+

WO2006013387A3 - Utilisation de sondes de mesure de surface - Google Patents

Utilisation de sondes de mesure de surface Download PDF

Info

Publication number
WO2006013387A3
WO2006013387A3 PCT/GB2005/003095 GB2005003095W WO2006013387A3 WO 2006013387 A3 WO2006013387 A3 WO 2006013387A3 GB 2005003095 W GB2005003095 W GB 2005003095W WO 2006013387 A3 WO2006013387 A3 WO 2006013387A3
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
artefact
probe
measurements
surface measurement
measurement probes
Prior art date
Application number
PCT/GB2005/003095
Other languages
English (en)
Other versions
WO2006013387A2 (fr
WO2006013387A9 (fr
Inventor
Kevyn Barry Jonas
Geoffrey Mcfarland
Original Assignee
Renishaw Plc
Kevyn Barry Jonas
Geoffrey Mcfarland
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=32982635&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=WO2006013387(A3) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Renishaw Plc, Kevyn Barry Jonas, Geoffrey Mcfarland filed Critical Renishaw Plc
Priority to DE602005005839.7T priority Critical patent/DE602005005839T3/de
Priority to US11/658,162 priority patent/US7526873B2/en
Priority to EP05772904.8A priority patent/EP1792139B2/fr
Priority to JP2007524401A priority patent/JP2008509386A/ja
Publication of WO2006013387A2 publication Critical patent/WO2006013387A2/fr
Publication of WO2006013387A3 publication Critical patent/WO2006013387A3/fr
Publication of WO2006013387A9 publication Critical patent/WO2006013387A9/fr

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • G01B21/045Correction of measurements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Pens And Brushes (AREA)
  • Prostheses (AREA)
  • Dental Preparations (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

La présente invention concerne un procédé pour mesurer un artéfact au moyen d'une machine sur laquelle est montée une sonde de mesure. Le procédé comprend les étapes suivantes: détermination de la position approximative d'un ou de plusieurs points à la surface de l'artéfact; utilisation de la position approximative pour entraîner la sonde et/ou l'artéfact vers une ou plusieurs positions relatives désirées de la sonde et de la surface, et prise d'une ou plusieurs mesures de surface dudit point de la surface de l'artéfact audit emplacement, aucun mouvement relatif ne s'effectuant entre la sonde et l'artéfact lorsque la/les mesure(s) de surface est/sont prise(s) ; et utilisation de données issues des mesures, pour déterminer une position du/des point(s) de la surface, l'erreur dynamique se trouvant sensiblement réduite.
PCT/GB2005/003095 2004-08-06 2005-08-05 Utilisation de sondes de mesure de surface WO2006013387A2 (fr)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE602005005839.7T DE602005005839T3 (de) 2004-08-06 2005-08-05 Verwendung von oberflächenmesssonden
US11/658,162 US7526873B2 (en) 2004-08-06 2005-08-05 Use of surface measurement probes
EP05772904.8A EP1792139B2 (fr) 2004-08-06 2005-08-05 Utilisation de sondes de mesure de surface
JP2007524401A JP2008509386A (ja) 2004-08-06 2005-08-05 表面測定用プローブの使用法

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GBGB0417536.0A GB0417536D0 (en) 2004-08-06 2004-08-06 The use of surface measurement probes
GB0417536.0 2004-08-06

Publications (3)

Publication Number Publication Date
WO2006013387A2 WO2006013387A2 (fr) 2006-02-09
WO2006013387A3 true WO2006013387A3 (fr) 2006-03-23
WO2006013387A9 WO2006013387A9 (fr) 2007-03-15

Family

ID=32982635

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/GB2005/003095 WO2006013387A2 (fr) 2004-08-06 2005-08-05 Utilisation de sondes de mesure de surface

Country Status (8)

Country Link
US (1) US7526873B2 (fr)
EP (1) EP1792139B2 (fr)
JP (1) JP2008509386A (fr)
CN (1) CN100460814C (fr)
AT (1) ATE391284T1 (fr)
DE (1) DE602005005839T3 (fr)
GB (1) GB0417536D0 (fr)
WO (1) WO2006013387A2 (fr)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0608235D0 (en) * 2006-04-26 2006-06-07 Renishaw Plc Differential calibration
GB0703423D0 (en) 2007-02-22 2007-04-04 Renishaw Plc Calibration method and apparatus
JP2008304332A (ja) * 2007-06-07 2008-12-18 Tokyo Seimitsu Co Ltd 表面粗さ/形状測定装置及び表面粗さ/形状測定方法
US20110060542A1 (en) * 2007-06-28 2011-03-10 Hexagon Metrology S.P.A. Method for determining dynamic errors in a measuring machine
DE102009004982A1 (de) * 2009-01-14 2010-07-22 Höfler Maschinenbau GmbH Messverfahren und Messvorrichtung
GB0900878D0 (en) 2009-01-20 2009-03-04 Renishaw Plc Method for optimising a measurement cycle
CN102072701A (zh) * 2010-11-23 2011-05-25 苏州江城数控精密机械有限公司 一种检测零件尺寸的方法及装置
JP6345171B2 (ja) 2012-04-18 2018-06-20 レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company 工作機械における測定方法および対応する工作機械装置
WO2013156765A1 (fr) 2012-04-18 2013-10-24 Renishaw Plc Procédé de balayage analogique de mesures sur une machine-outil et appareil de machine-outil correspondant
WO2013156767A1 (fr) 2012-04-18 2013-10-24 Renishaw Plc Procédé pour la recherche d'une caractéristique au moyen d'une machine-outil
GB201316329D0 (en) * 2013-09-13 2013-10-30 Renishaw Plc A Method of Using a scanning probe
EP3077831B1 (fr) * 2013-12-07 2021-08-25 Bruker Nano, Inc. Mesure de force avec détermination de ligne de base en temps réel
DE102015006636A1 (de) * 2015-05-22 2016-11-24 Blum-Novotest Gmbh Verfahren und System zur Erfassung einer Werkstückkontur und zur Korrektur eines SOLL-Pfades für die Bearbeitung eines Werkstücks in einer Werkzeugmaschine
JP6608726B2 (ja) * 2016-02-18 2019-11-20 株式会社東京精密 位置決め測定システム
DE102019122650A1 (de) * 2019-08-22 2021-02-25 M & H Inprocess Messtechnik Gmbh Messsystem
US11644299B2 (en) * 2020-12-31 2023-05-09 Mitutoyo Corporation Inductive position sensor signal gain control for coordinate measuring machine probe
WO2025003771A1 (fr) * 2023-06-29 2025-01-02 Inziv Ltd. Inspection rapide d'un dispositif sous test

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4991304A (en) * 1987-06-11 1991-02-12 Renishaw Workpiece inspection method
EP0599513A1 (fr) * 1992-11-20 1994-06-01 RENISHAW plc Procédé de mesure pour pièces à usiner utilisant une sonde en contact avec la surface
US20020029119A1 (en) * 2000-05-23 2002-03-07 Werner Lotze Correction method for a coordinate measuring apparatus
WO2004005849A1 (fr) * 2002-07-04 2004-01-15 Renishaw Plc Procede d'etalonnage d'un systeme de balayage
US20040055170A1 (en) * 1999-04-08 2004-03-25 Renishaw Plc Use of surface measuring probes

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2242355C2 (de) 1972-08-29 1974-10-17 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Elektronischer Mehrkoordinatentaster
US4118871A (en) * 1978-06-13 1978-10-10 Kearney & Trecker Corporation Binary inspection probe for numerically controlled machine tools
GB8624191D0 (en) * 1986-10-08 1986-11-12 Renishaw Plc Datuming of analogue measurement probes
US5390424A (en) 1990-01-25 1995-02-21 Renishaw Metrology Limited Analogue probe
GB9110818D0 (en) * 1991-05-21 1991-07-10 Renishaw Metrology Ltd A method of measuring workpieces using a surface contacting measuring probe
DE4134371A1 (de) * 1991-10-17 1993-04-22 Zeiss Carl Fa Verfahren zur messung der effektiven momentanposition eines von einem schlitten getragenen tastelementes bzw. werkzeugs
EP0729005B1 (fr) * 1995-02-23 1998-08-05 Institut Für Fertigungstechnik Der Tu Graz Dispositif de mesure pour la vérification de la précision géométrique et dynamique des machines-outil NC et des robots industriels
DE29612861U1 (de) 1996-07-24 1996-09-12 Fa. Carl Zeiss, 89518 Heidenheim Koordinatenmeßgerät mit Meßzeitoptimierung
GB9907868D0 (en) * 1999-04-08 1999-06-02 Renishaw Plc Method of calibrating a scanning system
JP2002039743A (ja) * 2000-07-28 2002-02-06 Mori Seiki Co Ltd 測定機
GB0228371D0 (en) * 2002-12-05 2003-01-08 Leland E C E Workpiece inspection method
GB0329098D0 (en) * 2003-12-16 2004-01-21 Renishaw Plc Method of calibrating a scanning system
DE102004007968B4 (de) 2004-02-18 2006-02-09 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zum Antasten eines Werkstücks mit einem Koordinatenmessgerät
DE102005003321A1 (de) * 2005-01-18 2006-07-27 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zum Bestimmen einer Raumkoordinate eines Messpunktes an einem Messobjekt sowie entsprechendes Koordinatenmessgerät

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4991304A (en) * 1987-06-11 1991-02-12 Renishaw Workpiece inspection method
EP0599513A1 (fr) * 1992-11-20 1994-06-01 RENISHAW plc Procédé de mesure pour pièces à usiner utilisant une sonde en contact avec la surface
US20040055170A1 (en) * 1999-04-08 2004-03-25 Renishaw Plc Use of surface measuring probes
US20020029119A1 (en) * 2000-05-23 2002-03-07 Werner Lotze Correction method for a coordinate measuring apparatus
WO2004005849A1 (fr) * 2002-07-04 2004-01-15 Renishaw Plc Procede d'etalonnage d'un systeme de balayage

Also Published As

Publication number Publication date
CN1993600A (zh) 2007-07-04
US7526873B2 (en) 2009-05-05
EP1792139A2 (fr) 2007-06-06
EP1792139B1 (fr) 2008-04-02
WO2006013387A2 (fr) 2006-02-09
WO2006013387A9 (fr) 2007-03-15
EP1792139B2 (fr) 2014-02-19
DE602005005839T2 (de) 2009-04-02
DE602005005839D1 (de) 2008-05-15
US20080028626A1 (en) 2008-02-07
ATE391284T1 (de) 2008-04-15
JP2008509386A (ja) 2008-03-27
DE602005005839T3 (de) 2014-04-10
CN100460814C (zh) 2009-02-11
GB0417536D0 (en) 2004-09-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2006013387A3 (fr) Utilisation de sondes de mesure de surface
EP1526356A3 (fr) Procédé pour mesurer la surface courbée d'un objet
WO2005029193A3 (fr) Procedes et systemes d'analyse interferometrique de surfaces et applications associees
WO2008045827A3 (fr) Système chirurgical robotique à caractéristique de détection de contact
WO2006082368A3 (fr) Instrument metrologique
WO2004065893A8 (fr) Determination de la geometrie de surface d'un tissu dur
WO2010084302A3 (fr) Procédé d'optimisation d'un cycle de mesure
EP2204696A3 (fr) Appareil lithographique et méthode d'étalonnage dudit appareil
WO2007133498A3 (fr) Goniomètre de mesure de flexibilité et procédé associé
WO2007113755A3 (fr) Méthode et appareil pour la détermination de niveaux d'hydratation à partir d'une turgescence cutanée
EP1528355A3 (fr) Comparaison d' objets dynamique
WO2008067561A3 (fr) Sonde de mesure de contour intérieur
WO2008128978A3 (fr) Procédé et dispositif de mesure dimensionnelle au moyen d'appareils de mesure de coordonnées
MY151624A (en) Method for adjusting nozzle clearance of liquid application apparatus, and liquid application apparatus
DE502005002833D1 (de) Sobjekts
GB0625260D0 (en) A method for measuring a workpiece using a machine tool
WO2006125131A3 (fr) Procede et systeme d'analyse de signaux d'interferometrie a faible coherence pour des informations concernant des structures a minces films
EP2312262A3 (fr) Procédé d'étalonnage de la quantité de décalage et machine de mesure de profile de surface
EP1818647A3 (fr) Instrument, procédé et programme de mesure de forme
WO2008083109A3 (fr) Procédé de filtrage destiné à une modélisation de surfaces
ATE523761T1 (de) Verfahren zur fehlerkorrektur
DE502007004432D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum bestimmen von raumkoordinaten an einer vielzahl von messpunkten
WO2001018734A8 (fr) Procede d'etalonnage de mesure de forme
WO2006113390A3 (fr) Appareil de mesure tridimensionnelle pour le balayage d'un objet, tete de mesure d'un appareil de mesure tridimensionnelle, et procede d'utilisation dudit appareil
EP0947828A3 (fr) Méthode et appareil pour des mesures d'inspection améliorées

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BW BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DE DK DM DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG KM KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NA NG NI NO NZ OM PG PH PL PT RO RU SC SD SE SG SK SL SM SY TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): BW GH GM KE LS MW MZ NA SD SL SZ TZ UG ZM ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IS IT LT LU LV MC NL PL PT RO SE SI SK TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 11658162

Country of ref document: US

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 923/DELNP/2007

Country of ref document: IN

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 200580026721.9

Country of ref document: CN

Ref document number: 2007524401

Country of ref document: JP

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2005772904

Country of ref document: EP

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 2005772904

Country of ref document: EP

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 11658162

Country of ref document: US

WWG Wipo information: grant in national office

Ref document number: 2005772904

Country of ref document: EP

点击 这是indexloc提供的php浏览器服务,不要输入任何密码和下载