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KR20080069557A - Centering Fingers for Wafer Transfer - Google Patents

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KR20080069557A
KR20080069557A KR1020080020300A KR20080020300A KR20080069557A KR 20080069557 A KR20080069557 A KR 20080069557A KR 1020080020300 A KR1020080020300 A KR 1020080020300A KR 20080020300 A KR20080020300 A KR 20080020300A KR 20080069557 A KR20080069557 A KR 20080069557A
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wafer
guide
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finger
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KR1020080020300A
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Korean (ko)
Inventor
박호남
양승호
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애플티(주)
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Abstract

웨이퍼 이송용 센터링 핑거를 제공한다. A centering finger for wafer transfer is provided.

본 발명은 일측으로 개구된 로딩부를 구비하고, 상기 로딩부의 내측에 복수개의 가이드 배치홈을 구비하는 핑거본체 ; 상기 로딩부에 로딩되는 웨이퍼의 하부면과 접하는 받침대를 갖추어 상기 가이드 배치홈에 구비되는 웨이퍼 가이드 ; 및 상기 로딩부에 로딩되는 웨이퍼의 외측면과 접하여 상기 웨이퍼를 상기 로딩부의 중심으로 탄력지지하도록 상기 웨이퍼의 외측면과 대응하는 웨이퍼 가이드에 구비되는 탄성부 ;를 포함한다. The present invention includes a finger body having a loading portion opened to one side and having a plurality of guide arrangement grooves inside the loading portion; A wafer guide provided in the guide arrangement groove having a pedestal in contact with a lower surface of the wafer loaded in the loading unit; And an elastic part provided in the wafer guide corresponding to the outer surface of the wafer so as to be in contact with the outer surface of the wafer loaded in the loading part and to elastically support the wafer toward the center of the loading part.

본 발명에 의하면, 웨이퍼의 로딩시 웨이퍼와 웨이퍼 가이드와의 사이에 발생되는 마찰접촉을 최소화하거나 근본적으로 방지하여 웨이퍼 가이드의 마모를 근본적으로 배제하고, 소모성 구성부품의 사용수명을 연장할 수 있고, 웨이퍼의 로딩시 웨이퍼의 중심과 로딩 중심을 서로 일치시키는 센터링 작업의 정확도를 보다 향상시키고, 웨이퍼 정렬에 대한 신뢰성을 높일 수 있다. According to the present invention, it is possible to minimize or fundamentally prevent frictional contact between the wafer and the wafer guide when loading the wafer, thereby essentially eliminating the wear of the wafer guide and extending the service life of the consumable component. It is possible to further improve the accuracy of the centering operation of matching the center of the wafer and the loading center with each other when loading the wafer, and increase the reliability of the wafer alignment.

Description

웨이퍼 이송용 센터링 핑거{A CENTERING FINGER FOR MOVING THE WAFER} Centering Finger for Wafer Transfer {A CENTERING FINGER FOR MOVING THE WAFER}

본 발명은 웨이퍼를 이송하는데 사용되는 센터링 핑거에 관한 것으로, 더욱 상세히는 이송 대상물인 웨이퍼의 이송시 웨이퍼의 파손 및 마모를 최소화하고, 로딩 중심과 웨이퍼의 중심을 서로 일치시키는 작업을 보다 정확하게 수행할 수 있도록 개선한 웨이퍼 이송용 센터링 핑거에 관한 것이다. The present invention relates to a centering finger used to transfer a wafer, and more particularly, to minimize the damage and wear of the wafer during transfer of the wafer, which is a transfer target, and to more accurately perform the operation of matching the center of loading with the center of the wafer. A centering finger for wafer transfer has been improved.

일반적으로 반도체 소자는 웨이퍼 상에 포토 리소그라피, 식각, 이온주입, 확산, 금속증착, 연마, 세정 등의 다양한 공정을 선택적이고도 반복적으로 수행하여, 복수의 회로패턴을 적층하는 것으로 제조된다. Generally, semiconductor devices are manufactured by stacking a plurality of circuit patterns by selectively and repeatedly performing various processes such as photolithography, etching, ion implantation, diffusion, metal deposition, polishing, and cleaning on a wafer.

이러한 반도체 소자로 제조되기까지 웨이퍼는 각각 단위 공정을 수행하는 반도체소자 제조설비로 이송이 이루어질 뿐만 아니라 상기 반도체 소자 제조 설비내에서도 공정수행위치 또는 공정수행에 보조하는 설정위치로 이송이 정확하게 이루어져야 한다. Until the semiconductor device is manufactured as described above, the wafer is not only transferred to a semiconductor device manufacturing facility that performs a unit process, but also accurately transferred to a process performing position or a setting position that assists the process performing within the semiconductor device manufacturing facility.

따라서, 반도체 제조 설비에서는 웨이퍼와 같은 반송 대상물의 이송은 이송용 로봇의 아암에 설치되는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거를 이용하여 수행하고 있으며, 이러한 웨이퍼 이송용 센터링 핑거는 이에 로딩되는 웨이퍼를 웨이퍼의 중심과 핑거의 로딩 중심이 서로 일치되도록 센터링하거나 이송도중 핑거로부터 웨이퍼가 분리이탈되지 않도록 안전하게 로딩하는 하는 것이다. Therefore, in a semiconductor manufacturing facility, transfer of a transfer object such as a wafer is performed using a wafer transfer centering finger installed on an arm of a transfer robot, and the wafer transfer centering finger moves the wafer loaded thereon to the center of the wafer. The centers of the loading centers of the fingers coincide with each other or the wafers are safely loaded so that the wafers are not separated from the fingers during transfer.

대한민국 공개특허 10-2007-0122182호(2007.12.28. 공개일)에는 센터링 핑거의 바디상에 설치되는 제1,2,3 및 4 센터링 가이드와, 제2 센터링 가이드의 중앙 지점에서 분리되는 지점에 이동하여 설치되는 제2 웨이퍼 센터링 가이드와, 제3 센터링 가이드의 중앙지점에서 분리되는 위치에 설치되는 제3 웨이퍼 센터링 가이드 및 핑거 중앙부에 배치되는 웨이퍼를 흡착하는 진공 세라믹 핑거를 포함하는 센터링 핑거가 개시되어 있다. Korean Patent Laid-Open Publication No. 10-2007-0122182 (December 28, 2007) discloses first, second, third and fourth centering guides installed on a body of a centering finger, and a point separated from a center point of a second centering guide. Disclosed is a centering finger comprising a second wafer centering guide moved and installed, a third wafer centering guide installed at a position separated from a center point of the third centering guide, and a vacuum ceramic finger adsorbing a wafer disposed at the center of the finger It is.

그러나, 이러한 센터링 핑거에 웨이퍼를 로딩하는 과정에서, 상기 웨이퍼의 측면부가 센터링 핑거에 복수개 구비되는 센터링 가이드와 마찰 접촉되면서 로딩되기 때문에, 수지물로 이루어진 센터링 가이드는 상기 웨이퍼와의 마찰 접촉에 의해 마모되고, 시간에 비례하여 마모량이 증가됨에 따라 일정시간이 경과하면 이를 주기적으로 교체해야만 한다. However, in the process of loading the wafer on such a centering finger, since the side surface portion of the wafer is loaded in friction contact with a plurality of centering guides provided in the centering finger, the centering guide made of resin material is worn by frictional contact with the wafer. As the amount of wear increases in proportion to time, it must be replaced periodically after a certain time.

이에 따라, 종래의 센터링 핑거는 웨이퍼를 이송하는 작업을 일시 중단하고 센터링 가이드를 정기적으로 새로운 것으로 교체하는 작업을 수반함으로써 반도체 제조설비의 작업 생산성을 저하시키고, 소모품인 센터링 가이드의 사용량 증가로 인하여 생산원가를 상승시키는 요인으로 작용하였다. Accordingly, the conventional centering finger is accompanied by the work of temporarily suspending the wafer transfer and replacing the centering guide with a new one, thereby lowering the work productivity of the semiconductor manufacturing equipment, and increasing production of the centering guide as a consumable. It was a factor in raising costs.

또한, 상기 센터링 핑거에 로딩되는 웨이퍼와의 마찰 접촉에 의해서 상기 웨이퍼의 외측면과 접하는 센터링 가이드가 마모되는 경우, 로딩되는 웨이퍼와 웨이퍼 가이드사이에 발생되는 일정크기의 간격에 의해서 상기 웨이퍼의 중심과 상기 센터링 핑거의 중심이 서로 어긋나게 되는 센터링 불량이 발생되어 후속 공정 중에서 에러가 발생하여 반도체 제조설비의 전체 공정을 중단하게 되는 치명적인 불량을 초래하는 한편, 웨이퍼 이송도중에 웨이퍼가 분리이탈되는 탈조현상을 초래하였다. In addition, when the centering guide in contact with the outer surface of the wafer is worn by frictional contact with the wafer loaded on the centering finger, the center of the wafer and the center of the wafer due to a predetermined size interval generated between the wafer and the wafer guide loaded. Centering faults are caused by the centering of the centering fingers to be shifted from each other, resulting in a fatal failure that causes the entire process of the semiconductor manufacturing equipment to be interrupted during the subsequent process, while the wafer is separated and removed during wafer transfer. It was.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 그 목적은 웨이퍼의 로딩시 웨이퍼와 웨이퍼 가이드와의 사이에 발생되는 마찰접촉을 최소화하거나 근본적으로 방지하여 웨이퍼 가이드의 마모를 근본적으로 배제하고, 소모성 구성부품의 사용수명을 연장할 수 있는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거를 제공하고자 한다. Accordingly, the present invention is to solve the above problems, the object is to minimize or essentially prevent the frictional contact between the wafer and the wafer guide during loading of the wafer to essentially exclude the wear of the wafer guide To provide a wafer transfer centering finger that can extend the service life of consumable components.

본 발명의 다른 목적은, 웨이퍼의 로딩시 웨이퍼의 중심과 로딩 중심을 서로 일치시키는 센터링 작업의 정확도를 보다 향상시키고, 웨이퍼 정렬에 대한 신뢰성을 높일 수 있는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거를 제공하고자 한다. Another object of the present invention is to provide a wafer transfer centering finger that can further improve the accuracy of the centering operation of matching the center of the wafer and the loading center when loading the wafer and increase the reliability of the wafer alignment.

본 발명의 또 다른 목적은 로딩되어 센터링된 웨이퍼를 보다 안정적으로 지지하여 웨이퍼 이송시 웨이퍼가 외부로 분리이탈되는 것을 방지할 수 있는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거를 제공하고자 한다.Still another object of the present invention is to provide a wafer transfer centering finger that can more stably support a loaded and centered wafer to prevent separation of the wafer to the outside during wafer transfer.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 구체적인 수단으로서, 본 발명은 일측으로 개구된 로딩부를 구비하고, 상기 로딩부의 내측에 복수개의 가이드 배치홈을 구비하는 핑거본체 ; 상기 로딩부에 로딩되는 웨이퍼의 하부면과 접하는 받침대를 갖추어 상기 가이드 배치홈에 구비되는 웨이퍼 가이드 ; 및 상기 로딩부에 로딩되는 웨이퍼의 외측면과 접하여 상기 웨이퍼를 상기 로딩부의 중심으로 탄력지지하도록 상기 웨이퍼의 외측면과 대응하는 웨이퍼 가이드에 구비되는 탄성부 ;를 포함하는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거를 제공한다. As a specific means for achieving the above object, the present invention includes a finger body having a loading portion opened to one side, and having a plurality of guide arrangement grooves in the loading portion; A wafer guide provided in the guide arrangement groove having a pedestal in contact with a lower surface of the wafer loaded in the loading unit; And an elastic part provided in the wafer guide corresponding to the outer surface of the wafer to elastically support the wafer to the center of the loading part in contact with the outer surface of the wafer loaded in the loading part. 2. do.

바람직하게, 상기 탄성부는 상기 웨이퍼 가이드에 관통형성되는 조립공에 삽입배치되는 중공부재와, 상기 중공부재의 선단에 형성된 노출공을 통해 몸체 일부가 외부노출되는 볼부재 및 상기 볼부재를 선단으로 탄력지지하도록 상기 중공부재의 내부에 배치되는 스프링부재를 포함한다. Preferably, the elastic part elastically supports the ball member and the ball member to be exposed to the tip of the hollow member is inserted into the assembly hole formed through the wafer guide and the body portion is exposed to the outside through the exposed hole formed on the tip of the hollow member It includes a spring member disposed inside the hollow member to.

더욱 바람직하게, 상기 중공부재는 상기 조립공의 내부면에 형성된 암나사부와 나사결합되는 수나사부를 몸체 외부면에 구비한다. More preferably, the hollow member has a male screw portion screwed to the female screw portion formed on the inner surface of the assembly hole on the outer surface of the body.

더욱 바람직하게, 상기 중공부재는 후단에 상기 중공부재의 회전조작이 용이하도록 돌출길이 조절용 홈을 구비한다. More preferably, the hollow member has a protrusion length adjusting groove at the rear end to facilitate the rotation operation of the hollow member.

바람직하게, 상기 탄성부는 상기 웨이퍼 가이드에 관통형성되는 조립공에 삽입배치되는 중공부재와, 상기 중공부재의 선단에 형성된 노출공을 통해 몸체 일부가 외부노출되는 볼부재와, 상기 볼부재를 선단으로 탄력지지하도록 상기 중공부재의 내부에 배치되는 스프링부재 및 상기 중공부재의 개방된 후단을 밀폐하는 스토퍼를 포함한다. Preferably, the elastic portion is a hollow member inserted into the assembly hole formed through the wafer guide, the ball member is exposed to the outside of the body through the exposed hole formed in the front end of the hollow member, and the ball member to the front end elasticity It includes a spring member disposed inside the hollow member to support and a stopper for closing the open rear end of the hollow member.

더욱 바람직하게, 상기 중공부재는 상기 조립공의 내주면에 형성된 암나사부와 나사결합되는 수나사부를 몸체 외부면에 구비한다. More preferably, the hollow member has a male screw portion which is screwed with the female screw portion formed on the inner circumferential surface of the assembly hole on the outer surface of the body.

더욱 바람직하게, 상기 스토퍼는 상기 중공부재의 내부면에 형성된 암나사부와 나사결합되는 수나사부를 몸체 외부면에 형성하고, 상기 스토퍼의 회전조작이 용이하도록 후단에 홈을 구비한다. More preferably, the stopper has a male screw portion screwed to the female screw portion formed on the inner surface of the hollow member on the outer surface of the body, and has a groove at the rear end to facilitate the rotation operation of the stopper.

바람직하게, 상기 탄성부는 상기 웨이퍼 가이드에 관통형성되는 조립공의 선 단에 형성된 노출공을 통해 몸체 일부가 외부노출되는 볼부재와, 상기 볼부재를 선단으로 탄력지지하도록 상기 조립공의 내부에 배치되는 스프링부재 및 상기 조립공의 개방된 후단을 밀폐하는 스토퍼를 포함한다. Preferably, the elastic portion is a ball member, the body portion is exposed to the outside through the exposed hole formed in the front end of the assembly hole formed in the wafer guide, and the spring is disposed inside the assembly hole to elastically support the ball member to the front end And a stopper for closing the opened rear end of the assembly hole.

더욱 바람직하게, 상기 스토퍼는 상기 조립공의 내부면에 형성된 암나사부와 나사결합되는 수나사부를 몸체 외부면에 형성하고, 상기 스토퍼의 회전조작이 용이하도록 후단에 홈을 구비한다. More preferably, the stopper has a male screw portion screwed to the female screw portion formed on the inner surface of the assembly hole on the outer surface of the body, and has a groove at the rear end to facilitate the rotation operation of the stopper.

바람직하게, 상기 웨이퍼 가이드는 상기 가이드 배치홈에 교체가능하게 조립되도록 체결부재가 체결되는 체결공을 구비한다. Preferably, the wafer guide has a fastening hole to which the fastening member is fastened so as to be replaceable to the guide placement groove.

바람직하게, 상기 웨이퍼 가이드는 상기 가이드 배치홈에 접착제를 매개로 하여 본딩접착되어 위치고정된다. Preferably, the wafer guide is bonded and fixed to the guide placement groove by means of an adhesive.

바람직하게, 상기 웨이퍼 가이드는 상기 가이드 배치홈의 내측면에 외측면이 억지끼움되어 위치고정된다. Preferably, the wafer guide is fixed to the outer surface by the inner surface of the guide arrangement groove is fixed position.

바람직하게, 상기 웨이퍼 가이드는 상기 웨이퍼가 안내되는 경사면과, 상기 웨이퍼의 외측면과 마주하는 수직면을 구비한다.Preferably, the wafer guide has an inclined surface on which the wafer is guided and a vertical surface facing the outer surface of the wafer.

바람직하게, 상기 웨이퍼 가이드는 상기 받침대와 대응하는 몸체의 중앙영역에 함몰형성되는 함몰부를 구비한다. Preferably, the wafer guide has a depression formed in the central region of the body corresponding to the pedestal.

본 발명에 의하면, 핑거본체의 로딩부 내측에 복수개의 가이드 배치홈을 구비하고, 가이드 배치홈 마다 구비되는 웨이퍼 가이드에 로딩부에 로딩되는 웨이퍼를 로딩부의 중심으로 탄력지지하는 탄성부를 구비함으로서, 웨이퍼의 로딩시 웨이 퍼의 외측면이 웨이퍼 가이드와 마찰접촉하지 않고 스프링부재에 의해서 탄력지지되는 볼부재와 점접촉되기 때문에, 웨이퍼 로딩시 웨이퍼 가이드와의 마찰접촉을 최소화하거나 근본적으로 방지하여 웨이퍼 가이드의 마모를 근본적으로 배제하고, 소모성 구성부품의 사용수명을 연장할 수 있고, 이로 인하여 제조원가를 절감할 수 있다. According to the present invention, a plurality of guide arrangement grooves are provided inside the loading unit of the finger main body, and the wafer guide provided for each guide arrangement groove includes an elastic unit for elastically supporting the wafer loaded in the loading unit to the center of the loading unit. Since the outer surface of the wafer is in point contact with the ball member elastically supported by the spring member without friction contact with the wafer guide during loading, the wafer guide minimizes or essentially prevents friction contact with the wafer guide during wafer loading. It essentially eliminates wear and extends the service life of consumable components, thereby reducing manufacturing costs.

또한, 균일하고 일정한 탄성력을 제공하는 스프링부재에 의해서 탄력지지되는 볼부재와 웨이퍼 간의 접촉에 의해서 로딩되는 웨이퍼의 중심과 로딩부의 로딩 중심을 서로 일치시키는 센터링 작업을 보다 정확하게 수행할 수 있기 때문에 웨이퍼 정렬에 대한 신뢰성을 향상시켜 후공정에서의 불량 및 사고를 방지할 수 있다. In addition, since the centering operation of matching the center of the wafer loaded by the contact between the ball member and the wafer elastically supported by the spring member providing a uniform and constant elastic force and the loading center of the loading unit can be performed more accurately, the wafer alignment is performed. By improving the reliability of the system can prevent defects and accidents in the post-process.

그리고, 핑거본체에 로딩되어 센터링된 웨이퍼를 파손 및 손상없이 보다 안정적으로 지지함으로서 웨이퍼 이송시 웨이퍼가 핑거본체로부터 외부로 분리이탈되는 것을 방지하여 작업생산성을 향상시키고, 불량율을 감소시킬 수 있는 효과가 얻어진다. In addition, by supporting the wafer loaded and centered on the finger body more stably without damage and damage, the wafer is prevented from being separated from the finger body to the outside during wafer transfer, thereby improving work productivity and reducing the defective rate. Obtained.

이하 본 발명의 실시 예에 대해 첨부된 도면에 따라 더욱 상세히 설명한다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 웨이퍼 이송용 센터링 핑거를 도시한 전체 사시도이고, 도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 웨이퍼 이송용 센터링 핑거에 구비되는 웨이퍼 가이드를 도시한 상세도이다. 1 is an overall perspective view showing a wafer transfer centering finger according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is a detailed view showing a wafer guide provided in the wafer transfer centering finger according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 실시 예에 따른 웨이퍼 이송용 센터링 핑거(100)는 웨이퍼(W)의 중심과 로딩 중심이 서로 일치되도록 센터링하거나 이송도중 웨이퍼가 외부로 분리 이탈되지 않도록 반송 대상물인 웨이퍼를 안전하게 로딩하도록 로봇의 아암에 구비되는 것으로, 이러한 센터링 핑거(100)는 핑거본체(110), 웨이퍼 가이드(120) 및 탄성부(130)를 포함한다. The centering finger 100 for the wafer transfer according to the embodiment of the present invention is a robot so as to safely load the wafer to be transported so that the center of the wafer W and the loading center are coincident with each other or the wafer is not separated out during the transfer. It is provided on the arm of the centering finger 100 includes a finger body 110, a wafer guide 120 and the elastic portion 130.

상기 핑거본체(110)는 도 1에 도시한 바와 같이, 원반형태로 구비되는 웨이퍼(W)가 배치되는 로딩부(111)를 몸체 선단부에 구비하는 판 구조물이다. As illustrated in FIG. 1, the finger body 110 is a plate structure having a loading portion 111 on which a wafer W provided in a disk shape is disposed, at a front end of the body.

여기서, 상기 로딩부(111)는 반송 대상물인 웨이퍼(W)의 외경보다 상대적으로 큰 내경크기를 갖는 원형 관통공으로 구비되는 것이 바람직하며, 이러한 원형 관통공은 일측인 선단측으로 개방된 개구부(117)를 구비하는 형상으로 도시하고 설명하였지만 이에 한정되는 것은 아니며 상기 개구부(117)를 구비하지 않은 원형 형상으로 구비될 수도 있다. Here, the loading unit 111 is preferably provided as a circular through hole having an inner diameter size relatively larger than the outer diameter of the wafer (W) that is the object to be conveyed, the circular through hole is an opening 117 opened to the front end side on one side Although illustrated and described as a shape having a shape, the shape is not limited thereto and may be provided in a circular shape without the opening 117.

그리고, 상기 로딩부(111)의 내측에는 상기 웨이퍼 가이드(120)가 배치되도록 원주방향으로 일정간격을 두고 가이드 배치홈(113)을 복수개 구비한다. In addition, a plurality of guide placement grooves 113 are provided at a predetermined interval in the circumferential direction so that the wafer guide 120 is disposed inside the loading unit 111.

또한, 이러한 핑거본체(110)의 후단부에는 미도시된 로봇의 아암과 체결되어 연결되도록 복수개의 체결공(115)을 구비한다. In addition, the rear end of the finger body 110 is provided with a plurality of fastening holes 115 to be fastened and connected to the arm of the robot not shown.

상기 웨이퍼 가이드(120)는 도 1과 도 2에 도시한 바와 같이, 상기 핑거본체(110)의 로딩부(111)에 복수개 형성되는 가이드 배치홈(113)마다 배치되어 조립되는 구조물이다. As illustrated in FIGS. 1 and 2, the wafer guide 120 is a structure that is arranged and assembled for each guide arrangement groove 113 formed in the loading unit 111 of the finger body 110.

이러한 웨이퍼 가이드(120)는 상기 웨이퍼(W)와의 접촉시 발생되는 충격에 의한 파손 및 손상을 방지할 수 있도록 상기 웨이퍼(W)의 경도보다 상대적으로 낮은 경도를 갖는 수지물로 성형되는 성형 구조물로 이루어진다. The wafer guide 120 is a molded structure formed of a resin material having a hardness lower than that of the wafer W so as to prevent breakage and damage due to an impact generated when the wafer W is in contact with the wafer W. Is done.

상기 웨이퍼 가이드(120)는 몸체 상부면에 상기 가이드 배치홈(113)에 형성된 체결공과 일치되는 체결공(122)을 구비함으로서 체결부재(129)에 의해서 상기 가이드 배치홈(113)에 교체가능하도록 조립되는 것으로 도시하고 설명하였지만 이에 한정되는 것은 아니며 상기 웨이퍼 가이드(120)는 상기 가이드 배치홈(113)에 접착제를 매개로 하여 본딩접착되어 위치고정거나 상기 웨이퍼 가이드(120)는 그 외측면이 상기 가이드 배치홈(113)의 내측면에 억지끼움되어 위치고정될 수도 있다. The wafer guide 120 has a fastening hole 122 corresponding to a fastening hole formed in the guide disposing groove 113 on the upper surface of the body so that the wafer guide 120 can be replaced with the guide disposing groove 113 by the fastening member 129. Although illustrated and described as being assembled, the present invention is not limited thereto, and the wafer guide 120 may be bonded and fixed to the guide placement groove 113 by an adhesive, and the wafer guide 120 may have an outer surface thereof. It may be fixed to the inner surface of the guide arrangement groove 113 is fixed.

그리고, 상기 웨이퍼 가이드(120)는 상기 로딩부(111)에 로딩되는 웨이퍼(W)의 하부이탈을 방지하도록 상기 웨이퍼(W)의 하부면과 접하도록 내측으로 일정길이 연장되는 받침대(121)를 구비하며, 상기 웨이퍼(W)의 로딩시 상기 웨이퍼(W)가 안내되는 경사면(123a)과, 상기 웨이퍼(W)의 외측면과 마주하는 수직면(123b)을 구비한다.In addition, the wafer guide 120 has a pedestal 121 extending in a predetermined length in contact with the lower surface of the wafer W to prevent the bottom of the wafer W loaded on the loading unit 111 from being lowered. And an inclined surface 123a through which the wafer W is guided when the wafer W is loaded, and a vertical surface 123b facing the outer surface of the wafer W.

여기서, 상기 받침대(121)는 상기 웨이퍼(W)의 하부면과의 접촉면적으로 최소화하도록 상기 웨이퍼(W)와 대응하는 상부면이 로딩부의 중심으로 갈수록 서서히 낮아지는 경사면으로 구비될 수도 있다.Here, the pedestal 121 may be provided as an inclined surface that is gradually lowered toward the center of the loading portion so that the upper surface corresponding to the wafer (W) to minimize the contact area with the lower surface of the wafer (W).

또한, 상기 웨이퍼 가이드(120)의 몸체 내측면는 상기 받침대(121)상에 안착된 웨이퍼의 외측면을 외부노출시킴과 동시에 상기 웨이퍼(W)와의 마찰접촉을 최소화할 수 있도록 상기 받침대(121)와 대응하는 몸체(120a)의 중앙영역에 함몰형성되는 함몰부(124)를 구비하며, 상기 함몰부(124)의 외부면은 하부로 갈수록 외경이 작어지는 원호면으로 형성되는 것이 바람직하다. In addition, the inner surface of the body of the wafer guide 120 is exposed to the outer surface of the wafer seated on the pedestal 121 and at the same time to minimize the frictional contact with the wafer (W) and It is preferably provided with a recessed portion 124 is formed in the central region of the corresponding body (120a), the outer surface of the recessed portion 124 is preferably formed of an arc surface of the outer diameter becomes smaller toward the bottom.

상기 탄성부(130)는 도 1 내지 도 3에 도시한 바와 같이, 상기 핑거본체(110)의 로딩부(111)에 로딩되는 웨이퍼(W)의 외측면과 접하여 상기 웨이퍼(W)를 상기 로딩부(111)의 중심측으로 향하여 탄력지지하도록 상기 웨이퍼(W)의 외측면과 대응하는 웨이퍼 가이드(120)에 구비된다. As shown in FIGS. 1 to 3, the elastic unit 130 contacts the outer surface of the wafer W loaded on the loading unit 111 of the finger body 110 to load the wafer W. It is provided on the wafer guide 120 corresponding to the outer surface of the wafer (W) to elastically support toward the center side of the portion (111).

이러한 탄성부(130)는 중공부재(131), 볼부재(133) 및 스프링부재(134)를 포함하는바, 상기 중공부재(131)는 상기 웨이퍼 가이드(120)에 관통형성되는 조립공(125)에 삽입배치되는 일정길이의 중공원통부재로 이루어진다. The elastic part 130 includes a hollow member 131, a ball member 133 and a spring member 134, the hollow member 131 is an assembly hole 125 is formed through the wafer guide 120 It consists of a hollow tube member of a certain length that is inserted into the.

상기 볼부재(133)는 상기 중공부재(131)의 선단에 형성된 일정크기의 노출공(132)을 통해 몸체 일부가 외부노출되도록 상기 중공부재(131)의 선단에 배치되어 반송 대상물인 웨이퍼(W)의 외측면과 접촉되는 접촉부재이다. The ball member 133 is disposed at the front end of the hollow member 131 so that a part of the body is exposed to the outside through a predetermined size of the exposure hole 132 formed at the front end of the hollow member 131, the wafer (W) The contact member is in contact with the outer surface of the).

상기 스프링부재(134)는 상기 중공부재(131)의 내부공간에 배치되어 상기 볼부재(133)를 선단측인 웨이퍼(W)측으로 일정세기의 탄성력으로서 탄력지지하는 지지부재이다. The spring member 134 is a support member disposed in the inner space of the hollow member 131 to elastically support the ball member 133 as an elastic force of a predetermined strength toward the wafer W, which is the tip side.

여기서, 상기 중공부재(131)는 상기 웨이퍼 가이드(120)의 수직면(123b)으로부터 웨이퍼(W)의 중심측으로 돌출되는 볼부재(133)의 돌출길이(L)를 조절할 수 있도록 상기 조립공(125)의 내주면에 형성된 암나사부(126)와 나사결합되는 수나사부(137)를 몸체 외부면에 형성하는 것이 바람직하다.Here, the hollow member 131 is the assembly hole 125 to adjust the protruding length (L) of the ball member 133 protruding from the vertical surface 123b of the wafer guide 120 toward the center of the wafer (W). It is preferable to form a male screw portion 137 that is screwed with the female screw portion 126 formed on the inner circumferential surface of the body outer surface.

이에 따라, 상기 중공부재(131)의 후단에는 상기 조립공(125)의 내부면에 나사결합된 중공부재(131)의 회전조작이 용이하도록 돌출길이 조절용 홈(135)을 일자형 또는 열십자형으로 구비하는 것이 바람직하다. Accordingly, the rear end of the hollow member 131 is provided with a straight or ten cross-shaped protrusion length adjustment groove 135 to facilitate the rotation operation of the hollow member 131 screwed to the inner surface of the assembly hole (125). It is preferable.

한편, 상기 탄성부(130a)는 도 4에 도시한 바와 같이, 중공부재(131a), 볼부재(133a), 스프링부재(134a) 및 스토퍼(136a)를 포함하여 구성될 수도 있다. Meanwhile, as shown in FIG. 4, the elastic part 130a may include a hollow member 131a, a ball member 133a, a spring member 134a, and a stopper 136a.

상기 중공부재(131a)는 상기 웨이퍼 가이드(120)에 관통형성되는 조립공(125a)에 삽입배치되거나 상기 조립공(125a)의 내부면에 형성된 암나사부(126a)와 나사결합되도록 외부면에 수나사부(137a)가 형성된 일정길이의 중공원통부재로 이루어진다. The hollow member 131a may be inserted into an assembly hole 125a formed through the wafer guide 120, or may be externally screwed to an external surface to be screwed into the female screw part 126a formed on the inner surface of the assembly hole 125a. 137a) is formed of a hollow cylinder member of a predetermined length.

상기 볼부재(133a)는 상기 중공부재(131a)의 선단에 형성된 일정크기의 노출공(132a)을 통해 몸체 일부가 외부노출되도록 상기 중공부재(131a)의 선단에 배치되어 반송 대상물인 웨이퍼(W)의 외측면과 접촉되는 접촉부재이다. The ball member 133a is disposed at the front end of the hollow member 131a so that a part of the body is exposed to the outside through a predetermined size of exposure hole 132a formed at the front end of the hollow member 131a, and thus is a wafer (W). The contact member is in contact with the outer surface of the).

상기 스프링부재(134a)는 상기 중공부재(131a)의 내부공간에 배치되어 상기 볼부재(133a)를 선단측인 웨이퍼(W)측으로 일정세기의 탄성력으로서 탄력지지하는 지지부재이다. The spring member 134a is a supporting member disposed in the inner space of the hollow member 131a to elastically support the ball member 133a as an elastic force of a predetermined strength toward the wafer W, which is the tip side.

상기 스토퍼(136a)는 상기 볼부재(133a)와 스프링부재(134a)의 삽입이 이루어지는 중공부재(131a)의 개방된 후단을 밀폐하도록 상기 중공부재(131a)의 후단에 조립되는 밀폐부재이다. The stopper 136a is a sealing member assembled to the rear end of the hollow member 131a to seal the open rear end of the hollow member 131a into which the ball member 133a and the spring member 134a are inserted.

여기서, 상기 스토퍼(136a)는 상기 중공부재(131a)에 배치된 스프링부재(134a)의 탄성력을 조절할 수 있도록 상기 중공부재(131a)의 내부면에 형성된 암나사부와 나사결합되는 수나사부를 몸체외부면에 형성하고, 상기 스토퍼(136a)의 회전조작이 용이하도록 후단에 홈(135a)을 일자형 또는 열십자형으로 구비하는 것이 바람직하다. Here, the stopper 136a is an outer surface of the body screwed with a female screw formed on the inner surface of the hollow member 131a so as to adjust the elastic force of the spring member 134a disposed on the hollow member 131a. It is preferable that the groove 135a is formed at the rear end of the stopper 136a so as to facilitate the rotational operation of the stopper 136a.

또한, 상기 탄성부(130b)는 도 5에 도시한 바와 같이, 볼부재(133b), 스프링부재(134b) 및 스토퍼(136b)를 포함하여 구성될 수도 있다. In addition, the elastic portion 130b may be configured to include a ball member 133b, a spring member 134b and a stopper 136b, as shown in FIG.

상기 볼부재(133b)는 상기 웨이퍼 가이드(120)에 관통형성되는 조립공(125b)의 선단에 형성된 일정크기의 노출공(132b)을 통해 몸체 일부가 외부노출되도록 상기 노출공(132b)의 선단에 배치되어 반송 대상물인 웨이퍼(W)의 외측면과 접촉되는 접촉부재이다. The ball member 133b is disposed at the tip of the exposed hole 132b so that a part of the body is exposed to the outside through a predetermined size of the exposed hole 132b formed at the tip of the assembly hole 125b formed through the wafer guide 120. It is a contact member arrange | positioned and contacting the outer surface of the wafer W which is a conveyance object.

상기 스프링부재(134b)는 상기 조립공(125b)의 내부공간에 배치되어 상기 볼부재(133b)를 선단측인 웨이퍼(W)측으로 일정세기의 탄성력으로서 탄력지지하는 지지부재이다. The spring member 134b is a support member disposed in the inner space of the assembly hole 125b to elastically support the ball member 133b as an elastic force of a predetermined strength toward the wafer W, which is the tip side.

상기 스토퍼(136b)는 상기 볼부재(133b)와 스프링부재(134b)의 삽입이 이루어지는 조립공(125b)의 개방된 후단을 밀폐하도록 상기 조립공(125b)의 후단에 조립되는 밀폐부재이다. The stopper 136b is a sealing member assembled to the rear end of the assembly hole 125b to seal the open rear end of the assembly hole 125b in which the ball member 133b and the spring member 134b are inserted.

여기서, 상기 스토퍼(136b)는 상기 조립공(125b)에 배치된 스프링부재(134b)의 탄성력을 조절할 수 있도록 상기 조립공(125b)의 내부면에 형성된 암나사부(126b)와 나사결합되는 수나사부를 몸체외부면에 형성하고, 상기 스토퍼(136b)의 회전조작이 용이하도록 후단에 홈(135b)을 일자형 또는 열십자형으로 구비하는 것이 바람직하다. Here, the stopper 136b is the outer body portion of the male screw threaded to the female screw portion 126b formed on the inner surface of the assembly hole 125b to adjust the elastic force of the spring member 134b disposed in the assembly hole 125b. It is preferable that the groove 135b is formed on the surface of the stopper 136b so as to facilitate the rotation operation of the stopper 136b.

한편, 상기 볼부재(133,133a,133b)의 몸체 일부를 외부노출시키는 노출공(132,132a,132b)은 상기 중공부재(131,131a)의 선단 또는 조립공(125b)의 선단에 상기 볼부재의 외경보다 상대적으로 작은 내경크기를 갖도록 일체로 형성되는 것으 로 도시하고 설명하였지만 이에 한정되는 것은 아니다. On the other hand, the exposed holes (132, 132a, 132b) for exposing the body portion of the ball members (133, 133a, 133b) to the outer end of the hollow member (131, 131a) or the end of the assembly hole (125b) than the outer diameter of the ball member Although illustrated and described as being integrally formed to have a relatively small inner diameter, it is not limited thereto.

이러한 노출공(132,132a,132b)은 상기 중공부재(131,131a)의 선단이나 상기 조립공(125b)의 선단에 나사방식으로 조립되거나 접착수단에 의하여 접착고정되는 노출팁에 구비될 수도 있다. The exposed holes 132, 132a, and 132b may be provided at the tip of the hollow member 131, 131a or the tip of the assembly hole 125b in a screwed manner or on an exposed tip that is fixed by adhesive means.

상기한 구성을 갖는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거(100)를 이용하여 반송 대상물인 웨이퍼(W)를 로딩하여 반송하는 작업은 먼저 일정크기의 외경을 갖는 웨이퍼(W)가 도 1에 도시한 바와 같이, 상기 핑거본체(110)에 구비되는 로딩부(111)에 로딩되면, 상기 웨이퍼(W)는 상기 로딩부(111)의 내측면에 구비되는 웨이퍼 가이드(120)에 의해서 로딩부(111)의 중심과 상기 웨이퍼(W)의 중심이 서로 일치되도록 하는 센터링작업을 수행하면서 반송시 분리이탈이 없도록 상기 웨이퍼(W)를 지지하게 되는 것이다. Loading and conveying the wafer W, which is the object to be conveyed, by using the wafer transfer centering finger 100 having the above-described configuration, first, as shown in FIG. 1, a wafer W having an outer diameter of a predetermined size, When loaded on the loading unit 111 provided in the finger body 110, the wafer W is centered on the loading unit 111 by the wafer guide 120 provided on the inner surface of the loading unit 111. The center of the wafer W and the center of the wafer (W) while performing the centering operation so as to support the wafer (W) so that there is no separation during transport.

즉, 상기 웨이퍼(W)가 상기 로딩부(111)에 구비되는 웨이퍼 가이드(120)의 경사면(123a), 수직면(123b)을 따라 하강되면서 로딩되는바, 상기 웨이퍼(W)의 하부면은 상기 웨이퍼 가이드(120)에 돌출형성된 받침대(121)와 접하여 핑거본체(110)로부터 하부이탈을 방지하게 된다. That is, the wafer W is loaded while being lowered along the inclined plane 123a and the vertical plane 123b of the wafer guide 120 provided in the loading unit 111. The lower surface of the wafer W is In contact with the pedestal 121 protruding from the wafer guide 120 to prevent the lower departure from the finger body (110).

연속하여, 상기 웨이퍼 가이드(120)에 구비되는 탄성부(130,130a,130b)의 볼부재(133,133a,133b)는 상기 웨이퍼 가이드(120)의 수직면(123b)으로부터 일정길이 돌출되어 있기 때문에, 상기 수직면(123b)을 따라 하강되던 웨이퍼(W)의 외측 테두리는 볼부재(133,133a,133b)와 접하게 된다. Since the ball members 133, 133a, and 133b of the elastic parts 130, 130a, and 130b provided in the wafer guide 120 continuously protrude from the vertical surface 123b of the wafer guide 120, The outer edge of the wafer W, which is lowered along the vertical surface 123b, is in contact with the ball members 133, 133a, and 133b.

이때, 상기 웨이퍼 가이드(120)에 구비되는 탄성부(130,130a,130b)의 볼부 재(133,133a,133b)의 선단에 의해서 그려지는 가상원의 내경은 반송 대상물인 웨이퍼(W)의 내경보다 상대적으로 작게 구비되어야 한다. At this time, the inner diameter of the virtual circle drawn by the tips of the ball members 133, 133a, and 133b of the elastic parts 130, 130a, and 130b provided in the wafer guide 120 is relative to the inner diameter of the wafer W, which is the object to be conveyed. It should be provided as small as.

이와 동시에, 상기 볼부재(133,133a,133b)는 웨이퍼 자중에 의해서 스프링부재측으로 밀려지면서 충격을 흡수함과 동시에 상기 스프링부재(134,134a,134b)는 탄성복원력을 갖도록 수축되며, 상기 볼부재(133,133a,133b)는 웨이퍼의 외측면에 점접촉되고, 이러한 점접촉상태는 스프링부재(134,134a,134b)의 탄성복원력에 의해서 유지되는 것이다. At the same time, the ball members 133,133a and 133b are pushed to the spring member side by the weight of the wafer to absorb the shock and at the same time the spring members 134,134a and 134b are contracted to have elastic restoring force, and the ball members 133,133 a, 133b is in point contact with the outer surface of the wafer, and this point contact state is maintained by the elastic restoring force of the spring members 134, 134a, 134b.

또한, 상기 로딩부(111)에 복수개 구비되는 웨이퍼 가이드(120)마다 구비되는 탄성부(130,130a,130b)의 각 스프링부재(134,134a,134b)는 상기 웨이퍼(W)를 로딩부의 중심측으로 향하여 균일하고 일정한 탄성력으로 지지하기 때문에, 상기 웨이퍼(W)의 외측면을 웨이퍼 가이드(120)의 수직면(123a)에 면접촉하지 않고도 상기 웨이퍼의 중심과 로딩부의 중심으로 서로 일치시키는 센터링 작업을 보다 정확하게 수행할 수 있음은 물론, 웨이퍼 이송시 반송대상물인 웨이퍼가 상부로 이탈되는 탈조현상을 방지하게 된다. In addition, each spring member 134, 134a, 134b of the elastic parts 130, 130a, and 130b provided for each of the wafer guides 120 provided in the loading part 111 may face the wafer W toward the center of the loading part. Since it is supported by a uniform and constant elastic force, the centering operation of matching the outer surface of the wafer W with the center of the wafer and the center of the loading portion without contacting the vertical surface 123a of the wafer guide 120 more accurately Not only can it be carried out, but also prevents the out-of-sealing phenomenon in which the wafer, which is the object to be conveyed, is separated from the top during wafer transfer.

그리고, 상기 웨이퍼(W)의 로딩시 웨이퍼의 외측면이 웨이퍼 가이드(120)의 수직면(123a)에 면접촉하지 않음으로서 상기 웨이퍼 가이드의 마모를 근본적으로 방지하여 웨이퍼 가이드의 사용 수명을 연장하고, 이를 반영구적으로 사용할 수 있는 것이다. In addition, since the outer surface of the wafer is not in surface contact with the vertical surface 123a of the wafer guide 120 when the wafer W is loaded, the wear of the wafer guide is essentially prevented, thereby extending the service life of the wafer guide. This can be used semi-permanently.

본 발명은 특정한 실시예에 관련하여 도시하고 설명하였지만, 이하의 특허청구범위에 의해 마련되는 본 발명의 정신이나 분야를 벗어나지 않는 한도 내에서 본 발명이 다양하게 개조 및 변화될 수 있다는 것을 당업계에서 통상의 지식을 가진 자는 용이하게 알 수 있음을 밝혀두고자 한다.While the invention has been shown and described with respect to particular embodiments, it will be understood that various changes and modifications can be made in the art without departing from the spirit or scope of the invention as set forth in the claims below. It will be appreciated that those skilled in the art can easily know.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 웨이퍼 이송용 센터링 핑거를 도시한 전체 사시도이다.1 is an overall perspective view showing a wafer transfer centering finger according to an embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 웨이퍼 이송용 센터링 핑거에 구비되는 웨이퍼 가이드를 도시한 상세도이다. 2 is a detailed view showing a wafer guide provided in the wafer transfer centering finger according to an embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 웨이퍼 이송용 센터링 핑거에 구비되는 웨이퍼 가이드를 도시한 상세도이다. 3 is a detailed view showing a wafer guide provided in the wafer transfer centering finger according to an embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 웨이퍼 이송용 센터링 핑거에 구비되는 웨이퍼 가이드의 다른 형태를 도시한 상세도이다. 4 is a detailed view illustrating another form of the wafer guide provided in the wafer transfer centering finger according to the embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 웨이퍼 이송용 센터링 핑거에 구비되는 웨이퍼 가이드의 또 다른 형태를 도시한 상세도이다. 5 is a detailed view illustrating another form of the wafer guide provided in the wafer transfer centering finger according to the embodiment of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

110 : 핑거본체 111 : 로딩부110: finger body 111: loading unit

113 : 가이드 배치홈 120 : 웨이퍼 가이드113: guide placement groove 120: wafer guide

121 : 받침대 124 : 함몰부121: base 124: depression

125,125a,125b : 조립공 130,130a,130b : 탄성부125,125a, 125b: Assembly worker 130,130a, 130b: elastic part

131,131a : 중공부재 132,132a,132b : 노출공131,131a: hollow member 132,132a, 132b: exposed hole

133,133a,133b : 볼부재 134,134a,134b : 스프링부재133,133a, 133b: ball member 134,134a, 134b: spring member

Claims (14)

일측으로 개구된 로딩부를 구비하고, 상기 로딩부의 내측에 복수개의 가이드 배치홈을 구비하는 핑거본체 ;A finger body having a loading part opened to one side and having a plurality of guide arrangement grooves inside the loading part; 상기 로딩부에 로딩되는 웨이퍼의 하부면과 접하는 받침대를 갖추어 상기 가이드 배치홈에 구비되는 웨이퍼 가이드 ; 및 A wafer guide provided in the guide arrangement groove having a pedestal in contact with a lower surface of the wafer loaded in the loading unit; And 상기 로딩부에 로딩되는 웨이퍼의 외측면과 접하여 상기 웨이퍼를 상기 로딩부의 중심으로 탄력지지하도록 상기 웨이퍼의 외측면과 대응하는 웨이퍼 가이드에 구비되는 탄성부 ;를 포함하는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거. And an elastic portion provided on a wafer guide corresponding to the outer surface of the wafer to elastically support the wafer to the center of the loading portion in contact with an outer surface of the wafer loaded in the loading portion. 제1항에 있어서, 상기 탄성부는 상기 웨이퍼 가이드에 관통형성되는 조립공에 삽입배치되는 중공부재와, 상기 중공부재의 선단에 형성된 노출공을 통해 몸체 일부가 외부노출되는 볼부재 및 상기 볼부재를 선단으로 탄력지지하도록 상기 중공부재의 내부에 배치되는 스프링부재를 포함함을 특징으로 하는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거.The method of claim 1, wherein the elastic portion is a front end of the ball member and the ball member is exposed to the hollow member inserted into the assembly hole formed through the wafer guide, the body portion is exposed through the exposed hole formed in the front end of the hollow member A centering finger for wafer transfer, characterized in that it comprises a spring member disposed inside the hollow member so as to be elastically supported. 제2항에 있어서, 상기 중공부재는 상기 조립공의 내부면에 형성된 암나사부와 나사결합되는 수나사부를 몸체 외부면에 구비함을 특징으로 하는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거. The centering finger of claim 2, wherein the hollow member has a male screw portion which is screwed with a female screw portion formed on an inner surface of the assembly hole on an outer surface of the body. 제2항에 있어서, 상기 중공부재는 후단에 상기 중공부재의 회전조작이 용이하도록 돌출길이 조절용 홈을 구비함을 특징으로 하는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거.3. The wafer transfer centering finger of claim 2, wherein the hollow member has a protrusion length adjusting groove at a rear end thereof to facilitate rotational operation of the hollow member. 제1항에 있어서, 상기 탄성부는 상기 웨이퍼 가이드에 관통형성되는 조립공에 삽입배치되는 중공부재와, 상기 중공부재의 선단에 형성된 노출공을 통해 몸체 일부가 외부노출되는 볼부재와, 상기 볼부재를 선단으로 탄력지지하도록 상기 중공부재의 내부에 배치되는 스프링부재 및 상기 중공부재의 개방된 후단을 밀폐하는 스토퍼를 포함함을 특징으로 하는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거. The method of claim 1, wherein the elastic portion is a hollow member inserted into the assembly hole is formed through the wafer guide, a ball member to which the body portion is exposed to the outside through an exposure hole formed in the front end of the hollow member, and the ball member And a spring member disposed in the hollow member so as to be elastically supported at the front end, and a stopper for closing the open rear end of the hollow member. 제5항에 있어서, 상기 중공부재는 상기 조립공의 내주면에 형성된 암나사부와 나사결합되는 수나사부를 몸체 외부면에 구비함을 특징으로 하는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거. The centering finger of claim 5, wherein the hollow member has a male screw portion that is screwed with a female screw portion formed on an inner circumferential surface of the assembly hole on an outer surface of the body. 제5항에 있어서, 상기 스토퍼는 상기 중공부재의 내부면에 형성된 암나사부와 나사결합되는 수나사부를 몸체 외부면에 형성하고, 상기 스토퍼의 회전조작이 용이하도록 후단에 홈을 구비함을 특징으로 하는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거. 6. The stopper according to claim 5, wherein the stopper has a male screw portion screwed to the female screw portion formed on the inner surface of the hollow member on the outer surface of the body, and has a groove at the rear end to facilitate the rotation operation of the stopper. Centering finger for wafer transfer. 제1항에 있어서, 상기 탄성부는 상기 웨이퍼 가이드에 관통형성되는 조립공의 선단에 형성된 노출공을 통해 몸체 일부가 외부노출되는 볼부재와, 상기 볼부재를 선단으로 탄력지지하도록 상기 조립공의 내부에 배치되는 스프링부재 및 상기 조립공의 개방된 후단을 밀폐하는 스토퍼를 포함함을 특징으로 하는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거. The ball assembly of claim 1, wherein the elastic part is disposed inside the assembly hole so as to elastically support the ball member to the tip through an exposed hole formed at the tip of the assembly hole formed through the wafer guide. A centering finger for wafer transfer, characterized in that it comprises a spring member and a stopper for closing the open rear end of the assembly hole. 제8항에 있어서, 상기 스토퍼는 상기 조립공의 내부면에 형성된 암나사부와 나사결합되는 수나사부를 몸체 외부면에 형성하고, 상기 스토퍼의 회전조작이 용이하도록 후단에 홈을 구비함을 특징으로 하는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거. 9. The wafer according to claim 8, wherein the stopper has a male screw portion which is screwed with the female screw portion formed on the inner surface of the assembly hole on the outer surface of the body, and has a groove at the rear end to facilitate the rotation operation of the stopper. Centering finger for transfer. 제1항, 제2항, 제5항 및 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 웨이퍼 가이드는 상기 가이드 배치홈에 교체가능하게 조립되도록 체결부재가 체결되는 체결공을 구비함을 특징으로 하는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거. The wafer guide according to any one of claims 1, 2, 5, and 8, wherein the wafer guide has a fastening hole to which the fastening member is fastened so as to be replaceably assembled in the guide placement groove. Centering finger for wafer transfer. 제1항, 제2항, 제5항 및 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 웨이퍼 가이드는 상기 가이드 배치홈에 접착제를 매개로 하여 본딩접착되어 위치고정됨을 특징으로 하는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거. The wafer transfer centering finger according to any one of claims 1, 2, 5, and 8, wherein the wafer guide is bonded and fixed to the guide placement groove through an adhesive. . 제1항, 제2항, 제5항 및 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 웨이퍼 가이드는 상기 가이드 배치홈의 내측면에 외측면이 억지끼움되어 위치고정됨을 특징으로 하는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거. The wafer transfer centering according to any one of claims 1, 2, 5, and 8, wherein the wafer guide is fixed to an inner surface of the wafer guide groove by fixing an outer surface thereof. Finger. 제1항, 제2항, 제5항 및 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 웨이퍼 가이드 는 상기 웨이퍼가 안내되는 경사면과, 상기 웨이퍼의 외측면과 마주하는 수직면을 구비함을 특징으로 하는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거. The wafer guide according to any one of claims 1, 2, 5, and 8, wherein the wafer guide has an inclined surface on which the wafer is guided and a vertical surface facing the outer surface of the wafer. Centering finger for wafer transfer. 제1항, 제2항, 제5항 및 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 웨이퍼 가이드는 상기 받침대와 대응하는 몸체의 중앙영역에 함몰형성되는 함몰부를 구비함을 특징으로 하는 웨이퍼 이송용 센터링 핑거. The wafer transfer apparatus of claim 1, wherein the wafer guide has a recess formed in a central region of the body corresponding to the pedestal. Centering finger.
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KR20200114414A (en) * 2019-03-28 2020-10-07 주식회사 차오름메탈 Slim metalmask support block

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9768051B2 (en) 2015-07-17 2017-09-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Wafer clamping apparatus
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