WO2008136058A1 - Plaque d'échantillon pour ionisation par désorption laser et spectromètre de masse utilisant la plaque d'échantillon - Google Patents
Plaque d'échantillon pour ionisation par désorption laser et spectromètre de masse utilisant la plaque d'échantillon Download PDFInfo
- Publication number
- WO2008136058A1 WO2008136058A1 PCT/JP2007/000456 JP2007000456W WO2008136058A1 WO 2008136058 A1 WO2008136058 A1 WO 2008136058A1 JP 2007000456 W JP2007000456 W JP 2007000456W WO 2008136058 A1 WO2008136058 A1 WO 2008136058A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- sample plate
- layer
- laser desorption
- pores
- desorption ionization
- Prior art date
Links
- 238000001698 laser desorption ionisation Methods 0.000 title abstract 2
- 239000011148 porous material Substances 0.000 abstract 3
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 abstract 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract 2
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 abstract 2
- 238000007743 anodising Methods 0.000 abstract 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 abstract 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0409—Sample holders or containers
- H01J49/0418—Sample holders or containers for laser desorption, e.g. matrix-assisted laser desorption/ionisation [MALDI] plates or surface enhanced laser desorption/ionisation [SELDI] plates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
- G01N35/028—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having reaction cells in the form of microtitration plates
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
La présente invention concerne une plaque d'échantillon (20) pour ionisation par désorption laser qui est obtenue en superposant une couche d'Al2O3 (22), présentant une multiplicité de pores (23) d'environ 20 à 30 nm de diamètre, en tant que couche d'isolation thermique sur un substratum de plaque d'Al (21) et en superposant sur sa surface un film mince métallique à deux couches (24) composé d'une couche de Ti (24a) et d'une couche de Pt (24b). Lorsque l'association de métaux dissimilaires Ti/Pt exerce une capacité de catalyse d'ajout de H+ importante, il est possible d'obtenir une efficacité d'ionisation importante même en l'absence de pores (23) de diamètre important comme dans l'art antérieur. En conséquence, la durée de traitement d'anodisation lors de la formation de la couche d'Al2O3 (22) peut être courte, et aucun traitement particulier pour former les pores (23) de diamètre important n'est nécessaire. De ce fait, la production peut être facilitée, et le coût peut être réduit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2007/000456 WO2008136058A1 (fr) | 2007-04-25 | 2007-04-25 | Plaque d'échantillon pour ionisation par désorption laser et spectromètre de masse utilisant la plaque d'échantillon |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2007/000456 WO2008136058A1 (fr) | 2007-04-25 | 2007-04-25 | Plaque d'échantillon pour ionisation par désorption laser et spectromètre de masse utilisant la plaque d'échantillon |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| WO2008136058A1 true WO2008136058A1 (fr) | 2008-11-13 |
Family
ID=39943183
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2007/000456 WO2008136058A1 (fr) | 2007-04-25 | 2007-04-25 | Plaque d'échantillon pour ionisation par désorption laser et spectromètre de masse utilisant la plaque d'échantillon |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| WO (1) | WO2008136058A1 (fr) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109585254A (zh) * | 2018-11-15 | 2019-04-05 | 复旦大学 | 一种基质辅助激光解析质谱大批量上样装置 |
| EP3474310A1 (fr) | 2017-10-18 | 2019-04-24 | Shimadzu Corporation | Dispositif de gestion d'informations pour spectromètre de masse |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003536073A (ja) * | 2000-06-05 | 2003-12-02 | カイロン コーポレイション | プロテオミクス分析を実施するためのマイクロアレイ |
| WO2006046697A1 (fr) * | 2004-10-29 | 2006-05-04 | Japan Science And Technology Agency | Substrat pour maldi-tof ms et procede de spectrometrie de masse utilisant ledit substrat |
-
2007
- 2007-04-25 WO PCT/JP2007/000456 patent/WO2008136058A1/fr active Application Filing
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003536073A (ja) * | 2000-06-05 | 2003-12-02 | カイロン コーポレイション | プロテオミクス分析を実施するためのマイクロアレイ |
| WO2006046697A1 (fr) * | 2004-10-29 | 2006-05-04 | Japan Science And Technology Agency | Substrat pour maldi-tof ms et procede de spectrometrie de masse utilisant ledit substrat |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| SHOJI OKUNO: "Requirements for Laser-Induced Desortion/Ionization on Submicrometer Structures", ANALYTICAL CHEMISTRY, vol. 77, no. 16, 2005, pages 5364 - 5369, XP003012113 * |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3474310A1 (fr) | 2017-10-18 | 2019-04-24 | Shimadzu Corporation | Dispositif de gestion d'informations pour spectromètre de masse |
| US12176197B2 (en) | 2017-10-18 | 2024-12-24 | Shimadzu Corporation | Information management device for mass spectrometer |
| CN109585254A (zh) * | 2018-11-15 | 2019-04-05 | 复旦大学 | 一种基质辅助激光解析质谱大批量上样装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| WO2009041657A1 (fr) | Substrat pour cellule solaire et cellule solaire | |
| WO2009121944A3 (fr) | Procede pour assembler deux surfaces ou une surface avec une molecule d'interet | |
| WO2011008925A3 (fr) | Procédé de formation de couches diélectriques | |
| WO2013042958A3 (fr) | Procédé de fabrication destiné à une membrane de revêtement de type support et utilisant un coulage en bande | |
| WO2007001301A3 (fr) | Procedes et systemes de depot par evaporation sous vide | |
| WO2007059578A8 (fr) | Fabrication de cellules solaires à rendement élevé | |
| JP2012531045A5 (fr) | ||
| WO2006137885A8 (fr) | Substrats de spectrometrie de l'effet raman exalte de surface (sers) presentant un grand enrichissement uniforme et une grande stabilite | |
| WO2012093807A3 (fr) | Procédé et dispositif pour revêtement résistant aux empreintes digitales | |
| EP2133921B8 (fr) | Procédé pour préparer une électrode transparente stable | |
| JP2012503330A5 (fr) | ||
| JP2012009432A5 (ja) | 蓄電装置の作製方法 | |
| JP2009158782A5 (fr) | ||
| JP2011077504A5 (ja) | Ｓｏｉ基板の作製方法 | |
| WO2012105800A3 (fr) | Nanogénérateur et son procédé de fabrication | |
| JP2010103510A5 (ja) | 半導体装置の作製方法及び半導体装置 | |
| AU2001230874A1 (en) | Method for preparation of thermally and mechanically stable metal/porous substrate composite membranes | |
| WO2008136058A1 (fr) | Plaque d'échantillon pour ionisation par désorption laser et spectromètre de masse utilisant la plaque d'échantillon | |
| WO2009050209A3 (fr) | Procédé de fabrication d'un élément mems sur un substrat | |
| WO2006085950A3 (fr) | Desorption/ionisation d'echantillon provenant de silice mesoporeuse | |
| EP2086014A3 (fr) | Substrat à dépôt d'oxyde conducteur et procédé pour sa fabrication et structure MIS stratifiée et son procédé de fabrication | |
| CN105483631B (zh) | 一种纳米多孔晶态无机薄膜材料的制备方法 | |
| JP2009101351A5 (fr) | ||
| WO2009051194A1 (fr) | Élément structurel de membrane et son procédé de fabrication | |
| RU2521382C1 (ru) | Способ изготовления мембраны для выделения водорода из газовых смесей |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 07737113 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
| NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
|
| 122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 07737113 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
| NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: JP |