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WO2007042551B1 - Testkopfeinrichtung - Google Patents

Testkopfeinrichtung

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Abstract

Es wird eine Testkopfeinrichtung zum Testen der Funktionsfähigkeit einer Vielzahl von in Smart-Labels (17) angeordneten RFID-Chips innerhalb einer Smart-Label- Fertigungsvorrichtung mittels eines Datenlese- und/oder Datenschreibvorganges gezeigt, wobei die Smart-Labels (17) mit jeweils einer ersten Antenne (10a - 1 Oe) neben- und hintereinander auf einem gemeinsamen fortlaufenden Band aufgebracht sind, wobei die Testkopfeinrichtung eine Mehrzahl von in ihrer Funktion voneinander unabhängigen Testsystemen bestehend aus jeweils einer Schreib- und/oder Leseeinheit (12a - e), jeweils einer damit verbundenen zweiten Antenne (3, 1 1 a - e; 18), die jeweils einer der ersten Antennen (10a - 1 Oe) zur gleichzeitigen Übertragung von Lese- und/oder Schreibdaten zwischen den ersten und zweiten Antennen (10a - 10e; 3; 1 1 a - e; 18) mittels Ultrahochfrequenzwellen zugeordnet sind, und einer gemeinsamen, zumindest in Höhenrichtung verschiebbaren Tischeinheit aufweist, wobei die zweiten Antennen (3; 1 1 a - e; 18) auf einer gemeinsamen, parallel zum Band ausgerichteten Antennenträgerplatte (2) angeordnet sind.

Claims

GEÄNDERTE ANSPRÜCHE beim Internationalen Büro eingegangen am30. März 2007 (30.03.2007)TestkopfeinrichtungNeue Patentansprüche
1. Testkopfeinrichtung zum Testen der Funktionsfähigkeit einer Vielzahl von in Smart- 5 Labels (17) angeordneten RFID-Chips innerhalb einer Smart-Label-
Fertigungsvorrichtung mittels eines Datenlese- und/oder Datenschreibvorganges, wobei die Smart-Labels (17) mit jeweils einer ersten Antenne (10a - 10e) neben- und hintereinander auf einem gemeinsamen fortlaufenden Band aufgebracht sind, wobei die Testkopfeinrichtung eine Mehrzahl von in ihrer Funktion voneinander unabhängi- 0 gen Testsystemen bestehend aus jeweils einer Schreib- und/oder Leseeinheit (12a - e) und jeweils einer damit verbundenen zweiten Antenne (3, 11a - 11e; 18), die jeweils einer der ersten Antennen (10a -10e) zur gleichzeitigen Übertragung von Lese- und/oder Schreibdaten zwischen den ersten und zweiten Antennen (10a - 10e; 3; 11a - e; 18) mittels Ultrahochfrequenzwellen zugeordnet sind, aufweist, 5 d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , d a s s die zweiten Antennen (3; 11a - e; 18) auf einer gemeinsamen, parallel zum Band ausgerichteten Antennenträgerplatte (2) angeordnet sind und mit jeder zweiten Antenne (3; 18) die UHF-Wellen mit einer zu den benachbarten zweiten Antennen (3; 18) unterschiedlichen Polarisation (11a - e) und/oder unterschiedlichen Frequenz o aussendbar sind.
2. Testkopfeinrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die Testsysteme mit einer gemeinsamen Steuereinrichtung (14, 16) verbunden sind, die mit jedem Testsystem unabhängig voneinander verschiedene Steuer- und Rege- lungsdaten zur Steuerung der Lese- und/oder Schreibvorgänge austauscht.
3. Testkopfeinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass jedes Testsystem eine gemeinsame, zumindest in Höhenrichtung verschiebbare Tischeinheit aufweist.
4. Testkopfeinrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass jede zweite Antenne (3; 11a - e; 18) eine sich von derjenigen der benachbarten zwei- ten Antennen (3, 11a - e; 18) unterscheidende Form aufweist.
5. Testkopfeinrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen den Lese- und/oder Schreibeinheiten (12a - e) und den ihnen zugeordne- ten zweiten Antennen (11a - e) jeweils ein HF-Dämpfungsglied angeordnet ist.
6. Testkopfeinrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüche, gekennzeichnet durch einen Testkopf (1), der die Antennenträgerplatte (2) mit den zweiten Antennen (3), darauf angebrachte Abstandshalter (4) zur Beabstandung des Bandes gegenüber der
Antennenträgerplatte (2), eine parallel zur Antennenträgerplatte (2) angeordnete Aufnahmeplatte (6), HF-Anschlusselemente (8) für den Anschluss der Lese- und/oder Schreibeinheiten (12a - e) und einen gemeinsamen Kodierungsanschluss (7) zum Übertragen von Kodierungsdaten mit Anfangswerten für Parameter zu den Lese- und Schreibvorgängen der zweiten Antennen (3) umfasst.
7. Testkopfeinrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Testkopf (1) auf der Tischeinheit auswechselbar angeordnet ist.
8. Testkopfeinrichtung nach einem der Ansprüche 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Parameter Werte für Arbeitsfrequenzen, Chiptypen und die Leistung der UHF- Wellen umfassen.
9. Testkopfeinrichtung nach einem der Ansprüche 5-8, dadurch gekennzeichnet, dass die Parameter Positionierungswerte für die Tischeinheit umfassen.
10. Testkopfeinrichtung nach einem der Ansprüche 6-9, dadurch gekennzeichnet, dass die Kodierungsdaten an die angeschlossenen Lese- und Schreibeinheiten (12a - e) und die Tischeinheit übertragbar sind.
11. Testkopfeinrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Tischeinheit in Längs- und Breitenrichtung des Bandes mittels Schiebebewegungen verstellbar ist.
12. Testkopfeinrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die zweite Antenne doppelte, invertierte F-Antennen (18) darstellen.
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI407376B (zh) * 2009-02-13 2013-09-01 Ind Tech Res Inst 無線射頻識別標籤檢測方法與系統
DE102013100981B4 (de) * 2013-01-31 2021-03-11 Bundesdruckerei Gmbh Dokumentenpuffer
CN114492481B (zh) * 2022-01-17 2024-04-30 深圳市鸿陆技术有限公司 Rfid读写器测试装置及rfid读写器测试方法
CN117452121B (zh) * 2023-10-30 2024-05-24 乐沪电子有限公司 通过扫码器测试电子产品的方法、装置和计算机存储介质

Family Cites Families (49)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5983363A (en) * 1992-11-20 1999-11-09 Micron Communications, Inc. In-sheet transceiver testing
US5568155A (en) * 1992-12-07 1996-10-22 Ntt Mobile Communications Network Incorporation Antenna devices having double-resonance characteristics
US5945835A (en) * 1997-03-05 1999-08-31 Lucent Technologies Inc. Radio frequency test probe with integral mount for circuit board under test
US6104291A (en) * 1998-01-09 2000-08-15 Intermec Ip Corp. Method and apparatus for testing RFID tags
JP2000020651A (ja) * 1998-06-30 2000-01-21 Kokusai Electric Co Ltd リーダライタ
US6369593B1 (en) * 1998-10-13 2002-04-09 Test Plus Electronic Gmbh Load board test fixture
US6449741B1 (en) * 1998-10-30 2002-09-10 Ltx Corporation Single platform electronic tester
US6246326B1 (en) * 1999-05-05 2001-06-12 Intermec Ip Corp. Performance optimized smart label printer
US6784789B2 (en) * 1999-07-08 2004-08-31 Intermec Ip Corp. Method and apparatus for verifying RFID tags
JP3453133B2 (ja) * 1999-08-16 2003-10-06 株式会社アドバンテスト Ic試験装置のタイミング校正方法及びその校正方法を用いた校正機能を有するic試験装置
JP3584845B2 (ja) * 2000-03-16 2004-11-04 日立ハイテク電子エンジニアリング株式会社 Icデバイスの試験装置及び試験方法
JP2001348111A (ja) * 2000-06-09 2001-12-18 Hitachi Kokusai Electric Inc 物品管理棚
DE10041691A1 (de) * 2000-08-24 2002-03-14 Infineon Technologies Ag Halbleiteranordnung
US6671844B1 (en) * 2000-10-02 2003-12-30 Agilent Technologies, Inc. Memory tester tests multiple DUT's per test site
US6687861B1 (en) * 2000-10-31 2004-02-03 Agilent Technologies, Inc. Memory tester with enhanced post decode
JP2002245417A (ja) * 2001-02-19 2002-08-30 Hitachi Information & Control Systems Inc 生産管理装置
US6834364B2 (en) * 2001-04-19 2004-12-21 Agilent Technologies, Inc. Algorithmically programmable memory tester with breakpoint trigger, error jamming and 'scope mode that memorizes target sequences
US6574764B2 (en) * 2001-04-25 2003-06-03 Agilent Technologies, Inc. Algorithmically programmable memory tester with history FIFO's that aid in error analysis and recovery
US20050246390A1 (en) * 2001-08-24 2005-11-03 House Richard W Enterprise test data management system utilizing automatically created test data structures and related methods
US7113883B1 (en) * 2001-08-24 2006-09-26 Vi Technology, Inc. Test configuration and data management system and associated method for enterprise test operations
JP4514374B2 (ja) * 2001-09-05 2010-07-28 トッパン・フォームズ株式会社 Rf−idの検査システム
JP2003249872A (ja) * 2002-02-22 2003-09-05 Sharp Corp 無線通信システム
US6724730B1 (en) * 2002-03-04 2004-04-20 Azimuth Networks, Inc. Test system for simulating a wireless environment and method of using same
US20050053008A1 (en) * 2002-03-04 2005-03-10 Griesing John Robert Wireless device isolation in a controlled RF test environment
WO2004010531A1 (en) * 2002-07-15 2004-01-29 Fractus, S.A. Notched-fed antenna
JP2004108898A (ja) * 2002-09-17 2004-04-08 Advantest Corp パフォーマンスボード及び試験システム
GB0222556D0 (en) * 2002-09-28 2002-11-06 Koninkl Philips Electronics Nv RF chip testing method and system
JP2004220141A (ja) * 2003-01-10 2004-08-05 Renesas Technology Corp Icインレットの製造方法、idタグ、idタグリーダおよびそれらのデータ読み出し方法
US7242996B2 (en) * 2003-03-25 2007-07-10 Id Solutions, Inc. Attachment of RFID modules to antennas
EP1667336B1 (de) * 2003-09-19 2013-05-01 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Funk-etiketten-leser/-schreiber
US7095382B2 (en) * 2003-11-24 2006-08-22 Sandbridge Technologies, Inc. Modified printed dipole antennas for wireless multi-band communications systems
WO2005052614A1 (en) * 2003-11-26 2005-06-09 Advantest Corporation Testing apparatus
US7672805B2 (en) * 2003-11-26 2010-03-02 Advantest Corporation Synchronization of modules for analog and mixed signal testing in an open architecture test system
US7627445B2 (en) * 2003-11-26 2009-12-01 Advantest Corporation Apparatus for testing a device with a high frequency signal
US6999028B2 (en) * 2003-12-23 2006-02-14 3M Innovative Properties Company Ultra high frequency radio frequency identification tag
TWI239151B (en) * 2004-07-13 2005-09-01 Arcadyan Technology Corp Testing system and testing method for wireless communication equipment
EP1628360B1 (de) * 2004-08-21 2007-10-10 Samsung Electronics Co., Ltd Kleine gleichrichtende Antenne
KR101038493B1 (ko) * 2004-11-12 2011-06-01 삼성테크윈 주식회사 극초단파용 라디오 주파수 인식태그 제조방법
US7477152B2 (en) * 2005-03-14 2009-01-13 Avery Dennison Corporation RFID application test systems and methods
US7196508B2 (en) * 2005-03-22 2007-03-27 Mirae Corporation Handler for testing semiconductor devices
US7349670B2 (en) * 2005-04-12 2008-03-25 Azimuth Systems Inc. Modular wireless test architecture and method
US20060229018A1 (en) * 2005-04-12 2006-10-12 Azimuth Systems, Inc. Apparatus and method for use in testing wireless devices
US7693082B2 (en) * 2005-04-12 2010-04-06 Azimuth Systems, Inc. Latency measurement apparatus and method
DE102005018326B4 (de) * 2005-04-20 2009-11-12 Siemens Ag Steuerungsverfahren zur Bewegungsführung eines hinsichtlich seiner Halteposition bewegbaren, dabei zu einer Schwingung anregbaren Röntgenstrahlers und/oder Röntgenempfängers eines Röntgenuntersuchungssystems
US20070057795A1 (en) * 2005-09-12 2007-03-15 Wakahiro Kawai Inspection method of RFID tag
US7274202B2 (en) * 2005-10-07 2007-09-25 Verigy (Singapore) Pte. Ltd. Carousel device, system and method for electronic circuit tester
US20070080752A1 (en) * 2005-10-11 2007-04-12 Smith Stephen W Apparatus for low noise and jitter injection in test applications
US20070096882A1 (en) * 2005-11-02 2007-05-03 Symbol Technologies, Inc. Sensor based selection of radio frequency identification tags
US7594571B2 (en) * 2006-01-06 2009-09-29 Asia Vital Components Co., Ltd. Conveying device for testing heat dissipating fans

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