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WO2009037810A1 - Dispositif de mesure, instrument et procédé de mesure, et procédé d'échantillonnage - Google Patents

Dispositif de mesure, instrument et procédé de mesure, et procédé d'échantillonnage Download PDF

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WO2009037810A1
WO2009037810A1 PCT/JP2008/002487 JP2008002487W WO2009037810A1 WO 2009037810 A1 WO2009037810 A1 WO 2009037810A1 JP 2008002487 W JP2008002487 W JP 2008002487W WO 2009037810 A1 WO2009037810 A1 WO 2009037810A1
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sample
receiving chamber
measurement
measurement device
gas discharge
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PCT/JP2008/002487
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroaki Tachibana
Original Assignee
Panasonic Corporation
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Abstract

L'invention concerne un dispositif de mesure capable d'introduire simplement et quantitativement un échantillon dans une chambre de mesure sans l'inonder, et un instrument de mesure, un procédé de mesure et un procédé d'échantillonnage employant le dispositif de mesure. Le dispositif de mesure (1) comprend une première chambre de réception d'échantillon, (11) pourvue d'une ouverture d'introduction d'échantillon (13a), qui reçoit un échantillon introduit par l'ouverture d'introduction d'échantillon ; une seconde chambre de réception d'échantillon (12) pourvue d'une ouverture d'évacuation des gaz (19) et qui reçoit l'échantillon évacué par l'ouverture d'évacuation des gaz et évacué de la première chambre de réception d'échantillon communiquant avec la seconde chambre de réception d'échantillon (12) ; un film de séparation gaz-liquide (9) pour couvrir l'ouverture d'évacuation des gaz de la seconde chambre de réception d'échantillon, et séparer l'échantillon reçu dans la seconde chambre de réception d'échantillon, la séparation étant effectuée de façon à empêcher l'évacuation de l'échantillon par l'ouverture d'évacuation des gaz ; et un mécanisme de mise sous pression pour mettre sous pression, du côté de l'échantillon, la surface liquide de l'échantillon reçu dans la seconde chambre de réception d'échantillon.
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