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WO2011083989A3 - Dispositif de contrôle de défaut - Google Patents

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WO2011083989A3
WO2011083989A3 PCT/KR2011/000086 KR2011000086W WO2011083989A3 WO 2011083989 A3 WO2011083989 A3 WO 2011083989A3 KR 2011000086 W KR2011000086 W KR 2011000086W WO 2011083989 A3 WO2011083989 A3 WO 2011083989A3
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이제선
장기수
최백영
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주식회사 쓰리비시스템
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    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
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Abstract

La présente invention a trait à un dispositif de contrôle de défaut donné à titre d'exemple qui comprend : une première source lumineuse permettant d'éclairer au moyen d'une première lumière un objet à contrôler ; une plaque rétroréfléchissante qui rétroréfléchit la première lumière réfléchie à partir de l'objet à contrôler de sorte que la première lumière est de nouveau incidente à l'objet à contrôler ; une seconde source lumineuse qui éclaire au moyen d'une seconde lumière l'objet à contrôler ; et une caméra qui capture une image de l'objet à contrôler à partir de la première lumière, qui a été rétroréfléchie et renvoyée de manière à être de nouveau incidente à l'objet à contrôler au moyen de la plaque rétroréfléchissante, et à partir de la seconde lumière émise à partir de la seconde source lumineuse.
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