KR0169419B1 - 불휘발성 반도체 메모리의 독출방법 및 장치 - Google Patents
불휘발성 반도체 메모리의 독출방법 및 장치 Download PDFInfo
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Description
Claims (6)
- 다수의 워드라인들과 접속된 다수의 메모리셀들에 저장된 데이타를 상기 메모리셀들과 접속된 다수의 비트라인들을 통하여 일시에 독출하기 위한 불휘발성 반도체 메모리에 있어서,상기 다수의 비트라인들 중 미리 예정된 수의 제1그룹의 비트라인들과 나머지의 제2그룹의 비트라인들과 각각 접속되고 상기 제1 및 제2그룹의 비트라인들상의 독출데이타를 저장하기 위한 제1그룹 및 제2그룹 페이지버퍼와, 데이타 독출 기간중 주기적으로 토글링하는 독출인에이블신호에 따라 하나의 워드라인에 접속된 다수의 메모리셀들로 부터 데이타를 상기 제1그룹 및 제2그룹 페이지 버퍼에 저장한 후 상기 제1그룹 페이지 버퍼에 저장된 데이타를 입출력 단자들로의 전송이 끝나면, 상기 제2그룹 페이지 버퍼에 저장된 데이타를 상기 입출력 단자들로 전송하는 동작과 상기 제1페이지 버퍼에 다음 워드라인에 접속된 다수의 메모리셀들로부터 데이타를 저장하는 동작이 동시에 수행하게 하는 독출제어수단을 가짐을 특징으로 하는 불휘발성 반도체 메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 독출제어 수단은 상기 데이타 독출기간중 상기 독출 인에이블신호와 컬럼 어드레스신호들에 응답하여 상기 컬럼 어드레스신호들을 카운트업하는 컬럼 어드레스 카운터와, 상기 컬럼 어드레스 카운터로부터의 카운트업된 컬럼 어드레스 신호들을 감지하여 다음 페이지 독출의 활성화를 위한 제어신호를 발생하는 컬럼 어드레스 감지회로와, 상기 컬럼 어드레스 카운터로부터 카운트업되는 열 어드레스신호들에 응답하여 상기 제1그룹 및 제2그룹 페이지 버퍼에 저장된 데이타를 상기 입출력단자로 진송하기 위한 신호를 제공하는 컬럼 디코더와, 외부의 어드레스신호들을 인가받아 상기 컬럼 어드레스 카운터의 카운트업을 제어하기 위한 신호와, 페이지 독출을 활성화하기 위한 신호를 발생하는 순차적 독출제어회로와, 상기 카운트업된 신호와 외부 독출 인에이블신호를 인가받아 독출동작을 활성화 및 종료시키기 위한 신호와 상기 제1그룹 및 제2그룹 페이지 버퍼를 각기 제어하기 위한 신호를 발생하는 독출클럭 제어신호 발생회로와, 상기 독출클럭 제어신호 발생회로부터 발생되는 출력신호들을 인가받아 상기 비트라인의 프리차아지동작과 데이타의 저장동작 및 상기 입출력 버퍼로의 데이타 전송동작을 제어하기 위한 신호들을 발생하는 독출클럭회로로 구성됨을 특징으로 하는 불휘발성 반도체 메모리.
- 행들과 열들의 매트릭스 형태로 배열된 복수개의 메모리 트랜지스터들을 가지는 제1 및 제2메모리 셀 어레이와, 상기 제1 및 제2메모리 셀 어레이내의 비트라인들과 접속되어 독출동작시 데이타를 래치하기 위한 래치수단과 증폭하기 위한 증폭수단을 가지는 페이지버퍼들과, 상기 페이지 버퍼들에 프리차아지 전압을 제공하기 위한 전류공급회로를 적어도 구비하는 불휘발성 반도체 메모리 장치의 독출방법에 있어서,상기 메모리 셀 어레이 내의 데이타를 상기 저장수단에 저장하는 제1과정과 상기 제1메모리 셀 어레이 내의 데이타가 입출력 단자로 전송하는 제2과정과, 상기 제2과정이 종료된 후 제2메모리 셀 어레이 내의 데이타를 상기 입출력단자로 전송하는 동작과 상기 제1메모리 셀 어레이내의 데이타를 상기 페이지 버퍼들에 래치하는 동작을 동시에 수행하는 제3과정과, 상기 제3과정이 종료된후 제1메모리 셀 어레이 내의 데이타를 상기 입출력단자로 전송하는 동작과 상기 제2메모리 셀 어레이내의 데이타를 상기 페이지 버퍼들에 래치하는 동작을 동시에 수행하는 제4과정으로 구성됨을 특징으로 하는 불휘발성 반도체 메모리 장치의 독출방법.
- 제3항에 있어서, 상기 제2과정이 종료된 후 상기 제3과정과 제4과정이 반복적으로 수행됨을 특징으로 하는 불휘발성 반도체 메모리 장치의 독출방법.
- 플로팅게이트를 각기 가지는 메모리셀들을 포함하는 낸드 셀 유닛들이 각 비트라인마다 연결되고, 워드라인들이 상기 메모리셀들과 순차적으로 연결되는 각 비트라인에 존재하는 낸드 셀 유닛들내의 메모리 낸드구조를 가지는 불휘발성 반도체 메모리에 있어서, 상기 다수의 비트라인들 중 미리 설정된 수의 비트라인들과 그 나머지 비트라인들에 각기 구분되어 접속되고, 대응접속된 비트라인상에 나타나는 상기 메모리셀의 이진 데이타를 제1,2 저장제어신호에 응답하여 페이지 단위로 저장하는 제1,2그룹 저장수단과, 상기 워드라인들중 선택된 하나의 워드라인에 연결된 모든 메모리 셀의 데이타를 상기 제1,2그룹 저장수단에 저장시키고, 상기 제1그룹 저장수단에 저장된 모든 데이타를 입출력 단자들을 통해 순차적으로 전송시킨 후, 상기 제2그룹 저장수단에 저장된 데이타를 상기 입출력단자들을 통해 전송시킴과 동시에 상기 선택된 워드라인의 다음 워드라인에 연결된 메모리 셀들의 데이타를 상기 제1그룹 저장수단에 순차적으로 저장시키는 동작을 제어하기 위해 상기 제1,2그룹 저장수단과 연결된 독출제어수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 불휘발성 반도체 메모리.
- 제5항에 있어서, 상기 독출제어수단은 상기 데이타 독출기간중 상기 독출 인에이블신호와 컬럼 어드레스신호들에 응답하여 상기 컬럼 어드레스신호들을 카운트업하는 컬럼어드레스 카운터와, 상기 컬럼 어드레스 카운터로부터의 카운트업된 컬럼 어드레스 신호들을 감지하여 다음 페이지 독출의 활성화를 위한 제어신호를 발생하는 컬럼 어드레스 감지회로와, 상기 컬럼 어드레스 카운터로부터 카운트업되는 열 어드레스신호들에 응답하여 상기 제1그룹 및 제2그룹 페이지버퍼에 저장된 데이타를 상기 입출력단자로 전송하기 위한 신호를 제공하는 컬럼 디코더와, 외부의 어드레스신호들을 인가받아 상기 컬럼 어드레스 카운터의 카운트업을 제어하기 위한 신호와 페이지 독출을 활성화하기 위한 신호를 발생하는 순차적 독출제어회로와 상기 카운트업된 신호와 외부 독출인에이블신호를 인가받아 독출동작을 활성화 및 종료시키기 위한 신호와 상기 제1그룹 및 제2그룹 페이지 버퍼를 각기 제어하기 위한 신호를 발생하는 독출클럭 제어신호 발생회로와, 상기 독출클럭 제어신호 발생회로로부터 발생되는 출력신호들을 인가받아 상기 비트라인의 프리차아지동작과 데이타의 저장동작 및 상기 입출력 버퍼로의 데이타 전송동작을 제어하기 위한 신호들을 발생하는 독출클럭회로로 구성됨을 특징으로 하는 불휘발성 반도체 메모리.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950032483A KR0169419B1 (ko) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | 불휘발성 반도체 메모리의 독출방법 및 장치 |
US08/722,478 US5768215A (en) | 1995-09-28 | 1996-09-27 | Integrated circuit memory devices having interleaved read capability and methods of operating same |
JP25979596A JP3652812B2 (ja) | 1995-09-28 | 1996-09-30 | 不揮発性メモリ装置及びその読出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950032483A KR0169419B1 (ko) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | 불휘발성 반도체 메모리의 독출방법 및 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970017676A KR970017676A (ko) | 1997-04-30 |
KR0169419B1 true KR0169419B1 (ko) | 1999-02-01 |
Family
ID=19428260
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950032483A Expired - Fee Related KR0169419B1 (ko) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | 불휘발성 반도체 메모리의 독출방법 및 장치 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5768215A (ko) |
JP (1) | JP3652812B2 (ko) |
KR (1) | KR0169419B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100394756B1 (ko) * | 2000-02-09 | 2003-08-14 | 가부시끼가이샤 도시바 | 비휘발성 반도체 기억 장치 |
Families Citing this family (50)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0617363B1 (en) | 1989-04-13 | 2000-01-26 | SanDisk Corporation | Defective cell substitution in EEprom array |
DE69626815T2 (de) * | 1996-09-19 | 2003-12-11 | Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza | Steuerschaltung für Ausgangspuffer, insbesondere für eine nichtflüchtige Speicheranordnung |
US5973967A (en) * | 1997-01-03 | 1999-10-26 | Programmable Microelectronics Corporation | Page buffer having negative voltage level shifter |
KR100290283B1 (ko) | 1998-10-30 | 2001-05-15 | 윤종용 | 불휘발성 반도체 메모리 장치 및 그의 워드 라인 구동 방법 |
US6469955B1 (en) | 2000-11-21 | 2002-10-22 | Integrated Memory Technologies, Inc. | Integrated circuit memory device having interleaved read and program capabilities and methods of operating same |
JP2001344987A (ja) | 2000-05-29 | 2001-12-14 | Nec Corp | 半導体記憶装置及びデータの読み出し方法 |
JP4044755B2 (ja) * | 2000-12-12 | 2008-02-06 | 三星電子株式会社 | 不揮発性半導体メモリ装置及びそれのプログラム方法 |
KR100399353B1 (ko) * | 2001-07-13 | 2003-09-26 | 삼성전자주식회사 | 시분할 감지 기능을 구비한 불 휘발성 반도체 메모리 장치및 그것의 읽기 방법 |
US7042770B2 (en) * | 2001-07-23 | 2006-05-09 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory devices with page buffer having dual registers and method of using the same |
JP3845051B2 (ja) * | 2002-09-11 | 2006-11-15 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体メモリ |
JP4357246B2 (ja) | 2003-09-16 | 2009-11-04 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置 |
US6967870B2 (en) | 2004-01-07 | 2005-11-22 | Integrated Memory Technologies, Inc. | Combination NAND-NOR memory device |
US7490283B2 (en) * | 2004-05-13 | 2009-02-10 | Sandisk Corporation | Pipelined data relocation and improved chip architectures |
DE602004010795T2 (de) * | 2004-06-24 | 2008-12-11 | Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza | Verbesserter Seitenspeicher für eine programmierbare Speichervorrichtung |
KR100609568B1 (ko) * | 2004-07-15 | 2006-08-08 | 에스티마이크로일렉트로닉스 엔.브이. | 비휘발성 메모리 장치의 페이지 버퍼 및 이를 이용한프로그램 방법과 독출 방법 |
JP4795660B2 (ja) * | 2004-09-29 | 2011-10-19 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
US7849381B2 (en) * | 2004-12-21 | 2010-12-07 | Sandisk Corporation | Method for copying data in reprogrammable non-volatile memory |
US7660167B1 (en) * | 2005-03-31 | 2010-02-09 | Cypress Semiconductor Corporation | Memory device and method for fast cross row data access |
US7206230B2 (en) * | 2005-04-01 | 2007-04-17 | Sandisk Corporation | Use of data latches in cache operations of non-volatile memories |
KR100586558B1 (ko) * | 2005-04-07 | 2006-06-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 컬럼 경로회로 |
JP4832004B2 (ja) * | 2005-06-09 | 2011-12-07 | パナソニック株式会社 | 半導体記憶装置 |
KR100694968B1 (ko) * | 2005-06-30 | 2007-03-14 | 주식회사 하이닉스반도체 | 비휘발성 메모리 장치와 그것의 멀티-페이지 프로그램,독출 및 카피백 프로그램 방법 |
KR100669349B1 (ko) * | 2005-12-02 | 2007-01-16 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리 장치 및 그것의 읽기 방법 |
US7701770B2 (en) * | 2006-09-29 | 2010-04-20 | Hynix Semiconductor Inc. | Flash memory device and program method thereof |
US20080127182A1 (en) * | 2006-11-29 | 2008-05-29 | Newport William T | Managing Memory Pages During Virtual Machine Migration |
US7542343B1 (en) * | 2007-09-21 | 2009-06-02 | Juhan Kim | Planar NAND flash memory |
US7768838B2 (en) * | 2007-10-30 | 2010-08-03 | Micron Technology, Inc. | Operating memory cells |
US7679972B2 (en) * | 2007-11-19 | 2010-03-16 | Spansion Llc | High reliable and low power static random access memory |
US8433980B2 (en) * | 2008-06-23 | 2013-04-30 | Sandisk Il Ltd. | Fast, low-power reading of data in a flash memory |
US20090327535A1 (en) * | 2008-06-30 | 2009-12-31 | Liu Tz-Yi | Adjustable read latency for memory device in page-mode access |
KR20100090541A (ko) * | 2009-02-06 | 2010-08-16 | 삼성전자주식회사 | 비트라인 바이어싱 타임을 단축하는 비휘발성 메모리 장치 및 이를 포함하는 메모리 시스템 |
US8352834B2 (en) * | 2009-11-12 | 2013-01-08 | Broadlogic Network Technologies Inc. | High throughput interleaver / deinterleaver |
US8472280B2 (en) | 2010-12-21 | 2013-06-25 | Sandisk Technologies Inc. | Alternate page by page programming scheme |
CN103262050B (zh) | 2010-12-24 | 2016-12-21 | 美光科技公司 | 对存储器的连续页面读取 |
JP5285102B2 (ja) * | 2011-03-09 | 2013-09-11 | ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション | 半導体記憶装置 |
KR101348354B1 (ko) * | 2012-05-30 | 2014-01-08 | 주식회사 디에이아이오 | 낸드 플래시 메모리 장치의 페이지 데이터 독출 방법 |
TWI570734B (zh) * | 2012-06-07 | 2017-02-11 | 美光科技公司 | 記憶體連續頁面讀取 |
KR20140093855A (ko) * | 2013-01-18 | 2014-07-29 | 삼성전자주식회사 | 불휘발성 메모리 장치를 포함하는 메모리 시스템 및 그것의 제어 방법 |
US10365966B1 (en) * | 2014-03-25 | 2019-07-30 | Marvell lnternational Ltd. | Methods and systems for wordline based encoding and decoding in NAND flash |
KR20150130848A (ko) * | 2014-05-14 | 2015-11-24 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 |
KR20170068163A (ko) * | 2015-12-09 | 2017-06-19 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 |
US9997250B2 (en) * | 2016-03-17 | 2018-06-12 | SK Hynix Inc. | Non-volatile memory device with a plurality of cache latches and switches and method for operating non-volatile memory device |
US11048649B2 (en) | 2018-10-17 | 2021-06-29 | Macronix International Co., Ltd. | Non-sequential page continuous read |
US10977121B2 (en) | 2018-10-17 | 2021-04-13 | Macronix International Co., Ltd. | Fast page continuous read |
KR102617801B1 (ko) * | 2018-10-24 | 2023-12-27 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 장치 및 그의 리드 동작 방법 |
KR102736213B1 (ko) * | 2019-09-23 | 2024-12-02 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 장치 및 그 동작 방법 |
US10957384B1 (en) | 2019-09-24 | 2021-03-23 | Macronix International Co., Ltd. | Page buffer structure and fast continuous read |
US11302366B2 (en) | 2020-03-06 | 2022-04-12 | Macronix International Co., Ltd. | Method and system for enhanced read performance in low pin count interface |
US11249913B2 (en) | 2020-03-06 | 2022-02-15 | Macronix International Co., Ltd. | Continuous read with multiple read commands |
KR20220063648A (ko) * | 2020-11-10 | 2022-05-17 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 장치, 저장 장치 및 메모리 컨트롤러의 동작 방법 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5231603A (en) * | 1985-07-22 | 1993-07-27 | Microchip Technology Incorporated | Variable page ROM |
JPH05101684A (ja) * | 1991-10-07 | 1993-04-23 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
US5297029A (en) * | 1991-12-19 | 1994-03-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor memory device |
KR960000616B1 (ko) * | 1993-01-13 | 1996-01-10 | 삼성전자주식회사 | 불휘발성 반도체 메모리 장치 |
KR0140179B1 (ko) * | 1994-12-19 | 1998-07-15 | 김광호 | 불휘발성 반도체 메모리 |
KR0142367B1 (ko) * | 1995-02-04 | 1998-07-15 | 김광호 | 열 리던던씨를 가지는 불휘발성 반도체 메모리의 소거 검증회로 |
-
1995
- 1995-09-28 KR KR1019950032483A patent/KR0169419B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-09-27 US US08/722,478 patent/US5768215A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-09-30 JP JP25979596A patent/JP3652812B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100394756B1 (ko) * | 2000-02-09 | 2003-08-14 | 가부시끼가이샤 도시바 | 비휘발성 반도체 기억 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH09106689A (ja) | 1997-04-22 |
US5768215A (en) | 1998-06-16 |
JP3652812B2 (ja) | 2005-05-25 |
KR970017676A (ko) | 1997-04-30 |
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---|---|---|
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US6717857B2 (en) | Non-volatile semiconductor memory device with cache function and program, read, and page copy-back operations thereof | |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 19950928 |
|
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 19950928 Comment text: Request for Examination of Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 19980925 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 19981010 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 19981010 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20010906 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20020906 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20030904 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20040331 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20050909 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20060928 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20071001 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20081001 Start annual number: 11 End annual number: 11 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20090914 Start annual number: 12 End annual number: 12 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20101007 Start annual number: 13 End annual number: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20110930 Year of fee payment: 14 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20110930 Start annual number: 14 End annual number: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120925 Year of fee payment: 15 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20120925 Start annual number: 15 End annual number: 15 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20140909 |