via conductor 9c.
  • the contact area between the shield layer 6 and the metal pin 30 is increased. .
  • the electrical connectivity between the shield layer 6 and the land electrode 7b formed on the one main surface 2a of the wiring board 2 to which the metal pin 30 is attached is improved.
  • the shield layer 6 is sufficiently electrically connected to the ground electrode 9b. The shielding effect by the layer 6 can be improved.
  • FIG. 6 is a diagram showing a part of a cross section of the module 1d according to the first modification of the second embodiment.
  • the module 1d according to the first modification of the second embodiment is different from the module 1c according to the second embodiment described with reference to FIG. 5 in that the module 1d is bent from the third extending portion 38 as shown in FIG. This is a point using a metal pin 35 having a shape having a fourth extending portion 39 extending so as to approach the first extending portion 36. Since other structures are the same as those of the module 1c according to the second embodiment, the description thereof is omitted by giving the same reference numerals.
  • the one end face 30a of the metal pin 35 is attached so as to be electrically connected to the land electrode 7b using, for example, solder.
  • the metal pin 35 has a first extending portion 36 having a rectangular parallelepiped shape extending from the one end surface 35a so as to be away from the one main surface 2a.
  • the metal pin 35 has a second extending portion 37 having a rectangular parallelepiped shape that is bent and extended at a predetermined angle such as a right angle from the side opposite to the one end surface 35 a of the first extending portion 36.
  • the metal pin 35 is bent from the opposite side of the first extending portion 36 of the second extending portion 37 and extends to a position not reaching the one main surface 2a so as to approach the one main surface 2a.
  • the third extending portion 38 is formed. Further, the metal pin 35 is bent from the opposite side of the third extension portion 38 to the second extension portion 37 and extends to a position not reaching the first extension portion 36 so as to approach the first extension portion 36.
  • the fourth extending portion 39 has a rectangular parallelepiped shape. A surface 35b of the fourth extending portion 39 facing the one main surface 2a is not in contact with the one main surface 2a.
  • the surface (pin upper surface) 35 c opposite to the surface facing the one main surface 2 a is buried in the sealing resin layer 5 and exposed from the upper surface 5 a of the sealing resin layer 5.
  • a surface (pin side outer surface) 35 d opposite to the surface facing the first extending portion 36 is on the same surface as the side surface 5 b of the sealing resin layer 5. It is exposed from 5b.
  • the side inner wall surface 6 b of the shield layer 6 and the pin side outer surface 35 d of the metal pin 35 are in contact with each other.
  • the upper inner wall surface 6a of the shield layer 6 and the pin upper surface 35c of the metal pin 35 are not in contact with each other.
  • the shield layer 6 is connected to the ground electrode 9b through the metal pin 35, the land electrode 7b, and the via conductor 9c.
  • FIG. 7 is a plan view of the module 1e according to the third embodiment in a state where the upper surface portion of the shield layer 6 is removed
  • FIG. 8A shows the case where the upper surface portion of the shield layer 6 is included
  • FIG. 8B is a cross-sectional view taken along the line BB in FIG. 7, and FIG. 8B is an enlarged view of a portion surrounded by a dotted line in FIG.
  • the module 1e according to the third embodiment is different from the module 1 according to the first embodiment described with reference to FIGS. 1 and 2 in that the metal pin 40 is formed of the shield layer 6 as shown in FIGS. This is in that it does not contact the side inner wall surface 6b but contacts only the upper inner wall surface 6a of the shield layer 6, and both end faces 40a, 40b of the metal pin 40 are connected to the land electrode 7b. Since other configurations are the same as those of the module 1 according to the first embodiment, the description thereof is omitted by giving the same reference numerals.
  • the metal pin 40 is provided substantially at the center of the wiring board 2.
  • the metal pin 40 has an inverted U shape, and is attached so that one end surface 40a is electrically connected to the land electrode 7b using, for example, solder, and the other end surface 40b is connected to the land electrode 7b, for example, solder. It is attached so that it may be electrically connected using.
  • the metal pin 40 has a first extending portion 41 having a rectangular parallelepiped shape extending from the one end surface 40a so as to be away from the one main surface 2a.
  • the metal pin 40 has a second extending portion 42 having a rectangular parallelepiped shape that is bent and extended at a predetermined angle such as a right angle from the side opposite to the one end surface 40 a of the first extending portion 41. Further, the metal pin 40 is bent from the side opposite to the first extending portion 41 of the second extending portion 42 and is in contact with the land electrode 7b formed on the one main surface 2a so as to approach the one main surface 2a.
  • the third extension part 43 has the same length as that of the first extension part 41 having a rectangular parallelepiped shape extending up to.
  • the one end surface 40a and the other end surface 40b are exposed from the surface facing the one main surface 2a of the sealing resin layer 5, and the surface of the second extending portion 42 opposite to the surface facing the one main surface 2a (pin
  • the upper surface 40c is on the same surface as the upper surface 5a of the sealing resin layer 5 and is exposed from the upper surface 5a, and the metal pin 40 is not exposed from the sealing resin layer 5 otherwise. Buried inside.
  • the shield layer 6 and the metal pin 40 are in contact with the upper inner wall surface 6 a of the shield layer 6 and the pin upper surface 40 c of the metal pin 40.
  • the metal pin 40 is not in contact with the side inner wall surface 6 b of the shield layer 6.
  • the shield layer 6 is connected to the ground electrode 9b through the metal pin 40, the land electrode 7b, and the via conductor 9c.
  • the contact area between the shield layer 6 and the metal pin 40 is increased.
  • the electrical connectivity between the shield layer 6 and the land electrode 7b formed on the one main surface 2a of the wiring board 2 to which the metal pin 40 is attached can be improved.
  • the land electrode 7b to which the metal pin 40 is attached is electrically connected to the ground electrode 9b via the via conductor 9c, whereby the shield layer 6 is sufficiently electrically connected to the ground electrode 9b.
  • the shielding effect by the shielding layer 6 can be improved.
  • FIG. 9 is a figure which shows a part of cross section of the module 1f which concerns on the modification 1 of 3rd Embodiment.
  • the module 1f according to the first modification of the third embodiment is different from the module 1e according to the third embodiment described with reference to FIG. 5 in that, as shown in FIG.
  • the metal pin 45 having a shape shorter than the existing portion 46 is used, and the other end surface 45 b of the metal pin 45 is not in contact with the land electrode 7 b formed on the one main surface 2 a of the wiring board 2. Since the other configuration is the same as that of the module 1e according to the third embodiment, the description thereof is omitted by giving the same reference numerals.
  • the metal pin 45 has a first extending portion 46 having a rectangular parallelepiped shape extending from the one end surface 45a so as to be away from the one main surface 2a. Further, the metal pin 45 has a second extending portion 47 having a rectangular parallelepiped shape that extends from the side opposite to the one end face 45a of the first extending portion 46 at a predetermined angle such as a right angle.
  • the metal pin 45 is a rectangular parallelepiped shape that extends from the opposite side of the second extending portion 47 to the first extending portion 46 so as to approach the one main surface 2a so as not to reach the one main surface 2a.
  • the third extending portion 48 is shorter than the first extending portion 46 that is formed.
  • the one end surface 45a is exposed from the surface facing the one main surface 2a of the sealing resin layer 5, and the surface (pin upper surface) 45c opposite to the surface facing the one main surface 2a of the second extending portion 47.
  • the metal pin 45 is embedded in the sealing resin layer 5 so as to be on the same plane as the upper surface 5a of the sealing resin layer 5 and exposed from the upper surface 5a, and the others are not exposed from the sealing resin layer 5. ing.
  • the upper inner wall surface 6 a of the shield layer 6 and the pin upper surface 45 c of the metal pin 45 are in contact with each other.
  • the metal pin 45 is not in contact with the side inner wall surface 6 b of the shield layer 6.
  • the shield layer 6 is connected to the ground electrode 9b through the metal pin 45, the land electrode 7b, and the via conductor 9c.
  • each extending portion has a rectangular parallelepiped shape, but may have a columnar shape such as a hexagonal column shape other than the rectangular parallelepiped shape. Alternatively, it may be a cylinder. Moreover, you may combine the content of each above-mentioned embodiment, and the content of the modification.
  • the present invention can be applied to a module having a shield layer.
  • Module 2 Wiring board 2a One main surface 3 Parts 4, 20, 25, 30, 35, 40, 45 Metal pins 15, 26, 31, 36, 41, 46 First extending portions 16, 27, 32, 37, 42, 47 Second extension part 17, 28, 33, 38, 43, 48 Third extension part 39 Fourth extension part 5 Sealing resin layer 6 Shield layer

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)

Abstract

シールド層と配線基板上に形成された電極との電気的な接続性の向上を図る。 モジュール1は、配線基板2と、配線基板2の一方主面に実装された部品3と、一端面2aが一方主面2aに形成されたランド電極7bに取り付けられ、一方主面2aから遠ざかるように一端面2aから延在する第1延在部15、一端面2aと反対側から折れ曲がって延在する第2延在部16、および第2延在部16の第1延在部15と反対側から折れ曲がって一方主面2aに近づくように延在する第3延在部17を有する金属ピン4と、一方主面2aおよび部品3を覆うとともに、金属ピン4のピン上部面4c、ピン側部外面4dを除いて覆う封止樹脂層5と、配線基板2の側面、封止樹脂層5の表面、および金属ピン4のピン上部面4c、ピン側部外面4dそれぞれに接触するように覆うシールド層6とを備える。

Description

モジュール
 本発明は、シールド層を有するモジュールに関する。
 配線基板に実装された部品を封止樹脂で覆った構成を有するモジュールにおいて、外部からの電磁波等の影響を受けて特性が損なわれないように、封止樹脂層の表面等をシールド層で覆う場合がある。このようなシールド層を有するモジュールとして、例えば、図10に示す特許文献1に記載の回路モジュール100がある。
 回路モジュール100は、回路基板101と、複数の要素部品102と、要素部品102を覆うように回路基板101の上面に形成された封止樹脂層103と、封止樹脂層103の表面に形成された外部からの電磁波等の影響を遮蔽するシールド層104とを有している。また、回路基板101の内部には接地用電極105、内層パターン106、ホール107が設けられており、回路基板101の裏面には接地用電極108が設けられている。回路基板101の内部に設けられた接地用電極105は、回路基板101の側面から露出してシールド層104と接触している。
特開2004-172176号公報(段落0021~0023、図2参照)
 しかしながら、上記した回路モジュール100では、接地用電極105が回路基板101の側面から露出する露出面の面積が小さいため、シールド層104と接地用電極105との接触面の面積が小さい。したがって、シールド層104と接地用電極105との電気的な接続が十分でなく、シールド層104によるシールド効果が十分に得られない虞がある。
 本発明は、上記した課題に鑑みてなされたものであり、シールド層と配線基板上に形成された電極との電気的な接続性の向上を図ることができるモジュールを提供することを目的とする。
 上記した目的を達成するために、本発明のモジュールは、配線基板と、前記配線基板の一方主面に実装された部品と、一端面が前記一方主面に形成された電極に取り付けられ、前記一方主面から遠ざかるように前記一端面から延在する第1延在部、前記第1延在部の前記一端面と反対側から折れ曲がって延在する第2延在部、および前記第2延在部の前記第1延在部と反対側から折れ曲がって前記一方主面に近づくように延在する第3延在部を有する金属ピンと、前記一方主面および前記部品を覆うとともに、前記金属ピンの前記延在部の一部を除いて覆う封止樹脂層と、前記配線基板の側面、前記封止樹脂層の表面を覆うシールド層と、を備え、前記シールド層は、前記封止樹脂層に覆われていない前記延在部の一部と接触していることを特徴としている。
 この構成によれば、シールド層は金属ピンの一部に接触するように覆っているので、シールド層と金属ピンとの接触面積は、回路基板の内部に設けられた接地用電極の露出部に接触する場合に比べ、大きくなる。これにより、シールド層と配線基板の一方主面に形成された電極との電気的な接続性の向上を図ることができる。そして、金属ピンが取り付けられた電極をグランド電極に電気的に接続することによりシールド層によるシールド効果の向上を図ることができる。
 また、前記金属ピンは、前記第2延在部が前記シールド層に接触していてもよい。この構成によれば、シールド層と金属ピンとの接触面積がより大きくなるため、シールド層と配線基板の一方主面に形成された電極との電気的な接続性の向上を図ることができる。
 また、前記金属ピンは、前記第3延在部が前記シールド層の側面に接触していてもよい。この構成によれば、シールド層と金属ピンとの接触面積がより大きくなるため、シールド層と配線基板の一方主面に形成された電極との電気的な接続性の向上を図ることができる。
 また、前記第3延在部は前記配線基板に接触する位置にまで延在していてもよい。この構成によれば、金属ピンを配線基板により安定して固定することができる。
 また、前記第3延在部は前記配線基板に接触する位置にまで延在していないとしてもよい。この構成によれば、金属ピンは一端面が封止樹脂層から露出しているのを除いて封止樹脂層内に埋まっているので、金属ピンが封止樹脂層から露出することに起因して金属ピンと配線基板の一方主面に隙間が生じることがなく、モジュールの性能の信頼性が向上する。
 また、前記第1延在部は前記電極を介して前記配線基板に設けられているグランド電極に接続されているとしてもよい。この構成によれば、配線基板に設けられたグランド電極をシールド層と接続させるためにグランド電極を配線基板端部まで延在させる必要がなく、配線基板の設計エリアの自由度の向上が図られる。
 本発明によれば、シールド層は金属ピンの一部に接触するように覆っているので、シールド層と金属ピンとの接触面積は、回路基板の内部に設けられた接地用電極の露出部に接触する場合に比べ、大きくなる。これにより、シールド層と配線基板の一方主面に形成された電極との電気的な接続性の向上を図ることができる。そして、金属ピンが取り付けられた電極をグランド電極に電気的に接続することによりシールド層によるシールド効果の向上を図ることができる。
本発明の第1実施形態に係るモジュールのシールド層の上面部分を除いた状態での平面図である。 (a)はシールド層の上面部分を含むようにした場合の図1のA-A断面図であり、(b)は(a)の点線で囲む部分の拡大図である。 本発明の第1実施形態の変形例1に係るモジュールのシールド層の上面部分を除いた状態での平面図である。 本発明の第1実施形態の変形例2に係るモジュールの断面の一部を示す図である。 本発明の第2実施形態に係るモジュールの断面の一部を示す図である。 本発明の第2実施形態の変形例1に係るモジュールの断面の一部を示す図である。 本発明の第3実施形態に係るモジュールのシールド層の上面部分を除いた状態での平面図である。 (a)はシールド層の上面部分を含むようにした場合の図7のB-B断面図であり、(b)は(a)の点線で囲む部分の拡大図である。 本発明の第3実施形態の変形例1に係るモジュールの断面の一部を示す図である。 従来のモジュールの断面図である。
 <第1実施形態>
 本発明の第1実施形態に係るモジュール1について図1および図2を参照して説明する。なお、図1は第1実施形態に係るモジュール1のシールド層6の上面部分を除いた状態での平面図であり、図2(a)はシールド層6の上面部分を含むようにした場合の図1のA-A断面図であり、図2(b)は図2(a)の点線で囲む部分の拡大図である。
 第1実施形態に係るモジュール1は、例えば、電子機器のマザー基板等に搭載されるものである。モジュール1は、一方主面2aにランド電極7a,7bが形成された配線基板2と、接続端子が半田10を用いてランド電極7aに接続されるように一方主面2aに実装された部品3と、一端面4aがランド電極7bに電気的に接続されるとともに後述するピン上部面4cおよびピン側部外面4dがシールド層6に接触して電気的に接続される金属ピン4と、一方主面2aおよび部品3を覆うとともに複数の金属ピン4のピン上部面4cおよびピン側部外面4dを除いて覆う封止樹脂層5と、封止樹脂層5の表面、配線基板2の側面および金属ピン4のピン上部面4cおよびピン側部外面4dそれぞれに接触するように覆うシールド層6とを備える。なお、ピン上部面4cおよびピン側部外面4dが本発明の「金属ピンの延在部の一部」に相当する。
 配線基板2は、例えば低温同時焼成セラミックスやガラスエポキシ樹脂等で形成される。配線基板2の一方主面2aには複数のランド電極7a,7bが形成され、他方主面2bには複数の外部電極8が形成され、内層には複数の配線電極9a、グランド電極9b、および複数のビア導体9c等が形成されている。ランド電極7aはビア導体9cを介して配線電極9aに接続され、ランド電極7bはビア導体9cを介してグランド電極9bに接続され、外部電極8はビア導体9cを介して配線電極9a、グランド電極9bに接続されている。なお、配線基板2は本発明の「配線基板」に相当し、ランド電極7bは本発明の「電極」に相当する。
 各ランド電極7a,7b、各外部電極8、各配線電極9a、および各グランド電極9bは、それぞれ、CuやAg、Al等の電極として一般的に採用される金属で形成されている。また、各ビア導体9cは、AgやCu等の金属で形成されている。
 部品3は、接続端子が配線基板2の一方主面2aに形成されたランド電極7aに例えば半田10を用いて接続されることによって、配線基板2の一方主面2aに実装されている。
 複数の金属ピン4は、配線基板2の各辺の近傍に設けられており、例えば金型を用いて銅等の金属で形成されたり、銅等の棒状或いは線状、板状の金属を用いて折り曲げ加工により形成されたりする。各金属ピン4は、逆U字状をしており、一端面4aがランド電極7bに例えば半田等を用いて電気的に接続されるように取り付けられ、他端面4bが一方主面2aに接触している。各金属ピン4は、一方主面2aから遠ざかるように一端面4aから延在する、直方体状をした第1延在部15を有している。また、各金属ピン4は、第1延在部15の一端面4aと反対側から直角等所定角度で折れ曲がって延在する、直方体状をした第2延在部16を有している。また、各金属ピン4は、第2延在部16の第1延在部15と反対側から折れ曲がって一方主面2aに近づくように、一方主面2aに接触する位置にまで延在する、直方体状をした第1延在部15と同じ長さの第3延在部17を有している。
 封止樹脂層5は、一方主面2aおよび部品3を覆うとともに金属ピン4の面の一部を除いて覆うように一方主面2a、部品3および金属ピン4を封止する。封止樹脂層5に覆われない金属ピン4の面の一部は、第2延在部16のうち、一方主面2aと対向する面と反対側の面(以下、「ピン上部面」と記載する。)4cと、第3延在部17のうち、第1延在部15と対向する面と反対側の面(以下、「ピン側部外面」と記載する。)4dである。ピン上部面4cは、封止樹脂層5における一方主面2aと対向する面と反対側の面(以下、「上面」と記載する。)5aと同一面上にあり、上面5aから露出している。また、ピン側部外面4dは封止樹脂層5における側面5b(図1参照)と同一面上にあり、側面5bから露出している。すなわち、金属ピンは、第2延在部16の全長にわたり、また、第3延在部17の全長にわたり、封止樹脂層5から露出している。
 封止樹脂層5は、シリカフィラー入りのエポキシ樹脂等の封止樹脂として一般的に採用される樹脂で形成することができる。また、高熱伝導性を持たせるため、封止樹脂層5にアルミナフィラーを使用することもできる。
 シールド層6は、封止樹脂層5の表面(封止樹脂層5の上面5a、側面5b)と金属ピン4の封止樹脂層5からの露出面(ピン上部面4c、ピン側部外面4d)と配線基板2の側面それぞれに接触するように覆っている。シールド層6と金属ピン4とでは、シールド層6の一方主面2aと対向する面(以下、「上部内壁面」と記載する。)6aと金属ピン4のピン上部面4cとが接触し、シールド層6の側面部の内壁面(以下、「側部内壁面」と記載する。)6bと金属ピン4のピン側部外面4dとが接触している。シールド層6は、金属ピン4、ランド電極7b、ビア導体9cを介してグランド電極9bに接続される。
 シールド層6は、外部機器から放射される不要電磁波がモジュール1の部品3等へ到来することを低減したり、モジュール1の部品3等から放射される不要電磁波が外部へ漏洩することを低減したりするためのものである。
 シールド層6は、例えば、封止樹脂層5の上面5aおよび側面5b、金属ピン4のピン上部面4cおよびピン側部外面4d並びに配線基板2の側面に積層された密着層と、密着層に積層された導電層と、導電層に積層された耐食層とを有する多層構造で形成することができる。密着層は、導電層と封止樹脂層5等との密着強度を高めるために設けられるものであり、例えば、SUS等の金属で形成することができる。導電層は、シールド層6の実質的なシールド機能を担う層であり、例えば、Cu、Ag、Alのうちのいずれかの金属で形成することができる。耐食層は、導電層が腐食したり、傷が付いたりするのを防止するために設けられるものであり、例えば、SUSで形成することができる。シールド層6の形成に、例えば、スパッタ方式、蒸着方式、ペースト塗布方式等を用いることができる。
 (モジュールの製造方法)
 次に、モジュール1の製造方法について説明する。この第1実施形態では、複数のモジュール1の集合体が形成された後に、個片化されることによりモジュール1が製造される。
 まず、一方主面2aに複数のランド電極7a,7bが形成され、他方主面2bに複数の外部電極8が形成されるとともに、内層に複数の配線電極9a、複数のグランド電極9b、複数のビア導体9c等が形成された配線基板2の集合体を用意する。各ランド電極7a,7b、各外部電極8、各配線電極9a、および各グランド電極9bについては、CuやAg、Al等の金属を含有する導電性ペーストをスクリーン印刷するなどしてそれぞれ形成することができる。また、各ビア導体9cについては、レーザ等を用いてビアホールを形成した後、周知の方法により形成することができる。
 次に、配線基板2の一方主面2aに、周知の表面実装技術を用いて部品3を実装する。例えば、配線基板2のランド電極7aのうち所望のランド電極7a上に半田10を形成しておき、半田10が形成されているランド電極7aのうちの対応するランド電極7aに部品3を実装し、部品3を実装した後、リフロー処理を行う。なお、リフロー処理後に必要に応じて配線基板2の集合体の洗浄を行う。
 次に、配線基板2の一方主面2aに、一端面4aがランド電極7bに例えば半田を用いて電気的に接続されるように取り付けられ、他端面4bが一方主面2aに接触するように金属ピン4を載置する。金属ピン4は例えば金型を用いて銅等の金属で形成されたり、銅等の棒状の金属を用いて折り曲げ加工により形成されたりする。
 次に、配線基板2の一方主面2aとこの一方主面2aに実装された部品3およびこの一方主面2aに載置された金属ピン4とを覆うように、配線基板2の一方主面2aに封止樹脂層5の元となる仮の封止樹脂層を形成する。仮の封止樹脂層の形成に、例えば、トランスファーモールド方式、コンプレッションモールド方式、液状樹脂工法、シート樹脂工法等を用いることができる。ここで、仮の封止樹脂層に、一般的なシリカフィラー入りのエポキシ樹脂を用いることができる。なお、仮の封止樹脂層に高い熱伝導性を持たせるために、アルミナフィラー入りのエポキシ樹脂を仮の封止樹脂層に用いることもできる。なお、仮の封止樹脂層の形成前に、必要に応じて配線基板2のプラズマ洗浄を行う。
 次に、仮の封止樹脂層の一方主面2aと対向する面と反対側の面を金属ピン4のピン上部面4cが露出するまで研磨することによって、封止樹脂層5を形成する。
 次に、ダイサーまたはレーザ加工により、モジュール1を個片化する。このモジュール1の個片化は、金属ピン4のピン側部外面4dが封止樹脂層5の側面5bから露出するように行われる。この個片化されたモジュール1では、金属ピン4のピン上部面4cが封止樹脂層5の上面5aから露出し、金属ピン4のピン側部外面4dが封止樹脂層5の側面5bから露出している。
 次に、封止樹脂層5の上面5aおよび側面5bと、金属ピン4のピン上部面4cおよびピン側部外面4dと、配線基板2の側面を覆うように、シールド層6を形成する。シールド層6と金属ピン4とでは、シールド層6の上部内壁面6aと金属ピン4のピン上部面4cとが接触し、シールド層6の側部内壁面6bと金属ピン4のピン側部外面4dとが接触している。シールド層6の形成に、例えば、スパッタ方式、蒸着方式、ペースト塗布方式等を用いることができる。
 上記した第1実施形態によれば、シールド層6の上部内壁面6aと金属ピン4のピン上部面4cとが接触し、シールド層6の側部内壁面6bと金属ピン4のピン側部外面4dとが接触しているため、シールド層6と金属ピン4との接触面積が大きくなる。これにより、シールド層6と金属ピン4が取り付けられる配線基板2の一方主面2aに形成されたランド電極7bとの電気的な接続性の向上を図ることができる。そして、金属ピン4が取り付けられたランド電極7bが、ビア導体9cを介してグランド電極9bに電気的に接続されることにより、シールド層6はグランド電極9bに十分に電気的に接続され、これによりシールド層6によるシールド効果の向上を図ることができる。
 また、配線基板2中のグランド電極9bをシールド層6と接続させるためにグランド電極9bを配線基板2端部まで延在させる必要がなく、配線基板2の設計エリアの自由度も上がる。また、金属ピン4のグランド接続のための接続箇所は金属ピン4の長さを調整することにより自由に変えることができ、配線基板2の設計エリアの自由度も向上する。
 また、シールド層6とグランド電極9bとを電気的に接続する場合に、グランド電極9bを配線基板2の側面から露出させてシールド層6とグランド電極9bとを直接接続させる工程が不要になり、これによりシールド層6をグランド電極9bに電気的に接続させる工程が容易になる。
 なお、金属ピン4の他端面4bは配線基板2に接触しただけの例を示しているが、この他端面4bも配線基板2の表面電極(但し、この表面電極は配線基板2のグランド電極9bにつながる必要はなく、単に金属ピン4を固定するだけの役目である)に半田等を用いて固定されていても良い。
 <変形例1>
 本発明の第1実施形態に係るモジュール1の変形例1について図3を参照して説明する。なお、図3は第1実施形態の変形例1に係るモジュール1aのシールド層6の上面部分を除いた状態での平面図である。
 第1実施形態の変形例1に係るモジュール1aが図1および図2を用いて説明した第1実施形態に係るモジュール1と異なる点は、図3に示すように、金属ピン20が一方主面2aの各辺から離れた中央付近にあるランド電極7bにその一端面が電気的に接続される点である。その他の構成は第1実施形態に係るモジュール1と同様であるため、同一符号を付すことによりその説明を省略する。
 金属ピン20は、第1実施形態の金属ピン4の第2延在部16を長くした形状をしている。金属ピン20の一端面が一方主面2aの各辺から離れた中央付近にあるランド電極7bに電気的に接続されるように取り付けられ、その他端面が一方主面2aに接触するように取り付けられている。金属ピン20は、第1実施形態の金属ピン4と同様に、封止樹脂層5の上面5aと同一面上にあり、上面5aから露出しているピン上部面20aと、封止樹脂層5の側面5bと同一面上にあり、側面5bから露出しているピン側部外面20bとを有している。ピン上部面20aは、図3では図示していないシールド層6の一方主面2aと対向する面(上部内壁面)に接触しており、ピン側部外面20bはシールド層6の側面部の内壁面(側部内壁面6b)に接触している。
 上記した第1実施形態および第1実施形態の変形例1に示すように、金属ピン(金属ピン4、金属ピン20)を用いることにより、配線基板2の一方主面2aに形成された任意のグランド電極を利用してシールド層6をグランド電極9bに電気的に接続することできる。
 <変形例2>
 本発明の第1実施形態に係るモジュール1の変形例2について図4を参照して説明する。なお、図4は第1実施形態の変形例2に係るモジュール1bの断面の一部を示す図である。
 第1実施形態の変形例2に係るモジュール1bが図1および図2を用いて説明した第1実施形態に係るモジュール1と異なる点は、図4に示すように、第3延在部28が第1延在部26より短い形状の金属ピン25を用い、金属ピン25の他端面25bが配線基板2の一方主面2aに接触していない点である。その他の構成は第1実施形態に係るモジュール1と同様であるため、同一符号を付すことによりその説明を省略する。
 金属ピン25の一端面25aはランド電極7bに例えば半田等を用いて電気的に接続されるように取り付けられ、他端面25bは一方主面2aに接触していない。金属ピン25は、一方主面2aから遠ざかるように一端面25aから延在する、直方体状をした第1延在部26を有している。また、金属ピン25は、第1延在部26の一端面25aと反対側から直角等所定角度で折れ曲がって延在する、直方体状をした第2延在部27を有している。また、金属ピン25は、第2延在部27の第1延在部26と反対側から折れ曲がって一方主面2aに近づくように、一方主面2aに達しない位置まで延在する、直方体状をした第1延在部26より短い第3延在部28を有している。
 第2延在部27のうち、一方主面2aと対向する面と反対側の面(ピン上部面)25cは、封止樹脂層5の上面5aと同一面上にあり、上面5aから露出している。また、第3延在部28のうち、第1延在部26と対向する面と反対側の面(ピン側部外面)25dは、封止樹脂層5の側面5bと同一面上にあり、側面5bから露出している。そして、シールド層6と金属ピン25とでは、シールド層6の上部内壁面6aと金属ピン25のピン上部面25cとが接触し、シールド層6の側部内壁面6bと金属ピン25のピン側部外面25dとが接触している。シールド層6は、金属ピン25、ランド電極7b、ビア導体9cを介してグランド電極9bに接続される。
 上記した第1実施形態の変形例2によれば、金属ピン25は一端面25aが封止樹脂層5から露出しているのを除いて封止樹脂層5内に埋まっているので、金属ピン25が封止樹脂層5から露出することに起因して金属ピン25と配線基板2の一方主面2aに隙間が生じることがなく、モジュール1bの性能の信頼性が向上する。特に配線基板2と封止樹脂層5との間に隙間が発生すると信頼性の低下につながる場合がある。また、配線基板2に対して水分等が入ることによって、配線基板2のショートや特性低下あるいは、部品3等の実装部品の半田にマイグレーションが起こるという問題を防ぐことができる。
 <第2実施形態>
 本発明の第2実施形態に係るモジュール1cについて図5を参照して説明する。なお、図5は第2実施形態に係るモジュール1cの断面の一部を示す図である。
 第2実施形態に係るモジュール1cが図4を用いて説明した第1実施形態の変形例2に係るモジュール1bと異なる点は、図5に示すように、金属ピン30がシールド層6の上部内壁面6aと接触せず、シールド層6の側部内壁面6bとのみ接触している点である。その他の構成は第1実施形態の変形例2に係るモジュール1bと同様であるため、同一符号を付すことによりその説明を省略する。
 金属ピン30の一端面30aはランド電極7bに例えば半田等を用いて電気的に接続されるように取り付けられ、他端面30bは一方主面2aに接触していない。金属ピン30は、一方主面2aから遠ざかるように一端面30aから延在する、直方体状をした第1延在部31を有している。また、金属ピン30は、第1延在部31の一端面30aと反対側から直角等所定角度で折れ曲がって延在する、直方体状をした第2延在部32を有している。また、金属ピン30は、第2延在部32の第1延在部31と反対側から折れ曲がって一方主面2aに近づくように、一方主面2aに達しない位置まで延在する、直方体状をした第1延在部31より短い第3延在部33を有している。
 第2延在部32のうち、一方主面2aと対向する面と反対側の面(ピン上部面)30cは、封止樹脂層5内に埋もれて封止樹脂層5の上面5aから露出していない。また、第3延在部33のうち、第1延在部31と対向する面と反対側の面(ピン側部外面)30dは、封止樹脂層5の側面5bと同一面上にあり、側面5bからから露出している。そして、シールド層6と金属ピン30とでは、シールド層6の側部内壁面6bと金属ピン30のピン側部外面30dとが接触している。なお、シールド層6の上部内壁面6aと金属ピン30のピン上部面30cとは接触していない。シールド層6は、金属ピン30、ランド電極7b、ビア導体9cを介してグランド電極9bに接続される。
 上記した第2実施形態によれば、シールド層6の側部内壁面6bと金属ピン30のピン側部外面30dとが接触しているため、シールド層6と金属ピン30との接触面積が大きくなる。これにより、シールド層6と金属ピン30が取り付けられる配線基板2の一方主面2aに形成されたランド電極7bとの電気的な接続性の向上を図ることができる。そして、金属ピン30が取り付けられたランド電極7bをビア導体9cを介してグランド電極9bに電気的に接続することにより、シールド層6はグランド電極9bに十分に電気的に接続され、これによりシールド層6によるシールド効果の向上を図ることができる。
 また、シールド層6とグランド電極9bとを電気的に接続する場合に、グランド電極9bを配線基板2の側面から露出させてシールド層6とグランド電極9bとを直接接続させる工程が不要になり、これによりシールド層6をグランド電極9bに電気的に接続させる工程が容易になる。
 <変形例1>
 本発明の第2実施形態に係るモジュール1cの変形例1について図6を参照して説明する。なお、図6は第2実施形態の変形例1に係るモジュール1dの断面の一部を示す図である。
 第2実施形態の変形例1に係るモジュール1dが図5を用いて説明した第2実施形態に係るモジュール1cと異なる点は、図6に示すように、第3延在部38から折れ曲がって第1延在部36に近づくように延びる第4延在部39を有する形状の金属ピン35を用いた点である。その他の構造は第2実施形態に係るモジュール1cと同様であるため、同一符号を付すことによりその説明を省略する。
 金属ピン35の一端面30aがランド電極7bに例えば半田等を用いて電気的に接続されるように取り付けられている。金属ピン35は、一方主面2aから遠ざかるように一端面35aから延在する、直方体状をした第1延在部36を有している。また、金属ピン35は、第1延在部36の一端面35aと反対側から直角等所定角度で折れ曲がって延在する、直方体状をした第2延在部37を有している。また、金属ピン35は、第2延在部37の第1延在部36と反対側から折れ曲がって一方主面2aに近づくように、一方主面2aに達しない位置まで延在する、直方体状をした第3延在部38を有している。また、金属ピン35は、第3延在部38の第2延在部37と反対側から折れ曲がって第1延在部36に近づくように、第1延在部36に達しない位置まで延在する、直方体状をした第4延在部39を有している。第4延在部39の一方主面2aと対向する面35bは一方主面2aに接触していない。
 第2延在部37のうち、一方主面2aと対向する面と反対側の面(ピン上部面)35cは、封止樹脂層5内に埋もれて封止樹脂層5の上面5aから露出していない。また、第3延在部38のうち、第1延在部36と対向する面と反対側の面(ピン側部外面)35dは封止樹脂層5の側面5bと同一面上にあり、側面5bから露出している。そして、シールド層6と金属ピン35とでは、シールド層6の側部内壁面6bと金属ピン35のピン側部外面35dとが接触している。なお、シールド層6の上部内壁面6aと金属ピン35のピン上部面35cとは接触していない。シールド層6は、金属ピン35、ランド電極7b、ビア導体9cを介してグランド電極9bに接続される。
 <第3実施形態>
 本発明の第3実施形態に係るモジュール1eについて図7および図8を参照して説明する。なお、図7は第3実施形態に係るモジュール1eのシールド層6の上面部分を除いた状態での平面図であり、図8(a)はシールド層6の上面部分を含むようにした場合の図7のB-B断面図であり、図8(b)は図8(a)の点線で囲む部分の拡大図である。
 第3実施形態に係るモジュール1eが図1および図2を用いて説明した第1実施形態に係るモジュール1と異なる点は、図7および図8に示すように、金属ピン40がシールド層6の側部内壁面6bと接触せず、シールド層6の上部内壁面6aとのみ接触し、金属ピン40の両端面40a,40bがランド電極7bに接続されている点である。その他の構成は第1実施形態に係るモジュール1と同様であるため、同一符号を付すことによりその説明を省略する。
 金属ピン40は、配線基板2のほぼ中央に設けられている。金属ピン40は、逆U字状をしており、一端面40aがランド電極7bに例えば半田等を用いて電気的に接続されるように取り付けられ、他端面40bがランド電極7bに例えば半田等を用いて電気的に接続されるように取り付けられている。金属ピン40は、一方主面2aから遠ざかるように一端面40aから延在する、直方体状をした第1延在部41を有している。また、金属ピン40は、第1延在部41の一端面40aと反対側から直角等所定角度で折れ曲がって延在する、直方体状をした第2延在部42を有している。また、金属ピン40は、第2延在部42の第1延在部41と反対側から折れ曲がって一方主面2aに近づくように、一方主面2aに形成されたランド電極7bに接触する位置にまで延在する、直方体状をした第1延在部41と同じ長さの第3延在部43を有している。
 一端面40aおよび他端面40bは封止樹脂層5の一方主面2aと対向する面から露出し、第2延在部42のうち、一方主面2aと対向する面と反対側の面(ピン上部面)40cは、封止樹脂層5の上面5aと同一面上にあって上面5aから露出し、それ以外は封止樹脂層5から露出しないように、金属ピン40は封止樹脂層5内に埋められている。そして、シールド層6と金属ピン40とでは、シールド層6の上部内壁面6aと金属ピン40のピン上部面40cとが接触している。なお、金属ピン40はシールド層6の側部内壁面6bと接触していない。シールド層6は、金属ピン40、ランド電極7b、ビア導体9cを介してグランド電極9bに接続される。
 上記した第3実施形態によれば、シールド層6の上部内壁面6aと金属ピン40のピン上部面40cとが接触しているため、シールド層6と金属ピン40との接触面積が大きくなる。これにより、シールド層6と金属ピン40が取り付けられる配線基板2の一方主面2aに形成されたランド電極7bとの電気的な接続性の向上を図ることができる。そして、金属ピン40が取り付けられたランド電極7bが、ビア導体9cを介してグランド電極9bに電気的に接続されることにより、シールド層6はグランド電極9bに十分に電気的に接続され、これによりシールド層6によるシールド効果の向上を図ることができる。
 また、シールド層6とグランド電極9bとを電気的に接続する場合に、グランド電極9bを配線基板2の側面から露出させてシールド層6とグランド電極9bとを直接接続させる工程が不要になり、これによりシールド層6をグランド電極9bに電気的に接続させる工程が容易になる。
 <変形例1>
 本発明の第3実施形態に係るモジュール1eの変形例1について図9を参照して説明する。なお、図9は第3実施形態の変形例1に係るモジュール1fの断面の一部を示す図である。
 第3実施形態の変形例1に係るモジュール1fが図5を用いて説明した第3実施形態に係るモジュール1eと異なる点は、図9に示すように、第3延在部48が第1延在部46より短い形状の金属ピン45を用い、金属ピン45の他端面45bが配線基板2の一方主面2aに形成されたランド電極7bに接触していない点である。その他の構成は第3実施形態に係るモジュール1eと同様であるため、同一符号を付すことによりその説明を省略する。
 金属ピン45の一端面45aはランド電極7bに例えば半田等を用いて電気的に接続されるように取り付けられ、他端面45bは一方主面2aに形成されたランド電極7bに接触しない等、一方主面2aに接触していない。金属ピン45は、一方主面2aから遠ざかるように一端面45aから延在する、直方体状をした第1延在部46を有している。また、金属ピン45は、第1延在部46の一端面45aと反対側から直角等所定角度で折れ曲がって延在する、直方体状をした第2延在部47を有している。また、金属ピン45は、第2延在部47の第1延在部46と反対側から折れ曲がって一方主面2aに近づくように、一方主面2aに達しない位置まで延在する、直方体状をした第1延在部46より短い第3延在部48を有している。
 一端面45aは封止樹脂層5の一方主面2aと対向する面から露出し、第2延在部47のうち、一方主面2aと対向する面と反対側の面(ピン上部面)45cは、封止樹脂層5の上面5aと同一面上にあって上面5aから露出し、それ以外は封止樹脂層5から露出しないように、金属ピン45は封止樹脂層5内に埋められている。そして、シールド層6と金属ピン45とでは、シールド層6の上部内壁面6aと金属ピン45のピン上部面45cとが接触している。なお、金属ピン45はシールド層6の側部内壁面6bと接触していない。シールド層6は、金属ピン45、ランド電極7b、ビア導体9cを介してグランド電極9bに接続される。
 なお、本発明は上記した各実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない限りにおいて、上記したもの以外に種々の変更を行うことができる。例えば、各延在部は直方体状としたが、直方体状以外の6角柱状等の柱状であってもよい。あるいは、円筒であってもよい。また、上記した各実施形態の内容および変形例の内容を組み合わせてもよい。
 本発明は、シールド層を有するモジュールに適用することができる。
 1~1f モジュール
 2 配線基板
 2a 一方主面
 3 部品
 4,20,25,30,35,40,45 金属ピン
 15,26,31,36,41,46 第1延在部
 16,27,32,37,42,47 第2延在部
 17,28,33,38,43,48 第3延在部
 39 第4延在部
 5 封止樹脂層
 6 シールド層

Claims (6)

  1.  配線基板と、
     前記配線基板の一方主面に実装された部品と、
     一端面が前記一方主面に形成された電極に取り付けられ、前記一方主面から遠ざかるように前記一端面から延在する第1延在部、前記第1延在部の前記一端面と反対側から折れ曲がって延在する第2延在部、および前記第2延在部の前記第1延在部と反対側から折れ曲がって前記一方主面に近づくように延在する第3延在部を有する金属ピンと、
     前記一方主面および前記部品を覆うとともに、前記金属ピンの前記延在部の一部を除いて覆う封止樹脂層と、
     前記配線基板の側面、前記封止樹脂層の表面を覆うシールド層と、
     を備え、
     前記シールド層は、前記封止樹脂層に覆われていない前記延在部の一部と接触していることを特徴とするモジュール。
  2.  前記金属ピンは、前記第2延在部が前記シールド層に接触している
     ことを特徴とする請求項1に記載のモジュール。
  3.  前記金属ピンは、前記第3延在部が前記シールド層の側面に接触している
     ことを特徴とする請求項1または2に記載のモジュール。
  4.  前記第3延在部は前記配線基板に接触する位置にまで延在している
     ことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載のモジュール。
  5.  前記第3延在部は前記配線基板に接触する位置にまで延在していない
     ことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載のモジュール。
  6.  前記第1延在部は前記電極を介して前記配線基板に設けられているグランド電極に接続されている
     ことを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1項に記載のモジュール。
     
PCT/JP2018/008681 2017-03-08 2018-03-07 モジュール WO2018164159A1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US16/562,680 US10999956B2 (en) 2017-03-08 2019-09-06 Module

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017-044068 2017-03-08
JP2017044068 2017-03-08

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
US16/562,680 Continuation US10999956B2 (en) 2017-03-08 2019-09-06 Module

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2018164159A1 true WO2018164159A1 (ja) 2018-09-13

Family

ID=63447708

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2018/008681 WO2018164159A1 (ja) 2017-03-08 2018-03-07 モジュール

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10999956B2 (ja)
WO (1) WO2018164159A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020110578A1 (ja) * 2018-11-30 2020-06-04 株式会社村田製作所 モジュール

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020202841A1 (ja) * 2019-04-03 2020-10-08 株式会社村田製作所 モジュール、端子集合体、及びモジュールの製造方法
US12055633B2 (en) * 2020-08-25 2024-08-06 Lumentum Operations Llc Package for a time of flight device
CN114126211B (zh) * 2020-08-25 2025-01-03 华为技术有限公司 一种封装模块以及电子设备

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003249607A (ja) * 2002-02-26 2003-09-05 Seiko Epson Corp 半導体装置及びその製造方法、回路基板並びに電子機器
WO2008093414A1 (ja) * 2007-01-31 2008-08-07 Fujitsu Microelectronics Limited 半導体装置及びその製造方法
JP2011529638A (ja) * 2008-07-31 2011-12-08 スカイワークス ソリューションズ,インコーポレイテッド 一体化された干渉シールドを備えた半導体パッケージおよびその製造方法

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06169288A (ja) 1992-09-30 1994-06-14 Sony Corp 受光装置
JP2002258067A (ja) 2001-02-28 2002-09-11 Mitsubishi Cable Ind Ltd 光ファイバ配線板
JP4662324B2 (ja) 2002-11-18 2011-03-30 太陽誘電株式会社 回路モジュール
US7030469B2 (en) * 2003-09-25 2006-04-18 Freescale Semiconductor, Inc. Method of forming a semiconductor package and structure thereof
US7198987B1 (en) * 2004-03-04 2007-04-03 Skyworks Solutions, Inc. Overmolded semiconductor package with an integrated EMI and RFI shield
JP2005303110A (ja) 2004-04-14 2005-10-27 Tdk Corp 電子デバイス
US20080014678A1 (en) * 2006-07-14 2008-01-17 Texas Instruments Incorporated System and method of attenuating electromagnetic interference with a grounded top film
US8043892B2 (en) * 2007-05-02 2011-10-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor die package and integrated circuit package and fabricating method thereof
US8178956B2 (en) * 2007-12-13 2012-05-15 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit package system for shielding electromagnetic interference
US8089749B2 (en) * 2008-07-18 2012-01-03 Nokia Corporation Easy opening folding type device
US8373264B2 (en) * 2008-07-31 2013-02-12 Skyworks Solutions, Inc. Semiconductor package with integrated interference shielding and method of manufacture thereof
US8012868B1 (en) * 2008-12-15 2011-09-06 Amkor Technology Inc Semiconductor device having EMI shielding and method therefor
TWI540698B (zh) * 2010-08-02 2016-07-01 日月光半導體製造股份有限公司 半導體封裝件與其製造方法
TW201225242A (en) * 2010-12-03 2012-06-16 Azurewave Technologies Inc Module IC package structure and method of making the same
US9252107B2 (en) * 2012-05-31 2016-02-02 Skyworks Solutions, Inc. Semiconductor package having a metal paint layer
JP2015176966A (ja) * 2014-03-14 2015-10-05 株式会社東芝 電子機器
JP2015176973A (ja) 2014-03-14 2015-10-05 三菱電機株式会社 マイクロ波回路モジュール
US20170118877A1 (en) * 2015-10-22 2017-04-27 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Circuit package with bond wires to provide internal shielding between electronic components
US10163808B2 (en) * 2015-10-22 2018-12-25 Avago Technologies International Sales Pte. Limited Module with embedded side shield structures and method of fabricating the same
US10297998B2 (en) * 2016-02-18 2019-05-21 Autonetworks Technologies, Ltd. Electrical junction box
US9793222B1 (en) * 2016-04-21 2017-10-17 Apple Inc. Substrate designed to provide EMI shielding
US10178757B2 (en) * 2016-09-30 2019-01-08 Avago Technologies International Sales Pte. Limited Systems and methods for providing electromagnetic interference (EMI) compartment shielding for components disposed inside of system electronic packages
CN110392923A (zh) * 2017-03-08 2019-10-29 株式会社村田制作所 高频模块

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003249607A (ja) * 2002-02-26 2003-09-05 Seiko Epson Corp 半導体装置及びその製造方法、回路基板並びに電子機器
WO2008093414A1 (ja) * 2007-01-31 2008-08-07 Fujitsu Microelectronics Limited 半導体装置及びその製造方法
JP2011529638A (ja) * 2008-07-31 2011-12-08 スカイワークス ソリューションズ,インコーポレイテッド 一体化された干渉シールドを備えた半導体パッケージおよびその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020110578A1 (ja) * 2018-11-30 2020-06-04 株式会社村田製作所 モジュール
US11749589B2 (en) 2018-11-30 2023-09-05 Murata Manufacturing Co., Ltd. Module

Also Published As

Publication number Publication date
US20200008325A1 (en) 2020-01-02
US10999956B2 (en) 2021-05-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102266668B1 (ko) 고주파 모듈
WO2018164158A1 (ja) 高周波モジュール
JP6837432B2 (ja) 高周波モジュール
CN110537397B (zh) 模块
US10999956B2 (en) Module
JPWO2019045088A1 (ja) 高周波モジュールおよびその製造方法
WO2019156051A1 (ja) 高周波モジュール
EP2312921B1 (en) Interconnect board, printed circuit board unit, and method
US10674648B2 (en) High-frequency module
JP7111112B2 (ja) 高周波モジュール
WO2018101382A1 (ja) 高周波モジュール
SG179333A1 (en) Connector assembly and method of manufacture
JPWO2019167908A1 (ja) 高周波モジュール
WO2019181761A1 (ja) 高周波モジュール
US20220028750A1 (en) Electronic component module
CN218513447U (zh) 模块
JP2008159984A (ja) 三次元基板間接続構造体とその製造方法およびそれを用いた立体回路装置
WO2018164160A1 (ja) モジュール
KR101741648B1 (ko) 전자파 차폐 수단을 갖는 반도체 패키지 및 그 제조 방법
WO2020196131A1 (ja) 電子部品モジュール
US20220310317A1 (en) Electronic component module
KR101799095B1 (ko) 메탈코어를 구비한 인쇄회로기판 및 그 제조방법
JP2000278041A (ja) 電圧制御発振器
JP2016163006A (ja) マイクロ波半導体パッケージ及びマイクロ波半導体モジュール

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 18764599

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 18764599

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: JP

点击 这是indexloc提供的php浏览器服务,不要输入任何密码和下载