WO1992002052A1 - Circuit integre principal a semi-conducteur en tranche - Google Patents
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- H03K2217/0036—Means reducing energy consumption
Definitions
- the present invention relates to a master slice semiconductor integrated circuit such as a gate array, and more particularly, to a master slice semiconductor integrated circuit capable of variably controlling a binary logic output current value from inside or outside.
- a gate array is composed of a cell row as a group of basic cells composed of a plurality of gate electrode field effect transistors (hereinafter referred to as MIS) and a plurality of input / output cells (I / O cells) formed around the chip. (0 cells) in advance, and a desired large-scale logic circuit or the like can be configured only by laying power supply wiring and signal wiring on a wiring channel or the like on a chip according to user specifications.
- MIS gate electrode field effect transistors
- I / O cells input / output cells
- the present invention is to realize a master-slice semiconductor integrated circuit capable of variably controlling the output current value internally or externally based on the above-mentioned requirements.
- the master single-slice semiconductor integrated circuit has a cell row, which is a collection of basic cells consisting of a plurality of transistors, and a plurality of input / output cells formed around the chip in advance, and lays wiring on the chip.
- a desired logic circuit is constituted by the basic cells.
- a control signal is obtained by a logic operation based on an output signal of the logic circuit and a current value change signal as an internal signal or an external signal.
- a control signal generating means for generating a control signal in parallel with one of the power supply potential and the output terminal, and opened and closed by a control signal from the control signal generating means.
- the control signal for controlling the current supply means is controlled by the logic of the output signal from the dedicated logic circuit composed of the internal basic cells and the logic of the current value change signal.
- the current supply means created by the signal generation means is composed of two or more current paths, and these current paths are opened and closed by control signals. Since the number of current paths can be changed, the potential supplied to the outside is at a high level or a low level, and the output current can discretely select a plurality of values. Therefore, even after the chip is mounted, if the circuit to be connected to the outside is to be driven high, the amount of current supply can be increased.For example, when the external circuit is stationary, the amount of current supply can be reduced. Thus, current consumption can be suppressed.
- Adopt 1 o configuration For the purpose of variably controlling a low-level current value, a configuration is adopted in which one of the power supply potentials is set to a low power supply potential and a current path is provided with a channel-type insulated genitude electric field transistor.
- the actual circuit configuration of the master slice semiconductor integrated circuit as described above may be such that, for example, the control signal generation means and the current supply means are all configured by basic cells. In such a case, since the circuit connection can be performed only by the wiring laying process, a useless element forming area can be eliminated, which contributes to a reduction in the chip area and a degree of freedom in wiring laying.
- the control signal generation means and the current supply means may all be constituted by input / output cells.
- control signal generating means may be constituted by a basic cell, and the current supply means may be constituted by an input / output cell.
- the present invention adopts the following input / output cell configuration as a specific layout when the current supply means has two current paths. That is, a pair of insulated gate field-effect transistors that constitute the current supply means.
- the area where the data is built is arranged symmetrically with respect to the shared main output wiring to be connected to the output terminal.
- Each transistor has a cross-under section extending in parallel with the common main output wiring, a plurality of branch gate electrodes branched from the cross-under section at a substantially right angle, and crossing the branch gate electrodes.
- a diffusion layer formed by self-alignment with respect to the region, and a branch source electrode and a branch drain electrode that are in conductive contact with a pair of regions of the diffusion layer sandwiching each branch gate electrode.
- the branch drain electrode branches from the common main output wiring and is parallel to the branch gate electrode, and a plurality of branch source electrodes branch from the common source wiring section and are anti-parallel to the branch gate electrode.
- the present invention provides a first control signal generation method for generating a first control signal by a logical operation based on an output signal of a third circuit of a logic circuit and a first current value change signal.
- a second control signal generating means for generating a second control signal by a logical operation based on an output signal of a second circuit of the logic circuit and a second current value change signal, and a first control signal Selection control means for actively selecting one of the generation means or the second control signal generation means; and two or more selection control means formed in parallel between the first power supply potential and the output terminal and opened and closed by the first control signal
- a configuration having a first current path and two or more second current paths formed in parallel between the second power supply potential and the output terminal and opened and closed by a second control signal is employed.
- selection control means for actively selecting one of the first control signal generation means and the second control signal generation means is provided so that both high and low potentials are not simultaneously connected to the element.
- FIG. 1 is a circuit configuration diagram showing an output current value variable circuit of a semiconductor integrated circuit according to Embodiment 1 of the present invention.
- FIG. 2 is a layout diagram showing a semiconductor fabrication structure of the output current supply circuit 14 in the embodiment.
- FIG. 3 is a circuit configuration diagram showing an output current value variable circuit of the semiconductor integrated circuit according to the second embodiment of the present invention.
- FIG. 4 is a circuit configuration diagram showing an output current value variable circuit of a semiconductor integrated circuit according to Embodiment 3 of the present invention.
- FIG. 1 is a circuit configuration diagram showing an output current value variable circuit of a semiconductor integrated circuit according to Embodiment 1 of the present invention.
- the output current value variable circuit 10 varies the current value of the high potential level (hereinafter referred to as H level), and includes a control signal generation circuit 12, an output current supply circuit 14.
- H level the high potential level
- C Consists of 16
- the control signal generation circuit 12 includes a predetermined output signal S 0 UT of the dedicated logic circuit 11 composed of the internal basic cell and an output signal (internal signal S,) of the predetermined circuit composed of the internal basic cell or an external signal S z input terminal from (pad) 1 3 is supplied via the puffer 1 3 a and manpower signal And it generates a first control signal and second control signal C z, wherein, the internal signal S or an external signal S 2, is functioning as a current value changing signal S.
- the control signal generation circuit 12 includes an inverter INV for inverting the logic of the current value change signal S, an inverter INV z for inverting the logic of the output signal S ⁇ , and a 3-input 0 R gate 12 a
- inverter INV 2 outputs S (bar), the output signal S. UT and the first control signal C to a second control signal C 2 as an input, an output., And also 3 input AND gate 1 2 b, the output signal S. of I converter INV 2 Upushirontau (bars), and outputs the inverter output S (bars) and the first control signal C, and the input second control signal C 2 of INV 2.
- the output current supply circuit 14 is composed of two P-channel MIS transistors Tr, Tr 2 connected in parallel between the power supply high potential V dd and the output terminal (bad) 16. I have.
- the first MIS transistor Tr! The first control signal C, by the gate control, the second MIS DOO La Njisuta T r 2 are gate controlled by a second control signal C 2.
- the predetermined dedicated logic circuit 11 is constituted by an internal cell array, or the control signal generation circuit 12 and the output current supply circuit 14 are also provided. It can be composed of internal basic cells. Needless to say, both or one of these may be formed in the IZO cell in advance.
- the connection wiring of the I / O cell is shortened, and the reliability of the AC characteristics and the DC characteristics can be improved.
- all of the output current variable circuits 10 are composed of basic cells, they are not dedicated to fix the pattern, which contributes to the reduction of the chip area and the wiring layout. The degree of freedom of installation can be improved.
- the control signal generation circuit 12 Since this is not a dedicated pattern-fixed type, this contributes to the reduction of the chip area and the freedom of wiring installation.
- the output current of the H level current value i appears in the output element 16.
- the logic of the first and second control signals C 1, C z is determined depending on the logic 4 level of the current value change signal S.
- both the first and second control signals C z are at the H level. Therefore, since the first and second MIS transistors ⁇ ⁇ ⁇ and ⁇ r 2 are both in an off state, no current path is formed between the power supply high voltage dd and the output terminal 16, and the output The current value is zero.
- the first and second control signals C and C 2 are both at the L level.
- the first and second MIS transistors Tr, Trz are both in the ON state. From “V", the output current of the current value 2 i flows through the two parallel current paths to the output terminal 16 (external) side. That is, the output current of the current value 2 i appears at the H level.
- the current value of the H-level external output X ⁇ ⁇ supplied to the output terminals 16 can be set to i or 2 i by the current value change signal S, reducing power consumption according to the chip usage environment. And the degree of freedom for high drive can be increased.
- FIG. 2 is a layout diagram showing a semiconductor fabrication structure of the output current supply circuit 14 in the embodiment.
- the structure of the output current supply circuit 14 is formed in the IZO cell region, which is the peripheral region of the chip.
- the pair of P-channel MIS transistors Tri and Tr 2 that constitute the output current supply circuit 14 are connected to rectangular output terminals (pads) 16. They are arranged symmetrically with respect to the wiring L. Therefore, a description only the structure of one of the preparative La Njisuta T gamma iota.
- poly silicon co emissions' gate includes a click port Suanda unit G 1 0 extending close parallel to the common main trunk output line L, the Kurosuanda portion It has five branched gate electrodes GH to G 1 s branched at equal intervals from G, 0.
- the poly silicon co down gate has been formed through the insulation ⁇ on a semiconductor substrate (not shown), them against the longitudinal region across the five branch gate electrodes 11-0 15
- a diffused layer (active layer) 14a of P-type impurities is formed by self-alignment as a mask.
- FIG. 3 is a circuit configuration diagram showing an output current value variable circuit of the semiconductor integrated circuit according to Embodiment 2 of the present invention.
- the variable output current value circuit according to this embodiment also includes the control signal generation circuit 12, the output current supply circuit 24, and the output terminal (pad) 16, but differs from the first embodiment. ', In the configuration of the output current supply circuit 24. That is, this output current supply circuit 24 is composed of two N-channel MIS transistors F 2 connected in parallel between the power supply low potential (ground potential) V ss and the output terminal (bad) 16. Have been.
- the first MIS preparative run-register F the first control signal C, by the gate control.
- the second MIS DOO La Njisuta F 2 Ru are cases preparative controlled by a second control signal this z.
- FIG. 4 is a circuit configuration diagram showing an output current value variable circuit of a semiconductor integrated circuit according to Embodiment 3 of the present invention.
- This output current variable circuit 30 has H level and H level output currents and values.
- the high-level current value variable circuit 3 1 And a low-level current value variable circuit 32.
- the high bell current value variable circuit 31 has a control signal generation circuit 12 and an output current supply circuit 14.
- the low-level current value variable circuit 32 includes a control signal generation circuit 34 and an output current supply circuit 24.
- the output current value variable circuit 30 has a single output terminal 16 having an H level or an L level.
- a control selection circuit 35 for eliminating logic conflicts is provided on the low-level current value variable circuit 32 side because it supplies a low-level output current.
- the output signal t F dedicated logic circuit 1 ⁇ is at H level, how Kakawawa regardless of the logic level of the current value changing signal D R, the ⁇ control of control signal generating circuit 1 2
- the signal P is at H level
- the second control signal P 2 is at L level. Therefore, since only the second transistor Trz is in the ON state, the output terminal 16 receives the output current of the H level current value i from the power supply high voltage Vdd via the transistor Tr2. Is supplied.
- the output jk of the low-level side selection circuit 35 is both at L level, both the first and second control signals N and N 2 of the control signal generation circuit 34 are at L level, And the second transistors F I and F 2 are both off.
- the first and second control signal generation circuits 12 are controlled in the same manner as in the first embodiment.
- the control signals P,..., ⁇ 2 are all at L level. Accordingly, since the first and second transistors Tr- and TI'z are both in the ON state, the transistors Tr, and Trz are supplied to the output terminal 16 from the power supply high voltage ⁇ dd.
- An H level current value; i is supplied with an output current.
- the output j.k of the low-level side selection circuit 35 is at the low level
- the i-th and second ⁇ of the control signal generation circuit 34 The control signal ⁇ 2 is at the L level, and the first and second low-level transistors F 1, F 2 are both off.
- the control signal generating circuit 1 2 of the first and second , P 2 ′ are at H level.
- the first and second preparative La Njisuta T r,, T r 2 is in the off state co.
- the AND gates 35b and 3.5c output the current value change signal DN and the output signal EN of the dedicated logic circuit 21.
- the control signal generation circuit 34 functions in the same manner as in the second embodiment.
- the first and second transistors F 1,... F of the current supply circuit 24 are both in the ON state, the first and second transistors are supplied from the output terminal 23 to the power supply low voltage V ss .
- An L-level current value 2 i flows through the transistors F 1, F 2 .
- the output signal E P and the current value changing signal D F dedicated logic circuit 1 1 is at the L level together, as in Example 2, the first and second control signals of the control signal generating circuit 3 4 , Nz are both at the L level. Therefore, the current supply First and second preparative La Njisuta F tracts 2 4,, F zeta are both turned off.
- the current capacity of the current value i or 2 i can be selected and set for the ⁇ level logic output, and the current capacity of the current value i or 2 i can be selected for the L level logic output. Selection setting is possible.
- the setting of the output current value is limited to two discrete values, but it goes without saying that three or more discrete values can be set by increasing the number of parallel current paths.
- the master-slice semiconductor integrated circuit according to the present invention is configured so that the value of the H-level or L-level output current can be varied by controlling internal or external signals after chip mounting. Therefore, it is suitable for use in semiconductor devices that require power saving and temporary high drive according to changes in the system environment.
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Description
明 細 書 マスタースライ ス半導体集積回路 技術分野
この発明は、 ゲー ト ア レイ等のマスタースライ ス半導体集積回路 に関し、 更に詳細には、 2値論理の出力電流値を内部又は外部から 可変制御可能のマスタース ラ ィ ス半導体集積回路に関する。 背景技術
ゲー トア レイ は、 一般に、 複数の絶緣ゲ一 ト電界効果 ト ラ ンジス タ (以下、 M I S と称する) からなる基本セルの集合たるセル列と チップの周辺に形成された複数の入出力セル ( I 0セル) とを予 め有し、 ユーザー仕様によりチップ上の配線チヤネル等に電源配線 及び信号配線を敷設する ことだけで所望の大規模論理回路等を構成 するようになつている。 入出力セル ( I ノ 0セル) のラ イ ブラ リ 一 と しては種々のセル搆成が提案されているが、 いずれも I / 0バッ ファを基本とするものである。 I ノ 0セルの出力 ト ラ ンジスタは外 部の T T L とコ ンパチブルにするため、 例えば 0 . 4 Vの電位差で z o 0 . 4 m Aのシンク電流を流せるだけの電流能力が必要であるが、 配線敷設の変更により内部基本セルで構成された専用論理回路から の単一の出力信号線を複数の I / 0セル 接続することにより出力 電流の値を変える ことが可能である。 しかし、 配線プロセス完了後. チッブ実装の電子回路に組み込まれた後においては、 その出力電流 の値は恒常的に一定であるため、 システム環境の変化に応 た消費
電流の省力化や必要に応じて高駆動化の自由度に欠ける。 外部電源 の電圧レベルを調整することによりある程度の出力電流値を変化さ せることができるが、 電源電圧レベルの可変は他の素子にも影響を 及ぼすので好ましくない。 近年、 チップ実装後のシステム環境にお
' 5 いて所定の出力電流値を積極的に可変調整できる半導体集積回路の 出現が望まれていた。
そこで、 本発明は、 上述のような要請に基づいて、 出力電流値を 内部又は外部から可変制御可能のマスタ—スラィス半導体集積回路 を実現することにある。
I 0
発明の開示
マスタ一スライス半導体集積回路は、 複数の トラ ンジスタからな る基本セルの集合たるセル列と、 チップの周辺に形成された複数の 入出力セルとを予め有し、 チップ上に配線を敷設して基本セルを以 て所望の論理回路が構成されるものであるが、 本発明においては、 その論理回路の出力信号と内部信号又は外部信号たる電流値変更信 号とに基づいて論理演算によって制御信号を作成する制御信号生成 手段を有しており、 また、 一方の電源電位と出力端子との間に並列 形成され、 制御信号生成手段からの制御信号により開閉される 2以
Z 0 上の電流経路とを持つ電流供給手段を備えるものである。 このよう 'な構成においては、 内部基本セルで構成された専用の論理回路から の出力信号の論理の如何と電流値変更信号の論理の如何によつて電 流供給手段を制御する制御信号が制御信号生成手段にて作成される < 電流供給手段は 2以上の電流経路で構成されており、 これらの電流 経路は制御信号によって開閉制御されるので、 制御信号の如何によ
つて電流経路数を変更する ことができるので、 外部へ供給される電 位は高レベル又は低レベルで、 出力電流は離散的に複数の値を選択 できる。 従って、 チップ実装後においても、 外部に接続さるべき回 路を高躯動にする場合には、 電流供給量を増大させるこ とができ、 また例えば外部回路の静止状態時には電流供給量を減少させ、 消費 電流の抑制を図ることができる。
例えば、 高レベルの電流値を可変制御する目的においては、 上述 の一方の電源電位を電源高電位とすることは勿論である力、 電流経 路の開閉手段として ρチヤネル型絶緣ゲー ト電界 ト ラ ンジスタを有
1 o する構成を採用する。 また、 低レベルの電流値を可変制御する目的 においては、 一'方の電源電位を電源低電位とし、 電流経路には Νチ ャネル型絶緣ゲニ ト電界 ト ラ ンジスタを備える構成を採用する。 上述のようなマスタースライ ス半導体集積回路における現実の回 路構成は、 例えば、 制御信号生成手段及び電流供給手段はすべて基 本セルで構成されるべき ものでも良い。 かかる場合には、 配線敷設 工程のみで画路結線が可能であるので、 無駄な素子作り込み領域を 排除でき、 チッブ面積の縮小化に資すると共に配線敷設の自由度も 図れる。 他方、 制御信号生成手段及び電流供給手段はすべて入出力 セルで構成されるべき ものでも良い。 かかる場合には、 入出力セル τ o の接続配線が短く なり、 A C特性, D C特性の信頼度を高める こ と ができる。 また、 制御信号生成手段は基本セルで構成し、 電流供給 手段は入出力セルで構成する場合でも構わない。
本発明は、 電流供給手段の電流経路が 2つである場合の具体的な レイ アウ ト としては、 次のような入出力セルの構成を採用する。 即 ち、 電流供給手段を構成する一対の絶緣ゲー ト電界効果 ト ラ ノ ' ジフ
タの作り込み領域は、 出力端子に接続さるべき共用主幹出力配線に 関して左右対称に配置されている。 各トラ ンジスタは、 共用主幹出 力配線に近接平行して延在するクロスアンダ部と、 このクロスアン ダ部から略直角方向に分岐した複数の分岐ゲート電極と、 それらの 分岐ゲー ト電極を横切る領域に対してセルファライ ンで形成された 拡散層と、 拡散層のうち各分岐ゲー ト電極を挟む一対の領域に導電 接触する分岐ソース電極及び分岐ドレイ ン電極とを有しており、 複 数 ø分岐ドレイ ン電極は共用主幹出力配線から分岐し分岐ゲー ト電 極と平行していると共に、 複数の分岐ソース電極はソース共用配線 部から分岐し分岐ゲート電極と反平行している。 このように、 櫛歯 状の分岐ゲー ト電極を複数個有する ト ラ ンジスタを構成することに より入出力セルの幅寸法を抑制することができる。
上述のように、 高レベル又は低レベルの一方の論理について出力 電流値を可変制御させるだけでなく、 高レベル及び低レベルの双方 の論理について電流値の可変出力も可能である。 このような目的に おいて本発明は、 論理回路の第】 の回路の出力信号と第 1 の電流値 変更信号とに基づいて論理演算によって第 1 の制御信号を作成する 第 1の制御信号生成手段と、 論理回路の第 2の回路の出力信号と第 2の電流値変更信号とに基づいて論理演算によって第 2 の制御信号 を作成する第 2の制御信号生成手段と、 第 1 の制御信号生成手段又 は第 2の制御信号生成手段の一方を能動選択する選択制御手段と、 第 1 の電源電位と出力端子との間に並列形成され、 第 1 の制御信号 により開閉される 2以上の第 1 の電流経路と、 第 2の電源電位と出 力端子との間に並列形成され、 第 2の制御信号により開閉される 2 以上の第 2の電流経路と、 を有する構成を採用する。 単一の出力端
子に対して高低の両電位が同時に接続されないよう、 特に、 第 1 の 制御信号生成手段又は第 2 の制御信号生成手段の一方を能動選択す る選択制御手段が設けられている。
図面の簡単な説明
図 1 は本発明の実施例 1 に係る半導体集積回路の出力電流値可変 回路を示す回路構成図である。
図 2 は同実施例における出力電流供給回路 1 4 の半導体作り込み 構造を示すレイ アウ ト図である。
図 3 は本発明の実施例 2 に係る半導体集積回路の出力電流値可変 回路を示す回路構成図である。
図 4 は本発明の実施例 3 に係る半導体集積回路の出力電流値可変 回路を示す回路構成図である。 発明を実施するための最良の形態
次に、 本発明の実施例を添付図面に基づいて説明する。
(実施例 1 ) ·
図 1 は本発明の実施例 1 に係る半導体集積回路の出力電流値可変 回路を示す回路構成図である。 この出力電流値可変回路 1 0 は高電 位レベル (以下、 H レベルと称する) の電流値を可変するもので、 制御信号生成画路 1 2 , 出力電流供給回路 .1 4及び出力端子 (バッ ド) 1 6から構成されている c
制御信号生成回路 1 2 は、 内部基本セルで構成された専用論理回 路 1 1 の所定の出力信号 S 0 U T と内部基本セルで構成された所定の 回路の出力信号 (内部信号 S , ) 又は入力端子 (パッ ド) 1 3から パッファ 1 3 a を介して供給される外部信号 S z とを人力信号と し
第 1 の制御信号 及び第 2の制御信号 Cz を生成するものである, ここで、 内部信号 S , 又は外部信号 S 2 は電流値変更信号 Sと して 機能している。 制御信号生成回路 1 2は、 電流値変更信号 Sの論理 を反転するイ ンバータ I N V , と、 出力信号 S ουτ の論理を反転す るィ ンバー夕 I N V z と、 3入力 0 Rゲー ト 1 2 a と、 3入力 A N Dゲー ト 1 2 bとから構成されており、 3入力 0 Rゲー ト 1 2 a は. イ ンバータ I N V2 の出力 S (バー) , 出力信号 S。UT 及び第 2の 制御信号 C2 を入力として第 1 の制御信号 C , を出力.し、 また 3入 力 A N Dゲー ト 1 2 bは、 ィ ンバータ I N V 2 の出力信号 S。υτ ( バー) , イ ンバータ I N V 2 の出力 S (バー) 及び第 1 の制御信号 C , を入力とし第 2の制御信号 C2 を出力する。
出力電流供給回路 1 4.は、 電源高電位 Vddと出力端子 (バッ ド) 1 6 との間に並列接続された 2つの Pチャネル M I S ト ラ ンジスタ T r , , T r 2 で構成されている。 第 1 の M I S ト ラ ンジスタ T r! は第 1 の制御信号 C , によりゲー ト制御され、 第 2の M I S ト ラ ンジスタ T r 2 は第 2の制御信号 C 2 によりゲー ト制御される。
このような構成の出力雩流値可変回路 1 0においては、 所定の専 用論理回路 1 1 は内部セルァレイ により構成されているか、 制御信 号生成回路 1 2 ,.出力電流供給画路 1 4 も内部基本セルで構成する ことができる。 勿論、 これら両者又は一方を I ZOセル内に予め作 り込んでおいても良い。 出力電流値可変回路 1 0のすベてを I /O セル内で構成した場合には、 Iノ0セルの接続配線が短くなり、 A C特性, D C特性の信頼度を高めることができる。 また出力電流値 可変回路 1 0のすベてを基本セルで構成した場合には、 パターン固 定の専用型でないため、 チップ面積の縮小化に資すると共に配線敷
設の自由度も図れる。 更に、 出力電流値可変回路 1 0 のう ち電流供 給回路 1 4を I /0セル内で構成し、 制御信号生成回路 1 2を基本 セルで構成した場合には、 制御信号生成回路 1 2についてはパター ン固定の専用型でないため、 この点からチッブ面積の縮小化に資す ると共に配線敷設の自由度も図れる。
次に、 上記出力電流値可変回路 1 0の動作について説明する。 専 用論理回路 1 1からの出力信号 S。UT が Hレベルのときには、 電流 値変更信号 Sの綸理レベルの如何に拘わらず、 第】 の制御信号 C i は Hレベルで、 第 2の制御信号 C 2 は L レベルである。 このため、 第 1 の M I S トラ ンジスタ T r ! はオフ状態で、 第 2の M I S ト ラ ンジスタ T r 2 はォン状態である。 今、 第 1及び第 2の M I S.ト ラ ンジスタ T r , , T r z が同等の素子サイ ズで特性が相等しいとす ると、 電源高電圧 V ddから第 2の M I S ト ラ ンジスタ T r 2 を介し て電流値 i の出力電流が出力端子 1 6へ供給される。 即ち、 出力^ 子 1 6には Hレベルの電流値 i の出力電流が現れる。 こ こて、 専用 論理回路 1 1の出力信号 S。UT が L レベルになった場合には、 電流 値変更信号 Sの論理 4レベルの如何により第 1及び第 2 の制御信号 C , , Cz の論理が決定される。 まず、 電流値変更信号 Sが L レべ ルのときには、 第 1及び第 2の制御信号 , C z は共に Hレベル である。 このため、 第 1及び第 2の M I S トラ ンジスタ Τ Γ ι , Τ r 2 は共にオフ状態であるので、 電源高電圧 ' ddと出力端子 1 6 と の間には電流路が形成されず、 出力電流値は零である。 一方、 電流 値変更信号 Sが Hレベルのときには、 第 1及び第 2の制御信号 C , C 2 は共に L レベルである。 このため、 第 1及び第 2の M I S トラ ンジスタ T r , , T r z は共にオ ン状態であるので、 電源高電圧
V"から 2つの並列電流路を介して電流値 2 i の出力電流が出力端 子 1 6 (外部) 側へ流れる。 即ち、 H レベルで電流値 2 i の出力電 流が現れる。 このように、 出力端子 1 6へ供給される Hレベルの外 部出力 X οϋΤ の電流値を電流値変更信号 Sにより i と 2 i に選択設 定できるので、 チップの使用環境に応じて消費電力の軽減化が図れ ると共に、 高駆動化の自由度を大き くすることができる。
図 2は同実施例における出力電流供給回路 1 4 の半導体作り込み 構造を示すレイァゥ ト図である。 この出力電流供給回路 1 4 の構造 は、 チップの周辺領域たる I ZOセル領域内に形成されている。 出 力電流供給回路 1 4を構成する一対の Pチャネル M I S ト ラ ンジス タ T r i , T r 2 は、 矩形状の出力端子 (パッ ド) 1 6に接続した アルミ二ゥムの共用'主幹出力配線 Lに関して左右対称に配置されて いる。 従って、 一方の ト ラ ンジスタ Τ Γ Ι の構造のみについて説明 する。 トラ ンジスタ T r , のポリ シリ コ ン ' ゲー ト (多結晶シリ コ ン · ゲー ト) は、 共用主幹出力配線 Lに近接平行して延在するク口 スアンダ部 G 1 0と、 このクロスァンダ部 G , 0から等間隔で分岐した 5本の分岐ゲ一ト電極 G H〜G 1 sとを有している。 このポリ シリ コ ン · ゲートは、 半導体基板上の絶緣膜( 図示せず) を介して形成さ れているが、 5本の分岐ゲー ト電極 11〜015を横切る縦長領域に 対してそれらをマスクとしてセルファライ ンにより P型不純物の拡 '散層 (活性層) 1 4 aが形成されている。 各分岐ゲー ト電極 G H〜 G1 Sを挟んだ両側には、 ソース共用配線部 1から分岐した 3本の分 岐ソース電極 1 , 〜 1 3 と共用主幹出力配線 Lから分岐した 3本の 分岐ドレイ ン電極 1^ 〜 L 2 とが反平行に並列している。 従って、 分岐ゲ一ト電極 G t lとそれを挟むソース領域 及びドレイ ン領域
D L, 分岐ゲー ト電極 G 1 2とそれを挟むドレイ ン領域 D 12及びソ ー ス領域 S 12, 分岐ゲ一 ト電極 G 1 3とそれを挟むソース領域 S 13及び ド レイ ン領域 D 1 3, 分岐ゲ一 ト電極 G , 4とそれを挟む ドレイ ン領域 D 14及びソース領域 S 1 4 ドレイ ン領域 D , , , 分岐ゲー ト電極 G , 5と それを挟むソース領域 S 15及び ドレイ ン領域 D 1 5は、 それぞれ短チ ャネル幅 Wの M 0 S部を構成している。 このように櫛歯状の複数の M 0 S部を共用主幹出力配線 Lに沿って形成した構造においては、 チつプの縁方向の長さを圧縮できるので、 I / 0セルの幅寸法を増 大させずに、 2つの ト ラ ンジスタ T r t , T r z を詰め込むことが できた。
(実施例 2 ) '
図 3 は本発明 0実施例 2 に係る半導体集積回路の出力電流値可変 画路を示す回路構成図である。 なお、 図 3 において図 1 に示す部分 と同一部分には同一参照符号を付し、 その説明は省略する。 この実 施例に係る出力電流値可変画路も制御信号生成画路 1 2 , 出力電流 供給回路 2 4及び出力端子 (パッ ド) 1 6から構成されているが、 実施例 1 と異なる点は'、 出力電流供給回路 2 4 の構成にある。 即ち. この出力電流供給回路 2 4 は、 電源低電位 (接地電位) Vssと出力 端子 (バッ ド) 1 6 との間に並列接続された 2 つの Nチャネル M I S ト ラ ンジスタ , F 2 で構成されている。 第 1 の M I S ト ラ ン ジスタ F , は第 1 の制御信号 C , によりゲー ト制御され . 第 2 の M I S ト ラ ンジスタ F 2 は第 2 の制御信号こ z によりケー ト制御され る。
前述したよ う に、 S。UT が H レベルのときには、 電流値変更信号 Sの論理レベルの如何に拘わらず、 第 〗 の制御信号 C , H !ノ へ ル
で、 第 2の制御信号 C z は L レベルである。 このため、 第 1 の M ί S ト ラ ンジスタ F , はオ ン状態で、 第 2の M I S トラ ン::.'ス夕 F 2 はオフ状態であり、 第 1及び第 2の M I S ト ラ ンジスタ F i , F , が同等の素子サイズで特性が相等しいとすると、 出力端子〗 6から 5 第 1 の M I S ト ラ ンジスタ F , を介して電流値 i の出力電流が電源 低電圧 Vssへ供給される。 即ち、 出力端子 1 6には L レベルの電流 値 i の出力電流が現れる。 次に、 S OUT が L レベルで電流値変更信 号' Sが L レベルのときには、 第 1及び第 2の制御信号 C ^ , C: 共に Hレベルである。 このため、 第 1及び第 2の M I S. 卜ラ ンジス0 タ F , , F 2 は共にオ ン状態であるので、 出力端子 1 6から 2つの 並列電流路を介して電流値 2 i の出力電流が電源低電位 ( V s's) 側 へ流れる。 即ち、 Lレベルで電流値 2 i の出力電流が現れる。 一方 S O UT が L レベルで電流値変更信号 Sが Hレベルのときには、 第 1 及び第 2の制御信号 d ; C z は共に L レベルである。 このため、δ 第 1及び第 2の M I S ト ラ ンジスタ F , , F z は共にオフ状態であ るので、 電源低電圧 Vssと出力端子 1 6 との間には電流路が形成さ れず、 出力電流値は零である。 このように、 出力端子 1 6へ供給さ れる L レベル 0.外部出力 YOL'T の電流値を電流値変更信号 S によ り i と 2 i に選択設定できる。
o (実施例 3 )
図 4は本発明の実施例 3に係る半導体集積回路の出力電流値可変 回路を示す回路構成図である。 なお、 同図において図 1又は図 2に 示す部分と同一部分には同一参照符号を付し、 その説明は省略する この出力電流値可変回路 3 0 は、 Hレベル及び Hレベルの出力電流, 値を変更できるよう構成されており、 高レベル電流値可変回路 3 1
と低レベル電流値可変回路 3 2 とからなる。 高いベル電流値可変回 路 3 1 は、 制御信号生成回路 1 2及び出力電流供給回路 1 4 を有し ている。 また低レベル電流値可変回路 3 2 は制御信号生成回路 3 4 及び出力電流供給回路 2 4 を有している: この出力電流値可変回路 3 0 は単一の出力端子 1 6 に H レベル又は L レベルの出力電流を供 給するものであるため、 後述するように、 論理の競合を排除する制 御選択回路 3 5が低レベル電流値可変回路 3 2側に設けら rしている 実施例 1 の場合と同様に、 専用論理回路 1 〗 の出力信号 t F が H レベルのときには、 電流値変更信号 D R の論理レベルの如何に拘わ らず、 制御信号生成回路 1 2 の第 〗 の制御信号 P , は H レベルで、 第 2の制御信号 P 2 は L レベルである。 従って.、 第 2 の ト ラ ン ジタ T r z のみオン状態であるので、 出力端子 1 6には電源高電圧 V d d からその ト ラ ンジタ T r 2 を介して H レベルの電流値 i の出力電流 が供給される。 このとき、 低レベル側の選択回路 3 5 の出力 j k は共に L レベルであるため、 制御信号生成回路 3 4 の第 1 及び第 2 の制御信号 N , N 2 は共に L レベルであ 、 低レベル側の第 ] 及 び第 2 の トラ ンジタ F I , F 2 は共にオフ状態である。
専用論理回路 1 1 の出力信号 E P .が L レベルで、 電流値変更信号 D P が H レベルのときには、 実施例 1 の場合と同様に、 制御信号生 成回路 1 2の第 1及び第 2 の制御信号 P , . ,,Ρ 2 は共に L レベル ある。 従って、 第 1及び第 2 の ト ラ ンジス T r- , T I' z が共に オ ン状態であるので、 出力端子 1 6には電源高電圧 \· d dから ト ラ ジタ T r , , T r z を介して H レベルの電流値 ; i の出力電流が^ 給される。 このとき、 低レベル側の選択回路 3 5 の出力 j . k は に レベルであるため、 制御信号生成回路 3 4 の第 i 及び第 2 の^
御信号 , Ν2 は共に L レベルであり、 低レベル側の第 1及び第 2の トランジタ F , , F 2 は共にオフ状態である。
次に、 専用論理回路 1 1 の出力信号 EP が Lレベルて、 電流値変 更信号 D P が L レベルのときには、 第 1実施例と同様に、 制御信号 生成回路 1 2の第 1及び第 2の制御信号 P , , P 2 ' は共に H レベル である。 従って、 第 1及び第 2の ト ラ ンジスタ T r , , T r 2 は共 にオフ状態である。 このとき、 制御選択回路 3 5の N 0 Rゲー トの 出力が H レベルであるため、 A N Dゲー ト 3 5 b , 3.5 cが電流値 変更信号 DN と専用論理回路 2 1の出力信号 EN の論理を通過させ. 制御信号生成回路 3 4 は実施例 2の場合と同様に機能する。 即ち、 電流値変更信号 DN の論理レベルの如何に拘わらず、 専用論理回路 2 1 の出力信号 EN が Hレベルのときには、 制櫛信号生成回路 3 4 の第 1 の制御信号 N , は Hレベルで、 第 2の制御信号 N z は L レベ ルであるため、 第 1 の ト ラ ンジスタ F , のみがオン状態であり、 出 力端子 2 3から電源低電圧 Vssへは第 1 の トラ ンジスタ F , を介し て L レベルの電流値 iが流れる。 専用論理回路 1 1 の出力信号 E P が Hレベルで、 電流値変軍信号 DP が Lレベルのときには、 実施例 2 と同様に、 制御信号生成回路 3 4の第 1及び第 2の制御信号 N , Nz は共に Hレ^ルである。 このため、 電流供給回路 2 4の第 1及 び第 2の トランジスタ F , , F が共にオン状態であるのて、 出力 端子 2 3から電源低電圧 Vssへは第 1及び第 2の ト ラ ンジスタ F , , F 2 を介して Lレベルの電流値 2 i が流れる。 更に、 専用論理回路 1 1 の出力信号 EP 及び電流値変更信号 DF が共に Lレベルのとき には、 実施例 2 と同様に、 制御信号生成回路 3 4の第 1及び第 2の 制御信号 , Nz は共に Lレベルである。 このため、 電流供給回
路 2 4 の第 1及び第 2の ト ラ ンジスタ F , , F ζ が共にオフ状態で ある。
このよう に、 本実施例では Η レベルの論理出力については電流値 i 又は 2 i の電流容量の選択設定が可能であると共に、 L レベルの 論理出力についても電流値 i 又は 2 i の電流容量の選択設定が可能 である。
なお、 上記各実施例においては、 出力電流値の設定は 2つの離散 値に限定されているが、 並列の電流路を増設することにより 3以上 の離散値を設定できることは言う迄もない。 産業上の利用可能性
以上のように、 本発明に係るマスタ一スライ ス半導体集積回路は. チップ実装後において内部又は外部信号の制御によつて H レベル又 は L レベルの出力電流の値を可変できるよう に構成されているのて システム環境の変化に応じて消費電流の省力化や一時的な高駆動化 を必要とする半導体装置に用いるに適している。
Claims
1 . 複数の トラ ンジスタからなる基本セルの集合たるセル列と、 チ ップの周辺に形成された複数の入出力セルとを予め有し、 チップ上 に電源配線及び信号配線を敷設して該基本セルを以て所望の論理回 路が搆成さるべきマスタースライ ス半導体集積回路であつて、 該論 理回路の出力信号と電流値変更信号とに基づいて論理演算によって 制御信号を作成する制御信号生成手段と、 一方の電源電位と出力端 子との間に並列形成され、 該制御信号により開閉される 2以上の電 流経路とを持つ電流供給手段を有することを特徴とするマスタース
I 0 ラィス半導体集積回路。
2 . 請求項 Γにおいて、 前記一方の電源電位は電源高電位であり、 前記電流経路は Pチャネル型絶緣ゲー ト電界トラ ンジスタを有する ことを特徴とするマスタ一スライス半導体集積回路。
3 . 請求項 2において、 前記一方の電源電位は電源低電位であり、 前記電流経路は Nチャネル型絶緣ゲー ト電界 トランジスタを有する ことを特徴とするマスタースライス半導体集積回路。
4 . 請求項 2又は 3において、 前記制御信号生成手段及び前記電流 供給手段は前記基本セルで構成されるべきものであることを特徴と するマスタースライス半導体集積回路。
2 0 5 . 請求項 2又は 3において、 前記制御信号生成手段は前記基本セ 'ルで構成されるべきものであり、 前記電流供給手段は入出力セルで 構成されてなることを特徴とするマスタースライス半導体集積回路 <
6 . 請求項 5において、 前記電流供給手段を構成する一対の絶縁ゲ' - ト電界効果トランジスタの作り込み領域は、 出力端子に接続さる べき共用主幹出力配線に関して左右対称に配置されており、 各 トラ
ンジスタは、 該共用主幹出力配線に近接平行して延在するク ロスァ ンダ部と、 このク ロスァ ンダ部から略直角方向に分岐した複数の分 岐ゲー ト電極と、 それらの分岐ゲー ト電極を横切る領域に対してセ ルファライ ンで形成された拡散層と、 該拡散層のう ち各分岐ゲー ト 電極を挟む一対の領域に導電接触する分岐ソース電極及び分岐 ドレ イ ン電極とを有しており、 複数の該分岐ド レイ ン電極は共用主幹出 力配線から分岐し該分岐ゲー ト電極と平行していると共に、 複数の 該分岐ソース電極はソース共用配線部から分岐し該分岐ケー ト電極 と反平行していることを特徴とするマスタースライ ス半導体集積回 路。
7 . 請求項 1又'は 2 において、 前記制御信号生成手段及び前記電流 供給手段は前記 S本セルで構成されてなることを特徴とするマスタ ースラ イ ス半導体集積回路。
8 . 複数の ト ラ ンジスタからなる基本セルの集合たるセル列と . ップの周辺に形成された複数の入出力セルとを予め有し、 チ ッ ブ J: に電源配線及び信号配線を敷設して該基本セルを以て所望の論理回 路が構成さるべきマスタ一スライ ス半導体集積回路であって、 該¾ 理回路の第 1 の回路の出力信号と第 1 の電流値変更信号とに基づい て論理演算によって第 1 の制御信号を作成する第〗 の制御信号生成 手段と、 該論理回路の第 2 の回路の出力信号と第 2 の電流値変更信 号とに基づいて論理演箕によって第 2 の制御信号を作成する第 2 C, 制御信号生成手段と、 第 1 の制御信号生成手段又は第 2 の制御信号 生成手段の一方を能動選択する選択制御手段と、 第 1 の電源電位と 出力端子との間に並列形成され、 第 1 の制御信号により開閉される 2以上の第 1 の電流経路と、 第 2 の電源電位と該出力端子との間に
一 】 6— 並列形成され、 第 2の制御信号により開閉される 2以上の第 2の電 流経路と、 を有することを特徴とするマスタ一スライス半導体集積 回路。
9 . 請求項 8 において、 前記第 1 の電源電位は電源高電位で、 前記 5 第 2 の電源電位は電源低電位であり、 前記第 1 の電流経路は Pチヤ ネル型絶緣ゲ一ト電界ト ラ ンジスタを有し、 前記第 2 の電流経路は Nチャネル型絶緣ゲート電界トランジスタを有することを特徴とす るマスタースライ ス半導体集積回路。
10. 請求項 8 において、 前記第 1及び第 2の制御信号生成手段及び , ο 前記第 1及び第 2の電流供給手段は前記基本セルで構成されるべき ものであることを特徴とするマスタースライス半導体集積画路。
11. 請求項 8において、 前記第 1及び第 2の制御信号生成手段は前 記基本セルで樺成されるべきものであり、 前記第 1及び第 2 の電流
" 供給手段は入出力セルで構成されてなることを特徴とするマスタ一 . 5 スライ ス半導体集積回路。
12. 請求項 8 において、 前記第 1及び第 2 の制御信号生成手段及び 前記第 1及び第 2の電流供給手段は前記基本セルで構成されてなる ことを特徴とす-るマスタースライス半導体集積回路。
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- 1991-07-18 WO PCT/JP1991/000975 patent/WO1992002052A1/ja unknown
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