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WO1997031240A1 - Appareil de reconnaissance d'images par procede de decoupage optique - Google Patents

Appareil de reconnaissance d'images par procede de decoupage optique Download PDF

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WO1997031240A1
WO1997031240A1 PCT/JP1997/000060 JP9700060W WO9731240A1 WO 1997031240 A1 WO1997031240 A1 WO 1997031240A1 JP 9700060 W JP9700060 W JP 9700060W WO 9731240 A1 WO9731240 A1 WO 9731240A1
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WO
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image
convergence
aperture
light
automatic
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Application number
PCT/JP1997/000060
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English (en)
French (fr)
Inventor
Toshiyuki Ooenoki
Toshiro Ootani
Original Assignee
Komatsu Ltd.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Komatsu Ltd. filed Critical Komatsu Ltd.
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Priority to EP97900422A priority patent/EP0882946A4/en
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/50Depth or shape recovery
    • G06T7/521Depth or shape recovery from laser ranging, e.g. using interferometry; from the projection of structured light

Definitions

  • the present invention relates to an image recognition apparatus using a light-section method, which projects linear light on a measurement target and captures an image formed by the linear light drawn on the surface of the measurement target to obtain three-dimensional shape data of the measurement target.
  • the linear light projected onto the measurement target by the light projecting means is accurately captured on an image.
  • the linear light on the image be imaged as a line having an infinitesimal width and a thinning process represented by a line having a width of one pixel in ordinary image processing technology.
  • the imaging means for imaging the measurement target on which the linear light is projected has an aperture mechanism for making the incident light amount appropriate.
  • the aperture value of the aperture mechanism at this time is not appropriate, It is difficult to perform thinning processing represented as a line with a width of one pixel.
  • the aperture value is small, the linear light is imaged thick on the image, and the line thinning processing results in variations, resulting in a variation in the line.
  • the zigzag portion is generated in the linear light, and if the aperture value is large, the linear light is captured finely on the image, and a discontinuous portion is generated in the linear light as a result of the thinning processing. Therefore, it cannot be represented as a line having a width of one pixel, and a problem occurs in recognizing the line.
  • An image recognition device using a light-section method which projects linear light onto a measurement target and obtains a three-dimensional shape data of the measurement target by imaging an image formed by the linear light drawn on the surface of the measurement target.
  • imaging means having an automatic aperture adjustment mechanism for imaging the measurement target on which linear light is projected by the light emitting means, and for automatically performing an aperture adjustment operation according to the captured image
  • image processing means for processing the image captured by the imaging means to obtain the three-dimensional shape data
  • FIG. 1 is a schematic configuration diagram of the three-dimensional shape measurement system according to the first embodiment
  • FIG. 2 is a block diagram of the three-dimensional shape measurement system according to the first embodiment
  • FIG. Test results related to operation (1)
  • FIG. 6 is a conceptual diagram showing a processing method in the second embodiment
  • FIG. 7 is a flowchart showing a processing flow in the second embodiment.
  • FIG. 8 is a conceptual diagram showing a processing method in the third embodiment.
  • FIG. 1 shows a schematic configuration diagram of a three-dimensional shape measurement system according to a first embodiment of the present invention
  • FIG. 2 shows a block diagram of the three-dimensional shape measurement system.
  • the television camera 2 includes an imaging unit 2a and a lens unit 2b having an automatic aperture adjustment mechanism for appropriately setting the amount of incident light to the imaging unit 2a.
  • the video signal is taken into the image storage unit 8 in the image processing device 3 via the AZD conversion unit 7 and the bus 5, and the automatic iris adjustment mechanism in the lens unit 2b outputs the signal from the performance unit 4. Control via the bus 5 and the D / A converter 9.
  • a main storage unit 10 for displaying images captured by value calculation unit 11 and TV camera 2 on external display mechanism (monitor) 12 and external units such as robot arm or result display
  • An external control unit 14 for controlling the device is provided.
  • the point light source 1a is turned on, the slit light is projected on the surface of the work W via the slit mask 1b, and the bright portion generated on the surface of the work W is displayed on the television camera.
  • imaged by LA2 A cut line image can be obtained when one slit light cuts the workpiece W in one image. Therefore, while scanning the slit mask 1b, the projection direction of the slit light is changed little by little, the bright portion generated on the surface of the work W is imaged by the television camera 2, and the picked-up image is image-processed by the image processing apparatus. By performing the processing in step 3, the three-dimensional shape of the work W can be obtained.
  • the television camera 2 having the automatic aperture adjustment mechanism is used, so that the surface property of the work W or the environment (illuminance) on the surface of the work W is improved.
  • the amount of light incident on the image pickup unit 2a is always adjusted to an appropriate value in accordance with the change in the distance, thereby improving the accuracy of thinning the linear bright portion formed on the surface of the work W.
  • the operation of the automatic aperture adjustment mechanism converges with a certain time delay with respect to the incident light amount as shown in FIGS.
  • FIG. 3 shows that under a constant environment (illuminance of about 400 LX), the surface properties of the work W, in other words, the reflectance of the projected slit light on the work W surface is reduced.
  • FIG. 5 is a time chart showing the relationship between the 0N ⁇ 0FF operation of the slit light source 1, the adjustment operation of the automatic aperture adjustment mechanism, and the processing execution operation of the image processing device 3 in the present embodiment.
  • the slit light source 1 when a measurement command is issued, the slit light source 1 is turned on to start image capture, and the automatic iris adjustment mechanism starts adjusting.
  • the automatic iris adjustment mechanism starts adjusting.
  • image processing is performed in the image processing device 3 based on the image captured by the imaging unit 2a and stored in the image storage unit 8. Thereafter, the slit light source 1 is turned off as soon as the image capturing is completed.
  • the symbol A is the waiting time from the measurement command to the execution of the processing by the image processing device 3, and the symbol B is the measurement interval from the current measurement to the next measurement.
  • the slit light source 1 may be set to 0 N from the measurement command until the aperture adjustment operation of the automatic aperture adjustment mechanism converges. At least during the measurement interval, the slit light source 1 can be in the FF state, so that the life of the slit light source 1 is not shortened. Light-shielding device and the like can be simplified.
  • a white pixel is a representative value representing the brightness of the screen.
  • S11 Performs predetermined image processing on the latest image stored in the image storage unit 8 (the image at the time of the OFF operation of the slit light source 1), and ends the flow.
  • the image processing is performed by using the image when the white pixel number n falls within the range of N ⁇ 3 (the image at the point P in FIG. 6). Without waiting for the aperture adjustment operation of the adjustment mechanism to converge, image processing can be performed when a state equivalent to this convergence is reached, and the waiting time until image processing by the image processing device 3 is executed can be reduced. it can.
  • the time required for the convergence of the operation of the automatic aperture adjustment mechanism becomes longer as the deviation of the light quantity of the input image before and after the operation of the slit light source 1 is large and a large aperture operation is required.
  • the operating position of the automatic aperture adjustment mechanism at the time of the previous imaging is stored, and the operating position is stored between each imaging operation (waiting time for image measurement). To hold the aperture state of the automatic aperture adjustment mechanism, and release it at the start of the imaging operation (ON operation of the slit light source) this time. The amount of operation is reduced so that the waiting time until the image processing apparatus 3 executes the processing is unnecessary or extremely shortened.
  • T 1 Read the following preset values.
  • the waiting time t is a minute time set to respond to a minute change in the environment (ambient brightness) compared to the time of the previous measurement.
  • T2 to T5 Set a flag F indicating that the work or the environment has changed significantly (for example, starting up the system or changing the work). After this, the slit light source 1 is operated after waiting for the measurement command, and then the holding state of the automatic aperture adjustment mechanism is released.
  • T10 to T11 After maintaining the automatic iris adjustment mechanism at the current position, the slit light source 1 operates 0FF.
  • T14 to T16 If the measurement has not been completed, it is next determined whether or not the environment has changed due to an external signal. When it is determined that the environment and the like have not changed, the process returns to step ⁇ 3 and waits for the next measurement command. Wait for the measurement command ( -way, when the measurement is finished, end the flow.
  • urchin I is shown in Figure 8, (indicated by the symbol C) automatic operation position in the preceding image pickup time of aperture adjustment Organization is held, the waiting time t 2 and the image Automatic aperture adjustment is performed only during the ⁇ N operation time D of the slit light source 1 given by the sum of the time required for capture (image capture is performed almost instantaneously) (indicated by symbol E). Thereafter, the operating position of the automatic aperture adjustment mechanism is maintained at the aperture value immediately before the slit light source 1 is operated at 0 FF (indicated by the symbol F). At this time, the image processing is performed at the aperture value immediately before the slit light source 1 is turned off (indicated by the symbol G).
  • the operating position g of the automatic aperture adjustment mechanism at the time of the previous imaging is held, and the holding is released when the imaging operation is started this time.
  • the amount of operation can be minimized, and the waiting time until the image processing apparatus 3 executes the processing can be extremely reduced.
  • the automatic iris adjustment mechanism is an auto-close mechanism (a mechanism in which the iris is automatically fully closed when the operation power is cut off). Either of the following two methods can be adopted depending on whether the system is not provided or when the automatic closing mechanism is provided.
  • the relay 15 is operated by a signal from the external control unit 14 of the image processing apparatus 3, and the lens unit 2 including the automatic aperture adjustment mechanism is operated.
  • the power supply 16 of b is turned off, whereby the aperture position of the automatic aperture adjustment mechanism is maintained.
  • the automatic iris adjustment mechanism when the automatic iris adjustment mechanism is to be held, the signal input to the automatic iris adjustment mechanism is stored, and the stored signal is continued. It is better to provide a mechanism for inputting to the automatic aperture adjustment mechanism. More specifically, many automatic aperture adjustment mechanisms use a video signal as an input signal, and a typical image processing device holds an image at a certain point in time and outputs the image signal as an external display, for example. Mechanism (monitor) Has a function to output to 1 and 2. Therefore, the image at the time when the automatic iris adjustment mechanism is desired to be stored is conveniently stored in the image storage unit 8, and the video signal is continuously output while the operation of the automatic iris adjustment mechanism is desired to be maintained and the automatic iris adjustment mechanism is continuously output. By inputting the value into the, the automatic iris adjustment mechanism can be easily held.
  • the slit light source 1 projects light of a single wavelength such as a laser
  • the light of the single wavelength is applied to the front green of the TV camera 2 as an imaging unit. It is preferable to provide an attenuation filter (transmission filter) with the transmission center wavelength. This makes it possible to provide a highly accurate image recognition device that eliminates the influence of the environment.

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Description

明細書
光切断法による画像認識装置 技術分野
本発明は、 計測対象に線状光を投影し、 この計測対象の表面に描 かれる線状光のなす像を撮像することによりその計測対象の三次元 形状データを得る光切断法による画像認識装置に関するものである, 背景技術
この種の光切断法による画像認識装置においては、 計測対象の形 状認識精度を向上させるに際し、 投光手段によって計測対象に投影 される線状光が、 画像上において精度良く撮像されることが要求さ れる。 言い換えれば、 画像上の線状光が無限小幅の線として、 通常 の画像処理技術においては 1画素幅の線と して表現される細線化処 理が可能なように撮像されることが要求される。
ところで、 線状光が投影される計測対象を撮像する撮像手段は、 入射光量を適切とするための絞り機構を有しているが、 この際の絞 り機構の絞り値が適切でないと、 前述のような 1 画素幅の線として 表現される細線化処理が困難になる。 言い換えれば、 計測対象に投 影された同一の線状光であつても、 絞り値が小であれば画像上に線 状光が太く撮像され、 細線化処理の結果においてバラツキを生じて その線状光にジグザグ部分が生じ、 また絞り値が大であれば画像上 に線状光が細く撮像され、 細線化処理の結果においてその線状光に 不連続部分が生じることになる。 したがって、 1 画素幅の線と して 表現され得なく、 線の認識として不具合が起こることになる。
従来、 このような不具合を解消するために、 絞り機構の所定値の 絞り値のもとに計測対象、 照度などを一定にして撮像している。 しかしながら、 前述されたものにおいては、 絞り値、 計測対象、 照度などが固定されて自由度がなく 汎用性がなく、 また一定の照度 を得るために投光手段による投影を常時に行わねばならず、 投光手 段の寿命の短縮を招く という問題点がある。
本発明は、 このような問題点を解消することを目的と して、 汎用 性があるとともに、 投光手段の寿命の短縮を招かない光切断法によ る画像認識装置を提供することにある。 発明の開示
本発明の光切断法による画像認識装置は、 前述された目的を達成 するために、
計測対象に線状光を投影し、 この計測対象の表面に描かれる線状 光のなす像を摄像することによりその計測対象の三次元形状データ を得る光切断法による画像認識装置であつて、
( a ) 前記線状光を前記計測対象に投影するとともに、 この線状光 の投影を O N · O F F制御によって断続的に行う投光手段、
( b ) この投光手段により線状光が投影される前記計測対象を撮像 するとともに、 この撮像される画像に応じて自動的に絞り調整動作 を行う自動絞り調整機構を有する撮像手段、
( c ) この撮像手段により撮像される画像の処理を行って前記三次 元形状データを得る画像処理手段および
( d ) 前記投光手段における前記計測対象に対する投影を計測指令 から前記撮像手段の自動絞り調整機構の絞り調整動作が収束する直 後までもしく はその収束と等価な状態に到達する直後まで◦ Nさせ るように O N · O F F制御するとともに、 この自動絞り調整機構の 絞り調整動作の収束直後もしく は収束等価状態到達直後にその撮像 手段により撮像される画像にもとづき前記画像処理手段に前記三次 元形状データを得る処理を行わせるように制御する制御手段 を備えることを特激とするものである。
本発明においては、 まず計測指令にもとづき投光手段による計測 対象に対する線状光の投影が◦ Nされるとともに、 この線状光が投 影される計測対象の撮像される画像にもとづき自動絞り調整機構が 自動的に絞り調整動作を行って収束する方向に向かう。 次に、 絞り 調整動作の収束直後もしく はその収束と等価な状態への到達直後に 撮像される画像にもとづき三次元形状データを得る画像処理が行わ れるとともに、 線状光の投影が◦ F Fされる。
したがって、 入射光量を適切にする自動絞り調整機構でもって絞 り値は勿論、 計測対象、 照度などが固定される必要がなく 汎用性が あるとともに、 投光手段による投影を常時に行う こともなく 計測指 令から自動絞り調整機構の絞り調整動作が収束する直後までも しく はその収束と等価な状態に到達する直後まで 0 Nさせればよいこと から投光手段の寿命の短縮を招かない。
本発明においては、 さらに、 前記撮像手段の自動絞り調整機構に おける絞り調整動作の収束時点も しく は収束等価状態到達時点から 次の計測指令までその時点の絞り状態を保持させる絞り保持手段を 備えることが好ま しい。 このよ う に絞り保持手段を備えるこ とによ り、 大きな絞り調整動作が必要でなく なり、 調整動作の収束に要す る時間が短くて済む。
なお、 この絞り保持手段と しては、 例えば前記自動絞り調整機構 に対する動作電源を遮断して絞り調整動作を停止させ前記収束時点 もしく は収束等価状態到達時点の絞り状態を保持させるもの、 また は、 前記絞り調整動作の収束直後もしく は収束等価状態到達直後に 前記撮像手段により撮像される画像を少なく とも次の計測指令まで 記憶する画像記憶部を備えて、 この画像記憶部に記憶される画像に 応じて次の計測指令まで前記自動絞り調整動作を行わせるようにし てその絞り調整動作の収束時点もしく は収束等価状態到達時点の絞 り状態を保持させるもののいずれかを採用すれば良い。
また、 前記投光手段は、 単一波長の光源にもとづく線状光を前記 計測対象に投影し、 前記撮像手段はその線状光が投影される計測対 象を前記単一波長を透過中心波長とする減衰フィ ルタを介して撮像 することが好ま しい。 このようにすれば線状光以外の光が撮像され ることがなく、 精度良く三次元形状データを得ることができる。 図面の簡単な説明
図 1 は、 第 1 実施例に係る三次元形状計測システムの概略構成図、 図 2 は、 第 1 実施例に係る三次元形状計測システムのプロ ッ ク図, 図 3 は、 自動絞り調整機構の動作に係る試験結果 ( 1 ) 、
図 4 は、 自動絞り調整機構の動作に係る試験結果 ( 2 ) 、
図 5 は、 第 1 実施例における処理手法を示す概念図、
図 6 は、 第 2実施例における処理手法を示す概念図、
図 7 は、 第 2実施例における処理フローを示すフローチヤ 一 ト、 図 8 は、 第 3実施例における処理手法を示す概念図、
図 9 は、 第 3実施例における処理フローを示すフローチヤ一ト、 図 1 0 は、 自動絞り調整機構の動作位置保持方法の一例を示す図, 図 1 1 は、 自動絞り調整機構の動作位 S保持方法の他の例を示す 図である。 発明を実施するための最良の形態
次に、 本発明による光切断法による画像認識装置の具体的実施例 にっき、 図面を参照しつつ説明する。
(第 1 実施例) 図 1 に、 本発明の第 1 実施例に係る三次元形状計測システムの概 略構成図が示され、 図 2 に、 同三次元形状計測システムのブロ ッ ク 図が示されている。
本実施例の三次元形状計測システムにおいては、 計測対象である ワーク Wの表面にスリ ツ ト光 (線状光) を投光する投光手段と して のスリ ッ ト光源 1 が設けられるとともに、 このス リ ッ ト光源 1 によ り ワーク Wの表面に生じる輝部を撮像する撮像手段と してのテレ ビ カメ ラ 2が設けられる。 前記ス リ ッ ト光源 1 は、 レーザビームを発 する点光源 1 a とス リ ツ トマスク 1 b とス リ ツ ト走查機構 (図示せ ず) とを備え、 この点光源 l aの O N ' O F F制御が画像処理装置 3 内の演算部 (M P U ) 4 からの信号によ りパス 5 および光源制御 部 6を介して行われるよ うになつている。 一方、 前記テレビカメ ラ 2 は、 撮像部 2 a とその撮像部 2 aへの入射光量を適切にするため の自動絞り調整機構を有する レンズ部 2 b とよりなり、 この撮像部 2 aからの映像信号が A Z D変換部 7 およびバス 5 を介して画像処 理装置 3 内の画像記億部 8 に取り込まれ、 またレンズ部 2 b におけ る自動絞り調整機構が演箅部 4 からの出力信号によってバス 5 およ び Dノ A変換部 9 を介して制御されるよ うになっている。
前記画像処理装置 3 においては、 前述の演算部 4 , 画像記憶部 8 のほか、 主記慷部 1 0 , 前記画像記憶部 8 に記憶された画像を予め 設定した閾値にて二値化する二値演算部 1 1 , テレビカメ ラ 2 によ り取り込んだ画像を外部表示機構 (モニタ) 1 2 に表示するための D Z A変換部 1 3およびロボッ 卜アームも し く は結果表示器等の外 部機器を制御するための外部制御部 1 4 が備えられている。
このような計測システムにおいて、 点光源 1 aを O N状態に して スリ ツ トマスク 1 bを介してワーク Wの表面にス リ ツ ト光を投影し、 このワーク W表面に生じる輝部をテレビカメ ラ 2 によ り撮像すると、 1 回の撖像で 1 本のスリ ッ ト光がワーク Wを切断するときの切断線 像を得る ことができる。 そこで、 このスリ ツ トマスク 1 bの走査に よってそのス リ ッ ト光の投影方向を少しずつ変化させつつワーク W 表面に生じる輝部をテレビカメ ラ 2 により撮像し、 この撮像画像を 画像処理装置 3 にて処理するこ とで、 このワーク Wの三次元形状を 得るこ とができる。
と ころで、 本実施例の計測システムにおいては自動絞り調整機構 を有するテレビカメ ラ 2が用いられているこ とによって、 ワーク W の表面性状も し く はワーク Wの表面での環境 (照度) の変化に応じ て撮像部 2 a に対する入射光量が常に適正値になるようにされ、 こ れによってワーク Wの表面に形成される線状の輝部の細線化の精度 向上が図られている。 しかしながら、 この自動絞り調整機構の動作 は、 図 3 および図 4 に示されるよ う に入射光量に対してある時間遅 れをもつて収束することが確認されている。
図 3 に示されているのは、 一定の環境 (照度約 4 0 0 L X ) 下に おいて、 ワーク Wの表面性状、 言い換えれば投影されたスリ ッ ト光 のワーク W表面での反射率が異なる場合 (白色ワーク, 銀色ワーク および黒色ワーク) についての自動絞り調整機構の動作に係る試験 結果である。 一方、 図 4 に示されているのは、 同一ワーク (鐧板) において、 ワーク Wの表面での環境 (照度) が変化する場合 ( 9 0 0 L X , 3 9 0 L xおよび 1 0 L x以下) についての自動絞り調整 機構の動作に係る試験結果である。
したがって、 考慮すべきワーク条件および環境条件下で、 予め図 3 , 図 4 の試験結果が得られるよ うな試験を行い、 絞り動作の収束 が最も遅い場合の柽過時間を遅延量と して主記憶部 1 0 に記憶させ ておき、 計測時にはスリ ッ ト光源 1 が 0 N動作したタイ ミ ングより 前記遅延量だけテレビカメ ラ 2 による撮像動作を遅延させるよ う に すれば、 ワーク条件および環境条件がどのように変わっても常に安 定した画像を画像記慷部 8 に蓄えることができる。
図 5 は、 本実施例におけるスリ ツ ト光源 1 の 0 N · 0 F F動作, 自動絞り調整機構の調整動作および画像処理装置 3の処理実行動作 の関係を示すタイムチャー トである。 図示のように、 計測指令が発 せられるとスリ ツ ト光源 1 が O N動作されて画像の取り込みが開始 されるとともに自動絞り調整機構の調整動作が開始され、 この自動 絞り調整機構が収束した時点 t , の直後に撮像部 2 aに撮像され画 像記憶部 8 に記憶される画像に基づき画像処理装置 3 において画像 処理が実行される。 この後、 スリ ッ ト光源 1 は画像の取り込みの終 了次第 O F F動作される。 なお、 記号 Aは計測指令から画像処理装 置 3による処理実行までの待ち時間であり、 記号 Bは今回の計測か ら次回の計測までの計測イ ンターバルである。
本実施例の三次元形状計測システムによれば、 入射光量を適切に する自動絞り調整機構でもって絞り値は勿論、 計測対象、 照度など が固定される必要がなく汎用性がある。 また、 スリ ッ ト光源 1 から の投影を常時に行う こともなく計測指令から自動絞り調整機構の絞 り調整動作が収束するまでそのスリ ツ 卜光源 1 を 0 Nさせればよい ので、 言い換えれば少なく とも計測ィ ンターバルの間スリ ッ ト光源 1 を◦ F F状態にすることができるので、 スリ ツ 卜光源 1 の寿命の 短縮を招く ことがないとともに、 光源としてレーザを用いる場合、 作業者保護のための遮光装置等を簡略化することができる。
(第 2実施例)
前記第 1 実施例においては、 自動絞り調整機構の絞り調整動作が 収束するまで待って撮像結果を求めるための入力画像を得るものと したが、 図 1 , 図 2に示される本システムによれば、 前記自動絞り 調整機構の柽時的な動作を観測することが可能であることから、 本 第 2実施例においては、 計測指令によりスリ ツ ト光源 1 が◦ N動作 された後に逐次自動絞り調整機構の絞り調整動作を観測し、 この調 整動作が収束するのと等価な状態に到達したと判断される時点で撮 像結果を求めるための入力画像を得るようにし、 これによつて画像 処理装置 3 による処理実行までの待ち時間を短縮するようにされて いる。 次に、 本実施例における処理手法を、 図 6 に示される概念図 を参照しながら図 7 に示されるフローチヤ一卜によって説明する。
S 1 : 予め設定される次の各設定値を読み込む。
①ニ値演算部 1 1 における二値化の際の閾値
②自動絞り調整機構の収束時の二値画像の白画素数 N
(ただし、 白画素とは画面の明るさを表す代表値で ある。 )
③前記白画素数 Nの上下許容幅 d
④自動絞り調整機構が収束するのに十分な待ち時間 t S 2〜S 4 : 計測指令を待って、 経過時間をカウン トするタイマ tをリセッ ト ( t = 0 ) し、 この後にス リ ッ ト光源 1 を O N動作す る。
S 5〜S 7 : テレビカメ ラ 2 によってワーク Wの表面の輝線の画 像を取り込んで画像処理装置 3の画像記憶部 8に記憶する。 次いで、 この記憶された画像を二値演算部 1 1 において予め設定した閾値に て二値化する。 この後、 各時点でのニ值画像における白画素 (明画 素) の画素数 nをカウン トする。 なお、 図 6においてプロッ 卜され ている各点がこの白画素数 nを示している。 また、 この図 6 におい て破線は実際の自動絞り調整機構の動作を示すものである。
S 8〜S 1 0 : 前記白画素数 nが自動絞り調整機構の収束時の白 画素数 Nに対する上下許容幅 5内に入っているか否かを判定するた めに、 次式が成立しているか否かを判断する。 Ν - 5≤ η≤Ν + δ
この判定の結果、 この式が成立しているとき、 言い換えれば白画 素数 ηが Ν ± 3の範囲内に入ったときには、 これ以上の画像の取り 込みを行う必要がないのでスリ ツ ト光源 1 を 0 F F動作する。 一方 、 この式が成立していないときには次の処理と して、 柽過時間 が 前記待ち時間 t w に達しているか否かを判定する。 そして、 この経 過時間 tが待ち時間 t w 未満であるときにはステップ S 5へ戻って 画像の取り込みを継続し、 この経過時間 tが待ち時間 t w に達した ときには自動絞り調整機構が収束したと判断されるのでスリ ッ ト光 源 1 を 0 F F動作する。
S 1 1 : 画像記憶部 8 に記憶されている最新の画像 (スリ ッ ト光 源 1 の O F F動作時の画像) について所定の画像処理を実行してフ ローを終了する。
本実施例によれば、 白画素数 nが N ± 3の範囲内に入ったときの 画像 (図 6 における P点の画像) を採用して画像処理を行うように されているので、 自動絞り調整機構の絞り調整動作が収束するまで 待たなく ても、 この収束と等価な状態に到達したときに画像処理を 行うことができ、 画像処理装置 3 による処理実行までの待ち時間を 短縮することができる。
(第 3実施例)
一般に、 前記自動絞り調整機構の動作の収束に要する時間は、 ス リ ツ ト光源 1が動作する前後での入力画像の光量の偏差が大き く て 大きな絞り動作が必要な程長く なるものであるが、 実用状態におい ては、 連続して計測を行う場合に、 ワーク もしく は環境等の諸条件 が急激に変化することは稀である。 このことから、 本第 3実施例に おいては、 前回撮像時点での自動絞り調整機構の動作位置を記憶す るとともに、 各撮像動作間 (画像計測の待ち時間) にその動作位置 にて自動絞り調整機構の絞り状態を保持しておき、 今回撮像動作の 開始 (スリ ッ ト光源の O N動作) と と もにその保持を解除せしめる ようにし、 これによつて自動絞り調整動作の動作量を小さ く して、 画像処理装置 3 による処理実行までの待ち時間を不要乃至極端に短 縮するようにされている。 次に、 本実施例における処理手法を、 図 8 に示される概念図を参照しながら図 9 に示されるフローチヤ 一 ト によって説明する。
T 1 : 予め設定される次の各設定値を読み込む。
①ワークもしく は環境が大き く変化しないときのス リ ッ ト 光源 0 N後の待ち時間 t ■
②ワーク もしく は環境が大き く変化した際に自動絞り調整 機構が収束するのに十分な待ち時間 t 2
なお、 前記待ち時間 t は、 前回の計測時に比較して環境 (周囲 の明るさ) の微小な変化に対応するために設定されている微小時間 *め 。
T 2〜T 5 : ワーク もしく は環境が大き く変化したこと (例えば システムの立ち上げ, ワークの変更等) を示すフラグ Fを立てる。 この後、 計測指令を待ってスリ ツ ト光源 1 を◦ Ν動作し、 次いで自 動絞り調整機構の保持状態を解除する。
Τ 6〜 Τ 9 : フラグ Fが立っている ( F = 1 ) ときには、 ワーク もしく は環境が大き く変化したという ことなので、 予め設定されて いる待ち時間 t 2 だけ待った後に、 言い換えれば自動絞り調整機構 が収束するまで待つた後に、 テレビカメラ 2 によってワーク Wの表 面の輝線の画像を取り込んで画像処理装置 3の画像記憶部 8 に記憶 する。 一方、 フラグ Fが立っていない ( F = 0 ) ときには、 ワーク もしく は環境が大き く変化していないという ことなので、 予め設定 されている微小待ち時間 t , だけ待った後に、 テレビカメラ 2 によ つてワーク Wの表面の輝線の画像を取り込んで画像処理装置 3の画 像記憶部 8 に記憶する。
T 1 0〜T 1 1 : 自動絞り調整機構を現在位置で保持した後、 ス リ ツ ト光源 1 を 0 F F動作する。
Τ 1 2〜Τ 1 3 : フラグ Fを降ろし ( F = 0 ) 、 次いで画像記憶 部 8に記憶されている最新の画像 (スリ ッ ト光源 1 を O F F動作時 の画像) について所定の画像処理を実行する。
T 1 4〜T 1 6 : 計測が終了していない場合には、 次に外部から の信号により環境等が変わったか否かを判断する。 そして、 環境等 が変わっていないと判定されるときにはそのままステップ Τ 3 に戻 つて次の計測指令を待ち、 環境等が変わったと判定されるときには フラグ Fを立ててやはりステップ Τ 3 に戻って次の計測指令を待つ ( —方、 計測が終了したというときにはフローを終了する。
本実施例によれば、 図 8 に示されているよ うに、 自動絞り調整機 構の前回撮像時点での動作位置が保持されており (記号 Cで示す) 、 前記待ち時間 t 2 と画像の取り込みに必要な時間 (画像取り込みは ほぼ瞬時になされる) との和にて与えられるスリ ツ ト光源 1 の〇 N 動作時間 Dの間だけ自動絞り調整が実行され (記号 Eで示す) 、 こ の後前記自動絞り調整機構の動作位置はスリ ッ ト光源 1 が 0 F F動 作される寸前の絞り値に保持される (記号 Fで示す) 。 このとき、 画像処理はそのスリ ツ ト光源 1 が O F F動作される寸前の絞り値で 実行される (記号 Gで示す) 。
本実施例によれば、 前回撮像時点での自動絞り調整機構の動作位 gを保持しておき、 今回撮像動作の開始とともにその保持を解除す るようにされているので、 自動絞り調整動作の動作量を最小限に抑 えるこ とができ、 これにより画像処理装置 3 による処理実行までの 待ち時間を極端に短縮することができる。 こ こで、 自動絞り調整機構の動作位置を保持する手段と しては、 この自動絞り調整機構がォー トクローズ機構 (動作電源が遮断され ると絞りが自動的に全閉状態になる機構) を備えていない場合と、 このォー トクローズ機構を備えている場合とに応じて次の 2つの方 法のうちのいずれかを採用することができる。
①オー トクローズ機構を備えていない場合
この場合には、 図 1 0に示されているように、 画像処理装置 3の 外部制御部 1 4からの信号により リ レー 1 5 を動作させて、 自動絞 り調整機構を合むレンズ部 2 bの電源 1 6を遮断させ、 これによつ て自動絞り調整機構の絞り位置を保持するようにされる。
②ォー トクローズ機構を備えている場合
この場合には、 図 1 1 に示されているように、 自動絞り調整機構 を保持させたい時点でその自動絞り調整機構に入力されている信号 を記憶し、 この記憶された信号を継続してその自動絞り調整機構に 入力する機構を設けるのが良い。 より具体的には、 多く の自動絞り 調整機構は、 入力信号として映像信号を用いており、 また通常の画 像処理装置は、 ある時点での画像を保持して映像信号と して例えば 外部表示機構 (モニタ) 1 2 に出力する機能を有している。 したが つて、 自動絞り調整機構を保持したい時点での映像を画像記憶部 8 に記慷し、 この映像信号を自動絞り調整機構の動作を保持したい間 継続的に出力してその自動絞り調整機構に入力するこ とで、 容易に 自動絞り調整機構を保持するこ とができる。
前記各実施例において、 スリ ッ ト光源 1 がレーザ等の単一波長の 光を投影するものである場合、 撮像手段と してのテレ ビカメ ラ 2 の 前緑に、 この単一波長の光を透過中心波長とする減衰フィ ルタ (透 過フィルタ) を設けるのが好ま しい。 こうすることで、 より環境の 影饗を排除した精度の高い画像認識装置とすることができる。

Claims

請求の範囲
計測対象に線状光を投影し、 この計測対象の表面に描かれる 線状光のなす像を撮像することによりその計測対象の三次元形 状データを得る光切断法による画像認識装置であって、
( a ) 前記線状光を前記計測対象に投影するとともに、 この線 状光の投影を O N · O F F制御によって断続的に行う投光手段.
( b ) この投光手段により線状光が投影される前記計測対象を 撮像するとともに、 この撮像される画像に応じて自動的に絞り 調整動作を行う 自動絞り調整機構を有する撮像手段、
( c ) この撮像手段により撮像される画像の処理を行って前記 三次元形状データを得る画像処理手段および
( d ) 前記投光手段における前記計測対象に対する投影を計測 指令から前記撮像手段の自動絞り調整機構の絞り調整動作が収 束する直後までもしく はその収束と等価な状態に到達する直後 まで 0 Nさせるように 0 N · ◦ F F制御するとともに、 この自 動絞り調整機構の絞り調整動作の収束直後もしく は収束等価状 態到達直後にその撮像手段により撮像される画像にもとづき前 記画像処理手段に前記三次元形状データを得る処理を行わせる ように制御する制御手段
を備えることを特徴とする光切断法による画像認識装置。
さ らに、 前記撮像手段の自動絞り調整機構における絞り調整 動作の収束時点もしく は収束等価状態到達時点から次の計測指 令までその時点の絞り状態を保持させる絞り保持手段
を備えることを特徴とする請求項 1 に記載の光切断法による画 像認識装置。
前記絞り保持手段は、 前記自動絞り調整機構に対する動作雹 源を遮断して絞り調整動作を停止させ前記収束時点も しく は収 束等価状態到達時点の絞り状態を保持させることを特徴とする 請求項 2 に記載の光切断法による画像認識装置。
前記絞り保持手段は、 前記絞り調整動作の収束直後もしく は 収束等価状態到達直後に前記撮像手段により撮像される画像を 少なく とも次の計測指令まで記憶する画像記憶部を備えて、 こ の画像記憶部に記憶される画像に応じて次の計測指令まで前記 自動絞り調整動作を行わせるようにしてその絞り調整動作の収 束時点もしく は収束等価状態到達時点の絞り状態を保持させる ことを特徴とする請求項 3に記載の光切断法による画像認識装 置 o
前記投光手段は、 単一波長の光源にもとづく 線状光を前記計 測対象に投影し、 前記撮像手段はその線状光が投影される計測 対象を前記単一波長を透過中心波長とする減衰フィ ルタを介し て撮像することを特徴とする諳求項 1 乃至 4 のうちのいずれか に記載の光切断法による画像認識装置。
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