+

JP5598831B2 - 走査式測距装置 - Google Patents

走査式測距装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5598831B2
JP5598831B2 JP2007229828A JP2007229828A JP5598831B2 JP 5598831 B2 JP5598831 B2 JP 5598831B2 JP 2007229828 A JP2007229828 A JP 2007229828A JP 2007229828 A JP2007229828 A JP 2007229828A JP 5598831 B2 JP5598831 B2 JP 5598831B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
measurement
deflecting
scanning
deflection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2007229828A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009063339A (ja
Inventor
利宏 森
真一 佃
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hokuyo Automatic Co Ltd
Original Assignee
Hokuyo Automatic Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hokuyo Automatic Co Ltd filed Critical Hokuyo Automatic Co Ltd
Priority to JP2007229828A priority Critical patent/JP5598831B2/ja
Publication of JP2009063339A publication Critical patent/JP2009063339A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5598831B2 publication Critical patent/JP5598831B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Description

本発明は、測定対象空間に測定光を走査して、測定光と測定対象空間に存在する測定対象物からの反射光に基づいて測定対象物までの距離を測定する走査式測距装置に関する。
この種の走査式測距装置は、ロボットや無人車の視覚認識センサとしてのナビゲーション用センサ、或いは、ドアの開閉センサや危険な装置に人や物が近づくのを検出し、機械を安全に停止する安全センサ、車の形状を検出して車種の判別および通過する車の数をカウントするETCシステム用センサ、人を検出して人数をカウントして込み具合や、人の流れを検出する検出用センサ、さらには、監視領域への侵入者の有無を検出する監視センサ等に利用され、測定光を出力する投光部と、投光部から出力された測定光を測定対象空間に向けて走査する走査部と、測定対象空間に存在する測定対象物からの反射光を検出する受光部を備え、測定光と受光部で検出された反射光に基づいて測定対象物までの距離が測定される。
このような走査式測距装置として、特許文献1には、図13に示すように、レーザ光源504とレンズ505を備えた投光部と、受光レンズ508とフォトダイオード等の受光素子509を備えた受光部と、モータ502の回転軸501に取り付けた投受光用ミラー503と、投光部からの測定光を投受光用ミラー503に向けて偏向する反射ミラー506を備え、投受光用ミラー503により測定対象空間に向けて偏向された測定光のうち、測定対象空間内の障害物507からの反射光が投受光用ミラー503で受光部509に向けて偏向されるように構成され、モータ502の回転により測定光が水平面内で走査される走査式測距装置500が提案されている。
また、特許文献2には、図14に示すように、投光部201と、投光部201から出力された測定光の光軸P上に対向配置された受光部202と、モータ210により光軸P周りに回転駆動されるキャップ部材204と、光軸Pに対して所定の傾斜角度でキャップ部材204の上壁上面に配置され、且つ、投光部200からの測定光を光軸Pと直角方向に向けて偏向する投光ミラー206と、光軸Pに対して所定の傾斜角度でキャップ部材204の上壁下面に固定され、且つ、測定対象空間に出力された測定光のうち障害物Rからの反射光を受光部202に向けて偏向する受光ミラー208を備えた走査式測距装置200が提案されている。
米国特許5,455,669号明細書 特開2006−349449号公報
上述した特許文献1に開示された走査式測距装置は、投光部から測定対象空間へ測定光を偏向する偏向ミラーと、測定対象空間から受光部へ反射光を偏向する偏向ミラーが、一枚の投受光用ミラー503で兼用され、光路径が大きな反射光をミラーの周辺部で受光部に向けて偏向するために、投受光用ミラー503を面積が広い偏向面に形成する必要があり、さらには、反射光を受光部に導く光路長が長くなるため、受光レンズ508の口径が大きくなり、装置の小型化が困難になるという問題が内在している。
特許文献2に開示された走査式測距装置は、投光ミラー206及び受光ミラー208がキャップ部材204の上壁部を介して相互に近接して配置されているので、投光ミラーの投光光軸と受光ミラーの受光光軸の光軸間距離も必然的に小さくなり、近距離での死角を実用上問題の無い程度まで小さくでき、また、受光レンズ209がキャップ部材204のうち受光ミラーの入射側に設けられているので、受光ミラーを小さくでき、走査式測距装置を小型化できる。
しかし、投光ミラー206と受光ミラー208がキャップ部材204によって分離され、測定光と反射光の光路が分離されているため、故意または不注意で透明窓に当接するように遮光シート等が貼られた場合に、投光部201から出力された測定光が遮光シートから反射しても反射光が受光部に入光せず、走査式測距装置としての機能が損なわれ、監視センサ等の用途で信頼性が確保できなくなるという問題があった。
本発明の目的は、上述した問題点に鑑み、小型化を可能としながらも、光学窓が遮光シート等で覆われたことが容易に検出できる安価な走査式測距装置を提供する点にある。
この目的達成をするため、本発明による走査式測距装置の第一の特徴構成は、特許請求の範囲の書類の請求項1に記載した通り、投光部から出力された測定光を測定対象空間に向けて偏向する第一偏向部材と、前記測定対象空間に存在する測定対象物からの反射光を集光する受光レンズと、前記受光レンズを透過した反射光を、前記第一偏向部材を挟んで前記投光部と対向配置された受光部に向けて偏向する、前記第一偏向部材と偏向面が異なる第二偏向部材とを備えた光学系と、前記光学系を所定の軸心周りに回転させる走査機構を備え、測定光と前記受光部で検出された反射光に基づいて前記測定対象物までの距離を測定する走査式測距装置であって、前記第一偏向部材によって偏向された測定光を、前記第二偏向部材への反射光の入射光路内にある領域であって、当該入射光路の光軸から入射光の径方向に離隔した領域から出力する光学部材を前記走査機構に備えている点にある。
上述の構成によれば、第一偏向部材によって偏向された測定光が第二偏向部材への反射光の入射光路内にある領域であって、当該入射光路の光軸から入射光の径方向に離隔した領域から出力されるため、光学窓に遮光シート等が貼り付けられた場合でも、遮光シート等からの反射光の一部が入射光路に沿って第二偏向部材へ入射するようになり、そのような測定光と反射光に基づいて至近距離に遮光シート等の異物が存在することを確実に検出できるようになる。
同第二の特徴構成は、同請求項2に記載した通り、上述の第一特徴構成に加えて、受光レンズのうち、前記第二偏向部材への反射光の入射光路内にある領域であって、前記測定光が通過する領域が切り欠かれている点にある。
上述の構成によれば、前記第一偏向部材によって偏向された測定光が、受光レンズの切り欠かれた領域を通過するので、測定光が受光レンズにより屈折することなく、適切に測定対象空間に向けて出力することができる。
同第三の特徴構成は、同請求項3に記載した通り、上述の第一特徴構成または第二特徴構成に加えて、前記光学部材が、前記第二偏向部材と、前記第二偏向部材の偏向面のうち前記走査方向に沿った領域の一部に偏向面が延出形成された前記第一偏向部材で構成されている点にある。
上述の構成によれば、第一偏向部材の偏向面のうち、第二偏向部材への延出領域から測定対象空間に出力された測定光が遮光シート等の異物に反射すると、反射光の一部が第二偏向部材の偏向面のうち走査方向に沿って当該延出領域に隣接する領域に入光するため、光シート等の異物が存在することを確実に検出できるようになる。
同第四の特徴構成は、同請求項4に記載した通り、上述の第三特徴構成に加えて、前記第一偏向部材と第二偏向部材が一体形成されている点にある。
上述の構成によれば、第一偏向部材の偏向面と第二偏向部材の偏向面の成す角度が所定の角度となるように光学部材を一体形成することで、測定光及び反射光夫々の偏向面での入射角度及び反射角度の調整が不要となり、少ない部品点数で精度良く、走査式測距装置を容易に組み立てることができるようになる。
同第五の特徴構成は、同請求項5に記載した通り、上述の第三特徴構成または第四特徴構成に加えて、前記光学系に、前記第一偏向部材により偏向された測定光を測定対象空間に案内する筒状のガイド部材を備えている点にある。
上述の構成によれば、第一偏向部材により偏向された測定光が筒状のガイド部材の中を通過して測定対象空間に案内されるので、投光部から出力された測定光の一部が装置内部で反射して発生する迷光が受光部で誤検出されるような不都合を解消することができる。
同第六の特徴構成は、同請求項6に記載した通り、上述の第一特徴構成に加えて、前記光学部材が、前記第一偏向部材によって偏向された測定光を、前記第二偏向部材への反射光の入射光路内から出力するように平行移動させる二つの反射面を備えた第三偏向部材で構成されている点にある。
上述の構成によれば、第一偏向部材によって測定対象空間に向けて偏向された測定光の光軸が、第三偏向部材の二つの反射面で偏向され、測定光が第二偏向部材への反射光の入射光路内から出力されるように平行移動される。
同第七の特徴構成は、請求項7に記載したとおり、上述の第六特徴構成に加え、受光レンズのうち、前記第二偏向部材への反射光の入射光路内にある領域であって、前記測定光が通過する領域が切り欠かれ、前記第三偏向部材が前記受光レンズの切欠部に配置されている点にある。
上述の構成によれば、第一偏向部材によって偏向された測定光が、受光レンズの切欠部に配置された第三偏向部材を通過するので、測定光が受光レンズにより屈折することなく、適切に測定対象空間に向けて出力することができる。
以上説明したように、本発明によれば、小型化を可能としながらも、光学窓が遮光シート等で覆われたことが容易に検出できる安価な走査式測距装置を提供することができるようになった。
以下、本発明による走査式測距装置の第一の実施形態について説明する。
図1に示すように、本発明による走査式測距装置1は、横断面視で略半円形状の湾曲面に形成された光透過性の光学窓2aが上部ハウジング21と下部ハウジング22の間に配置され、上部ハウジング21の正面には装置1の状態が判別可能なモニタ表示部79が設けられている。光学窓2aに対向配置された背部ハウジング23の上面に装置1で検出された距離情報を外部に取り出す信号ケーブルを接続する一対のケーブルクランプ78が取り付けられている。
走査式測距装置1は、レーザ等の光源LDから出力される測定光に変調を加えて光学窓2aを通して対象物Rに照射し、対象物Rからの反射光を光学窓2aを通して受光素子PDで検出して距離を測定するもので、測定光の変調方式としてAM(Amplitude Modify)方式とTOF(Time of Flight)方式の二種類が実用化されている。
AM方式は、図11(a)及び(数1)に示すように、正弦波でAM変調された測定光とその反射光を光電変換して、それらの信号間の位相差Δφを計算し、位相差Δφから距離を演算する方式であり、TOF方式は、図11(b)及び(数2)に示すように、パルス状に変調された測定光とその反射光を光電変換し、それらの信号間の遅延時間Δtから距離を演算する方式であり、本発明が適用される走査式測距装置1は、上述の何れの方式をも採用することができるものである。
[数1]
L=Δφ・C/(4π・f)
[数2]
L=Δt・C/2
図2及び図3に示すように、走査式測距装置1は、内壁面が迷光を吸収する暗幕等の吸光部材で被覆されたハウジング21,22,23の内部に、測定光を出力する投光部3と反射光を検出する受光部5が光軸L1に沿って対向配置され、投光部3と受光部5との間に測定光を回転走査する走査機構4が配置されている。
走査機構4は、投光部3と受光部5を結ぶ光軸L1と一致する回転軸心P周りに光学系9を回転させる筒状の回転体8と、回転体8を回転駆動するモータ11を備えて構成されている。
回転体8は、下端部が縮径された円筒状の周壁部8aと天板部8bとからなり、その内周面に備えた軸受12を介して中空軸13によって回転可能に支承されている。
モータ11は、縮径された周壁部8aの下端部の外周面に取り付けられたマグネット11bでなる回転子と、ケーシング側に配置されたコイル11aでなる固定子とで構成され、コイル11aとマグネット11bとの相互作用により、回転体8が回転軸心P周りで回転可能に構成されている。
投光部3は、半導体レーザを用いた発光素子3aと、発光素子3aの駆動回路3bを備えて構成され、発光素子3aは、そこから出力される測定光の光軸L1と軸心Pが一致するように上部ハウジング21に固定配置されるとともに光軸L1上に光のビーム径を一定にする光学レンズ3cが配置されている。
受光部5は、回転軸心P上に走査機構4を挟んで投光部3と対向するように回転体8の内部に固定配置され、反射光を検出するアバランシェフォトダイオードでなる受光素子5aと、受光素子5aで光電変換された反射信号を増幅する増幅回路5bを備えて構成されている。
回転体8には、投光部3から光軸L1に沿って出力された測定光を測定対象空間に向けて90度偏向する第一偏向部材としての第一偏向ミラー9aと、測定対象空間に存在する測定対象物Rからの反射光を集光する受光レンズ9cと、受光レンズ9cを透過した反射光を光軸L1に沿って投光部3と対向配置された受光部5に向けて90度偏向する第二偏向部材としての第二偏向ミラー9bを備えた光学系9が取り付けられている。
つまり、投光部3から光軸L1に沿った光路Laで出射された測定光が、第一偏向ミラー9aで光軸L1と垂直な光軸L2に沿った光路Lbに偏向された後に、光学窓2aを通過して測定対象空間に照射され、光軸L2と平行な光軸L3に沿った光路Lcで光学窓2aを通過した測定対象物からの反射光が、受光レンズ9cで収束され、第二偏向ミラー9bにより光軸L1と等しい光軸L4に偏向されて受光部5に導かれる。
回転体8の周壁8aの一部に受光レンズ9cを取り付ける開口部8cが形成され、開口部8cに対応して天板部8bに偏向ミラー9a,9bを取り付ける切欠部8dが形成されている。
図4(a)に示すように、樹脂または光学ガラスで一体成形された光学部材90の直交する二つの平面に、金またはアルミニウムが反射部材としてコーティングされた偏向面91,92が形成され、第一偏向面91により光軸L1に対して測定光を測定対象領域に向けて90度偏向させる第一偏向ミラー9aが構成され、第二偏向面92により反射光を光軸L4に沿った受光部5に向けて90度偏向させる第二偏向ミラー9bが構成されている。
第二偏向面92の上端側中央部が切り欠かれ、当該切欠部95に第一偏向ミラー9aが延出形成されるとともに、第一偏向ミラー91の両側部に回転体8の天板部8bへの取り付け姿勢を規制する基準面93が形成され、基準面93には内周面に螺条が形成された取付穴94が形成されている。
図2及び図3に示すように、回転体8に形成された開口部8cから、一体形成された偏向ミラー9a,9bを挿入し、天板部8bに形成された切欠部8dの周面と上述の基準面93を接合させて取付穴94にビスを螺合させることにより、偏向ミラー9a,9bが回転体8に固定され、その後、開口部8cに受光レンズ9cが固定される。
受光レンズ9cのレンズ中心より上部側の一部が直線状に切り欠かれ、さらにその中央部がレンズ中心方向に一部切り欠かれた切欠部が形成されている。第一偏向ミラー9aにより偏向された測定光を測定対象空間に案内する中空筒状のガイド部材9dが回転体8の天板部8bに形成された切欠部8dに固定され、ガイド部材9dの先端側端部が受光レンズ9cに形成された切欠部から延出するように、そしてガイド部材9dの基端側端部が第一偏向ミラー9aの下端側と接当するように配置されている。即ち、受光レンズのうち前記測定光が通過する領域が切り欠かれている。
ガイド部材9dの外周は遮光部材で被覆され、第一偏向ミラー9aにより偏向された測定光がガイド部材9dの中を通過して測定対象空間に案内される。従って、投光部3から出力された測定光の一部が回転体8内部に漏れて発生する迷光が受光部5で誤検出されるような不都合を解消することができる。
上部ハウジング21と下部ハウジング22間に設けられた光学窓2aは、投光部3から出力された測定光が走査機構4により測定対象空間に照射され、測定対象空間に存在する測定対象物Rで反射した反射光が受光部5で検出されるように、上下方向に一定幅を有するとともに、上端から下端にかけて内側に僅かに傾斜するように配置され、測定光が回転軸心Pを中心として約250度範囲で走査可能に配置されている。これにより光学窓2a表面に埃等が積もりにくくしながらも、広範囲に亘る空間を走査できる。
なお、図12に示すように、前記光学窓2aは、下端から上端にかけて内側に僅かに傾斜するように配置してもよい。光学窓2aの傾斜角度及び、回転軸心Pを中心とした走査角度は、走査式測距装置の設置位置、用途に応じ適宜設定されるものである。
上述した光学部材90を採用すると、図2に示すように、第一偏向ミラー9aによって偏向された測定光が、第一偏向ミラー9aの設置角度と異なる設置角度で設置された第二偏向ミラー9bへの反射光の入射光路Lc内から出力されるようになり、光学窓2aの周囲に遮光シート等が貼り付けられた場合でも、遮光シート等からの反射光の一部が入射光路Lcに沿って第二偏向ミラー9bへ入射するようになり、そのような測定光と反射光に基づいて至近距離に遮光シート等の異物が存在することを確実に検出できるようになる。
具体的には、図5に示すように、第一偏向ミラー9aの偏向面のうち、第二偏向ミラー9bへの延出領域96から測定対象空間に出力された測定光が遮光シート等の異物に反射すると、反射光の一部が第二偏向ミラー9bの偏向面のうち走査方向に沿って当該延出領域96に隣接する領域97に入光するため、光シート等の異物が存在することが検出できる。尚、第二偏向面92に形成される切欠部95は上端側中央部に限るものではなく、測定光が第二偏向ミラー9bへの反射光の入射光路Lc内から出力されるように測定光の光路Lbが形成されるものであれば、第二偏向面92の上端側の端部に形成されるものであってもよい。
即ち、第二偏向ミラー9aと、第二偏向ミラー9bの偏向面のうち走査方向に沿った領域の一部に偏向面が延出形成された第一偏向ミラー9aで構成される上述の光学部材90が、本発明の特徴部である、第一偏向部材9aによって偏向された測定光を、第一偏向部材9bの偏向面の設置角度と異なる設置角度の偏向面を備えた第二偏向部材9bへの反射光の入射光路Lc内から出力する光学部材を構成するものである。
このような光学部材90として、図4(a)に示すものの他に、図4(b)に示すように、第一偏向ミラー9aの上端側が基準面93と面一に形成されるものや、図4(c)に示すように、第一偏向ミラー9aの上端側が基準面93と面一に形成され、且つ、第一偏向ミラー9aの下端側が第二偏向ミラー9bの偏向面から突出するように形成されるものであってもよい。何れの場合にも、投光部3から光軸L1に沿って出力された光路La内の測定光を光軸L1と垂直な方向に偏向可能な面積を有していれば良い。
回転体8の外周面に周方向に複数の光学的スリットが形成されたスリット板15aが設置されるとともに、スリット板15aの回転経路上にフォトインタラプタ15bが配置され、これらにより回転体8の走査角度を検出する走査角度検出部15が構成されている。
下部ハウジング22の上部には、走査機構4を回転制御するとともに、発光素子3aを駆動制御して、受光部5で検出された反射信号に基づいて測定対象物までの距離を算出する信号処理基板7が配置されている。
信号処理基板7では、走査角度検出部15から入力されるパルス信号に基づいて走査機構4の回転角度が算出されて、反射光に対応する測定対象物の位置する方向が把握される。
光学窓2aに対向する背部ハウジング23の内壁部に、信号処理基板7で算出される距離を補正するための基準光を導くプリズム等の導光部材17が配置されている。
走査機構4により測定光が一走査される度に、投光部3から導光部材17を介して受光部5に直接入射する基準光に基づいて、測距装置内での投光部3から受光部5までの基準距離が算出され、これに基づいて測定対象空間の対象物からの反射光に基づいて算出される距離が補正されるのである。
尚、受光部5からの出力信号線は、中空軸13の内部空間に挿通され、信号処理基板7に接続されている。
次に、本発明による走査式測距装置の第二の実施形態を説明する。
第二の実施形態は、第一偏向ミラー9aによって偏向された測定光を、第一偏向ミラー9bの偏向面の設置角度と異なる設置角度の偏向面を備えた第二偏向ミラー9bへの反射光の入射光路Lc内から出力する光学部材90の構成が、上述した第一の実施形態と相違するものである。以下では、相違点となる光学部材90の構成を中心に説明し、共通の構成要素については同符号を付して詳しい説明を省略する。
図6及び図7に示すように、走査式測距装置10に組み込まれた回転体8には、投光部3から光軸L1に沿って出力された測定光を測定対象空間に向けて90度偏向する第一偏向部材としての第一偏向ミラー9aと、測定対象空間に存在する測定対象物Rからの反射光を集光する受光レンズ9cと、受光レンズ9cを透過した反射光を光軸L1に沿って投光部3と対向配置された受光部5に向けて90度偏向する第二偏向部材としての第二偏向ミラー9bを備えた光学系9が取り付けられている。
樹脂または光学ガラスで一体成形された光学部材90の直交する二つの平面に、金またはアルミニウムが反射部材としてコーティングされた偏向面91,92が形成され、第一偏向面91により光軸L1に対して測定光を測定対象領域に向けて90度偏向させる第一偏向ミラー9aが構成され、第一偏向面92により反射光を光軸L1の延長上に沿った受光部5に向けて90度偏向させる第二偏向ミラー9bが構成されている。
光学部材90のうち偏向面91,92を挟む両側面に、回転体8の天板部8bへの取り付け姿勢を規制する基準面93が延出形成され、基準面93には内周面に螺条が形成された取付穴94が形成されている。
回転体8に形成された開口部8cから、一体形成された偏向ミラー9a,9bを挿入し、天板部8bに形成された切欠部8dの周面と上述の基準面93を接合させて取付穴94にビスを螺合させることにより、偏向ミラー9a,9bが回転体8に固定され、その後、開口部8cに受光レンズ9cが固定される。
受光レンズ9cのレンズ中心より上部側の一部が直線状に切り欠かれ、さらにその中央部がレンズ中心方向に一部切り欠かれた切欠部が形成されている。回転体8の天板部8bに形成された切欠部8eに、第三偏向部材9eが固定され、その一端が受光レンズ9cに形成された切欠部に嵌入されるように配置されている。
第三偏向部材9eは、第一偏向ミラー9aによって偏向された測定光を、第一偏向ミラー9aの偏向面の設置角度と異なる設置角度の偏向面を備えた第二偏向ミラー9bへの反射光の入射光路内から出力するように、平行移動させる二枚の偏向ミラー9f,9gと、外周が遮光部材で被覆されたミラー保持部9hを備えている。
偏向ミラー9f,9gは偏向面が対向するように配置され、ともに光軸L2に対して45度傾斜するように、外周が遮光部材で被覆されたミラー保持部9hによって保持されている。
第一偏向ミラー9aによって光軸L1に垂直な光軸L2に偏向された測定光が第三偏向ミラー9fによって光軸Lと平行な光軸に沿うように偏向され、さらに第四偏向ミラー9gによって光軸L2に平行な光軸L2´に偏向されるのである。
即ち、第一偏向部材9aによって偏向された測定光を、第一偏向部材9aの偏向面の設置角度と異なる設置角度の偏向面を備えた第二偏向部材9bへの反射光の入射光路Lc内から出力する光学部材が、第三偏向部材9eで構成されている。
従って、第一偏向ミラー9aによって偏向された測定光が、第一偏向ミラー9aの設置角度と異なる設置角度で設置された第二偏向ミラー9bへの反射光の入射光路Lc内から出力されるようになり、光学窓2aの周囲に遮光シート等が貼り付けられた場合でも、遮光シート等からの反射光の一部が入射光路Lcに沿って第二偏向ミラー9bへ入射するようになり、そのような測定光と反射光に基づいて至近距離に遮光シート等の異物が存在することを確実に検出できるようになる。
上述した実施形態では、第三偏向部材9eがミラー保持部9hに保持された一対の偏向ミラー9f,9gで構成されるものを説明したが、図8に示すように、第三偏向部材9eが偏向面が対向するように配置され、ともに光軸L2に対して45度傾斜するように平成されたプリズムで構成されるものであってもよい。
尚、第一偏向ミラー9a及び第二偏向ミラー9bは一体形成されることが取付精度等の観点で望ましいが、必ずしも一体形成されている必要は無く、第一偏向ミラー9a及び第二偏向ミラー9bが夫々別体で構成され、所定の角度で回転体8の天板部8bへ取り付けられるものであればよい。
以下に、上述した第一及び第二の実施形態で説明した走査式測距装置1,10に組み込まれた信号処理基板7により、測定光と反射光に基づいて測定対象物までの距離を測定する演算処理について説明する。
信号処理基板7には、測定光の出力タイミングに同期して受光部5により検出される基準光に基づいて測定対象物までの距離を算出するTOF方式の信号処理回路70が設けられている。
図9に示すように、信号処理回路70は、走査角度検出部15から出力された走査角度を示す角度信号に基づいて、角度信号に同期した発光駆動信号を出力する発光制御部71と、測定光が導光部材17に入射される基準回転位置に走査部4が位置しないときに、受光部5から出力された電気信号を測定光信号として検出する測定光検出部72と、走査部4が基準回転位置に位置するときに、受光部5から出力された電気信号を基準光信号として検出する基準光検出部73と、基準光検出部73で検出された基準光信号に基づいて当該走査式測距装置と測定対象物との測定距離に対する補正値を算出する補正値算出部74と、測定光検出部72で検出された測定光信号に基づいて測定距離を算出し、測定距離と補正値に基づいて最終測定距離を算出する距離算出部75と、角度信号と最終測定距離から測定対象物の位置を演算して出力するシステム制御部76等を備えて構成されている。
システムに電源が投入されると、システム制御部76からモータ制御回路77にモータ駆動信号が出力され、モータ制御回路77によりモータ11が所定速度で駆動される。
モータの回転駆動に伴って走査角度検出部15から出力されるパルス信号が発光制御部71に入力され、当該パルス信号に基づいて発光制御部71では走査部4による測定光の出力方向が把握される。
走査角度検出部15を構成するスリット板15aのスリット間隔が予め設定された回転体の基準回転位置で他の回転位置と異なるように形成され、パルス信号の波形に基づいて基準回転位置が検出され、基準回転位置からのパルス数をカウントすることにより基準回転位置からの回転角度が算出される。
図10に示すように、走査角度検出部15から出力される角度信号であるパルス信号に基づいて計測タイミングを算出したシステム制御部76から、発光制御部71に計測タイミング信号が入力されると、発光制御部71から当該計測タイミング信号を基準とする所定タイミングで投光部3に所定デューティ比の発光駆動信号S1が出力される。
発光駆動信号S1を受け取った投光部3では、駆動回路3bによって半導体レーザ3aが駆動されパルス状の測定光が出力される。
走査部4が基準回転位置に位置しないときには、出力された測定光S2(S2a)のうち測定対象物で反射した反射光S4が受光素子5aで光電変換され、増幅回路5bで増幅されて測定光検出部72に出力される。
測定光検出部72は、当該電気信号を反射信号S5aとして検出して、距離算出部75へ出力する。なお、走査部4が基準回転位置に位置する場合は、測定光検出部72は信号を検出しないように構成されている。
一方、走査部4が基準回転位置に位置する場合は、出力された測定光S2(S2b)が基準光S3として装置外部に出射されることなく上述の導光部材17を介して受光部5で検出され、増幅回路51において基準光S3の光電変換が行なわれて変換後の電気信号が信号解析可能なレベルまで増幅させられて出力される。
基準光検出部73は、当該電気信号を基準信号S5bとして検出して、補正値算出部74へ出力する。尚、走査部4が基準回転位置に位置しないときは、基準光検出部73は信号を検出しないように構成されている。
補正値算出部74では、測定光S2bに対応する発光駆動信号S1と基準信号S5bの時間差t1が算出され、時間差t1より当該走査式測距装置と測定対象物との測定距離に対する補正値ΔLを〔数2〕に基づいて算出する。尚、補正値ΔLは、〔数2〕のTに時間差t1を代入して得られる距離Lとして求められる。
距離算出部75では、測定光S2aに対応する発光駆動信号S1と反射信号S5aの時間差t2が算出され、時間差t2より測定距離L1を〔数2〕に基づいて算出する。尚、測定距離L1は、〔数2〕のTに時間差t2を代入して得られる距離Lとして求められる。
そして、距離算出部75では、算出された測定距離L1から補正値ΔLを減算することにより最終測定距離L2が算出される。
システム制御部76では、走査角度検出部15から出力される角度信号と最終測定距離L2から測定対象物の方向と位置が出力される。つまり、角度信号から走査式測距装置に対する測定対象物の方向が算出され、最終測定距離から走査式測距装置から測定対象物までの距離L2が特定される。
以上説明したように、所定周期で出力される計測タイミング信号と同周期で発光素子が間歇駆動されることにより、回転軸心Pを中心として約250度範囲の測定対象空間に位置する測定対象物の方向及び距離が求められる。
測定光検出部72または基準光検出部73では、発光駆動信号S1と反射信号S5aまたは基準信号S5bとの時間差t1、t2が、各信号の立ち上がりタイミングを基準に検出される。立ち上がりタイミングは、夫々の信号が所定の閾値を超えた時点を検出するコンパレータを設けることにより容易に検出できる。
コンパレータによる立ち上がりタイミングの検出では、反射光の強度による信号の立ち上がりの微小な変動による影響を受けて誤差が発生するため、そのような誤差を吸収するために、以下の手法を採用することができる。
例えば、反射信号または基準信号の立ち上がり波形を、例えばピーク値を示す範囲までの間で時間積分し、予めメモリに記憶された複数の積分値に夫々対応する立ち上がりタイミングの補正値マップデータから、当該積分値に対応する立ち上がりタイミングデータを導出するように構成すれば、反射信号または基準信号の立ち上がりタイミングが正確に算出できる。反射光や基準光の強度の変動に起因する立ち上がり時間の変動が、信号の積分値と相関を有するという特性を利用するものである。
さらに、反射信号または基準信号のピーク値を算出し、複数のピーク値に夫々対応する補正値を予めメモリに記憶しておいたマップデータから、当該ピーク値に対応する補正値を導出することで、コンパレータにより求められる反射信号または基準信号の立ち上がりタイミングを補正する構成であってもよい。立ち上がり時間の変動が信号のピーク値と相関を有するという特性を利用するものである。
さらに別の方法として、反射信号または基準信号を時間微分することで微分信号を生成し、微分信号の正領域の時間軸上での重心位置を、基準信号及び反射信号の立ち上がり位置として求める構成であってもよい。
また、反射信号または基準信号の立ち上がり部分の時間軸上での重心位置を算出して立ち上がりタイミングを求める方法や、反射信号または基準信号の立ち上がり部分を直線近似または多項式近似して、その近似線と出力信号のオフセットレベルとの交点の位置を立ち上がりタイミングとして算出する方法等を採用するものであってもよい。
上述の実施形態では、本発明による走査式測距装置に、パルス状に変調された測定光とその反射光を光電変換し、それらの信号間の遅延時間から距離を演算するTOF方式が採用される場合を説明したが、正弦波でAM変調された測定光とその反射光を光電変換して、それらの信号間の位相差を求め、位相差から距離を演算するAM方式が採用されるものであってもよい。
この場合、発光制御部71から発光駆動信号を受け取った投光部3からは、駆動回路3bで半導体レーザから正弦波で変調された測定光が出射される。
そして、補正値算出部74と距離算出部75では、発光素子3aから出力された測定光と増幅回路84から出力された測定光信号または基準光信号との間の位相差が算出され、算出された位相差を(数1)に代入することにより距離または補正値が算出される。
光源に用いられる発光素子は、半導体レーザに限るものではなく、発光ダイオード等の他の発光素子を用いることも可能である。
上述した何れの実施形態も、本発明の一実施例であり、走査式測距装置の具体的形状、構成、使用材料、信号処理のための回路構成等各部の具体的な構成は、本発明による作用効果を奏する範囲において適宜変更設計できることはいうまでもない。
本発明による走査式測距装置を示し、(a)は走査式測距装置の外観を示す正面図、(b)は平面図、(c)は側面図 本発明による走査式測距装置の第一の実施形態を示す概略縦断面図 本発明による走査式測距装置の第一の実施形態を示す要部の正面図 (a)は第一の実施形態を示す光学部材の斜視図、(b)は別実施形態を示す光学部材の斜視図、(c)は別実施形態を示す光学部材の斜視図 図4(a)に示す光学部材による測定光の光路及び反射光の光路の説明図 本発明による走査式測距装置の第二の実施形態を示す概略縦断面図 本発明による走査式測距装置の第二の実施形態を示す要部の正面図 本発明による走査式測距装置の別実施形態を示す要部の正面図 本発明による走査式測距装置の信号処理回路のブロック構成図 走査式測距装置の光信号波形と電気信号波形のタイミングを示す説明図 走査式測距装置の測定原理の説明図で、(a)はAM方式の説明図、(b)はTOF方式の説明図 本発明による走査式測距装置の別実施形態を示す概略縦断面図 従来の走査式測距装置の概略縦断面図 従来の走査式測距装置の概略縦断面図
1:走査式測距装置
2a:光学窓
2:ハウジング
21:上部ハウジング
22:下部ハウジング
23:背部ハウジング
3:投光部
3a:発光素子
3b:駆動回路
4:走査機構
5:受光部
5a:受光素子
5b:増幅回路
7:信号処理回路基板
8:回転体
9:光学系
9a:第一偏向ミラー
9b:第二偏向ミラー
9c:受光レンズ
9d:ガイド部材
9e:第三偏向部材
9f,9g:偏向ミラー
9h:ミラー保持部
11:モータ
15:走査角度検出部
17:導光部材
70:信号処理回路
71:発光制御部
72:測定光検出部
73:基準光検出部
74:補正値算出部
75:距離算出部
76:システム制御部
90:光学部材
91:第一偏向面91
92:第二偏向面92
93:基準面
94:取付穴

Claims (7)

  1. 投光部から出力された測定光を測定対象空間に向けて偏向する第一偏向部材と、前記測定対象空間に存在する測定対象物からの反射光を集光する受光レンズと、前記受光レンズを透過した反射光を、前記第一偏向部材を挟んで前記投光部と対向配置された受光部に向けて偏向する、前記第一偏向部材と偏向面が異なる第二偏向部材とを備えた光学系と、前記光学系を所定の軸心周りに回転させる走査機構を備え、測定光と前記受光部で検出された反射光に基づいて前記測定対象物までの距離を測定する走査式測距装置であって、
    前記第一偏向部材によって偏向された測定光を、前記第二偏向部材への反射光の入射光路内にある領域であって、当該入射光路の光軸から入射光の径方向に離隔した領域から出力する光学部材を前記走査機構に備えている走査式測距装置。
  2. 受光レンズのうち、前記第二偏向部材への反射光の入射光路内にある領域であって、前記測定光が通過する領域が切り欠かれている請求項1記載の走査式測距装置。
  3. 前記光学部材が、前記第二偏向部材と、前記第二偏向部材の偏向面のうち前記走査方向に沿った領域の一部に偏向面が延出形成された前記第一偏向部材で構成されている請求項1または2記載の走査式測距装置。
  4. 前記第一偏向部材と第二偏向部材が一体形成されている請求項3記載の走査式測距装置。
  5. 前記光学系に、前記第一偏向部材により偏向された測定光を測定対象空間に案内する筒状のガイド部材を備えている請求項3または4記載の走査式測距装置。
  6. 前記光学部材が、前記第一偏向部材によって偏向された測定光を、前記第二偏向部材への反射光の入射光路内から出力するように平行移動させる二つの偏向面を備えた第三偏向部材で構成されている請求項1記載の走査式測距装置。
  7. 受光レンズのうち、前記第二偏向部材への反射光の入射光路内にある領域であって、前記測定光が通過する領域が切り欠かれ、前記第三偏向部材が前記受光レンズの切欠部に配置されている請求項6記載の走査式測距装置。
JP2007229828A 2007-09-05 2007-09-05 走査式測距装置 Active JP5598831B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007229828A JP5598831B2 (ja) 2007-09-05 2007-09-05 走査式測距装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007229828A JP5598831B2 (ja) 2007-09-05 2007-09-05 走査式測距装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009063339A JP2009063339A (ja) 2009-03-26
JP5598831B2 true JP5598831B2 (ja) 2014-10-01

Family

ID=40558050

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007229828A Active JP5598831B2 (ja) 2007-09-05 2007-09-05 走査式測距装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5598831B2 (ja)

Families Citing this family (54)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006031580A1 (de) 2006-07-03 2008-01-17 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Verfahren und Vorrichtung zum dreidimensionalen Erfassen eines Raumbereichs
DE102009010465B3 (de) 2009-02-13 2010-05-27 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Laserscanner
US9551575B2 (en) 2009-03-25 2017-01-24 Faro Technologies, Inc. Laser scanner having a multi-color light source and real-time color receiver
DE102009015920B4 (de) 2009-03-25 2014-11-20 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102009035337A1 (de) 2009-07-22 2011-01-27 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen eines Objekts
DE102009055989B4 (de) 2009-11-20 2017-02-16 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102009055988B3 (de) 2009-11-20 2011-03-17 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US9210288B2 (en) 2009-11-20 2015-12-08 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional scanner with dichroic beam splitters to capture a variety of signals
US9113023B2 (en) 2009-11-20 2015-08-18 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional scanner with spectroscopic energy detector
DE102009057101A1 (de) * 2009-11-20 2011-05-26 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US9529083B2 (en) 2009-11-20 2016-12-27 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional scanner with enhanced spectroscopic energy detector
JP5428804B2 (ja) * 2009-11-26 2014-02-26 株式会社デンソーウェーブ 物体検出システム
US8942940B2 (en) 2010-01-20 2015-01-27 Faro Technologies, Inc. Portable articulated arm coordinate measuring machine and integrated electronic data processing system
US9607239B2 (en) 2010-01-20 2017-03-28 Faro Technologies, Inc. Articulated arm coordinate measurement machine having a 2D camera and method of obtaining 3D representations
US9879976B2 (en) 2010-01-20 2018-01-30 Faro Technologies, Inc. Articulated arm coordinate measurement machine that uses a 2D camera to determine 3D coordinates of smoothly continuous edge features
US9628775B2 (en) 2010-01-20 2017-04-18 Faro Technologies, Inc. Articulated arm coordinate measurement machine having a 2D camera and method of obtaining 3D representations
DE102010020925B4 (de) 2010-05-10 2014-02-27 Faro Technologies, Inc. Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102010032726B3 (de) 2010-07-26 2011-11-24 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102010032723B3 (de) 2010-07-26 2011-11-24 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102010032725B4 (de) 2010-07-26 2012-04-26 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102012100609A1 (de) 2012-01-25 2013-07-25 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102012107544B3 (de) 2012-08-17 2013-05-23 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US9513107B2 (en) 2012-10-05 2016-12-06 Faro Technologies, Inc. Registration calculation between three-dimensional (3D) scans based on two-dimensional (2D) scan data from a 3D scanner
DE102012109481A1 (de) 2012-10-05 2014-04-10 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US10067231B2 (en) 2012-10-05 2018-09-04 Faro Technologies, Inc. Registration calculation of three-dimensional scanner data performed between scans based on measurements by two-dimensional scanner
JP2014228492A (ja) * 2013-05-24 2014-12-08 リコー光学株式会社 レーザ装置
JP2015025901A (ja) 2013-07-25 2015-02-05 船井電機株式会社 レーザ走査装置
JP2015212647A (ja) 2014-05-02 2015-11-26 株式会社リコー 物体検出装置及びセンシング装置
JP6330539B2 (ja) * 2014-07-14 2018-05-30 船井電機株式会社 レーザ走査装置
US10067222B2 (en) 2014-08-01 2018-09-04 Funai Electric Co., Ltd. Laser rangefinder
JP6537011B2 (ja) 2014-08-28 2019-07-03 株式会社リコー 光走査装置、物体検出装置及びセンシング装置
JP2016133341A (ja) 2015-01-16 2016-07-25 株式会社リコー 物体検出装置、センシング装置、移動体装置及び物体検出方法
JP6547942B2 (ja) 2015-03-05 2019-07-24 株式会社リコー 半導体レーザ駆動装置、光走査装置、物体検出装置及び移動体装置
JP6671629B2 (ja) 2015-03-18 2020-03-25 株式会社リコー 物体検出装置、センシング装置、及び移動体装置
JP2017032552A (ja) 2015-08-05 2017-02-09 株式会社リコー パルス光検出装置、物体検出装置、センシング装置、移動体装置及びパルス光検出方法
JP6700575B2 (ja) 2015-09-25 2020-05-27 株式会社リコー 回路装置、光検出器、物体検出装置、センシング装置、移動体装置、光検出方法、及び物体検出方法
JP6672715B2 (ja) * 2015-11-05 2020-03-25 船井電機株式会社 測定装置
JP2017090137A (ja) * 2015-11-06 2017-05-25 アイシン精機株式会社 測距装置
JP2017090135A (ja) * 2015-11-06 2017-05-25 アイシン精機株式会社 測距装置
DE102015122844A1 (de) 2015-12-27 2017-06-29 Faro Technologies, Inc. 3D-Messvorrichtung mit Batteriepack
JP6676974B2 (ja) * 2016-01-14 2020-04-08 コニカミノルタ株式会社 対象物検出装置
JP6780308B2 (ja) 2016-06-10 2020-11-04 株式会社リコー 物体検出装置、センシング装置及び移動体装置
KR101861433B1 (ko) * 2016-06-30 2018-05-25 광주과학기술원 라이다 장비의 광학계
JP6819098B2 (ja) 2016-07-01 2021-01-27 株式会社リコー 物体検出装置、センシング装置及び移動体装置
CN116482647A (zh) * 2017-02-17 2023-07-25 北阳电机株式会社 物体捕捉装置
JP6893428B2 (ja) * 2017-03-17 2021-06-23 大成建設株式会社 距離計測機および掘削状況管理システム
JP2019078631A (ja) 2017-10-24 2019-05-23 シャープ株式会社 パルス光照射受光装置、および光レーダー装置
JP7135350B2 (ja) 2018-03-13 2022-09-13 株式会社リコー 物体検出装置、移動体装置及び物体検出方法
JP7234816B2 (ja) * 2019-06-11 2023-03-08 株式会社デンソー 測距装置
WO2021019903A1 (ja) * 2019-07-26 2021-02-04 パナソニックIpマネジメント株式会社 レーザレーダ
JPWO2021019902A1 (ja) * 2019-07-26 2021-02-04
CN114981678A (zh) * 2019-12-17 2022-08-30 日本先锋公司 传感器装置及壳体
JP7424273B2 (ja) * 2020-11-06 2024-01-30 株式会社デンソー レーザレーダ装置
JP2025015890A (ja) * 2023-07-21 2025-01-31 株式会社トプコン 測量装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0365995U (ja) * 1989-10-27 1991-06-26
JPH07154909A (ja) * 1993-11-26 1995-06-16 Sumitomo Electric Ind Ltd 架空電線の線下物体距離測定装置
JP3137307B2 (ja) * 1993-12-27 2001-02-19 アステックス株式会社 全方位距離検出装置
JPH09152483A (ja) * 1995-11-29 1997-06-10 Nikon Corp 光波測距装置
JP2001311612A (ja) * 2000-04-28 2001-11-09 Minolta Co Ltd 形状入力装置
JP3726720B2 (ja) * 2001-07-05 2005-12-14 ソニー株式会社 投受光デバイス構造
JP3915742B2 (ja) * 2003-06-20 2007-05-16 株式会社デンソー 車両用物体認識装置
JP3908226B2 (ja) * 2004-02-04 2007-04-25 日本電産株式会社 スキャニング型レンジセンサ
JP2007170917A (ja) * 2005-12-20 2007-07-05 Hokuyo Automatic Co 光走査装置および被測定物検出装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009063339A (ja) 2009-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5598831B2 (ja) 走査式測距装置
US8305561B2 (en) Scanning-type distance measuring apparatus
JP4098341B1 (ja) 走査式測距装置の光学窓汚れ検出装置
JP4160611B2 (ja) 走査式測距装置
JP2009229255A (ja) 走査式測距装置
JP5804467B2 (ja) 信号処理装置、及び走査式測距装置
JP4116052B2 (ja) 測距装置
JP5310098B2 (ja) レーザ距離測定装置
CN107918118B (zh) 一种激光雷达
JP5900722B2 (ja) 走査式測距装置の信号処理装置、信号処理方法、及び走査式測距装置
US8300215B2 (en) Optical sensor operating on the transit time principle
US7388655B2 (en) High-precision laser rangefinder using burst emission
JP2013210378A (ja) レーザレーダ装置
JPH08122061A (ja) 障害物検知装置
JP2009236774A (ja) 三次元測距装置
JP2008111855A (ja) 走査式測距装置
JP5765698B2 (ja) マルチ信号処理装置、測距装置、及びマルチ測距システム
US8045182B2 (en) Location detection apparatus
JP7659701B2 (ja) レーザースキャナ
JP2011122999A (ja) 光導波路装置および校正システム
JP2005308483A (ja) 風速計
JP4317441B2 (ja) 光電センサの検出ヘッド及び投光ヘッド並びにウエハ検出センサの検出ヘッド
JPH0567418A (ja) 光センサ
WO2014157511A1 (ja) 反射光測定装置
JP2002031684A (ja) 反射測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20091217

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100308

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20100309

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110815

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111101

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120731

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120921

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130514

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130627

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20140304

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140516

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20140526

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140715

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140805

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5598831

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

点击 这是indexloc提供的php浏览器服务,不要输入任何密码和下载