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WO2008146622A1 - 電子機器のノイズ測定方法 - Google Patents

電子機器のノイズ測定方法 Download PDF

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WO2008146622A1 PCT/JP2008/059031 JP2008059031W WO2008146622A1 WO 2008146622 A1 WO2008146622 A1 WO 2008146622A1 JP 2008059031 W JP2008059031 W JP 2008059031W WO 2008146622 A1 WO2008146622 A1 WO 2008146622A1
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Ko Yamanaga
Takahiro Azuma
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Murata Manufacturing Co., Ltd.
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    • G—PHYSICS
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Abstract

　被測定対象（１４）に形成されている差動伝送回路上の所定の接続点に対してネットワークアナライザ（１０）の第２・第３のポートをケーブル（１２），（１３）を介して接続し、差動伝送回路に差動ケーブル（１５）を接続し、この差動ケーブル（１５）から輻射される電磁波を受信するアンテナ（１７）をネットワークアナライザ（１０）の第１のポートにケーブル（１１）を介して接続する。ネットワークアナライザ（１０）は第１～第３の３ポートのＳパラメータを測定し、その３ポートのＳパラメータを基に差動ケーブル（１５）から輻射されるノイズのコモンモードとノーマルモードの成分を求める。これにより、電子機器内部のノイズ発生源を特定できるようにし、またコモンモードとノーマルモードの個別のノイズを測定できるようにする。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014038016A (ja) * 2012-08-14 2014-02-27 Honda Motor Co Ltd 電磁妨害波測定装置および電磁妨害波評価システム
JP2015049203A (ja) * 2013-09-04 2015-03-16 独立行政法人情報通信研究機構 コモンモード伝導妨害波測定装置
JP2015224994A (ja) * 2014-05-28 2015-12-14 富士ゼロックス株式会社 差動ケーブルの評価方法
JP2016057123A (ja) * 2014-09-08 2016-04-21 日本電信電話株式会社 妨害波伝達特性測定システムおよび測定方法
CN106124891A (zh) * 2016-06-21 2016-11-16 西南交通大学 一种平面电路测试空间电磁辐射干扰方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120176150A1 (en) * 2011-01-10 2012-07-12 Hsing-Chou Hsu Measuring equipment for probe-effect cancellation and method thereof
RU2478976C1 (ru) * 2011-07-29 2013-04-10 Федеральное государственное унитарное предприятие "Крыловский государственный научный центр" Способ выделения сигнала шума источника из суммарного шума
US9939479B2 (en) * 2014-04-24 2018-04-10 Keysight Technologies, Inc. Noise figure measurement using narrowband compensation
CN107796993B (zh) * 2017-09-27 2020-04-21 广东小天才科技有限公司 一种带Cable线的天线的测试方法、装置及设备
CN108732433B (zh) * 2018-07-24 2024-05-28 深圳市华讯方舟光电技术有限公司 微波变频器噪声值检测系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10502453A (ja) * 1994-07-05 1998-03-03 モトローラ・インコーポレーテッド 差動回路の特性を求めるための方法および装置
JP2001194435A (ja) * 2000-01-07 2001-07-19 Canon Inc 磁界センサ並びに磁界分布測定方法及び装置並びに電磁波源探索方法及び装置並びに記憶媒体
JP2002323524A (ja) * 2001-04-25 2002-11-08 Advantest Corp 回路網解析装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0643197A (ja) 1992-07-27 1994-02-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 分布推定装置
JP2000009775A (ja) * 1998-06-19 2000-01-14 Nec Corp 電流測定装置および電流発生源特定方法
JP2000241473A (ja) 1999-02-17 2000-09-08 Sony Corp 電磁波検出器、電磁波検出装置およびその方法
JP4886108B2 (ja) * 2000-12-12 2012-02-29 矢崎総業株式会社 電界ノイズ測定装置および方法
JP3558086B1 (ja) 2003-03-05 2004-08-25 株式会社村田製作所 測定誤差の補正方法および電子部品特性測定装置
JP2005207960A (ja) 2004-01-26 2005-08-04 Canon Inc 集積回路の電気定数導出方法及びシステム
JP5386055B2 (ja) * 2005-08-30 2014-01-15 株式会社日立製作所 特性評価装置および特性評価方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10502453A (ja) * 1994-07-05 1998-03-03 モトローラ・インコーポレーテッド 差動回路の特性を求めるための方法および装置
JP2001194435A (ja) * 2000-01-07 2001-07-19 Canon Inc 磁界センサ並びに磁界分布測定方法及び装置並びに電磁波源探索方法及び装置並びに記憶媒体
JP2002323524A (ja) * 2001-04-25 2002-11-08 Advantest Corp 回路網解析装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014038016A (ja) * 2012-08-14 2014-02-27 Honda Motor Co Ltd 電磁妨害波測定装置および電磁妨害波評価システム
JP2015049203A (ja) * 2013-09-04 2015-03-16 独立行政法人情報通信研究機構 コモンモード伝導妨害波測定装置
JP2015224994A (ja) * 2014-05-28 2015-12-14 富士ゼロックス株式会社 差動ケーブルの評価方法
JP2016057123A (ja) * 2014-09-08 2016-04-21 日本電信電話株式会社 妨害波伝達特性測定システムおよび測定方法
CN106124891A (zh) * 2016-06-21 2016-11-16 西南交通大学 一种平面电路测试空间电磁辐射干扰方法

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