KR20130075776A

KR20130075776A - 테스트 스트립들을 부호화하는 방법 및 장치

Info

Publication number: KR20130075776A
Application number: KR1020137009766A
Authority: KR
Inventors: 스리다 이옌가; 찰스 브아또; 마틴 포레스트; 콜린 버터스
Original assignee: 아가매트릭스, 인코포레이티드
Priority date: 2010-09-17
Filing date: 2011-09-16
Publication date: 2013-07-05
Also published as: AU2011301843A1; US20130175184A1; WO2012037486A1; WO2012037486A9; EP2616802A1; KR101668382B1; KR20150046365A; ES2851336T3; EP2616802B1; US20160061763A1; US10488359B2; AU2011301843B2; US9176091B2; AU2013204866B2; AU2013204866A1

Abstract

테스트 스트립을 수납하기 위한 테스트 미터는, (a) 하우징, (b) 상기 하우징 내에 배치된 전자 회로 및 (c) 상기 전자 회로에 접속되어 있으며 상기 하우징 내의 개구부에 연장되어 있는 스트립 포트 커넥터로서, 수납된 테스트 스트립과 상기 전자 회로를 접속시켜 주는 스트립 포트 커넥터를 포함한다. 상기 스트립 포트 커넥터는 한 쌍의 상부 및 하부 접점들을 포함하며, 상기 상부 및 하부 접점들은 기단부 및 말단부 그리고 중앙 접점부를 지니고, 상기 한 쌍의 상부 및 하부 접점들은 서로 횡 방향으로 정렬되어 있으며, 상기 상부 및 하부 접점들의 말단부들은 대립된 접점들 사이에 테스트 스트립을 삽입함으로써 서로 분리되거나 서로 분리될 수 있다. 상기 접점들 및 상기 미터는 삽입된 테스트 스트립과 관련이 있는 잘못된 접점들 및/또는 부호화의 검출을 허용하는데 적합하다.

Description

테스트 스트립들을 부호화하는 방법 및 장치{Method and apparatus for encoding test strips}

관련 출원들에 대한 진술

본 출원은 2010년 9월 17일자 출원된 미국 임시 출원 제61/383,896호의 혜택을 주장한 것이며, 상기 미국 임시 출원은 인용을 통한 병합을 인정하는 국가들에서 모든 목적을 위해 본 출원에 참조를 통해 병합된 것이다.

기술분야

본 출원은 테스트 미터와 함께 화학 분석들에서 사용되는 테스트 스트립들 그리고 데스트 스트립들 및 미터들의 결합체에 관한 것이다. 또한, 본 출원은 테스트 스트립 상에 부호화된 포맷으로 테스트 스트립에 대한 정보를 제공하는 방법에 관한 것이다.

당업계에는 전기 화학 테스트 미터, 예를 들면 혈당 레벨의 측정을 위한 전기 화학 테스트 미터가 공지되어 있다. 모두가 본 출원에 참조를 통해 병합되는, 예를 들면, 미국 특허 제7,771,583호; 제7,645,374호; 제7,601,249호; 제7,547,382호; 제7,517,439호; 제7,501,052호; 제7,344,626호; 제7,090,764호; 제6,662,439호; 제6,284,125호; 제6,071,391호; 제5,942,102호; 제5,352,2,351호; 및 제5,243,516호를 참조하기 바란다.

일회용 테스트 스트립들 상에 정보를 부호화하는 방법들은 본 출원에 참조를 통해 병합되는, 미국 특허 제7,713,392호; 제7,695,608호; 제7,645,421호; 제7,625,473호; 제7,601,299호; 및 제4,714,874호에 논의되어 있다.

스트립 포트 커넥터 설계들은 본 출원에 참조를 통해 병합되는, 미국 특허 제7,780,827호 및 제7,527,716호에 논의되어 있다.

본 발명이 해결하려는 과제는 특히 비용효과적인 방식으로, 유연하며 제조 후에 행해질 수 있는 방식으로나, 또는 최종 제조 단계들 중 하나로서, 미터 또는 유사한 장치에 의해 직접 판독 및 해독될 수 있는 방식으로, 그리고 신뢰성 있고 안전하며 강건한 방식으로 테스트 스트립 상에 정보를 부호화하는 기법을 제공하는 것이다.

본 발명은 테스트 스트립을 수납하기 위한 테스트 미터를 제공하며, 상기 테스트 미터는,

(a) 하우징;

(b) 상기 하우징 내에 배치된 전자 회로;

(c) 상기 전자 회로에 접속되어 있으며 상기 하우징 내의 개구부에 연장되어 있는 스트립 포트 커넥터로서, 수납된 테스트 스트립과 상기 전자 회로를 접속시켜 주는 스트립 포트 커넥터;

를 포함한다. 상기 스트립 포트 커넥터는 한 쌍의 상부 및 하부 접점들을 포함하며, 상기 상부 및 하부 접점들은 기단부 및 말단부 그리고 중앙 접점부를 지니고, 상기 한 쌍의 상부 및 하부 접점들은 서로 횡 방향으로 정렬되어 있으며, 상기 상부 및 하부 접점들의 기단부들은 대립된 접점들 사이에 테스트 스트립을 삽입시킴으로써 서로 분리되거나 서로 분리될 수 있다.

본 발명에서는, 다음과 같은 특징들이 상호 배타적인 서로와의 임의 조합들에서 채용될 수 있다.

특정 실시예들에서는, 어떠한 테스트 스트립도 상기 미터에 수납되어 있지 않을 때 상기 상부 및 하부 접점들의 중앙 부분들이 서로 전기적으로 접촉해 있도록 상기 상부 및 하부 접접들의 기단부들이 편향되는데, 이는 테스트 스트립이 상기 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 때 한 쌍의 상부 및 하부 접점들 사이의 전기적 접촉에 대한 한번 이상의 전자 회로 테스트들을 허용한다. 이러한 테스트는 1회, 또는 1회 이상 실시될 수 있다.

특정 실시예들에서는, 상기 스트립 포트 커넥터가 하나의 종 방향의 스트립 포트 커넥터 단부를 통해 테스트 스트립을 수납한다.

특정 실시예들에서는, 상기 상부 또는 하부 접점들 중 하나가 테스트 스트립의 한 표면상에 배치된 부호화 표시들을 판독하도록 상기 전자 회로에 접속되어 있고, 상기 상부 또는 하부 접점들 중 다른 하나가 상기 테스트 스트립 내로 도입되는 샘플 상에서 상기 테스트 스트립에 의해 이루어진 측정들에 대한 정보를 획득하도록 상기 전자 회로에 접속되어 있다.

특정 실시예들에서는, 상기 상부 및 하부 접점들 중 하나가 유연한 굽힘 스프링이고, 상기 상부 및 하부 접점들 중 다른 하나가 편평한 접점 표면이다. 이러한 실시예들 중 몇몇 실시예들에서는, 하우징이 상기 유연한 굽힘 스프링 접점의 말단부에 인접한 레지(ledge)를 포함하며, 상기 레지는 상기 상부 및 하부 접점들의 스프링 힘들이 매치(match)되지 않는 경우에 인접한 점점의 편향을 제한한다.

특정 실시예들에서는, 상기 테스트 미터가 상기 스트립 포트 커넥터에서 적어도 하나의 추가 접점 쌍을 포함하는데, 상기 추가 접점 쌍들 각각은 추가적인 상부 접점 및 추가적인 하부 접점을 포함하며, 상기 추가적인 상부 및 하부 접점들은 기단부 및 말단부 그리고 중앙 접점부를 지니고, 상기 추가 접점 쌍들 각각의 추가적인 상부 및 하부 접점들은 서로 횡 방향으로 정렬되어 있으며, 상기 추가 접점 쌍들 각각의 추가적인 상부 및 하부 접점들의 말단부들은 대립된 추가적인 접점들 사이에 테스트 스트립을 삽입시킴으로써 서로 분리될 수 있다.

본 발명에 따른 테스트 스트립들의 부호화 기법은 특히 비용효과적인 방식으로, 유연하며 제조 후에 행해질 수 있는 방식으로나, 또는 최종 제조 단계들 중 하나로서, 미터 또는 유사한 장치에 의해 직접 판독 및 해독될 수 있는 방식으로, 그리고 신뢰성 있고 안전하며 강건한 방식으로 테스트 스트립 상에 정보를 부호화할 수 있다.

도 1은 본 발명에 따른 테스트 미터의 부분 절단도이다.
도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 스트립 포트 커넥터로부터 제거된 한 쌍의 접점들을 보여주는 도면이다.
도 3은 본 발명의 한 실시예에 따른 스트립 포트 커넥터로부터 제거된 한 쌍의 접점들을 보여주는 도면이다.
도 4는 본 발명의 한 실시예에 따른 스트립 포트 커넥터로부터 제거된 한 쌍의 접점들을 보여주는 도면이다.
도 5는 본 발명의 한 실시예에 따른 스트립 포트 커넥터로부터 제거되며 테스트 스트립이 사이에 삽입되는 한 쌍의 접점들을 보여주는 도면이다.
도 6은 스트립 포트 커넥터의 측면도이다.
도 7은 스트립 포트 커넥터의 일부 절단 사시도이다.
도 8은 스트립 포트 커넥터의 일부 절단 사시도이다.
도 9는 본 발명에 따른 미터의 전자 회로의 동작 흐름도이다.
도 10a 및 도 10b는 본 발명에 따른 테스트 스트립의 평면 및 저면 도들이다.
도 11a 내지 도 11c는 본 발명에 따른 테스트 스트립들에서의 부호화 패드들에 대해 이용될 수 있는 도전성 패턴들의 실시예들을 보여주는 도면들이다.
도 12a 및 도 12b는 본 발명에 따른 테스트 스트립들에서의 부호화 패드들에 대해 이용될 수 있는 도전성 패턴들의 실시예들을 보여주는 도면들이다.
도 13a 내지 도 13d는 노칭(notching)을 지니는 그리고 노칭을 지니지 않는 본 발명의 커넥터 탭들에 대한 도전성 패턴들의 실시예들을 보여주는 도면들이다.
도 14a 내지 도 14c는 본 발명에 따른 테스트 스트립의 상부 및 하부 표면들에 대한 도전성 패턴들을 보여주는 도면들이다.
도 15a 및 도 15b는 본 발명에 따른 테스트 스트립의 상부 및 하부 표면들에 대한 도전성 패턴들을 보여주는 도면들이다.
도 16은 본 발명의 한 실시예에 따른 스트립 포트 커넥터로부터 제거된 변형적인 접점 집합을 보여주는 도면이다.
도 17a 내지 도 17d는 부호화 패턴들 및 스미어링(smearing) 효과들을 보여주는 도면들이다.

본 출원은 테스트 미터, 및 테스트 스트립, 그리고 분석물(analyte)의 측정에 있어서 상기 테스트 미터 및 상기 테스트 스트립의 결합체를 사용하는 방법을 제공한다. 이들은 스트립 포트 커넥터 내에서의 접촉들의 무결성(integrity)을 테스트할 수 있게 해 주는 미터 실시예들, 상기 스트립에 의해 상기 미터에 제공될 수 있는 부호화된 정보의 양을 증대시키는 미터 및 스트립 실시예들, 및 이들의 조합을 포함한다. 본 출원은 또한 테스트 미터의 스트립 포트 커넥터 내에서의 접점들의 무결성을 테스트하는 방법에 관한 것이다.

이하에서 설명되는 미터 및 테스트 스트립들의 특징들은, 사용자 인터페이스, 통신 및 신호 처리 특징들; 및 전기 화학 분석물 테스트 미터들에서 사용하기 위해, 특히 전기 화학 혈당 테스트 시스템들에서 사용하기 위해 공지된 테스트 스트립 구성들 및 화학반응들을 포함하는 다른 미터 특징들과 결합하여 사용될 수 있다.

테스트 스트립들은 종종,

테스트 스트립 배치(test strip batch)에 대한 교정 코드(calibration code),

지역별 부호화 또는 국가별 부호화,

제품 식별정보(product identification),

고객 식별정보(customer identification),

분석 타입(예컨대, 글루코스(glucose) 테스트 스트립 또는 케톤(ketone) 테스트 스트립), 및

제조 일자

와 같은, 상기 테스트 스트립들과 관련이 있는 정보를 지닌다.

사용자가 상기 정보를 검사하거나 그 정보를 상기 테스트 스트립을 받아들이는 장치(미터) 내로 입력할 필요가 없도록 상기 테스트 스트립이 상부에 부호화된 정보를 지닌다면 사용자에게 편리해지고 오류가 줄어들게 된다. 그러나, 종종 상기 스트립이 부호화해야 하는 정보가 제조시점 이전에는 알려져 있지 않거나 또는 단지 상기 스트립이 실질적으로 제조된 후에만 알려지게 되는데, 예컨대

상기 스트립들이 만들어진 다음에 QC 테스트된 후에 교정이 결정되고,

주문을 받은 후에 고객 및 지역별 요구가 알려지게 된다.

제조업자들의 도전 과제는,

비용효과적인 방식으로,

유연하며 제조 후에 행해질 수 있는 방식으로나, 또는 최종 제조 단계들 중 하나로서,

미터 또는 유사한 장치에 의해 직접 판독 및 해독될 수 있는 방식으로, 그리고

신뢰성 있고 안전하며 강건한 방식으로 테스트 스트립 상에 어떠한 방식으로 정보를 부호화해야 하는지에 대한 것이다.

더군다나, 스트립 포트 커넥터(strip port connector; SPC) 핀들에 대한 손상(전기적 접촉을 방지하는 굽힘, 부식, 먼지/기름/혈액)이 존재하는 경우에, 상기 미터가 부호화된 정보를 정확하게 판독하지 못할 위험성이 존재한다. 따라서, 사용자를 위한 그러한 코드들을 판독하는 미터를 지니는 것은 신뢰성 있는 미터 설계를 필요로 한다.

본 발명은 이를 해결하기 위한 완전한 시스템을 제공하는데, 상기 시스템은,

도전성 패턴을 판독하는 추가적인 핀들을 지니는 스트립 포트 커넥터;

정보를 보다 안전하게 부호화하도록 설계된 도전성 패턴들;

상기 SPC 핀들이 손상을 받는지 그리고 양호한 접촉을 이루고 있는지를 검사하도록 하는 미터 장치 지능(meter device intelligence); 및

이용가능한 부호화된 구성들의 개수를 증가시키는 스트립 노칭 및 패터닝 방법들;

을 포함한다.

본 발명의 테스트 미터

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 테스트 미터의 기본 구조가 스트립 포트 커넥터(13)를 지니는 하우징(11)을 포함한다. 상기 하우징(11) 내에는 전자 회로(15)가 배치되어 있다. 상기 스트립 포트 커넥터(13)는 상기 전자 회로에 접속되어 있으며, 또한 상기 스트립 포트 커넥터가 수납된 테스트 스트립과 상기 전자 회로를 접속시켜 줄 수 있도록 상기 하우징 내의 개구부에 (즉 상기 하우징의 벽을 통해 완전히 또는 부분적으로) 연장되어 있을 수도 있고 상기 하우징의 벽 내의 개구부와 정렬되어 있을 수도 있다. 당업자라면 본 도면에 도시된 미터가 최소 개수의 특징들을 나타내고 있고, 디스플레이들, 유선 또는 무선 데이터 전달 구성요소들, 버튼들, 노브(knob)들 및 다른 사용자 인터페이스들을 포함하는 다른 특징들이 필요에 따라 상기 미터에 포함될 수 있음을 알 수 있을 것이다.

상기 스트립 포트 커넥터, 상기 전기 회로와 상기 스트립 포트 커넥터의 접속, 및 수납된 테스트 스트립과 상기 전기 회로와의 상호작용은 개별적으로나 또는 상기 특징들 중 2개 이상의 특징들의 임의 조합으로 사용될 수 있는 이하에서 설명되는 여러 특징을 합체하고 있다.

상기 스트립 포트 커넥터는 적어도 한 쌍의 상부 및 하부 접점들을 포함한다. 상부 및 하부 접점들에 대한 기준은 임의로 표시한 것이며, 중력에 대한 상기 접점들의 어느 특정 관계를 정의한 것이 아니다.

도 2는 본 발명의 한 실시예의 스트립 포트 커넥터로부터 제거된 한 쌍의 접점들의 측면도이다. 상기 접점들(20,20') 각각은 전자 회로에 대한 커넥터가 이루어지는 기단부(22,22'), 말단부(23,23') 및 중앙 접점부(24,24')를 지닌다. 도시된 바와 같은 접점들은 스프링의 편향력의 결과로서 서로에 대해 압축하는 유연한 굽힘 스프링들(예를 들면 편평화된 스프링 금속)이다. 조립된 스트립 포트 커넥터에서는, 중앙 접점부들(24,24')은 스프링들의 편향의 결과로서 서로 접촉한다. 본 출원의 명세서 및 청구범위에서 사용된 "중앙 접점부"라는 용어는 이러한 편향의 결과로서 서로 전기적으로 접촉하는 접점들의 부분들을 말하며, 상기 접점의 기단부 및 말단부 사이의 어떤 특정 위치를 필요로 하지 않는다.

본 출원의 명세서 및 청구범위에서 사용된 "중앙 접점부"라는 용어는 이러한 편향의 결과로서 서로 전기적으로 접촉하는 접점들의 부분들을 말하며, 상기 접점의 기단부 및 말단부 사이의 어떤 특정 위치를 필요로 하지 않는다.

도 3은 본 발명의 한 실시예의 스트립 포트 커넥터로부터 제거된 한 쌍의 커넥터들의 측면도이다. 접점들(30,30') 각각은 전자 회로에 대한 커넥터가 이루어지는 기단부(32,32'), 말단부(33,33') 및 중앙 접점부(34,34')를 지닌다. 이러한 실시예에서는, 접점(30)이 유연한 굽힘 스프링이다. 접점(30')은 측면에서 보았을 때 편평한 접점 패드이다. 조립된 스트립 커넥터에서는, 중앙 접점부들(34,34')은 상기 접점(30)의 편향의 결과로서 서로 접촉한다.

도 16은 원하는 목적이 접점들의 무결성을 확인하는 것이고 어떠한 부호화 정보도 테스트 스트립의 하부 표면으로부터 획득되지 않아도 될 경우에 사용하기 위한 이러한 설계의 변형을 보여준다. 본 도면은 스트립 포트 커넥터가 설계 사양들을 충족할 경우에 도전성 플레이트(165)를 향하여 편향되어 있으며 도전성 플레이트(165)와 접촉하는 3개의 "상부(top)" 접점들(161,162,163)을 보여준다. 접점 쌍들(161/162,161/163,162/163) 사이의 전기적 접속의 평가는 상기 플레이트(165)에서부터 상기 전자 회로에 이르기까지의 어떤 직접적인 접속을 필요로 하지 않고 접점들 모두가 미터에 적절히 접속되어 있다는 결정을 허용한다. 상기 중앙 접점부들(164) 및 상기 플레이트들(165) 사이의 스트립 포트 커넥터 내에 테스트 스트립이 삽입될 경우에, 상기 접점들(161,162,163))은 측정 신호를 제공하는 역할을 수행하며, 또한 이하에서 논의되는 바와 같이 상부 표면 부호화 정보를 제공할 수 있다.

도 4는 본 발명의 한 실시예의 스트립 포트 커넥터로부터 제거된 한 쌍의 접점들의 측면도이다. 접점들(40,40') 각각은 전자 회로에 대한 커넥터가 이루어지는 기단부(42,42'), 말단부(43,43') 및 중앙 접점부(44,44')를 지닌다.

스프링들(45,45')은 상기 하우징 내에 있을 경우에 서로에 대하여 접점들을 편향시킨다. 변형 실시예에서는, 상기 접점(40) 및 상기 스프링(45)은 도 3에 도시된 바와 같이 편평한 접점 패드와 결합될 수 있다.

상기 상부 및 하부 접점들은 적어도 횡 방향으로 정렬되어 있는데, 다시 말하면 상기 접점들 중 하나의 접점 위에서 볼 때, 적어도 상기 중앙 접점부의 영역에서 다른 접점의 폭과의 실질적 또는 완전한 겹침(overlap)이 존재한다. 완전한 겹칩 또는 정렬이 바람직하지만, 중앙 접점부들 사이에 이루어진 전기적 접촉이 스트립 포트 커넥터 내에서의 접점들의 정확한 위치 결정 표시자로서 사용될 수 있는 강건하고 재생가능한 신호로서, 상기 스트립 포트 커넥터들이 허용될 수 없을 정도로 굽혀져 있거나 손상을 받을 경우에 얻어지는 동일한 신호 타입(예를 들면 저항 또는 전류)과 구별될 수 있는 강건하고 재생가능한 신호를 제공할 정도로 겹침(overlap)이 이루어진 동안에는 완전한 겹칩 또는 정렬이 필요하지 않다.

본 발명의 특정 실시예들에서는, 테스트 스트립이 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 경우에 전자 회로가 한 쌍의 상부 및 하부 접점들 사이의 전기적 접촉을 한 번 이상 테스트한다. 이러한 테스트는 하루에 미리 결정된 횟수로, 예를 들면 하루에 1번, 5번, 10번 또는 24번; 미리 결정된 시간 간격들에서, 예를 들면 5분마다, 30분마다 또는 1시간마다; 수행될 수 있으며 그리고/또는 상기 테스트는 상기 스트립 포트 커넥터로부터 테스트 스트립을 제거한 직후에(예를 들면 제거후 5초 이내에, 제거후 10초 이내에, 제거후 30초 이내에 또는 제거후 60초 이내에) 수행될 수 있다. 이러한 테스트들의 결과들에 기반하여, 전자 회로는 수납된 테스트 스트립의 부재시 상부 및 하부 접점들 사이의 전기적 접촉 범위가 미리 정해진 임계 조건을 충족시키지 못하는 경우에 오류 상태를 생성할 수 있다. 수치적인 임계값은 테스트되는 접촉을 나타내는 특정 매개변수(예를 들면 전류, 전위, 또는 저항), 접점들을 이루는데 사용되는 재료들의 타입, 및 접점들의 크기 및 다른 계측 매개변수들을 고려하여 허용가능한 것으로 고려되는 허용오차들에 의존한다. 예를 들면 임계값은 접점들이 스트립 포트 커넥터 내의 설계 사양들에 따라 위치되어 있는 경우에 예상되는 값과는 5%, 10%, 20%, 30%, 40% 또는 50% 다르게(수행되는 테스트에 따라 5%, 10%, 20%, 30%, 40% 또는 50% 이상 또는 이하로) 결정될 수 있다.

도 2 내지 도 4는 중앙 접점부들이 횡 방향으로 정렬될 뿐만 아니라 종 방향으로 정렬되어 있는 접점쌍들을 보여주는 도면들이다. 그러나, 본 발명의 특정 실시예들에서는, 상기 상부 및 하부 접점들 중 하나가 나머지 하나보다 크게 스트립 포트 커넥터 내에서 종 방향으로 연장되어 있다. 도 6은 종 방향의 정렬로 한 쌍의 접점들(61,61'), 및 접점들이 종 방향으로 오프셋되는 한 쌍의 접점들(62,62')을 보여주는 스트립 포트 커넥터의 측면도이다. 복수 개의 상부 및 하부 접점 쌍들을 지니는 스트립 포트 커넥터에서는, 상기 쌍들이 모두 종 방향으로 정렬되어 있을 수도 있고, 모두 오프셋되어 있을 수도 있으며, 이들의 조합일 수도 있다.

도 6에 부가적으로 예시되어 있는 바와 같이, 상기 미터가 복수 개의 상부 및 하부 접점 쌍들을 포함하는 경우에, 상기 접점들 중 일부는 상기 중앙 부분의 접점 영역 및 기단부 사이의 제1 종 방향 길이를 지닐 수 있으며, 나머지 접점들은 상기 중앙 부분의 접점 영역 및 기단부 사이의, 상기 제1 종 방향 길이와는 다른 제2 종 방향 길이를 지닐 수 있다. 따라서, 쌍(61,61')은 쌍(62,62')보다 종 방향 길이에서 더 길다. 2개 이상의 상부 및 하부 접점 쌍들은 스트립 포트 내에 존재하며 이러한 2개 이상의 상부 및 하부 접점 쌍들이 상이한 길이들의 접점들을 포함할 경우에, 상기 쌍들은 순서화된 어레이, 예를 들면 길고-짧고-길고-짧은, 길고-짧고-길고-짧고-긴, 또는 짧고-길고-짧고-길고-짧은 패턴, 또는 길고-길고-짧고-길고-길고 또는 길고-길고-짧고-짧고-길고-긴 패턴과 같은 교대로 바뀌는 어레이들로 존재할 수 있다. 도 7 및 도 8은 4개(2개는 길고 2개는 짧은) 상부 및 하부 접점 쌍들 및 5개(3개는 길고 2개는 짧은) 상부 및 하부 접점 쌍들을 지니는 스트립 포트 커넥터들을 보여주는 도면들이다.

도 6에 예시된 바와 같은 유연한 굽힙 스프링들은 접점(61')에 대하여 편향력 구동 접점(61)을 적용하고 이와는 반대로 접점(61)에 대하여 편향력 구동 접점(61')을 적용한다. 접점의 말단부가 이러한 편향력에 의해 움직일 수 있게 되는 범위를 제한하기 위하여, 레지(66)가 상기 접점의 말단부에 인접 배치될 수 있다. "인접한"이란 용어는 상기 말단부가 일반 편향 조건들에서 상기 레지에 근접하거나 레지와 접촉해 있음을 의미한다. 상기 레지(들)는 한 쌍을 이루는 2개의 접점들에 의해 생성되는 상이한 편향력이 상기 접점을 왜곡시키지 못하도록 편향을 제한한다.

상기 상부 및 하부 접점들의 말단부들은 일례로서 도 2의 구조를 사용하여 도 5에 전체적으로 도시된 바와 같은 대립된 접점들 사이에 테스트 스트립(50)을 삽입시킴으로써 서로 분리될 수 있다. 이러한 삽입을 통해 상기 테스트 스트립(50)이 중앙 접점부(54,54') 사이에 위치하게 된다. 상기 테스트 스트립(50)이 이러한 방식으로 스트립 포트 커넥터 내에 삽입되는 경우에, 상기 테스트 스트립의 한 표면은 상기 접점부(54)에 접촉하게 되지만, 그 반대 표면은 상기 접점부(54')와 접촉하게 된다. 그 결과로, 테스트 스트립이 상기 미터 내에 삽입되는 경우에, 상기 접점들 중 하나는 상기 테스트 스트립의 한 표면상에 배치된 부호화 표시들을 판독하는데 사용될 수 있지만, 나머지 접점은 상기 테스트 스트립의 분석부로부터의 정보를 받기 위해 사용된다.

도 9는 본 발명의 한 실시예에 대한 전자 회로의 기능적인 개략도이다. 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 전자 회로는 2가지 동작 모드, 즉 비-스트립 모드, 및 스트립-삽입 모드를 지닌다. 클록 신호 또는 스트립 제거 신호와 같은 신호에 응답하여, 스트립이 삽입되어 있는지의 여부를 결정하도록 테스트가 수행된다. 스트립의 삽입에 의해 편향되는 기계적 스위치들을 포함하는 스트립 삽입; 스트립이 삽입될 경우에 저항 변화들의 측정; 스트립이 삽입될 경우에 전류의 측정; 및 스트립이 삽입되는 경우에 전압의 측정;을 검출하기 위한 여러 접근법이 당업계에 알려져 있다. 본 발명의 미터에서는, 상기 스트립 포트 커넥터에서의 복수 개의 접점 쌍의 접점들 사이의 접속 실패에 의해 삽입이 또한 검출될 수 있다.

스트립 삽입이 검출되지 않을 경우에, 전자 회로는 테스트 미터의 스트립 포트 커넥터에 존재하는 접점 쌍의 접점들 간의 전기적 접속의 평가에 착수한다. 이는 전기적 접촉의 품질을 평가하는 임의의 방법을 사용하여 행해질 수 있다. 상기 쌍을 이루는 접점들이 원하는 공간 관계를 이루고 있으며 서로 접촉해 있는 경우에, 상기 쌍을 이루는 접점들은 전류가 통과할 수 있게 하는 폐회로의 스위치와 같은 기능을 수행한다. 전류(증가된 전류는 양호한 접점을 의미함) 또는 저항(높은 저항은 불량한 접점을 의미함) 또는 전위차(전위차는 불량한 접점을 의미함)의 측정들은 상기 쌍을 이루는 접점들을 포함하는 회로에 적합한 입력을 적용함으로써 사용될 수 있다.

관찰된 결과가 하나 이상의 접점 쌍에 대하여 미리 결정된 측정/장치 고유 임계 조건들을 충족시키지 못하는 경우에는, 상기 스트립 포트 커넥터가 손상을 받고 오류 상태(Error 1)가 생성된 것으로 판단된다. 상기 오류 상태에서는, 상기 테스트 미터가 새로운 미터에 대한 요구 또는 완전한 삽입을 검사하도록 사용자에게 경고할 수 있으며, 그리고/또는 상기 테스트 미터가 더 이상의 측정들이 이루어지지 않게 하도록 상기 테스트 미터를 제동시킬 수 있다. 관찰된 결과가 미리 결정된 측정/장치 고유 임계 조건들을 충족시키는 경우에, 다음 스트립 삽입 검사가 이루어져야 하는 다음 시간 간격 또는 이벤트를 정의하는 클록/상태 표시기가 리셋된다.

스트립 삽입이 검출되는 경우에, 도 9의 흐름도의 제2 브랜치가 이어진다. 이러한 프로토콜(protocol)에서는, 상기 미터가 샘플을 적용하도록 사용자에게 프롬프트하여 충분한 샘플 체적량을 테스트한다. 불충분한 샘플이 존재하는 경우에(또는 삽입 및 샘플 적용 사이에서 시간 종료 기간이 경과한 경우에) 오류 상태(Error 2)가 생성된다. 이는 (Error 1이 생성될 수 있는 경우와 같이) 상기 미터를 영구적으로 제동하지 않고, 테스트가 실행될 수 있기 전에 새로운 스트립 삽입을 요구하게 된다. 상기 샘플 체적량이 충분할 경우에, 측정 프로토콜이 실행된다. 여기서 사용된 '측정 프로토콜(measurement protocol)'이란 용어는 샘플 분석물에 대한 데이터를 수집하고 결과를 디스플레이하기 전에 이러한 데이터를 정정하도록 상기 테스트 미터에서 전자 회로에 의해 수행되는 절차라면 어떤 절차이든 언급하는 것이다. 따라서, 측정 프로토콜이 샘플로부터 측정된 데이터의 수집 및 전자 회로에 의해 수행되는 임의의 오류 정정 절차들을 포함하고 또한 스트립에 의해 제공될 경우에 교정 정보와 같은 부호화된 정보를 고려하도록 하는 이러한 측정된 데이터의 조정을 포함할 수 있다. 상기 측정 프로토콜 내에 포함된 임의의 오류 검사 후의 결과가 "양호한(good)" 테스트인 경우에, 결과가 디스플레이되고 클록/상태 표시기는 다음 스트립 삽입 검사가 이루어져야 하는 다음 시간 간격 또는 이벤트를 정의하도록 리셋된다. 상기 측정 프로토콜 내에 포함된 임의의 오류 검사 후의 결과가 "불량한(bad)" 테스트인 경우에, 오류 상태(Error 3)가 생성된다. 다시, 이는 새로운 테스트가 실행되기 전에 새로운 스트립 삽입을 요구하게 되지만, 더 많은 샘플을 요구하는 표시와는 대조적으로 새로운 스트립 할당을 제시하는 것과 같은 추가 정보를 제공할 수 있다.

도 9의 흐름도에서, 스트립 삽입 분석물 평가 모드시 당업자라면 목록화된 단계들 모두가 필요하지 않음을 알 수 있을 것이다. 따라서, 상기 미터는 오직 상기 측정 프로토콜을 수행하고 여하튼 그 결과들을 사용자에게 또는 사용자의 보건 전문의에게 전달해야 한다. 테스트 스트립으로부터의 입력을 분석하기 위한 여러 측정 프로토콜이 당업계에 알려져 있으며 본 발명의 미터와 함께 사용될 수 있다.

본 발명의 부가적인 실시예에서는, 테스트 미터가 위에서 논의된 바와 같지만, 상부 및 하부 접점들이 서로에 대해 편향되어 있으며, 어떠한 테스트 스트립도 상기 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 경우에 상기 접점들의 중앙 접점부들이 서로 근접해 있지만 서로 전기적으로 접촉하고 있지 않다. 상기 상부 및 하부 접점들의 말단부들은 상기 중앙 접점부들이 수납된 테스트 스트립과 접촉하도록 대립된 접점들 사이에 테스트 스트립을 삽입시킴으로써 서로로부터 분리될 수 있다. 이는 위에서 논의된 접점 무결성의 확인을 허용하지 않고 상기 상부 또는 하부 접점들 중 하나가 테스트 스트립의 한 표면상에 배치된 부호화 표시들을 판독하도록 전자 회로에 접속되는 것을 허용하며, 상기 상부 또는 하부 접점들 중 다른 하나가 상기 테스트 스트립 내에 도입되는 샘플 상에서 상기 테스트 스트립에 의해 이루어진 측정들에 대한 정보를 획득하도록 전자 회로에 접속된다.

본 발명의 테스트 스트립

본 발명의 테스트 스트립들은 샘플에서의 하나 이상의 분석물들의 측정을 위한 일반적으로 일회용인 전기 화학 테스트 스트립들이다. 대표적인 분석물들에는 글루코스(glucose), 케톤(ketone), 락테이트(lactate), 헤모글로빈(hemoglobin) 및 비타민 C(vitamin C)가 있다. 그러한 스트립들은 테스트 스트립 상의 표시를 통해 스트립에 대한 부호화된 정보를 제공하는 개념인 것으로 당업계에 공지되어 있다. 이러한 부호화된 정보는 예를 들면 테스트 스트립 배치에 대한 교정 코드, 특정 테스트 스트립에 대한 지역별 부호화 또는 국가별 부호화, 제품 식별정보를 구성하여 제품 식별정보의 지정된 미터에서만 작동하도록 하는 제품 식별정보, 고객 식별정보, 분석 타입(예컨대, 글루코스 테스트 스트립 또는 케톤 테스트 스트립), 및 제조 일자, 만료 일자 등을 포함하는 다수의 테스트 스트립 특징들 중 어느 하나에 대한 정보를 제공할 수 있다.

도 10a는 본 발명에 따른 테스트 스트립의 평면도이다. 도 10b는 그의 저면도이다. 당업자라면 내부 접속들, 분석물 검출 화학반응, 및 샘플 챔버 위치의 세부들이 본 발명의 실시에 중요한 것이 아니며 이러한 세부들이 당업계에 공지된 여러 형태 중 어느 하나를 취할 수 있음을 알 수 있을 것이다.

도 10a 및 도 10b에 도시된 바와 같이, 테스트 스트립은 일반적으로 평면이고 기다란 스트립이다. 한 단부에는 테스트 스트립 내에 포함된 전극들 및 테스트 미터 사이에 접속을 이루기 위해 상부에 커넥터 탭들(105)이 배치되어 있는 커넥터 영역(101)이 있다. 3개의 커넥터 탭이 도 10a에 도시되어 있지만, 2개의 커넥터 탭 또는 그 이상의 커넥터 탭이 이루지게 될 전기적 접속들에 따라 사용될 수 있다. 이러한 탭들은 상기 스트립이 삽입될 경우에 접속되어 도 9에서 설명된 측정 프로토콜 및 옵션 단계들에 정보를 제공한다.

도 10b는 본 발명의 테스트 스트립의 반대 측면을 보여주는 도면이다. 도시된 바와 같이, 복수 개의 도전성 부호화 패드들(106)이 커넥터 영역(101)에 배치되어 있다. 이러한 패드들은 상기 패드들의 개수, 위치, 재료, 크기, 형상 및 상호접속에 따라 상기 패드들이 배치되는 테스트 스트립에 대한 부호화된 정보를 제공한다. 특정 실시예들에서는, 도전성 부호화 패드들이 이하에서 더 상세하게 논의되는 바와 같이 상기 패드들을 상호접속하는 가변 도전성 트랙(variable conductive track)들의 사용에 의해 상이한 조합들로 접속될 수 있다.

상기 커넥터 탭들, 상기 도전성 부호화 패드들 및 임의의 도전성 트랙들은 모두 도전성 재료들로부터 형성되지만, 다른 재료들이 다른 도전성 부분들에 사용될 수 있다. 도전성 재료들은 금속들, 특히 은, 금 또는 백금일 수도 있고 상기 도전성 재료들은 탄소, 은, 금, 또는 팔라듐과 같은 도전성 재료를 포함하는 도전성 잉크와 같은 도전성 잉크들에 의해 형성될 수도 있다. 상기 부호화 패드들은 제조 프로세스 동안 상기 도전성 트랙들과는 별개인 단계에서 형성될 수 있으며, 상기 트랙들은 부호화될 정보 콘텐츠가 결정된 다음에 추가된다. 프린팅(예를 들면 스크린 프린팅(screen printing) 또는 잉크 젯 프린팅(ink jet printing)), 및 하부 도전성 층을 노출시키도록 하는 (또는 도전성 층을 제거하도록 하는) 레이저 제거(laser ablation)를 포함하는 전극들 및 도전성 트랙들의 데포지션을 위해 공지된 프로세스가 본 발명의 테스트 스트립들의 제조에 사용될 수 있다.

본 발명에 따른 테스트 스트립이 본 발명에 따른 테스트 미터 내에 삽입되는 경우에, 상기 커넥터 탭들(105)이 각각의 쌍을 이루는 접점들 중 하나(즉, 상부 접점들)를 통해 분석물 존재 또는 농도의 샘플 고유 측정을 위한 정보를 제공한다. 부호화 패드들은 최소한의 사용자 개입을 통해 정확한 테스트 결과들을 제시하는데 도움을 주도록 하는 스트립 고유 정보를 제공하기 위해 각각의 쌍의 반대(하부) 접점들을 통해 조사된다.

도 11a 내지 도 11c는 본 발명에 따른 테스트 스트립들에서의 부호화 패드들에 대해 이용될 수 있는 도전성 패턴들을 보여주는 도면들이다. 이러한 패턴들에서는 스트립이 도전성 트랙(110)을 통해 삽입될 경우에(다시 말하면, 어떠한 단일 핀도 도전성 트랙을 통해 접속되지 않은 상태로 되어 있지 않은 경우에) 모든 접점/핀(A,B,C,D,E)이 적어도 하나의 다른 접점/핀과 전기적으로 접속하게 된다. 이는 테스트 미터가 비-스트립 상태에서 상부 및 하부 접점들 사이의 전기적 접속을 테스트하지 않는 경우에 바람직한데, 그 이유는 핀에 대한 손상이 존재하는 경우에 접촉의 없음이 그러한 접점에서 도전성 패턴의 없음으로서 부정확하게 해석될 수 있기 때문이다. 이는 상기 미터의 안전성을 증대시키는데, 그 이유는 부호화 패턴의 부정확한 측정이 부호화 오류, 결과적으로는 손상된 접점/핀으로부터의 부정확한 결과를 초래할 수 있기 때문이다.

도 12a 및 도 12b는 본 발명에 따른 테스트 스트립들에서의 부호화 패드들(106)에 대해 이용될 수 있는 도전성 패턴들의 추가 실시예들을 보여준다. 도 12a에서는, 접점/핀 D가 나머지 접점들/핀들에 전기적으로 접속되어 있지 않다. 도 12b에서는, 접점들/핀들(B,D)은 나머지 접점들/핀들에 전기적으로 접속되어 있지 않다. 이는 부호화 옵션들의 개수를 증가시키지만, 위에서 논의된 미터 설계가 접점/핀 정렬을 테스트하도록 채용되지 않는 한 굽혀지거나 누락된 핀들로 인한 오류의 가능성을 증가시킨다.

하기 표 1에는 단지 상이한 접점들/핀들 간의 전기적 접속을 측정함으로써 도 11a 내지 도 11c 및 도 12a 및 도 12b의 5개의 접점이 부호화 목적을 위해 어떠한 방식으로 개별 정보를 디스플레이할 수 있는지가 예시되어 있다. 하기 표 1에서 Yes는 접점들 A-E 사이에서 전기적 접촉이 이루어짐을 나타낸 것이고 No는 접점들 A-E 사이에서 전기적 접촉이 이루어지지 않음을 나타낸 것이다.

도	A-B	A-C	A-D	A-E	B-C	B-D	B-E	C-D	C-E	D-E
11a	Yes	Yes	Yes	Yes	Yes	Yes	Yes	Yes	Yes	Yes
11b	No	No	Yes	No	Yes	No	Yes	No	Yes	No
11c	Yes	No	No	Yes	No	No	Yes	Yes	No	No
12a	Yes	Yes	No	Yes	Yes	No	Yes	No	Yes	No
12b	No	Yes	No	Yes	No	No	No	No	Yes	No

다른 접점들/핀들이 접속되지 않게 함으로써, 추가적인 고유 패턴들이 달성될 수 있다. 그 외에도, 도전성 트랙들(110)이 상이한 저항 재료들로부터 이루어지거나 패드들(접점들) 간의 상호접속 저항을 변경하도록 도전성 트랙들(110)의 두께 또는 길이가 변경되는 경우에 동일한 5개의 접점들/핀들을 사용하여 포함되는 다른 한 정보가 추가될 수 있다. 따라서, 임의의 전류의 관찰은 접점 패드들의 패턴에 대한 한 정보 집합을 제공하는데 사용될 수 있으며, 패드들 사이의 저항량은 상이한 정보 타입을 제공할 수 있다. 더 많은 점점들/핀들을 사용하면 정보량이 더 증가할 수 있게 된다.

추가적인 부호화 정보는 또한 테스트 스트립의 하부 상의 도전성 부호화 패드들 및 테스트 스트립 상의 도전성 패턴들의 조합을 통해 제공될 수 있다. 테스트 스트립의 상부 표면은 전기 화학 테스트 셀에서의 전극들에 대한 접속을 이루기 위한 일반 전기 접점들을 지니고 상부 접점들은 상부 패턴과 접촉한다. 그러나, 상부측 패턴이 더 많은 부호화 구성들을 제공하도록 이용되는 경우에 더 많은 부호화 정보가 이용가능하다. 이에 대한 예들이 도 13a 내지 도 13d에 도시되어 있는데, 도 13a 내지 도13d에는 노치(notch)들이 생략되어 있을 수도 있고 흑색으로 도시된 도전성 트레이스의 상이한 부분들 간의 접속들을 변경시키도록 포함되어 있을 수 있다.

상기 스트립에 노치가 존재하는 경우에, 반대 핀 쌍의 적어도 하나가 밀어 제껴지지 않을 수 있다. 상기 미터는 이러한 상태를 검출할 수 있는데, 그 이유는 노치 위치에 있는 상부 및 하부 핀들 사이에 도통 상태가 이루어지게 되기 때문이다. 이는 이때 상기 미터가 이러한 상태에 있는 경우에 제2 부호화된 정보 집합이 상기 미터에 의해 결정되는 것을 허용함으로써, 상기 미터가 구별할 수 있는 상이한 구성들의 개수를 증가시킨다. 부호화 목적을 위한 이러한 타입의 노칭은 본 출원에 인용을 통해 병합되는, 일반 양도된 미국 공보 제US2009-0095623 A1호에 개시되어 있다.

도 14a는 테스트 스트립의 하부 표면상의 5개의 부호화 패드들의 패턴을 보여주는 도면이다. 도 14b는 절단된 노치가 하나의 접점/핀을 분리시키는 이러한 테스트 스트립의 접속 영역의 상부측을 보여주는 도면이다. 도 14c는 절단된 노치가 하나의 접점/핀을 분리시키는 이러한 테스트 스트립의 접속 영역의 하부측을 보여주는 도면이다. 원들은 테스트 미터에서의 접점들의 접속점들을 나타낸다. 도시된 바와 같이, 하나의 접점/핀 쌍은 스트립에 전부 접촉하지 않고 오히려 서로 접촉하는 상태에 있다. 이는 하측 프린트에서 이용될 수 있는 도전성 구성들의 이용가능한 개수를 감소시키지만, 이는 상기 미터가 (예컨대, 하나의 핀 쌍이 여전히 서로 접촉하고 있음을 검출함으로써) 어떠한 노치도 존재하지 않는(결과적으로는 부호화 구성을 위해 5개 모두의 하측 핀들을 이용할 수 있는) 상태 및 (상기 미터가 부호화 구성에 대해 하측 핀들 중 4개를 이용할 수 있는) 노치 상태를 구별하는 것을 허용한다. 이는 추가적인 접점들을 상기 미터에 추가시키는 비용 없이 이용가능한 부호화 구성들의 개수를 증가시킨다.

도 15a 및 도 15b는 테스트 스트립 단부에서 실제 노치를 절단하지 않고 매우 동일한 효과를 얻을 수 있는 접근법을 보여주는 도면들이다. 이러한 경우에, 가상 노치가 상부 표면상의 접점들 중 하나 주변에 프린트 패턴으로 형성된다(도 15a). 이는 상부 표면상에서 하나의 접점/핀을 분리시킴으로써 정보의 배가(倍加; doubling)를 생성하면서 5개 모두의 핀이 하부 표면상에서 부호화를 위해 활성 상태로 되는 것을 허용한다(도 15b). 유사한 증배는 상이한 접점/핀의 분리, 또는 상부 표면상의 하나 이상의 접점/핀의 분리를 통해 이루어질 수 있다.

본 발명의 스트립 포트 커넥터를 테스트하는 동안, 몇 가지 예에서 사용자가 스트립을 한번 이상 삽입시키거나 삽입 프로세스 동안 스트립을 안팎으로 이동시킨다는 것을 알게 되었다. 이러한 결과로서, 도전성 재료들의 스미어링(smearing)이 일부 나타날 수 있는데, 이는 의도하지 않은 접점들, 및 잘못된 부호화 판독들을 야기할 수 있다. 그러한 오류들을 방지하기 위해, 어떠한 스미어링도 도전성 트랙을 교차하지 못하게 하는 방식으로 부호화 패드들 및 상호접속 도체들을 구성하는 것이 바람직하다. 이는 도 17a 내지 도 17d에 예시되어 있다.

도 17a는 도전성 트랙들이 5개의 부호화 패드를 접속시켜 주는 5개의 부호화 패드의 패턴을 보여주는 도면이다. 도 17b는 스미어 트랙들을 지니는 이러한 동일 패턴을 보여주는 도면이다. 여기서 알 수 있겠지만, 스미어들이 3개의 최상측 패드 및 교차 트랙 간의 접속성을 야기할 수 있지만, 이는 의도된 것이 아니었다. 도 17c 및 도 17d는 스미어 트랙들(도 17d) 중 어떠한 것도 도전성 트랙을 교차하지 않는 바람직한 구성을 보여주는 도면들이다. 그러므로, 부호화 패턴을 생성하는데 사용되는 재료의 스미어링에 염려(念慮)가 있다면 이러한 타입의 설계가 바람직하다.

본 발명의 조합

본 발명의 부가적인 실시태양은 위에서 설명한 테스트 미터 및 위에서 설명한 테스트 스트립의 결합체이다.

특정 실시예들에서는, 상기 미터가 상기 테스트 스트립의 하부 표면상에 배치된 부호화 패드들을 판독하도록 각각의 접점 쌍(즉, 하부 접점)의 하나의 멤버를 사용한다.

특정 실시예들에서는, 상기 미터가 상기 테스트 스트립의 하부 표면상에 배치된 부호화 패드들을 판독하도록 각각의 접점 쌍(즉, 하부 접점)의 하나의 멤버를 사용하고, 또한 추가적인 부호화 정보를 판독하도록 접점 쌍들 중 일부(상부 접점들)의 제2 멤버를 사용한다.

특정 실시예들에서는, 상기 미터가 상기 테스트 스트립의 하부 표면상에 배치된 부호화 패드들을 판독하도록 각각의 접점 쌍(즉, 하부 접점)의 하나의 멤버를 사용하고 또한 개별 접점들을 분리시키고 부호화 정보의 제공을 위해 상기 테스트 스트립에 있는 노치를 통한 접점의 접속을 허용하도록 상기 테스트 스트립에서 절단된 노치들을 인지(認知)한다.

특정 실시예들에서는, 상기 미터가 상기 테스트 스트립의 하부 표면상에 배치된 부호화 패드들을 판독하도록 각각의 접점 쌍(즉, 하부 접점)의 하나의 멤버를 사용하고 또한 부호화 정보의 제공을 위해 상기 테스트 스트립의 상부 표면상에서 개별 접점들을 분리시키는 가상 노치를 인지한다.

본 발명의 방법들

특정 실시예들에 의하면, 본 발명은 전기 화학 테스트 스트립에 대한 전기 접속을 이루는 접점들의 무결성을 확인하도록 전기 화학 테스트 스트립을 수납하는 테스트 미터를 모니터링하는 방법을 제공한다. 상기 미터는 한 쌍의 상부 및 하부 접점들을 포함하는 스트립 포트 커넥터를 포함하며, 상기 상부 및 하부 접점들은 기단부 및 말단부 그리고 중앙 접점부를 지닌다. 상기 한 쌍의 상부 및 하부 접점들은 서로 횡 방향으로 정렬되어 있으며 어떠한 테스트 스트립도 상기 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 경우에 상기 상부 및 하부 접점들의 중앙 접점부들이 서로 전기적으로 접촉하도록 상기 상부 및 하부 접점들이 편향된다. 상기 상부 및 하부 접점들의 말단부들은 대립된 접점들 사이에 테스트 스트립을 삽입시킴으로써 서로 분리될 수 있다. 상기 방법은 테스트 스트립이 상기 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 경우에 한번 또는 그 이상 상기 한 쌍의 상부 및 하부 접점들 사이의 전기적 접촉을 테스트하는 단계를 포함한다. 위에서 논의된 바와 같이, 상기 대립된 점점들 사이의 전기적 접촉을 테스트하는 것은 하루에 미리 결정된 횟수로, 예를 들면 하루에 10번 또는 24번; 미리 결정된 시간 간격들에서, 예를 들면 5분마다, 30분마다 또는 1시간마다, 또는 스트립 포트 커넥터로부터 테스트 스트립을 제거한 직후에 수행될 수 있다. 상기 방법은 수납된 테스트 스트립이 없는 경우에 상기 상부 및 하부 접점들 사이의 전기적 접촉의 범위가 미리 정해진 임계값을 충족시키지 못하는 경우에 오류 상태를 생성하는 단계를 포함할 수 있다.

본 발명의 다른 한 실시예에 의하면, 위에서 설명한 바와 같은 테스트 미터 내로 위에서 논의된 분석물을 검출하기 위한 전기 화학 테스트 스트립을 삽입시키는 단계; 상기 테스트 스트립 내에 샘플을 도입시키는 단계; 분석물의 농도에 대한 초기값을 측정하는 단계; 및 상기 테스트 스트립 상의 부호화 패드들에 의해 전달되는 정보에 기반하여 필요에 따라 분석물의 초기 농도를 조정하여 샘플 분석물의 농도를 측정하는 단계를 포함하는, 샘플 분석물의 농도를 측정하는 방법이 제공된다. 특정 실시예들에서는, 상기 분석물이 글루코스이며 상기 샘플이 혈액이거나 간질액(interstitial fluid)이다.

본 발명에서는, "상부" 및 "하부"는 상대적인 기하학적 구조를 언급한 것이며 중력에 대한 어떤 특정된 방위(orientation)에 의존하지 않는다.

Claims

테스트 스트립을 수납하는 테스트 미터로서,
상기 테스트 미터는,
(a) 하우징;
(b) 상기 하우징 내에 배치된 전자 회로;
(c) 상기 전자 회로에 접속되어 있으며 상기 하우징 내의 개구부에 연장되어 있는 스트립 포트 커넥터로서, 수납된 테스트 스트립과 상기 전자 회로를 접속시켜 주는 스트립 포트 커넥터;
를 포함하며,
상기 스트립 커넥터는 한 쌍의 상부 및 하부 접점들을 포함하며, 상기 상부 및 하부 접점들은 기단부 및 말단부 그리고 중앙 접점부를 지니고,
상기 한 쌍의 상부 및 하부 접점들은 서로 횡 방향으로 정렬되어 있으며,
어떠한 테스트 스트립도 상기 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 때 상기 상부 및 하부 접점들의 중앙 접점부들이 서로 전기적으로 접촉해 있도록 상기 상부 및 하부 접접들이 편향되어 있고,
상기 상부 및 하부 접점들의 말단부들은 대립된 접점들 사이에 테스트 스트립을 삽입시킴으로써 서로 분리될 수 있으며,
테스트 스트립이 상기 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 때 상기 전자 회로가 한번 이상 상기 한 쌍의 상부 및 하부 접점들 사이의 전기적 접촉을 테스트하는, 테스트 미터.
테스트 스트립을 수납하는 테스트 미터로서,
상기 테스트 미터는,
(a) 하우징;
(b) 상기 하우징 내에 배치된 전자 회로;
(c) 상기 전자 회로에 접속되어 있으며 상기 하우징 내의 개구부에 연장되어 있는 스트립 포트 커넥터로서, 수납된 테스트 스트립과 상기 전자 회로를 접속시켜 주는 스트립 포트 커넥터;
를 포함하며,
상기 스트립 커넥터는 하나의 종 방향의 스트립 포트 커넥터 단부를 통해 상기 테스트 스트립을 수납하고,
상기 스트립 포트 커넥터는 한 쌍의 상부 및 하부 접점들을 포함하며, 상기 상부 및 하부 접점들은 기단부 및 말단부 그리고 중앙 접점부를 지니고,
상기 한 쌍의 상부 및 하부 접점들은 서로 횡 방향으로 정렬되어 있으며,
상기 상부 및 하부 접점들 중 하나는 상기 스트립 포트 커넥터 내에서 종 방향으로 상기 상부 및 하부 접점들 중 다른 하나보다 크게 연장되어 있고,
어떠한 테스트 스트립도 상기 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 때 상기 상부 및 하부 접점들의 중앙 부분들이 서로 전기적으로 접촉해 있도록 상기 상부 및 하부 접접들이 편향되어 있으며,
상기 상부 및 하부 접점들의 말단부들은 대립된 접점들 사이에 테스트 스트립을 삽입시킴으로써 서로 분리될 수 있는, 테스트 미터.
제2항에 있어서, 테스트 스트립이 상기 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 때 상기 전자 회로가 한번 이상 상기 한 쌍의 상부 및 하부 접점들 사이의 전기적 접촉을 테스트하는, 테스트 미터.
테스트 스트립을 수납하는 테스트 미터로서,
상기 테스트 미터는,
(a) 하우징;
(b) 상기 하우징 내에 배치된 전자 회로;
(c) 상기 전자 회로에 접속되어 있으며 상기 하우징 내의 개구부에 연장되어 있는 스트립 포트 커넥터로서, 수납된 테스트 스트립과 상기 전자 회로를 접속시켜 주는 스트립 포트 커넥터;
를 포함하며,
상기 스트립 포트 커넥터는 한 쌍의 상부 및 하부 접점들을 포함하며, 상기 상부 및 하부 접점들은 기단부 및 말단부 그리고 중앙 접점부를 지니고,
상기 한 쌍의 상부 및 하부 접점들은 서로 횡 방향으로 정렬되어 있으며,
어떠한 테스트 스트립도 상기 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 때 상기 상부 및 하부 접점들의 중앙 접점부들이 서로 전기적으로 접촉해 있도록 상기 상부 및 하부 접접들이 편향되어 있고,
상기 상부 및 하부 접점들의 말단부들은 대립된 접점들 사이에 테스트 스트립을 삽입시킴으로써 서로 분리될 수 있으며, 상기 상부 또는 하부 접점들 중 하나는 테스트 스트립의 한 표면상에 배치된 부호화 표시들을 판독하도록 상기 전자 회로에 접속되어 있고, 상기 상부 또는 하부 접점들 중 다른 하나는 상기 테스트 스트립 내에 도입된 샘플 상에서 상기 테스트 스트립에 의해 이루어진 측정들에 대한 정보를 획득하도록 상기 전자 회로에 접속되어 있는, 테스트 미터.
제4항에 있어서, 테스트 스트립이 상기 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 때 상기 전자 회로가 한번 이상 상기 한 쌍의 상부 및 하부 접점들 사이의 전기적 접촉을 테스트하는, 테스트 미터.
제5항에 있어서, 상기 상부 및 하부 접점들 중 하나는 상기 스트립 포트 커넥터 내에서 종 방향으로 상기 상부 및 하부 접점들 중 다른 하나보다 크게 연장되어 있는, 테스트 미터.
제4항에 있어서, 상기 상부 및 하부 접점들 중 하나는 상기 스트립 포트 커넥터 내에서 종 방향으로 상기 상부 및 하부 접점들 중 다른 하나보다 크게 연장되어 있는, 테스트 미터.
제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 상부 및 하부 접점들 중 하나는 유연한 굽힘 스프링이며, 상기 상부 및 하부 접점들 중 다른 하나는 편평한 접점 표면인, 테스트 미터.
제8항에 있어서, 상기 하우징은 상기 유연한 굽힘 스프링 접점의 말단부에 인접한 레지(ledge)를 포함하며, 상기 레지는 상기 상부 및 하부 접점들의 스프링 힘들이 매치(match)되지 않는 경우에 인접한 점점의 편향을 제한하는, 테스트 미터.
제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 전자 회로는 하루에 미리 결정된 횟수로 대립된 접점들 사이의 전기적 접촉을 검사하는, 테스트 미터.
제10항에 있어서, 상기 전자 회로는 하루에 10번 또는 24번 전기적 접촉을 검사하는, 테스트 미터.
제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 전자 회로는 미리 결정된 시간 간격에서 대립된 접점들 사이의 전기적 접촉을 검사하는, 테스트 미터.
제12항에 있어서, 상기 전자 회로는 5분마다; 30분마다; 그리고 1시간마다;로 이루어진 그룹으로부터 선택된 간격에서 대립된 접점들 사이의 전기적 접촉을 검사하는, 테스트 미터.
제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 전자 회로는 상기 스트립 포트 커넥터로부터 테스트 스트립을 제거한 직후에 대립된 접점들 사이의 전기적 접촉을 검사하는, 테스트 미터.
제1항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 전자 회로는 수납된 테스트 스트립의 부재시 상부 및 하부 접점들 사이의 전기적 접촉의 범위가 미리 정해진 임계값을 충족시키지 못하는 경우에 오류 상태를 생성하는, 테스트 미터.
제1항 내지 제15항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 테스트 미터들은 상기 스트립 포트 커넥터에서 적어도 하나의 추가 접점 쌍을 포함하고, 상기 추가 접점 쌍들 각각은 추가적인 상부 접점 및 추가적인 하부 접점을 포함하며, 상기 추가적인 상부 및 하부 접점들은 기단부 및 말단부 그리고 중앙 접점부를 지니고, 상기 추가 접점 쌍들 각각의 추가적인 상부 및 하부 접점들은 서로 횡 방향으로 정렬되어 있으며, 상기 추가 접점 쌍들 각각의 추가적인 상부 및 하부 접점들의 말단부들은 대립된 추가적인 접점들 사이에 테스트 스트립을 삽입시킴으로써 서로 분리될 수 있는, 테스트 미터.
제16항에 있어서, 어떠한 테스트 스트립도 상기 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 때 상기 상부 및 하부 접점들의 중앙 접점부들이 서로 전기적으로 접촉해 있도록 적어도 하나의 추가 접점 쌍의 접점들이 편향되어 있는, 테스트 미터.
제16항 또는 제17항에 있어서, 복수 개의 상부 및 하부 접점 쌍들은 상기 중앙 접점부의 접점 영역 및 상기 기단부 사이의 제1 종 방향 길이를 지니는 제1쌍 및 상기 중앙 접점부의 접점 영역 및 기단부 사이의, 상기 제1 종 방향 길이와는 다른 제2 종 방향 길이를 지니는 제2쌍을 포함하는, 테스트 미터.
제18항에 있어서, 상기 테스트 미터는 5개의 상부 및 하부 접점 쌍을 포함하며, 짧은 종 방향의 길이를 지니는 3개의 쌍 및 긴 종 방향의 길이를 지니는 2개의 쌍이 교대로 바뀌는 어레이로 배치되는, 테스트 미터.
테스트 스트립을 수납하는 테스트 미터로서,
상기 테스트 미터는,
(a) 하우징;
(b) 상기 하우징 내에 배치된 전자 회로;
(c) 상기 전자 회로에 접속되어 있으며 상기 하우징 내의 개구부에 연장되어 있는 스트립 포트 커넥터로서, 수납된 테스트 스트립과 상기 전자 회로를 접속시켜 주는 스트립 포트 커넥터;
를 포함하며,
상기 스트립 포트 커넥터는 한 쌍의 상부 및 하부 접점들을 포함하며, 상기 상부 및 하부 접점들은 기단부 및 말단부 그리고 중앙 접점부를 지니고,
상기 한 쌍의 상부 및 하부 접점들은 서로 횡 방향으로 정렬되어 있으며,
어떠한 테스트 스트립도 상기 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 경우에 상기 상부 및 하부 접점들의 중앙 접점부들이 서로 근접해 있지만 서로 전기적으로 접촉하고 있지 않도록 상기 상부 및 하부 접점들이 서로에 대해 편향되어 있고,
상기 상부 및 하부 접점들의 말단부들은 상기 중앙 접점부들이 상기 수납된 테스트 스트립과 접촉하도록 대립된 접점들 사이에 테스트 스트립을 삽입시킴으로써 서로로부터 분리될 수 있으며, 상기 상부 또는 하부 접점들 중 하나는 테스트 스트립의 한 표면상에 상에 배치된 부호화 표시들을 판독하도록 상기 전자 회로에 접속되어 있고, 상기 상부 또는 하부 접점들 중 다른 하나는 상기 테스트 스트립 내에 도입된 샘플 상에서 상기 테스트 스트립에 의해 이루어진 측정들에 대한 정보를 획득하도록 상기 전자 회로에 접속되어 있는, 테스트 미터.
테스트 스트립을 수납하는 테스트 미터로서,
상기 테스트 미터는,
(a) 하우징;
(b) 상기 하우징 내에 배치된 전자 회로;
(c) 상기 전자 회로에 접속되어 있으며 상기 하우징 내의 개구부에 연장되어 있는 스트립 포트 커넥터로서, 수납된 테스트 스트립과 상기 전자 회로를 접속시켜 주는 스트립 포트 커넥터;
를 포함하며,
상기 스트립 포트 커넥터는 한 쌍의 상부 접점 및 하부 플레이트를 포함하며, 상기 상부 접점들은 기단부 및 말단부 그리고 중앙 접점부를 지니고 상기 하부 플레이트는 상기 중앙 접점부와 나란히 배치되며,
어떠한 테스트 스트립도 상기 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 때 상기 상부 및 하부 접점들의 중앙 접점부들이 서로 전기적으로 접촉해 있도록 상기 상부 접접이 편향되어 있고,
상기 플레이트 및 상기 상부 접점의 말단부들은 테스트 스트립을 사이에 삽입시킴으로써 서로 분리될 수 있으며,
테스트 스트립이 상기 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 때 상기 전자 회로가 한번 이상 상기 상부 접점 및 상기 하부 플레이트 사이의 전기적 접촉을 테스트하는, 테스트 미터.
전기 화학 테스트 스트립으로서, 상기 테스트 스트립은 대체로 평면이며 분석을 위한 테스트 샘플을 수납하는 샘플 셀 및 전기 화학 분석을 수행하기 위한, 상기 샘플 셀들 내에 배치된 전극들을 포함하고, 상기 테스트 스트립은 상부 표면 및 하부 표면을 지니며, 상기 테스트 스트립은 접속 영역을 포함하고 상기 테스트 스트립은,
(a) 테스트 미터에 상기 전극들을 접속시켜 주는 전기 커넥터들로서, 상기 접속 영역 내에 배치되어 있고 상기 상부 표면상의 접속을 위해 노출되어 있는 전기 커넥터들; 및
(b) 상기 테스트 스트립의 하부 표면상의 접속 영역 내에 배치되어 있는 복수 개의 부호화 패드들;
을 더 포함하는, 전기 화학 테스트 스트립.
제22항에 있어서, 상기 테스트 스트립의 하부 표면상에는 5개의 부호화 패드가 존재하는, 전기 화학 테스트 스트립.
제22항 또는 제23항에 있어서, 상기 부호화 패드들 모두는 서로 전기적으로 접촉해 있는, 전기 화학 테스트 스트립.
제22항 또는 제23항에 있어서, 상기 부호화 패드들 중 하나를 나머지 부호화 패드들과 전기적으로 분리시키도록 상기 테스트 스트립으로부터 노치(notch)가 절단되어 있는, 전기 화학 테스트 스트립.
제22항 내지 제25항 중 어느 한 항에 있어서, 추가적인 부호화 정보는 상기 테스트 스트립의 상부 표면상에 제공되어 있는, 전기 화학 테스트 스트립.
제26항에 있어서, 적어도 하나의 부호화 패드는 상기 상부 표면상의 나머지 부호화 패드들과 전기적으로 분리된 상태로 상기 상부 표면상에 제공되어 있는, 전기 화학 테스트 스트립.
제1항 내지 제21항 중 어느 한 항에 따른 테스트 미터 및 제22항 내지 제27항 중 어느 한 항에 따른 테스트 스트립의 결합체.
전기 화학 테스트 스트립에 대한 전기 접속을 이루는 접점들의 무결성을 확인하도록 전기 화학 테스트 스트립을 수납하는 테스트 미터를 모니터링하는 방법으로서,
상기 미터는 한 쌍의 상부 및 하부 접점들을 포함하는 스트립 포트 커넥터를 포함하며, 상기 상부 및 하부 접점들은 기단부 및 말단부 그리고 중앙 접점부를 지니고,
상기 한 쌍의 상부 및 하부 접점들은 서로 횡 방향으로 정렬되어 있으며,
어떠한 테스트 스트립도 상기 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 경우에 상기 상부 및 하부 접점들의 중앙 접점부들이 서로 전기적으로 접촉하도록 상기 상부 및 하부 접점들이 바이어스되고,
상기 상부 및 하부 접점들의 말단부들은 대립된 접점들 사이에 테스트 스트립을 삽입시킴으로써 서로 분리될 수 있으며, 상기 방법은 테스트 스트립이 상기 테스트 미터에 수납되어 있지 않을 경우에 한번 이상 상기 한 쌍의 상부 및 하부 접점들 사이의 전기적 접촉을 테스트하는 단계;를 포함하는, 테스트 미터의 모니터링 방법.
제29항에 있어서, 상기 대립된 접점들 사이의 전기적 접촉을 테스트하는 것은 하루에 미리 결정된 횟수로 수행되는, 테스트 미터의 모니터링 방법.
제30항에 있어서, 상기 대립된 접점들 사이의 전기적 접촉을 테스트하는 것은 하루에 10번 또는 24번 수행되는, 테스트 미터의 모니터링 방법.
제29항에 있어서, 상기 대립된 접점들 사이의 전기적 접촉을 테스트하는 것은 미리 결정된 시간 간격들에서 수행되는, 테스트 미터의 모니터링 방법.
제32항에 있어서, 상기 대립된 접점들 사이의 전기적 접촉을 테스트하는 것은 5분마다; 30분마다; 그리고 1시간마다;로 이루어진 그룹으로부터 선택된 미리 결정된 시간 간격에서 수행되는, 테스트 미터의 모니터링 방법.
제29항에 있어서, 상기 대립된 접점들 사이의 전기적 접촉을 테스트하는 것은 상기 스트립 포트 커넥터로부터 테스트 스트립을 제거한 직후에 수행되는, 테스트 미터의 모니터링 방법.
제29항 내지 제34항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 테스트 미터의 모니터링 방법은,
수납된 테스트 스트립의 부재시 상부 및 하부 접점들 사이의 전기적 접촉의 범위가 미리 정해진 임계값을 충족시키지 못하는 경우에 오류 상태를 생성하는 단계;
를 더 포함하는, 테스트 미터의 모니터링 방법.
샘플 분석물의 농도를 측정하는 방법으로서,
제22항 내지 제28항 중 어느 한 항에 따른 분석물을 검출하는 전기 화학 테스트 스트립을 제1항 내지 제21항 중 어느 한 항에 따른 테스트 미터 내에 삽입하는 단계; 상기 테스트 스트립 내에 샘플을 도입시키는 단계; 분석물 농도에 대한 초기값을 측정하는 단계; 및 상기 테스트 스트립 상의 부호화 패드들에 의해 전달되는 정보에 기반하여 필요에 따라 분석물의 초기 농도를 조정하여 샘플 분석물의 농도를 측정하는 단계;를 포함하는, 샘플 분석물의 농도 측정 방법.
제36항에 있어서, 상기 분석물은 글루코스(glucose)이며 상기 샘플은 혈액 또는 간질액(interstitial fluid)인, 샘플 분석물의 농도 측정 방법.