JPH02171023A - Level conversion circuit - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はレベル変換回路に関し、特にTTLレベルとC
MOSレベル間のレベル変換回路に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a level conversion circuit, and particularly to a level conversion circuit that converts between TTL level and C
This invention relates to a level conversion circuit between MOS levels.
従来、この種のレベル変換回路には、TTLレベルの入
力信号をゲート入力とし、CMOSレベルの最高および
最低電位間で構成、動作するインバータ回路が用いられ
ていた。Conventionally, this type of level conversion circuit has used an inverter circuit that receives a TTL level input signal as a gate input and is configured and operated between the highest and lowest CMOS level potentials.
以下、図を参照して、従来技術について説明する。第4
図において、CMOSレベルの最高電位v1.D(通常
5.0V)および最低電位VGND(通常OV)間にP
チャネル型絶縁ゲート電界効果トランジスタ(以下PM
O8Tと略記する)Q41およびNチャネル型絶縁ゲー
ト電界効果トランジスタ(以下NMO3Tと略記する)
Q4□からなるインバータ回路が構成され、PMO8T
Q41およびNMO8T Q、□のゲートには入力
端子INが共通に接続され、これらのMO8Tの接続節
点には出力端子OUTが接続される。このような構成に
おいて、入力端子INにTTLレベル(通常0.8〜2
.2V)の入力信号が入力されると、出力端子OUTに
はCMOSレベルの出力信号が出力される。The prior art will be described below with reference to the drawings. Fourth
In the figure, the highest potential of CMOS level v1. P between D (usually 5.0V) and the lowest potential VGND (usually OV)
Channel type insulated gate field effect transistor (PM
Q41 (abbreviated as O8T) and N-channel type insulated gate field effect transistor (abbreviated as NMO3T below)
An inverter circuit consisting of Q4□ is configured, and PMO8T
The input terminal IN is commonly connected to the gates of Q41 and NMO8T Q, □, and the output terminal OUT is connected to the connection node of these MO8T. In such a configuration, the input terminal IN has a TTL level (usually 0.8 to 2
.. When an input signal of 2V) is input, a CMOS level output signal is output to the output terminal OUT.
通常PMO8Tのしきい値電圧は−0,4〜−1,0v
程度に設定され、NMO8Tのしきい値電圧は0.4〜
1.Ov程度に設定されている。Normally the threshold voltage of PMO8T is -0.4 to -1.0v
The threshold voltage of NMO8T is set to about 0.4~
1. It is set to about Ov.
入力端子INにTTLレベルの高“High’レベルが
入力されたとき、入力端子INに印加される電圧は2、
O〜2.4 V程度であり、PMO8TQ41のゲート
・ソース間電圧がそのしきい値電圧以下にならないため
、完全に非導通状態とならない。更に、N M OS
T Q s 2もそのゲート・ソース間電圧がしきい電
圧を越えはするものの、CMOSレベルの’High’
レベルよりも低いため、その電流特性の飽和領域ま
で達しない。When a high TTL level “High” level is input to the input terminal IN, the voltage applied to the input terminal IN is 2,
Since the voltage between the gate and source of PMO8TQ41 does not fall below its threshold voltage, it does not become completely non-conductive. Furthermore, N M OS
Although the gate-source voltage of T Q s 2 exceeds the threshold voltage, it is 'High' at the CMOS level.
Since it is lower than the current level, it does not reach the saturation region of its current characteristics.
この時、出力端子OUTにCMOSレベルの低’L o
w’ レベルを出力するため、従来のレベル変換回
路テkt、 P M OS T Q s IとNMO3
T Q4!17)電流能力比をPMO8T Q4.よ
りNMOS TQ41の方が大きくなるように設定して
いる。そしてPMO8TとNMO8Tの静的特性により
電流能力比は、β、:β、=1:4〜10程度に決めら
れる。At this time, the CMOS level low 'L o' is applied to the output terminal OUT.
In order to output the w' level, conventional level conversion circuits TEkt, PMOSTQs I and NMO3 are used.
T Q4!17) Change the current capacity ratio to PMO8T Q4. The NMOS TQ41 is set to be larger than that. Based on the static characteristics of PMO8T and NMO8T, the current capacity ratio is determined to be β, :β, = about 1:4 to 10.
近年、MO3LSIはチップの縮少化と動作の高速化が
進み、縮少化によってチップ内配線は微細化され、チッ
プ内の電源、GND用配線も微細化され、自己インダク
タンスの増大を招いている。In recent years, MO3LSI chips have become smaller and their operation speeds have increased, and as the chips have become smaller, the wiring within the chip has become smaller, and the wiring for power supply and GND within the chip has also become smaller, leading to an increase in self-inductance. .
また入出力において、TTLレベルとCMOSレベルの
互換機能を有するLSIは、出力バッファに電流能力の
大きなMOS)ランジスタを使用するため、そのMOS
)ランジスタのon、offによる電流勾配d i /
d tはMO3LSIのアクセスが高速化するととも
に大きくなっている。In addition, in input/output, LSIs with TTL level and CMOS level compatible functions use MOS transistors with large current capacity for output buffers, so the MOS
) Current gradient d i / due to transistor on/off
dt becomes larger as the access speed of MO3LSI becomes faster.
このような配線の微細化による自己インダクタンスの増
大と、アクセスの高速化に伴うdi/dtの増大によっ
て、たとえば、入力レベルの変化時に、内部回路が動作
することにより、チップ内部の電源、接地電位の揺れが
増大する傾向にある。Due to the increase in self-inductance due to the miniaturization of wiring and the increase in di/dt due to faster access, for example, when the input level changes, the internal circuit operates, causing the power supply and ground potential inside the chip to decrease. tremors tend to increase.
上記の状況において、従来のレベル変換回路は、回路を
構成するPMO3TとNMO8Tの静的特性によって動
作レベルが決定されるため、電源。In the above situation, the operating level of the conventional level converter circuit is determined by the static characteristics of the PMO3T and NMO8T that make up the circuit, so the power supply is limited.
接地電位の揺れにより、誤動作を起こす欠点があった。This had the disadvantage of causing malfunctions due to fluctuations in ground potential.
以下にその誤動作について第4図、第5図を用いて詳説
する。The malfunction will be explained in detail below using FIGS. 4 and 5.
入力端子INにTTLレベルのLow’ レベルの入
力電圧VINが印加されている場合、出力端子OUTに
はCMOSレベルの°High’ レベルの出力電圧
V。tlTが与えらhる。・次に時刻T1で入力電圧v
工がTTLレベルの“Low’ レベルからHigh’
レベルへ変化した時、NMOS TQ4□のソース・
ゲート間電圧はvlとなり、またP M OS T Q
41とNMOS T Q4□の電流能力比はNMO3
T Q41の方が大きく設定されているため、出力電圧
V。tlTはCMOSレベルの“Low’レベルとなる
。この出力信号は内部回路に伝達され、内部回路の動作
が始まる。そのため、配線容量への充放電、CMOSイ
ンバータ回路での貫通電流等により、このレベル変換回
路を含むCMO5LSIの動作電流が増加し、d i
/ d tのピークとなった時刻T2において、接地電
位が変動するため、NMO3T Q4□のソース電位が
上昇し、そのゲート・ソース間電圧はv2と減少し、静
的特性によって設定されたP M OS T Q 4
1のNMO8TQ42の電流能力比を保てなくなる。こ
のため、見かけ上、入力電圧V□、が“High’
レベルカラ “Low’ レベルへ変化したこととな
り、出力電圧VourはCMOSレベルの’L o w
’状態を維持できなくなり、第5図V。。7′に示すよ
うにHigh’ レベルへ変移する現象が生じる。When an input voltage VIN of a TTL level Low' level is applied to the input terminal IN, an output voltage V of a CMOS level High' level is applied to the output terminal OUT. tlT is given.・Next, at time T1, the input voltage v
The process changes from “Low” level of TTL level to High’ level.
When the level changes, the source of NMOS TQ4□
The voltage between the gates is vl, and P M O S T Q
The current capacity ratio of 41 and NMOS T Q4□ is NMO3
Since TQ41 is set higher, the output voltage V. tlT becomes the "Low" level of the CMOS level. This output signal is transmitted to the internal circuit, and the internal circuit starts operating. Therefore, due to charging and discharging of the wiring capacitance, through current in the CMOS inverter circuit, etc., this level The operating current of CMO5LSI including the conversion circuit increases, and di
/ d At time T2 when t peaks, the ground potential fluctuates, so the source potential of NMO3T Q4□ rises, its gate-source voltage decreases to v2, and P M set by the static characteristics OS TQ 4
The current capacity ratio of NMO8TQ42 of 1 cannot be maintained. Therefore, the input voltage V□ appears to be “High”.
The level has changed to “Low” level, and the output voltage Vour is “Low” of CMOS level.
'It becomes impossible to maintain the condition, Figure 5 V. . As shown in 7', a phenomenon of transition to High' level occurs.
また、接地電位の変動を考慮してPMO8TとNMO3
Tの電流能力比を設定すると、静的特性によって設定さ
れる時に比べ、NMO3Tの電流能力をPMO8Tの電
流能力よりもさらに大きくする必要があり、そのため、
NMO8Tのサイズが大きくなる。さらに、PMO8T
とNMOS Tの電流能力が大きく違っているため、出
力信号の立上り波形が立下り波形に比べて遅くなり、入
力の変化による応答時間が立上りと立下りで大きく異な
り、高速動作に適さないという欠点がある。In addition, considering the fluctuation of ground potential, PMO8T and NMO3
When setting the current capacity ratio of T, compared to when it is set based on static characteristics, it is necessary to make the current capacity of NMO3T even larger than that of PMO8T, and therefore,
The size of NMO8T increases. Furthermore, PMO8T
Since the current capabilities of NMOS T and NMOS T are significantly different, the rising waveform of the output signal is slower than the falling waveform, and the response time due to input changes is significantly different between rising and falling, which is a disadvantage that it is not suitable for high-speed operation. There is.
本発明の目的は、上記課題を解決し、接地電位の変動に
対しても誤動作を起こさず、回路動作が高速なレベル変
換回路を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems and provide a level converter circuit that does not malfunction even with changes in ground potential and has high-speed circuit operation.
本発明のレベル変換回路は、第1および第2の電源電位
を受け、入力端に供給される信号を出力端に反転出力す
る第1の手段と、該出力端に供給される信号を一方の入
力とし、該出力端に供給される信号の遅延1反転器号を
他方の入力とする論理回路と、該論理回路の出力信号に
より前記出力端に前記第2の電源電位を供給する第2の
手段とを有する。The level conversion circuit of the present invention includes a first means for receiving first and second power supply potentials and inverting and outputting a signal supplied to an input terminal to an output terminal; a logic circuit whose input is a delay 1 inverter signal of a signal supplied to the output terminal; and a second logic circuit which supplies the second power supply potential to the output terminal according to the output signal of the logic circuit. means.
その詳しい構成は、ゲートが入力端子に接続され、ソー
スが第1の電源端子に接続され、ドレインが出力端子に
接続されたPMO8Tと、ゲートが前記入力端子に接続
され、ソースが第2の電源端子に接続され、ドレインが
前記出力端子に接続された第1のNMO3TからなるC
MOSインバータと、前記出力端子に一方の入力が接続
され、前記出力端子に遅延回路および反転器を介して他
方の入力が接続されたNORゲートを有する信号レベル
遷移検出回路と、ゲートが該信号レベル遷移検出回路の
出力端子に接続され、ソースが前記第2の電源端子に接
続され、ドレインが前記CMOSインバータの出力端子
に接続された第2のNMO3Tとを有している。Its detailed configuration includes a PMO8T whose gate is connected to an input terminal, whose source is connected to a first power supply terminal, and whose drain is connected to an output terminal; and a PMO8T whose gate is connected to the input terminal and whose source is connected to a second power supply terminal. C consisting of a first NMO3T connected to the output terminal and having its drain connected to the output terminal.
a MOS inverter; a signal level transition detection circuit having a NOR gate having one input connected to the output terminal and the other input connected to the output terminal via a delay circuit and an inverter; A second NMO3T is connected to the output terminal of the transition detection circuit, has a source connected to the second power supply terminal, and has a drain connected to the output terminal of the CMOS inverter.
このような構成により、CMOSインバータの入力端子
に入力される信号の変化に応じて信号レベル遷移検出回
路からパルス信号を発生し、第2ONMO8Tを活性化
し、CMOSインバータの出力端子に第2の電源端子の
電位を供給するものである。With this configuration, the signal level transition detection circuit generates a pulse signal in response to a change in the signal input to the input terminal of the CMOS inverter, activates the second ONMO8T, and connects the second power supply terminal to the output terminal of the CMOS inverter. It supplies the potential of
次に、本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.
第1図に本発明の第1の実施例を示す。第1図において
、CMOSレベルの最高電位vDDおよび最低電位v。FIG. 1 shows a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, the highest potential vDD and the lowest potential v of the CMOS level.
ND間E P M OS T Q r 、およびNMO
3TQ+zからなるインバータ回路が構成され、P M
OS T Q + +およびNMO8T Q、□のゲ
ートには入力端子INが共通に接続され、これらのMO
STの接続節点には出力端子OUTが接続される。また
、この出力端子OUTは、NORゲート1の一方の入力
に接続されると共に、遅延回路2および反転器3を介し
てNORゲート1の他方の入力に接続される。これらN
ORゲート1.遅延回路2および反転器3により入力信
号遷移検出回路Cを構成し、この入力信号遷移検出回路
Cの出力、すなわち、NORゲート1の出力A++は、
出力端子OUTと最低電位V。ND間に接続されたNM
OS T Q 13のゲートに入力される。ここでPM
OS T Q ++およびNMOS T Q 12は入
力端子にTTLレベルが入力された場合に、出力端子O
UTにCMOSレベルの出力が可能となるように、その
サイズは静的特性により設定される。E P M O S T Q r between NDs, and NMO
An inverter circuit consisting of 3TQ+z is constructed, and P M
The input terminal IN is commonly connected to the gates of OS T Q + + and NMO8T Q, □, and these MO
An output terminal OUT is connected to the connection node of ST. Further, this output terminal OUT is connected to one input of the NOR gate 1, and is also connected to the other input of the NOR gate 1 via the delay circuit 2 and the inverter 3. These N
OR gate 1. The delay circuit 2 and the inverter 3 constitute an input signal transition detection circuit C, and the output of the input signal transition detection circuit C, that is, the output A++ of the NOR gate 1 is as follows.
Output terminal OUT and lowest potential V. NM connected between ND
It is input to the gate of OS TQ 13. PM here
OS T Q ++ and NMOS T Q 12 output the output terminal O when a TTL level is input to the input terminal.
Its size is set by static characteristics so that the UT can provide CMOS level output.
今、入力端子INにTTLレベルの“Low’レベルが
入力されている状態では、出力端子OUTにはCMOS
レベルの“High’ レベルカ与えられるため、入
力信号遷移検出回路Cの出力A 、 1は’Low’
レベルとなり、N M OS T Q l 3はO
FF状態となっており、出力端子OUTの“High’
レベルはP M OS T Q 11とNMO8
T Q、2の静的特性によって決まる。また入力端子I
NにTTLレベルの’High’ レベルが入力され
いる状態では、出力端子OUTにはCMOSレベルの“
Low’ レベルが与えられるため、入力信号遷移検
出回路Cの出力A 1、は゛Lowレベルとなり、NM
O8T Q、3はOFF状態となり、出力端子OUT
の“Low’ レベルはPMOS T Q ++とNM
OS T Q 12 ノ静的特性によって決まる。Now, when the TTL level "Low" level is being input to the input terminal IN, the output terminal OUT is a CMOS
Since the “High” level is applied, the output A1 of the input signal transition detection circuit C is “Low”.
level, N M O S T Q l 3 is O
It is in the FF state, and the output terminal OUT is “High”.
Levels are P M O S T Q 11 and NMO 8
It is determined by the static characteristics of T Q,2. Also, input terminal I
When the 'High' level of the TTL level is input to the output terminal OUT, the 'High' level of the CMOS level is input to the output terminal OUT.
Since the Low' level is given, the output A1 of the input signal transition detection circuit C becomes the Low level, and NM
O8T Q, 3 becomes OFF state, output terminal OUT
“Low” level of PMOS TQ++ and NM
Determined by static characteristics of OS TQ12.
次に、第1図に示すレベル変換回路の入力がTTLレベ
ルのLow’ レベルから’High’レベルに変化
したときの動作を第2図を用いて説明する。今、時刻T
1で入力信号INがTTLレベルのLow’ レベル
からHigh’ レベルへ変化した場合、入力遷移検
出回路Cによってその変化が検出され、所定の時間遅延
した時刻T2において、入力信号遷移検出回路Cからの
出力信号VA11がHigh’ レベルとなり、NMO
S TQl、がon状態となる。入力インバータのPM
O8TQuとN M OS T Q l 2の電流能
力比Ra+に対するM OS T Q lr 、 Q
1□、Ql、の電流能力比RI。Next, the operation when the input of the level conversion circuit shown in FIG. 1 changes from TTL Low' level to 'High' level will be explained using FIG. 2. Now time T
1, when the input signal IN changes from TTL Low' level to High' level, the change is detected by the input transition detection circuit C, and at time T2 delayed by a predetermined time, the input signal IN changes from the TTL level Low' level to High' level. The output signal VA11 becomes High' level, and the NMO
STQl is turned on. PM of input inverter
M OS T Q lr, Q for the current capacity ratio Ra+ of O8TQu and N M OS T Q l 2
Current capacity ratio RI of 1□, Ql.
との関係は、それぞれの電流能力をβ。11.βQ1□
。The relationship between β and the current capacity of each is β. 11. βQ1□
.
βQI3とすると、
R2,=β。1、/(βQ12+β。+3) <Ra+
=βQ1、/βQ1□となる。すなわち、NMO3T
Q、、がONとなった状態の電流能力比Rβ1はRβ1
に比べ、小さく設定されるため、NMO3Tのソース電
位(接地電位)が0MO8LSIの動作電流変化によっ
て変動しても、出力電圧V。LITのレベルはCMOS
レベルの“Low’ レベルを維持できる。If βQI3, then R2,=β. 1, /(βQ12+β.+3) <Ra+
=βQ1, /βQ1□. That is, NMO3T
The current capacity ratio Rβ1 when Q, , is ON is Rβ1
Since it is set smaller than V, even if the source potential (ground potential) of NMO3T fluctuates due to changes in the operating current of 0MO8LSI, the output voltage V. LIT level is CMOS
level can be maintained at “Low” level.
第3図は本発明の第2の実施例の回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram of a second embodiment of the present invention.
P M OS T Q 21およびN M OS T
Q 2mからなるCMOSインバータ回路のゲートには
共通に入力端子INが接続され、これらの接続節点に出
力端子OUTが接続されている。このCMOSインバー
タ回路のP M OS T Q 2!は、ゲートにチ
ップ選択信号等の内部制御信号φ1が入力されるPMO
S T QHを介して電源電位VDりに接続される。ま
た、出力端子OUTと接地電位V。ND間にはNMO3
T Q2.およびQ25が並列に接続され、NMOS
T Q 24のゲートには内部制御信号φ1が入力され
、N M OS T Q 25のゲートには入力信号遷
移検出回路Cの出力Allが接続される。本実施例では
、PMO8T Q2+、Q2□およびNMOSTQ23
1 Q24により、NOR回路が形成され、このNOR
回路は内部制御信号φ1により制御されるため、レベル
変換回路が非選択時には定常電流が流れないと言う利点
がある。P M O S T Q 21 and N M O S T
An input terminal IN is commonly connected to the gates of the CMOS inverter circuits consisting of Q2m, and an output terminal OUT is connected to these connection nodes. P M O S T Q 2 of this CMOS inverter circuit! is a PMO whose gate receives an internal control signal φ1 such as a chip selection signal.
It is connected to the power supply potential VD via S T QH. Also, the output terminal OUT and the ground potential V. NMO3 between ND
TQ2. and Q25 are connected in parallel, NMOS
The internal control signal φ1 is input to the gate of T Q 24, and the output All of the input signal transition detection circuit C is connected to the gate of NMOS T Q 25. In this example, PMO8T Q2+, Q2□ and NMOSTQ23
1 A NOR circuit is formed by Q24, and this NOR
Since the circuit is controlled by the internal control signal φ1, there is an advantage that no steady current flows when the level conversion circuit is not selected.
以上説明したように、本発明は、信号レベル遷移検出回
路により入力信号の変化を検出することにより、入力信
号の変化直後の0MO8LSIの電源、接地電位が変動
する期間だけ一時的にレベル変換回路を構成するPMO
8TとNMO8Tの電流能力比を変化させることにより
、誤動作を防ぎ、かつ入力の変化による出力の応対時間
が立上りと立下りで大きく異なることのないレベル変換
回路を実現できる効果がある。As explained above, the present invention detects a change in an input signal using a signal level transition detection circuit, thereby temporarily converting a level conversion circuit only during the period when the power supply and ground potential of the 0MO8LSI changes immediately after the change in the input signal. Constituent PMO
By changing the current capability ratio of 8T and NMO8T, it is possible to prevent malfunctions and realize a level conversion circuit in which the output response time due to input changes does not differ greatly between rise and fall.
第1図は本発明の第1の実施例の回路図、第2図は第1
図に示したレベル変換回路の動作波形図、第3図は第2
の実施例の回路図、第4図は従来例の回路図、第5図は
従来例の動作波形図である。
IN・・・・・・入力端子、OUT・・・・・・出力端
子、C・・・・・・入力信号遷移検出回路、Q r r
* Q 21 # Q i 2 # Q 41・・・
・・・PMO8T、Ql□eQzsaQzspQzs*
Q*z・・・・・・NMO8T、φ1・・・・・・内部
制御信号、1・・・・・・NORゲート、2・・・・・
・遅延回路、3・・・・・・反転器。
代理人 弁理士 内 原 音
振 IWJ
葬 2 面
DD
VDD
手
面
芽
閏FIG. 1 is a circuit diagram of a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a circuit diagram of a first embodiment of the present invention.
The operating waveform diagram of the level conversion circuit shown in the figure, Figure 3 is
FIG. 4 is a circuit diagram of the conventional example, and FIG. 5 is an operating waveform diagram of the conventional example. IN...Input terminal, OUT...Output terminal, C...Input signal transition detection circuit, Q r r
* Q 21 # Q i 2 # Q 41...
...PMO8T, Ql□eQzsaQzspQzs*
Q*z...NMO8T, φ1...Internal control signal, 1...NOR gate, 2...
・Delay circuit, 3...Inverter. Agent Patent Attorney Uchihara Otoshin IWJ Sou 2 DD VDD Temen Mein
Claims (1)
信号を出力端に反転出力する第1の手段と、該出力端に
供給される信号を一方の入力とし、該出力端に供給され
る信号の遅延、反転信号を他方の入力とする論理回路と
、該論理回路の出力信号により前記出力端に前記第2の
電源電位を供給する第2の手段とを有し、前記第1の手
段の入力端に供給される信号の第1の電位から第2の電
位への変化によって、前記第2の手段を所定の時間活性
化することを特徴とするレベル変換回路。a first means that receives first and second power supply potentials and inverts and outputs a signal supplied to the input terminal to an output terminal; and a signal supplied to the output terminal is used as one input, and is supplied to the output terminal. a logic circuit whose other input is a delayed or inverted signal of a signal to be output, and a second means for supplying the second power supply potential to the output terminal according to an output signal of the logic circuit; 2. A level conversion circuit, characterized in that said second means is activated for a predetermined time by a change in a signal supplied to an input terminal of said means from a first potential to a second potential.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63326766A JPH02171023A (en) | 1988-12-23 | 1988-12-23 | Level conversion circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63326766A JPH02171023A (en) | 1988-12-23 | 1988-12-23 | Level conversion circuit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02171023A true JPH02171023A (en) | 1990-07-02 |
Family
ID=18191455
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63326766A Pending JPH02171023A (en) | 1988-12-23 | 1988-12-23 | Level conversion circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02171023A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006287699A (en) * | 2005-04-01 | 2006-10-19 | Kawasaki Microelectronics Kk | Level conversion circuit |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61118023A (en) * | 1984-11-14 | 1986-06-05 | Toshiba Corp | Input gate circuit of MOS type semiconductor integrated circuit |
-
1988
- 1988-12-23 JP JP63326766A patent/JPH02171023A/en active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61118023A (en) * | 1984-11-14 | 1986-06-05 | Toshiba Corp | Input gate circuit of MOS type semiconductor integrated circuit |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006287699A (en) * | 2005-04-01 | 2006-10-19 | Kawasaki Microelectronics Kk | Level conversion circuit |
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