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WO2002035553A3 - Procede et appareil de production de particules discretes - Google Patents

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Abstract

L'invention concerne un procédé et un appareil de production d'une particule discrète à des fins d'analyse (spectrométrie de masse, par exemple) ou de manipulation ultérieure. Une particule discrète est produite par un générateur de particules. Une charge nette est induite sur la particule par une électrode à induction. La particule est transmise à un dispositif de suspension dans lequel elle est soumise à une suspension électrodynamique. Si la particule est une gouttelette, une dissolvatation survient aboutissant à une fission coulombique de la gouttelette en gouttelettes plus fines. Le mouvement des gouttelettes en suspension peut être influencé par un ensemble d'électrodes. Dans un aspect de l'invention, les gouttelettes et la charge qu'elles portent peuvent être transmises à un spectromètre de masse en fournissant une source d'ions pour la spectrométrie de masse, sans l'effet nuisible de la charge spatiale que l'on rencontre avec les techniques d'ionisation par électronébulisation. Dans un autre aspect de l'invention, les particules en suspension peuvent être déposées de façon régulée et précise sur une plaque pour analyse ultérieure, par désorption laser matricielle et spectrométrie de masse par ionisation.
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Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7824920B2 (en) * 2003-02-24 2010-11-02 Simon Fraser University Method of mass spectrometric analysis from closely packed microspots by their simultaneous laser irradiation
JP4552053B2 (ja) * 2006-10-05 2010-09-29 独立行政法人 日本原子力研究開発機構 ナトリウム漏えい検知方法及び装置
US9492887B2 (en) * 2010-04-01 2016-11-15 Electro Scientific Industries, Inc. Touch screen interface for laser processing
EP2612345B1 (fr) * 2010-09-02 2020-04-08 University of the Sciences in Philadelphia Système et procédé pour ioniser des molécules pour une spectrométrie de masse et une spectrométrie de mobilité ionique
WO2012047465A1 (fr) * 2010-09-27 2012-04-12 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Procédé et système pour fournir un double rideau de gaz à un système de spectrométrie de masse
US8673120B2 (en) 2011-01-04 2014-03-18 Jefferson Science Associates, Llc Efficient boron nitride nanotube formation via combined laser-gas flow levitation
US9744542B2 (en) 2013-07-29 2017-08-29 Apeel Technology, Inc. Agricultural skin grafting
CN107709349B (zh) 2015-05-20 2022-01-28 阿比尔技术公司 植物提取物组合物和制备其的方法
AU2016310491B2 (en) * 2015-08-21 2021-11-04 PharmaCadence Analytical Services, LLC Novel methods of evaluating performance of an atmospheric pressure ionization system
US10266708B2 (en) 2015-09-16 2019-04-23 Apeel Technology, Inc. Precursor compounds for molecular coatings
WO2017100636A1 (fr) 2015-12-10 2017-06-15 Apeel Technology, Inc. Compositions d'extraits végétaux pour former des revêtements protecteurs
CN109068627B (zh) 2016-01-26 2022-03-18 阿比尔技术公司 用于制备和保存消毒产品的方法
CN109564190B (zh) * 2016-08-19 2021-02-26 株式会社日立高新技术 离子分析装置
CN110087475B (zh) 2016-11-17 2023-04-11 阿比尔技术公司 由植物提取物形成的组合物及其制备方法
US12245605B2 (en) 2018-09-05 2025-03-11 Apeel Technology, Inc. Compounds and formulations for protective coatings
EP4114181A1 (fr) 2020-03-04 2023-01-11 Apeel Technology, Inc. Produits agricoles revêtus et procédés correspondants
MX2023004343A (es) 2020-10-30 2023-05-08 Apeel Tech Inc Composiciones y metodos de preparacion de las mismas.
CN113358945B (zh) * 2021-07-01 2023-07-28 兰州空间技术物理研究所 一种多功能空间高速尘埃特性探测器
GB202403368D0 (en) 2024-03-08 2024-04-24 Univ Bristol Delivery of picolitre droplets to mass spectrometer

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2346730A (en) * 1999-02-11 2000-08-16 Masslab Limited Ion source for mass analyser

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2569570B2 (ja) 1987-06-19 1997-01-08 株式会社島津製作所 固体クロマトグラフィ質量分析方法
US5352892A (en) 1992-05-29 1994-10-04 Cornell Research Foundation, Inc. Atmospheric pressure ion interface for a mass analyzer
US5331159A (en) * 1993-01-22 1994-07-19 Hewlett Packard Company Combined electrospray/particle beam liquid chromatography/mass spectrometer
US5532140A (en) * 1994-03-23 1996-07-02 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Method and apparatus for suspending microparticles
JP3663716B2 (ja) 1996-02-05 2005-06-22 株式会社日立製作所 四重極イオン蓄積リング
DE19628178C1 (de) * 1996-07-12 1997-09-18 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren zum Beladen von Probenträgern für Massenspektrometer
JPH1048110A (ja) 1996-07-31 1998-02-20 Shimadzu Corp Ｍａｌｄｉ−ｔｏｆ質量分析装置用サンプラ
JPH10239298A (ja) * 1997-02-26 1998-09-11 Shimadzu Corp 液体クロマトグラフ質量分析装置
US6054709A (en) * 1997-12-05 2000-04-25 The University Of British Columbia Method and apparatus for determining the rates of reactions in liquids by mass spectrometry
JP3561422B2 (ja) 1998-08-20 2004-09-02 日本電子株式会社 大気圧イオン源
JP3379485B2 (ja) * 1998-09-02 2003-02-24 株式会社島津製作所 質量分析装置
JP3571546B2 (ja) 1998-10-07 2004-09-29 日本電子株式会社 大気圧イオン化質量分析装置
JP3758382B2 (ja) 1998-10-19 2006-03-22 株式会社島津製作所 質量分析装置
US6633031B1 (en) 1999-03-02 2003-10-14 Advion Biosciences, Inc. Integrated monolithic microfabricated dispensing nozzle and liquid chromatography-electrospray system and method
JP3650551B2 (ja) * 1999-09-14 2005-05-18 株式会社日立製作所 質量分析計

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2346730A (en) * 1999-02-11 2000-08-16 Masslab Limited Ion source for mass analyser

Non-Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
BAHR U ET AL: "A charge detector for time-of-flight mass analysis of high mass ions produced by matrix-assisted laser desorption/ionization (MALDI)", INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES, 29 MARCH 1996, ELSEVIER, NETHERLANDS, vol. 153, no. 1, pages 9 - 21, XP002198318, ISSN: 0168-1176 *
HU D ET AL: "Design of traveling-wave field panel for pharmaceutical powders based on computer simulation of particle trajectories", IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRY APPLICATIONS, MAY-JUNE 1997, IEEE, USA, vol. 33, no. 3, pages 641 - 650, XP002198317, ISSN: 0093-9994 *
LI Y -Z ET AL: "Ultrahigh-resolution Fourier transform mass spectrometry of biomolecules above m/z 5000", INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES, 20 DEC. 1996, ELSEVIER, NETHERLANDS, vol. 157-158, pages 175 - 188, XP002198316, ISSN: 0168-1176 *
SATOSHI KAWATA ET AL: "MOVEMENT OF MICROMETER-SIZED PARTICLES IN THE EVANESCENT FIELD OF A LASER BEAM", OPTICS LETTERS, OPTICAL SOCIETY OF AMERICA, WASHINGTON, US, vol. 17, no. 11, 1 June 1992 (1992-06-01), pages 772 - 774, XP000274845, ISSN: 0146-9592 *
SWANSON B D ET AL: "Electrodynamic trapping and manipulation of ice crystals", QUARTERLY JOURNAL OF THE ROYAL METEOROLOGICAL SOCIETY, APRIL 1999, R. METEOROL. SOC, UK, vol. 125, no. 555, pages 1039 - 1058, XP008001732, ISSN: 0035-9009 *
VEHRING R ET AL: "Electrodynamic trapping and manipulation of particle clouds", REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, JAN. 1997, AIP, USA, vol. 68, no. 1, pt.1, pages 70 - 78, XP002198315, ISSN: 0034-6748 *

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