JP2012151418A - Suction stage - Google Patents
Suction stage Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012151418A JP2012151418A JP2011010902A JP2011010902A JP2012151418A JP 2012151418 A JP2012151418 A JP 2012151418A JP 2011010902 A JP2011010902 A JP 2011010902A JP 2011010902 A JP2011010902 A JP 2011010902A JP 2012151418 A JP2012151418 A JP 2012151418A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- suction
- axis
- flat
- placement surface
- target workpiece
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R4/00—Electrically-conductive connections between two or more conductive members in direct contact, i.e. touching one another; Means for effecting or maintaining such contact; Electrically-conductive connections having two or more spaced connecting locations for conductors and using contact members penetrating insulation
- H01R4/28—Clamped connections, spring connections
- H01R4/38—Clamped connections, spring connections utilising a clamping member acted on by screw or nut
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F16—ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
- F16B—DEVICES FOR FASTENING OR SECURING CONSTRUCTIONAL ELEMENTS OR MACHINE PARTS TOGETHER, e.g. NAILS, BOLTS, CIRCLIPS, CLAMPS, CLIPS OR WEDGES; JOINTS OR JOINTING
- F16B39/00—Locking of screws, bolts or nuts
- F16B39/02—Locking of screws, bolts or nuts in which the locking takes place after screwing down
- F16B39/12—Locking of screws, bolts or nuts in which the locking takes place after screwing down by means of locknuts
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02G—INSTALLATION OF ELECTRIC CABLES OR LINES, OR OF COMBINED OPTICAL AND ELECTRIC CABLES OR LINES
- H02G7/00—Overhead installations of electric lines or cables
- H02G7/20—Spatial arrangements or dispositions of lines or cables on poles, posts or towers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
【課題】作業時間の増大や製品制度の低下を招くことなく、平坦な状態で対象ワークを保持することのできる吸着ステージを提供する。
【解決手段】露光光が結像されて所定のマスクパターンが露光される対象ワーク22を平坦な載置面40b上で保持する吸着ステージ(40)であって、載置面40bに対する対象ワーク22の姿勢を固定すべく対象ワーク22を吸着可能な固定吸着機構60と、載置面40bと面当接させるべく対象ワーク22を吸着可能な平面吸着機構70と、を備え、平面吸着機構70は、載置面40bを開口する複数の平面吸着孔71を有し、載置面40b上における任意の一点から外縁へ向けて順に各平面吸着孔71による吸着動作を開始する。
【選択図】 図18A suction stage capable of holding a target workpiece in a flat state without causing an increase in work time or a reduction in product system.
A suction stage (40) that holds a target workpiece 22 on which a predetermined mask pattern is exposed by forming an exposure light image on a flat mounting surface 40b, the target workpiece 22 against the mounting surface 40b. The fixed suction mechanism 60 capable of sucking the target work 22 to fix the posture of the head and the flat suction mechanism 70 capable of sucking the target work 22 so as to come into surface contact with the placement surface 40b. The plurality of flat surface suction holes 71 that open the mounting surface 40b are provided, and the suction operation by the flat surface suction holes 71 is started sequentially from an arbitrary point on the mounting surface 40b toward the outer edge.
[Selection] FIG.
Description
本発明は、プリント基板や液晶基板等の基板を吸着により保持する吸着ステージ、およびそれを搭載する露光装置に関する。 The present invention relates to a suction stage that holds a substrate such as a printed circuit board or a liquid crystal substrate by suction, and an exposure apparatus on which the suction stage is mounted.
フォトレジストなどの感光材料を塗布した対象ワークの表面に、所定のマスクパターンを露光装置により露光し、その後エッチング工程により基板上にマスクパターンを形成するフォトリソグラフィ法が種々の分野で広く応用されており、プリント配線基板や液晶基板等も露光装置を用いて製造されている。このような露光装置では、所定のパターンが形成されたマスクを透過した露光光を投影レンズで対象ワーク上に結像させることにより、対象ワーク上に所定のマスクパターンを形成するものがある。この露光装置では、対象ワーク上の所望の位置に結像させるために、対象ワークを吸着により保持する吸着ステージを用いることが知られている(例えば、特許文献1参照)。 A photolithography method in which a predetermined mask pattern is exposed to the surface of a target work coated with a photosensitive material such as a photoresist by an exposure apparatus and then formed on the substrate by an etching process is widely applied in various fields. In addition, printed wiring boards, liquid crystal substrates, and the like are also manufactured using an exposure apparatus. Some exposure apparatuses form a predetermined mask pattern on the target work by forming an image of the exposure light transmitted through the mask on which the predetermined pattern is formed on the target work with a projection lens. In this exposure apparatus, in order to form an image at a desired position on the target workpiece, it is known to use a suction stage that holds the target workpiece by suction (for example, see Patent Document 1).
この従来の露光装置の吸着ステージでは、載置台としての基板クランプ台に、貫通孔を通じて上下に移動可能とされた受取ピンと、穴により形成された吸着パッドと、が設けられている。この吸着ステージでは、搬送アームにより搬送された対象ワークを、基板クランプ台の載置面から突出させた受取ピンの上端で受け取り、搬送アームを退避させた後に受取ピンを下降させることにより、その対象ワークを基板クランプ台の載置面に載置させ、その対象ワークを吸着パッドで吸着することにより保持することができる。 In the suction stage of this conventional exposure apparatus, a substrate clamp table as a mounting table is provided with a receiving pin that can be moved up and down through a through hole and a suction pad formed by a hole. In this suction stage, the target workpiece transported by the transport arm is received by the upper end of the receiving pin protruding from the mounting surface of the substrate clamp table, and after the transport arm is retracted, the receiving pin is lowered to lower the target workpiece. It is possible to hold the work by placing the work on the placement surface of the substrate clamp table and sucking the target work with the suction pad.
ところで、露光装置では、露光光の結像によりマスクパターンを対象ワーク上に形成するものであることから、載置面に保持された対象ワークが結像面に対して平坦な状態であることが求められる。ところが、上記した従来の吸着ステージでは、単に面精度の高い基板クランプ台(載置面)に載置して吸着するものであることから、受取ピンにより支持された状態における対象ワークに生じている撓み(うねりや反りとも言い全体的か部分的かは問わない)を解消することは極めて困難である。そこで、載置面上の対象ワークを複数の爪で押さえつけることにより対象ワークを平坦な状態としてから、吸着パッドで吸着する構成とすることが考えられる。 By the way, in the exposure apparatus, since the mask pattern is formed on the target workpiece by imaging of exposure light, the target workpiece held on the mounting surface may be flat with respect to the imaging plane. Desired. However, in the above-described conventional suction stage, it is simply placed on the substrate clamp table (mounting surface) with high surface accuracy and sucked, so that it occurs in the target workpiece supported by the receiving pin. It is extremely difficult to eliminate the bending (whether swell or warp, whether it is whole or partial). In view of this, it is conceivable that the target work on the placement surface is pressed with a plurality of claws to make the target work flat and then sucked with a suction pad.
しかしながら、このような構成とすると、載置面に載置された対象ワーク上へと爪を出し入れする必要があることから、マスクパターンの形成に要する時間(スループット)の増大を招いてしまう。また、爪で対象ワークを押さえつけることにより当該対象ワークの表面にキズを付けてしまう虞があるとともに、爪の動作に起因して対象ワークに塵埃を付着させてしまう虞があり、製品精度の低下を招いてしまう虞がある。 However, with such a configuration, since it is necessary to put in and out the nail on the target work placed on the placement surface, the time (throughput) required for forming the mask pattern is increased. In addition, pressing the target workpiece with the nail may cause scratches on the surface of the target workpiece, and may cause dust to adhere to the target workpiece due to the movement of the nail, resulting in a decrease in product accuracy. May be invited.
本発明は、上記の事情に鑑みて為されたもので、その目的は、作業時間の増大や製品制度の低下を招くことなく、平坦な状態で対象ワークを保持することのできる吸着ステージを提供することにある。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a suction stage that can hold a target workpiece in a flat state without causing an increase in working time or a reduction in product system. There is to do.
請求項1に記載の発明は、露光光が結像されて所定のマスクパターンが露光される対象ワークを平坦な載置面上で保持する吸着ステージであって、前記載置面に対する前記対象ワークの姿勢を固定すべく該対象ワークを吸着可能な固定吸着機構と、前記載置面と面当接させるべく該対象ワークを吸着可能な平面吸着機構と、を備え、該平面吸着機構は、前記載置面を開口する複数の平面吸着孔を有し、前記載置面上における任意の一点から外縁へ向けて順に該各平面吸着孔による吸着動作を開始することを特徴とする。 The invention according to claim 1 is a suction stage for holding a target work on which a predetermined mask pattern is exposed by forming an image of exposure light on a flat mounting surface, and the target work with respect to the mounting surface described above. A fixed suction mechanism capable of sucking the target work so as to fix the posture, and a flat suction mechanism capable of sucking the target work so as to be in surface contact with the mounting surface. It has a plurality of planar suction holes that open the placement surface, and the suction operation by each of the planar suction holes is started in order from an arbitrary point on the placement surface toward the outer edge.
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の吸着ステージであって、前記平面吸着機構は、前記載置面上において、それぞれが少なくとも1つ以上の前記平面吸着孔が位置する複数の吸着区画を有し、該各吸着区画単位で前記各平面吸着孔の吸着動作を開始することを特徴とする。 Invention of Claim 2 is the adsorption | suction stage of Claim 1, Comprising: The said plane adsorption | suction mechanism is a plurality of said plane adsorption | suction holes in which each said at least 1 or more plane adsorption hole is located on the mounting surface mentioned above. It has an adsorption | suction division, The adsorption | suction operation | movement of each said plane adsorption hole is started by this each adsorption | suction division unit, It is characterized by the above-mentioned.
請求項3に記載の発明は、請求項1または請求項2に記載の吸着ステージであって、前記固定吸着機構は、前記載置面上において、上端面で前記対象ワークに吸着可能な少なくとも2つ以上の固定吸着部を有することを特徴とする。 Invention of Claim 3 is the adsorption | suction stage of Claim 1 or Claim 2, Comprising: The said fixed adsorption | suction mechanism is at least 2 which can adsorb | suck to the said object workpiece | work in an upper end surface on the said mounting surface. It has one or more fixed adsorption parts.
請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の吸着ステージであって、前記各固定吸着部は、前記対象ワークを吸着保持した状態での前記上端面の前記載置面に沿う方向の変位が可能とされていることを特徴とする。 Invention of Claim 4 is the suction stage of Claim 3, Comprising: Each said fixed adsorption | suction part is a direction along the mounting surface of the said upper end surface in the state which attracted and hold | maintained the said object workpiece | work. Displacement is possible.
請求項5に記載の発明は、請求項3または請求項4に記載の吸着ステージであって、さらに、前記載置面に対して該載置面に直交する直交方向へと進退自在とされ、上端に吸着面を有するリフトピンを備え、前記各固定吸着部は、前記載置面から前記上端面を前記直交方向に突出した状態で前記対象ワークを吸着保持可能であるとともに、前記対象ワークを吸着保持した状態で前記上端面を前記載置面と面一とすることが可能であることを特徴とする。 The invention according to claim 5 is the suction stage according to claim 3 or claim 4, and is further movable forward and backward in an orthogonal direction perpendicular to the placement surface with respect to the placement surface, A lift pin having a suction surface at an upper end is provided, and each of the fixed suction portions can suck and hold the target workpiece with the upper end surface protruding in the orthogonal direction from the placement surface, and suck the target workpiece. It is characterized in that the upper end surface can be flush with the mounting surface in the held state.
請求項6に記載の発明は、請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載の吸着ステージであって、前記平面吸着機構は、前記載置面上における中心位置から前記載置面の周縁部へ向けて、順に前記各平面吸着孔による吸着動作を開始することを特徴とする。 A sixth aspect of the present invention is the suction stage according to any one of the first to fifth aspects, wherein the flat surface suction mechanism is configured so that the placement surface is positioned from a center position on the placement surface. The suction operation by each of the flat suction holes is sequentially started toward the peripheral portion.
請求項7に記載の発明は、請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載の吸着ステージであって、前記平面吸着機構は、前記載置面上における縁部から前記載置面の中心位置を通る方向へ向けて、順に前記各平面吸着孔による吸着動作を開始することを特徴とする。 A seventh aspect of the present invention is the suction stage according to any one of the first to fifth aspects, wherein the flat surface suction mechanism is configured so that the mounting surface is moved from an edge portion on the mounting surface. The suction operation by each of the planar suction holes is started in order toward the direction passing through the center position.
請求項8に記載の発明は、請求項1ないし請求項7のいずれか1項に記載の吸着ステージであって、前記平面吸着機構は、吸着動作を開始した前記平面吸着孔における吸着状態に応じて、次の前記平面吸着孔による吸着動作を開始することを特徴とする。 The invention according to an eighth aspect is the suction stage according to any one of the first to seventh aspects, wherein the planar suction mechanism is in accordance with a suction state in the planar suction hole that has started the suction operation. Then, the suction operation by the next flat suction hole is started.
請求項9に記載の発明は、請求項1ないし請求項8のいずれか1項に記載の吸着ステージであって、前記平面吸着機構は、前記固定吸着機構により保持された前記対象ワークでの撓みに応じて、前記各平面吸着孔における吸着動作開始の順序を設定することを特徴とする。 A ninth aspect of the present invention is the suction stage according to any one of the first to eighth aspects, wherein the planar suction mechanism is bent by the target work held by the fixed suction mechanism. Accordingly, the order of the suction operation start in each of the planar suction holes is set.
請求項10に記載の発明は、前記対象ワークの基準平面に対する位置および姿勢を制御する載置ステージであって、請求項1ないし請求項9のいずれか1項に記載の吸着ステージを用いることを特徴とする。 The invention described in claim 10 is a mounting stage that controls the position and orientation of the target workpiece with respect to a reference plane, and uses the suction stage according to any one of claims 1 to 9. Features.
請求項11に記載の露光装置は、請求項1ないし請求項9のいずれか1項に記載の吸着ステージを用いることを特徴とする。 An exposure apparatus according to an eleventh aspect uses the suction stage according to any one of the first to ninth aspects.
本発明の吸着ステージによれば、平面吸着機構が、載置面における任意の一点から外縁へ向けて、順に吸着動作を開始することから、対象ワークに撓みが生じている場合であっても、その撓みによる余剰分を載置面の外側(外縁)へと逃がすことができるので、対象ワークを適切に平坦な載置面に吸着させることができる。これにより、対象ワークを平坦な状態として吸着保持することができる。 According to the suction stage of the present invention, since the flat suction mechanism starts the suction operation in order from an arbitrary point on the placement surface to the outer edge, even if the target workpiece is bent, Since the surplus due to the bending can be released to the outside (outer edge) of the placement surface, the target work can be appropriately adsorbed on the flat placement surface. Thereby, the target workpiece can be sucked and held in a flat state.
また、吸着ステージでは、平面吸着機構が、載置面を開口する複数の平面吸着孔で吸引(真空引き)することにより、対象ワークを平坦な状態とするものであることから、製品精度の低下を招いてしまうことを防止することができる。 Further, in the suction stage, the flat suction mechanism makes the target workpiece flat by sucking (evacuating) with a plurality of flat suction holes that open the mounting surface, resulting in a decrease in product accuracy. Can be prevented.
さらに、吸着ステージでは、平面吸着機構が、載置面を開口する複数の平面吸着孔で吸引(真空引き)することにより、対象ワークを平坦な状態とするものであることから、対象ワークが載置面上に載置されると直ちに各平面吸着孔での吸引(真空引き)を開始することができるので、マスクパターンの形成に要する時間(スループット)の短縮を図ることができる。 Furthermore, in the suction stage, the target workpiece is placed on the surface because the target workpiece is placed in a flat state by suction (evacuation) with a plurality of plane suction holes that open the placement surface. Immediately after being placed on the placement surface, suction (evacuation) in each planar suction hole can be started, so that the time (throughput) required for forming the mask pattern can be shortened.
上記した構成に加えて、前記平面吸着機構は、前記載置面上において、それぞれが少なくとも1つ以上の前記平面吸着孔が位置する複数の吸着区画を有し、該各吸着区画単位で前記各平面吸着孔の吸着動作を開始することとすると、平面吸着機構における吸着動作の開始のための制御を吸着区画毎に行うこととすることができるので、簡易な制御で対象ワークを平坦な状態とすることができる。 In addition to the above-described configuration, the planar suction mechanism has a plurality of suction sections each having at least one planar suction hole on the placement surface, and each of the suction section units Assuming that the suction operation of the flat suction hole is started, the control for starting the suction operation in the flat suction mechanism can be performed for each suction section. can do.
上記した構成に加えて、前記固定吸着機構は、前記載置面上において、上端面で前記対象ワークに吸着可能な少なくとも2つ以上の固定吸着部を有することとすると、簡易な構成で、固定吸着機構で吸着保持することにより、対象ワークの姿勢が変化することを防止することができる。 In addition to the configuration described above, the fixed suction mechanism can be fixed with a simple configuration on the placement surface with at least two or more fixed suction portions that can be suctioned to the target workpiece on the upper end surface. By holding the suction by the suction mechanism, it is possible to prevent the posture of the target workpiece from changing.
上記した構成に加えて、前記各固定吸着部は、前記対象ワークを吸着保持した状態での前記上端面の前記載置面に沿う方向の変位が可能とされていることとすると、対象ワークの姿勢を維持しつつ、平面吸着機構による段階的な吸着動作により対象ワークにおいて撓みによる余剰分を外側へと逃がすことの妨げとなることを防止することができる。 In addition to the above-described configuration, each of the fixed suction portions can be displaced in a direction along the placement surface of the upper end surface in a state where the target workpiece is sucked and held. While maintaining the posture, it is possible to prevent the surplus due to the bending of the target workpiece from being hindered to escape outside by the stepwise suction operation by the flat suction mechanism.
上記した構成に加えて、さらに、前記載置面に対して該載置面に直交する直交方向へと進退自在とされ、上端に吸着面を有するリフトピンを備え、前記各固定吸着部は、前記載置面から前記上端面を前記直交方向に突出した状態で前記対象ワークを吸着保持可能であるとともに、前記対象ワークを吸着保持した状態で前記上端面を前記載置面と面一とすることが可能であることとすると、リフトピンとの間での対象ワークの保持状態の移行の際の当該対象ワークへの負荷を抑制することができる。 In addition to the above-described configuration, the fixed suction portion further includes a lift pin that is movable forward and backward in an orthogonal direction perpendicular to the placement surface with respect to the placement surface, and has a suction surface at an upper end. The target work can be sucked and held with the upper end surface protruding in the orthogonal direction from the placement surface, and the upper end surface is flush with the placement surface in a state where the target work is sucked and held. If this is possible, it is possible to suppress the load on the target workpiece during the transition of the holding state of the target workpiece between the lift pins.
また、対象ワークの姿勢を維持しつつ当該対象ワークを静かに載置面上に載置することができる。 Further, the target workpiece can be quietly placed on the placement surface while maintaining the posture of the target workpiece.
上記した構成に加えて、前記平面吸着機構は、前記載置面上における中心位置から前記載置面の周縁部へ向けて、順に前記各平面吸着孔による吸着動作を開始することとすると、対象ワークにおいて寄せられる余剰分に偏りが生じることをより抑制することができるので、固定吸着機構の各固定吸着部の吸着により決められた位置および姿勢をより確実に維持しつつ平坦化することができる。 In addition to the above-described configuration, the planar suction mechanism is configured to start the suction operation by each of the planar suction holes in order from the center position on the placement surface to the peripheral portion of the placement surface. Since it is possible to further suppress the occurrence of bias in the surplus that is brought close to the work, it is possible to flatten while maintaining the position and posture determined by the suction of each fixed suction portion of the fixed suction mechanism more reliably. .
上記した構成に加えて、前記平面吸着機構は、前記載置面上における縁部から前記載置面の中心位置を通る方向へ向けて、順に前記各平面吸着孔による吸着動作を開始することとすると、対象ワークの撓みによる余剰分を他方の縁部へと逃がすことができるので、対象ワークを適切に平坦な載置面に吸着させることができ、対象ワークを平坦な状態として吸着保持することができる。 In addition to the above-described configuration, the planar suction mechanism starts the suction operation by the planar suction holes in order from the edge on the placement surface to the direction passing through the center position of the placement surface; Then, since the surplus due to the bending of the target workpiece can be released to the other edge, the target workpiece can be appropriately sucked on the flat mounting surface, and the target workpiece is sucked and held in a flat state. Can do.
上記した構成に加えて、前記平面吸着機構は、吸着動作を開始した前記平面吸着孔における吸着状態に応じて、次の前記平面吸着孔による吸着動作を開始することとすると、先に吸着動作が開始された箇所(平面吸着孔)において、対象ワークが載置面に適切に吸着されてから、次の平面吸着孔での吸着動作を開始することができるので、より適切に対象ワークを平坦な状態とすることができる。 In addition to the configuration described above, if the planar suction mechanism starts the next suction operation by the planar suction hole in accordance with the suction state in the planar suction hole that has started the suction operation, the suction operation is performed first. Since the target work can be started to be sucked in the next flat suction hole after the target work has been properly sucked to the placement surface at the start location (flat suction hole), the target work can be more appropriately flattened. State.
上記した構成に加えて、前記平面吸着機構は、前記固定吸着機構により保持された前記対象ワークでの撓みに応じて、前記各平面吸着孔における吸着動作開始の順序を設定することとすると、対象ワークの撓みに応じた順に、各平面吸着孔における吸着動作が開始されるので、より適切に対象ワークを平坦な状態とすることができる。 In addition to the above-described configuration, the planar suction mechanism sets the order of the suction operation start in each of the planar suction holes according to the deflection of the target workpiece held by the fixed suction mechanism. Since the suction operation in each flat suction hole is started in the order corresponding to the bending of the workpiece, the target workpiece can be more appropriately flattened.
上記した吸着ステージを用いた載置ステージでは、吸着ステージにおいて対象ワークが極めて高い精度で平坦な状態とされていることから、露光装置の投影光学系に対して、対象ワークにおける露光を行う箇所を適切な状態で位置させることができる。 In the mounting stage using the above-described suction stage, the target workpiece is in a flat state with extremely high accuracy on the suction stage. It can be positioned in an appropriate state.
上記した吸着ステージを用いた露光装置では、吸着ステージにおいて対象ワークが極めて高い精度で平坦な状態とされていることから、対象ワークにマスクパターン像を適切に露光することができる。 In the above-described exposure apparatus using the suction stage, the target workpiece is in a flat state with extremely high accuracy on the suction stage, so that the mask pattern image can be appropriately exposed on the target workpiece.
以下に、本願発明に係る載置ステージ30の実施の形態について図面を参照しつつ説明する。 Hereinafter, embodiments of the mounting stage 30 according to the present invention will be described with reference to the drawings.
先ず、本願発明に係る載置ステージ30を用いた露光装置10の概略的な構成について説明する。図1は、本願発明に係る露光装置の一例としての露光装置10の構成を模式的に示す説明図である。露光装置10は、図1に示すように、光軸方向に沿って出射側から順に、光源11と、コールドミラー12と、露光シャッタ13と、紫外線バンドパスフィルタ14と、インテグレータレンズ15と、コリメータレンズ16と、平面鏡17と、マスクステージ18と、マスクブラインド19と、投影レンズ20と、倍率補正部21と、載置ステージ30(投影露光ステージ)と、を有する。この露光装置10は、露光光として紫外線を用いている。 First, a schematic configuration of the exposure apparatus 10 using the mounting stage 30 according to the present invention will be described. FIG. 1 is an explanatory view schematically showing a configuration of an exposure apparatus 10 as an example of an exposure apparatus according to the present invention. As shown in FIG. 1, the exposure apparatus 10 includes a light source 11, a cold mirror 12, an exposure shutter 13, an ultraviolet bandpass filter 14, an integrator lens 15, and a collimator in order from the emission side along the optical axis direction. The lens 16, the plane mirror 17, the mask stage 18, the mask blind 19, the projection lens 20, the magnification correction unit 21, and the placement stage 30 (projection exposure stage) are included. The exposure apparatus 10 uses ultraviolet rays as exposure light.
光源11は、露光に用いる露光光としての紫外線の照射のために設けられており、本実施例では、水銀ランプ11aが楕円反射鏡(楕円鏡)11bの第1焦点位置に配置されて構成されている。この光源11では、水銀ランプ11aから出射された出射光を、楕円反射鏡11bで反射してコールドミラー12へと進行させる。 The light source 11 is provided for irradiation of ultraviolet rays as exposure light used for exposure. In this embodiment, the mercury lamp 11a is arranged at the first focal position of an elliptical reflecting mirror (elliptical mirror) 11b. ing. In the light source 11, the emitted light emitted from the mercury lamp 11 a is reflected by the elliptical reflecting mirror 11 b and proceeds to the cold mirror 12.
コールドミラー12は、入射した光のうち、赤外領域の熱線を透過させるとともに他の波長帯域の光を反射するものであり、入射した光から赤外領域の熱線を分離することができる。このため、光源11からの出射光は、コールドミラー12により赤外領域の熱線が分離されて、露光シャッタ13もしくは紫外線バンドパスフィルタ14へと進行する。 The cold mirror 12 transmits infrared rays of the incident light and reflects light in other wavelength bands, and can separate the infrared rays from the incident light. For this reason, the emitted light from the light source 11 travels to the exposure shutter 13 or the ultraviolet band-pass filter 14 after the heat rays in the infrared region are separated by the cold mirror 12.
その露光シャッタ13は、コールドミラー12により反射された出射光の透過および遮断の切り替えを可能とすべく、コールドミラー12から紫外線バンドパスフィルタ14へと向かう光路(後述する照射光路)上に出し入れ自在とされている。この露光シャッタ13は、光路上から退避されると後述するように対象ワーク22の露光を可能とし、光路上に位置されると対象ワーク22の露光を停止させる。 The exposure shutter 13 can be taken in and out of an optical path (irradiation optical path to be described later) from the cold mirror 12 to the ultraviolet bandpass filter 14 so that transmission and blocking of the outgoing light reflected by the cold mirror 12 can be switched. It is said that. When the exposure shutter 13 is retracted from the optical path, the target work 22 can be exposed as described later, and when the exposure shutter 13 is positioned on the optical path, the exposure of the target work 22 is stopped.
紫外線バンドパスフィルタ14は、入射した光のうち紫外線のみの透過を許すものであり、本実施例では、波長365nmの水銀のスペクトル線であるi線の透過を許すi線バンドパスフィルタにより構成されている。このため、コールドミラー12により反射された出射光は、紫外線バンドパスフィルタ14により紫外線(i線)の波長帯域のみの光(実際には、i線の波長帯域の近傍の強度が高い光)とされて、インテグレータレンズ15へと進行する。 The ultraviolet bandpass filter 14 allows only the ultraviolet light of the incident light to pass through. In this embodiment, the ultraviolet bandpass filter 14 is configured by an i-line bandpass filter that allows the transmission of i-line, which is a spectral line of mercury having a wavelength of 365 nm. ing. For this reason, the outgoing light reflected by the cold mirror 12 is light only in the ultraviolet (i-line) wavelength band by the ultraviolet bandpass filter 14 (actually, light having a high intensity in the vicinity of the i-line wavelength band). Then, the process proceeds to the integrator lens 15.
インテグレータレンズ15は、入射した光の照度ムラを打ち消して照射面において周辺部まで均一で明るい照度分布とする。このため、紫外線バンドパスフィルタ14を経て紫外線(i線)の波長帯域のみの光とされた入射光は、インテグレータレンズ15により均一な照度分布とされてコリメータレンズ16へと進行する。 The integrator lens 15 cancels out the illuminance unevenness of the incident light to obtain a uniform and bright illuminance distribution up to the peripheral portion on the irradiated surface. For this reason, incident light that has been converted to light in the ultraviolet (i-line) wavelength band through the ultraviolet bandpass filter 14 is made uniform by the integrator lens 15 and travels to the collimator lens 16.
コリメータレンズ16は、入射した光を平行光(光束)として出射する。このため、インテグレータレンズ15を経て均一な照度分布とされた出射光は、コリメータレンズ16により平行光とされて平面鏡17へと進行し、その平面鏡17により反射されてマスクステージ18へと進行する。 The collimator lens 16 emits incident light as parallel light (light beam). Therefore, the emitted light having a uniform illuminance distribution through the integrator lens 15 is converted into parallel light by the collimator lens 16 and travels to the plane mirror 17, is reflected by the plane mirror 17 and travels to the mask stage 18.
マスクステージ18は、パターンが形成されたマスク18aを、平面鏡17により反射された出射光の光路上に位置させつつ当該光路の光軸に直交する方向に移動可能に保持する。また、マスクステージ18は、図示は略すが、マスク18aの取り外しが可能とされており、マスク18aとは異なるパターンが形成されたマスクへの交換が可能とされている。このため、平面鏡17により反射された出射光は、マスク18aを透過することにより、マスク18aに形成されたパターンの形状に応じたものとされて投影レンズ20へと進行する。 The mask stage 18 holds the mask 18a on which the pattern is formed so as to be movable in a direction perpendicular to the optical axis of the optical path while being positioned on the optical path of the emitted light reflected by the plane mirror 17. Although not shown, the mask stage 18 can be removed, and the mask stage 18 can be replaced with a mask having a pattern different from the mask 18a. For this reason, the outgoing light reflected by the plane mirror 17 passes through the mask 18a, is made to correspond to the shape of the pattern formed on the mask 18a, and proceeds to the projection lens 20.
このことから、露光装置10では、光源11から、コールドミラー12、露光シャッタ13、紫外線バンドパスフィルタ14、インテグレータレンズ15、コリメータレンズ16および平面鏡17を経る光路が、マスク18aを露光光としての紫外線(i線)で照射するための照射光学系として機能する。 Therefore, in the exposure apparatus 10, the light path from the light source 11 through the cold mirror 12, the exposure shutter 13, the ultraviolet bandpass filter 14, the integrator lens 15, the collimator lens 16, and the plane mirror 17 causes ultraviolet rays with the mask 18 a as exposure light. It functions as an irradiation optical system for irradiation with (i-line).
このマスクステージ18と投影レンズ20との間に、マスクブラインド19が設けられている。マスクブラインド19は、マスク18aを経た出射光の光路上に進退自在に設けられており、マスク18aのマスクパターンのうち所望の領域のみのマスクパターン像を、載置ステージ30に載置された後述する対象ワーク22上に適切に形成すべく、マスク18aのマスクパターンに応じて適宜光路上に進出される。 A mask blind 19 is provided between the mask stage 18 and the projection lens 20. The mask blind 19 is provided so as to freely advance and retreat on the optical path of the emitted light that has passed through the mask 18a, and a mask pattern image of only a desired region of the mask pattern of the mask 18a is mounted on the mounting stage 30 to be described later. In order to appropriately form on the target workpiece 22 to be performed, the optical path is appropriately advanced according to the mask pattern of the mask 18a.
投影レンズ20は、載置ステージ30上の後述する対象ワーク22に、マスク18aに形成されたパターンを適切に露光するためのものであり、マスクステージ18に保持されたマスク18aのパターンの像(以下、マスクパターン像ともいう)を、適宜変倍して載置ステージ30に載置された後述する対象ワーク22の表面に形成する。すなわち、投影レンズ20は、載置ステージ30に載置された状態の対象ワーク22の表面を結像面として、当該結像面とマスク18aとを光学的に共役な位置関係としている。露光装置10では、上述したように、露光光として紫外線(i線)を用いることから、投影レンズ20は、露光光である紫外線(i線)に対して高精度に収差補正されて設定されている。このため、投影レンズ20は、マスク18aを透過した出射光が入射されると、マスク18aのマスクパターン像を載置ステージ30上の結像面(後述する対象ワーク22上)に適切に形成する。 The projection lens 20 is for appropriately exposing a pattern formed on the mask 18a to a target workpiece 22 (to be described later) on the mounting stage 30, and an image of the pattern of the mask 18a held on the mask stage 18 ( (Hereinafter also referred to as a mask pattern image) is appropriately scaled and formed on the surface of a later-described target workpiece 22 placed on the placement stage 30. That is, the projection lens 20 uses the surface of the target workpiece 22 placed on the placement stage 30 as an imaging plane, and the imaging plane and the mask 18a are in an optically conjugate positional relationship. Since the exposure apparatus 10 uses ultraviolet rays (i-line) as exposure light as described above, the projection lens 20 is set by correcting aberrations with high accuracy with respect to ultraviolet rays (i-line) as exposure light. Yes. For this reason, the projection lens 20 appropriately forms the mask pattern image of the mask 18a on the imaging surface (on the target workpiece 22 described later) on the mounting stage 30 when the outgoing light transmitted through the mask 18a is incident. .
この投影レンズ20と載置ステージ30との間に、倍率補正部21が設けられている。倍率補正部21は、載置ステージ30上に載置される後述する対象ワーク22における歪みに応じて、載置ステージ30上の結像面に形成するマスクパターン像を変形させるものである。この倍率補正部21は、光路に直交する面で見て、任意の方向での倍率を適宜変化させることにより、結像面でのマスクパターン像を変形させる。倍率補正部21は、例えば、光路方向に複数枚のガラス板を並列し、各ガラス板を適宜湾曲させたり回転させたりする構成とすることで、実現することができる。 A magnification correction unit 21 is provided between the projection lens 20 and the mounting stage 30. The magnification correction unit 21 deforms a mask pattern image formed on the imaging surface on the mounting stage 30 in accordance with distortion in a target workpiece 22 to be described later that is mounted on the mounting stage 30. The magnification correction unit 21 deforms the mask pattern image on the imaging plane by appropriately changing the magnification in an arbitrary direction when viewed on a plane orthogonal to the optical path. The magnification correction unit 21 can be realized, for example, by arranging a plurality of glass plates in parallel in the optical path direction and appropriately bending or rotating each glass plate.
このように、露光装置10では、マスクブラインド19、投影レンズ20および倍率補正部21が、所定のパターンが形成されたマスク18aを透過した露光光としての紫外線を、載置ステージ30上の結像面(後述する対象ワーク22上)にマスクパターン像として結像させる投影光学系として機能する。 As described above, in the exposure apparatus 10, the mask blind 19, the projection lens 20, and the magnification correction unit 21 form an image on the mounting stage 30 with ultraviolet rays as exposure light transmitted through the mask 18 a on which a predetermined pattern is formed. It functions as a projection optical system that forms an image as a mask pattern image on a surface (on a target workpiece 22 described later).
載置ステージ30では、マスクパターンの露光のために対象ワーク22が載置される。この載置ステージ30は、載置される対象ワーク22の表面を投影レンズ20の結像面に一致させて対象ワーク22を保持することができるとともに、保持した対象ワーク22を投影光路に直交する面に沿って移動させることが可能とされている。この載置ステージ30における対象ワーク22の移動は、本実施例では、載置ステージ30の内方に設けられた駆動制御部43(図14参照)の制御下で行われる。この載置ステージ30の構成については、後に詳細に説明する。なお、載置ステージ30における対象ワーク22の移動は、手動により行うものであってもよい。 On the placement stage 30, the target work 22 is placed for exposure of the mask pattern. The mounting stage 30 can hold the target work 22 with the surface of the target work 22 to be placed in line with the imaging plane of the projection lens 20, and the held target work 22 is orthogonal to the projection optical path. It is possible to move along the surface. In this embodiment, the movement of the target work 22 on the placement stage 30 is performed under the control of a drive control unit 43 (see FIG. 14) provided inside the placement stage 30. The configuration of the mounting stage 30 will be described in detail later. In addition, the movement of the target workpiece 22 on the mounting stage 30 may be performed manually.
その対象ワーク22は、本実施例では、シリコンウエハやガラス基板やプリント基板等に、紫外線(i線)に対して光反応するフォトレジスト等の感光材料が塗布または張り付けられて形成されている。このため、対象ワーク22は、紫外線(i線)の照射により露光可能とされている。 In the present embodiment, the target work 22 is formed by applying or pasting a photosensitive material such as a photoresist that photoreacts to ultraviolet rays (i rays) to a silicon wafer, a glass substrate, a printed board, or the like. For this reason, the target workpiece 22 can be exposed by irradiation with ultraviolet rays (i rays).
この露光装置10では、照射光学系において、光源11から出射された出射光が、コールドミラー12、紫外線バンドパスフィルタ14、インテグレータレンズ15、コリメータレンズ16および平面鏡17を経て、マスクステージ18へと到達することにより、マスクステージ18に保持されたマスク18aを紫外線(i線)で一様に照射する。すると、露光装置10では、投影光学系すなわちマスクブラインド19、投影レンズ20および倍率補正部21の機能により、載置ステージ30上の結像面に、紫外線(i線)によるマスクパターン像が適切に形成される。このことから、露光装置10では、対象ワーク22を結像面に沿う適切な位置(姿勢)とすることにより、対象ワーク22にマスクパターン像を適切に露光することができる。このマスクパターン像に対する対象ワーク22の位置、すなわち光学的に投影光学系(主に、投影レンズ20)を経たマスク18aに対する対象ワーク22の位置は、載置ステージ30が保持する対象ワーク22を結像面上で適宜移動させることにより、調整する(アライメントする)ことができる。 In this exposure apparatus 10, the emitted light emitted from the light source 11 reaches the mask stage 18 through the cold mirror 12, the ultraviolet bandpass filter 14, the integrator lens 15, the collimator lens 16 and the plane mirror 17 in the irradiation optical system. As a result, the mask 18a held on the mask stage 18 is uniformly irradiated with ultraviolet rays (i rays). Then, in the exposure apparatus 10, the mask pattern image by ultraviolet rays (i-line) is appropriately formed on the imaging surface on the mounting stage 30 by the functions of the projection optical system, that is, the mask blind 19, the projection lens 20 and the magnification correction unit 21. It is formed. Therefore, the exposure apparatus 10 can appropriately expose the mask pattern image on the target work 22 by setting the target work 22 to an appropriate position (posture) along the imaging plane. The position of the target workpiece 22 with respect to the mask pattern image, that is, the position of the target workpiece 22 with respect to the mask 18a that has optically passed through the projection optical system (mainly the projection lens 20) is connected to the target workpiece 22 held by the mounting stage 30. Adjustment (alignment) can be made by appropriately moving on the image plane.
本発明に係る露光装置10で用いる載置ステージ30は、図2および図3に示すように、ベース部材31と、2つのY軸駆動機構32と、Y軸スライダ33と、2つのX軸駆動機構34と、2つのX軸スライダ35と、XY調整板36と、3つのZ軸駆動機構37と、Z軸調整板38と、リフト機構39と、チャックプレート40と、を有する。 As shown in FIGS. 2 and 3, the mounting stage 30 used in the exposure apparatus 10 according to the present invention includes a base member 31, two Y-axis drive mechanisms 32, a Y-axis slider 33, and two X-axis drives. A mechanism 34, two X-axis sliders 35, an XY adjustment plate 36, three Z-axis drive mechanisms 37, a Z-axis adjustment plate 38, a lift mechanism 39, and a chuck plate 40 are included.
ベース部材31は、上述した投影光学系に対する対象ワーク22(図1参照)の位置関係を設定する際の基準となる基準平面に沿って延在する板状部材であり、当該投影光学系に対して固定的に設けられている。この基準平面は、上述した投影光学系によりマスクパターン像が結像される位置、すなわち投影レンズ20によりマスク18aと光学的に共役な位置関係とされた結像面である。基準平面は、本実施例では、当該投影光学系の光軸方向をZ軸方向として、そのZ軸に直交する平面であるX−Y平面に平行な平面とする。このZ軸方向の正の側は、載置ステージ30から上述した投影光学系へと向かう側(図2を正面視して上側)とし、本明細書では、載置ステージ30における上側とも言う。このため、ベース部材31は、X−Y平面に沿って延在している。このベース部材31の上面に、2つのY軸駆動機構32が設けられている。 The base member 31 is a plate-like member that extends along a reference plane serving as a reference when setting the positional relationship of the target workpiece 22 (see FIG. 1) with respect to the projection optical system described above. And fixedly provided. The reference plane is a position where a mask pattern image is formed by the projection optical system described above, that is, an image formation plane optically conjugate with the mask 18a by the projection lens 20. In this embodiment, the reference plane is a plane parallel to an XY plane that is a plane orthogonal to the Z axis, where the optical axis direction of the projection optical system is the Z axis direction. The positive side in the Z-axis direction is the side from the mounting stage 30 toward the projection optical system described above (upper side when FIG. 2 is viewed from the front), and is also referred to as the upper side of the mounting stage 30 in this specification. For this reason, the base member 31 extends along the XY plane. Two Y-axis drive mechanisms 32 are provided on the upper surface of the base member 31.
2つのY軸駆動機構32は、図2ないし図4に示すように、ベース部材31の上面において、X軸方向で見た両端位置に設けられている。この両Y軸駆動機構32は、ベース部材31に対するY軸方向への駆動力をY軸スライダ33へと付与するものである。そのY軸スライダ33は、中央に貫通孔33aを有する板状を呈し、基準平面に沿って設けられている。 As shown in FIGS. 2 to 4, the two Y-axis drive mechanisms 32 are provided on both ends of the upper surface of the base member 31 as viewed in the X-axis direction. The two Y-axis drive mechanisms 32 apply a drive force in the Y-axis direction to the base member 31 to the Y-axis slider 33. The Y-axis slider 33 has a plate shape having a through hole 33a in the center, and is provided along a reference plane.
各Y軸駆動機構32は、後述するX軸駆動機構34と基本的に同様の構成であり、Y軸固定子32aと、一対のベース側Y軸ガイド部材32bと、図示は略すが、Y軸可動子と、一対のスライダ側Y軸ガイド部材と、を有する。Y軸固定子32aは、ベース部材31の上面において、異なる磁極が隣り合うように複数の永久磁石がY軸方向に整列されて形成されており、所謂マグネットトラックを構成している。両ベース側Y軸ガイド部材32bは、ベース部材31の上面において、Y軸固定子32aを挟むように対を為して設けられており、Y軸方向に延在している。この両ベース側Y軸ガイド部材32bは、Y軸スライダ33の下面(裏面)に設けられた一対のスライダ側Y軸ガイド部材(図示せず)と、延在方向(Y軸方向)への摺動自在な嵌合が可能とされている。図示を略すY軸可動子は、Y軸スライダ33の下面(裏面)において、一対のスライダ側Y軸ガイド部材(図示せず)の間に設けられており、Z軸方向(上下方向)でY軸固定子32aと対向可能とされている。このY軸可動子(図示せず)には、電流の印加が可能とされたコイルが収容されている。 Each Y-axis drive mechanism 32 has basically the same configuration as an X-axis drive mechanism 34 described later, a Y-axis stator 32a, a pair of base-side Y-axis guide members 32b, and a Y-axis although not shown. A mover and a pair of slider-side Y-axis guide members are provided. The Y-axis stator 32a is formed with a plurality of permanent magnets arranged in the Y-axis direction so that different magnetic poles are adjacent to each other on the upper surface of the base member 31, and constitutes a so-called magnet track. Both base-side Y-axis guide members 32b are provided in pairs on the upper surface of the base member 31 so as to sandwich the Y-axis stator 32a, and extend in the Y-axis direction. Both the base-side Y-axis guide members 32b are slid in a extending direction (Y-axis direction) with a pair of slider-side Y-axis guide members (not shown) provided on the lower surface (back surface) of the Y-axis slider 33. A movable fitting is possible. The Y-axis movable element (not shown) is provided between a pair of slider-side Y-axis guide members (not shown) on the lower surface (back surface) of the Y-axis slider 33, and is Y in the Z-axis direction (vertical direction). It can be opposed to the shaft stator 32a. The Y-axis movable element (not shown) accommodates a coil that can be applied with a current.
各Y軸駆動機構32では、Y軸可動子(図示せず)とY軸固定子32aとの間での磁力による吸引反発力を適宜作用させることにより、当該Y軸可動子が固定されたY軸スライダ33をベース部材31に対してY軸方向に適宜移動させることができる。このため、本実施例では、Y軸方向が基準平面に沿う第1方向として機能し、両Y軸駆動機構32が第1駆動機構として機能し、Y軸スライダ33が第1スライダとして機能する。このベース部材31上におけるY軸スライダ33の位置を検出するために、図示は略すが位置検出素子が設けられている。なお、両Y軸駆動機構32は、単一のY軸スライダ33を移動させるものであることから、双方が同期されて制御される。 In each Y-axis drive mechanism 32, the Y-axis mover is fixed by appropriately applying an attractive repulsion force by a magnetic force between a Y-axis mover (not shown) and the Y-axis stator 32a. The axis slider 33 can be appropriately moved with respect to the base member 31 in the Y-axis direction. Therefore, in this embodiment, the Y-axis direction functions as a first direction along the reference plane, both Y-axis drive mechanisms 32 function as first drive mechanisms, and the Y-axis slider 33 functions as a first slider. In order to detect the position of the Y-axis slider 33 on the base member 31, a position detection element is provided although not shown. Since both the Y-axis drive mechanisms 32 move a single Y-axis slider 33, both are controlled in synchronization.
載置ステージ30では、その内方に設けられた駆動制御部43(図14参照)により、両Y軸可動子(図示せず)への印加電流を同期的に制御して、当該両Y軸可動子と両Y軸固定子32aとの間での磁力による吸引反発力を適宜作用させることにより、当該両Y軸可動子が固定されたY軸スライダ33をベース部材31に対して適宜移動させる。このとき、駆動制御部43では、この移動が磁力による吸引反発力を利用するものであることから、設定した移動目標位置へと適切に移動するように、位置検出素子(図示せず)からの位置情報に基づいてサーボ制御を行う。このY軸スライダ33に、2つのX軸駆動機構34が設けられている。 In the mounting stage 30, the drive control unit 43 (see FIG. 14) provided in the inside controls the current applied to both Y-axis movers (not shown) synchronously, and both the Y-axis By appropriately applying an attractive repulsion force due to the magnetic force between the mover and both Y-axis stators 32a, the Y-axis slider 33 to which both Y-axis movers are fixed is appropriately moved with respect to the base member 31. . At this time, since this movement uses the attractive repulsion force due to the magnetic force, the drive control unit 43 uses a position detection element (not shown) so as to appropriately move to the set movement target position. Servo control is performed based on the position information. Two X-axis drive mechanisms 34 are provided on the Y-axis slider 33.
2つのX軸駆動機構34は、Y軸スライダ33の上面において、Y軸方向で見た両端位置に設けられている。この各X軸駆動機構34は、Y軸スライダ33に対するX軸方向への駆動力を、対応するX軸スライダ35(35A、35B)へと付与するものである。その両X軸スライダ35は、X軸方向で見て略等しい長さ寸法とされた板状を呈し、Z軸方向で見て等しい高さ位置(上下位置)で基準平面に沿って設けられている。 The two X-axis drive mechanisms 34 are provided on the upper surface of the Y-axis slider 33 at both end positions as viewed in the Y-axis direction. Each X-axis drive mechanism 34 applies a driving force in the X-axis direction to the Y-axis slider 33 to the corresponding X-axis slider 35 (35A, 35B). The two X-axis sliders 35 have a plate shape having substantially the same length when viewed in the X-axis direction, and are provided along the reference plane at the same height position (up and down position) when viewed in the Z-axis direction. Yes.
各X軸駆動機構34は、X軸固定子34aと、一対のベース側X軸ガイド部材34bと、X軸可動子34cと、一対のスライダ側X軸ガイド部材34dと、を有する。X軸固定子34aは、Y軸スライダ33の上面において、異なる磁極が隣り合うように複数の永久磁石がY軸方向に整列されて形成されており、所謂マグネットトラックを構成している。両ベース側X軸ガイド部材34bは、Y軸スライダ33の上面において、X軸固定子34aを挟むように対を為して設けられており、X軸方向に延在している。この両ベース側X軸ガイド部材34bは、対応するスライダ側X軸ガイド部材34dの延在方向への摺動自在な嵌合が可能とされている。X軸可動子34cは、X軸スライダ35の下面(裏面)に設けられており、Z軸方向(上下方向)でX軸固定子34aと対向可能とされている(図3参照)。このX軸可動子34cには、電流の印加が可能とされたコイルが収容されている。X軸可動子34cの両側に、一対のスライダ側X軸ガイド部材34dが設けられている。 Each X-axis drive mechanism 34 includes an X-axis stator 34a, a pair of base-side X-axis guide members 34b, an X-axis movable element 34c, and a pair of slider-side X-axis guide members 34d. The X-axis stator 34a is formed with a plurality of permanent magnets arranged in the Y-axis direction so that different magnetic poles are adjacent to each other on the upper surface of the Y-axis slider 33, and constitutes a so-called magnet track. Both base side X-axis guide members 34b are provided in pairs on the upper surface of the Y-axis slider 33 so as to sandwich the X-axis stator 34a, and extend in the X-axis direction. Both the base-side X-axis guide members 34b can be slidably fitted in the extending direction of the corresponding slider-side X-axis guide member 34d. The X-axis movable element 34c is provided on the lower surface (back surface) of the X-axis slider 35, and can be opposed to the X-axis stator 34a in the Z-axis direction (vertical direction) (see FIG. 3). The X-axis movable element 34c accommodates a coil to which current can be applied. A pair of slider-side X-axis guide members 34d are provided on both sides of the X-axis movable element 34c.
この2つのX軸駆動機構34は、一方(個別に述べるときは34Aとする)がX軸スライダ35Aに対応されて設けられており、他方が(個別に述べるときは34Bとする)がX軸スライダ35Bに対応されて設けられている。すなわち、X軸駆動機構34Aは、一方のX軸スライダ35AをX軸方向に移動させるべく設けられており、そのX軸可動子34cがX軸スライダ35Aの下面に設けられている。また、X軸駆動機構34Bは、他方のX軸スライダ35BをX軸方向に移動させるべく設けられており、そのX軸可動子34cがX軸スライダ35Bの下面に設けられている。 One of these two X-axis drive mechanisms 34 (34A when individually described) is provided corresponding to the X-axis slider 35A, and the other (34B when individually described) is the X-axis. It is provided corresponding to the slider 35B. That is, the X-axis drive mechanism 34A is provided to move one X-axis slider 35A in the X-axis direction, and the X-axis movable element 34c is provided on the lower surface of the X-axis slider 35A. The X-axis drive mechanism 34B is provided to move the other X-axis slider 35B in the X-axis direction, and the X-axis movable element 34c is provided on the lower surface of the X-axis slider 35B.
各X軸駆動機構34では、X軸可動子34cとX軸固定子34aとの間での磁力による吸引反発力を適宜作用させることにより、対応するX軸スライダ35(35Aもしくは35B)をY軸スライダ33に対してX軸方向に適宜移動させることができる。このため、本実施例では、X軸方向が基準平面に沿いかつ第1方向に対して傾斜する第2方向として機能し、各X軸駆動機構34が第2駆動機構として機能し、各X軸スライダ35が第2スライダとして機能する。このY軸スライダ33上における各X軸スライダ35A、35Bの位置を検出するために、図示は略すが位置検出素子が設けられている。なお、本実施例では、X軸スライダ35AとX軸スライダ35BとがX軸方向での移動可能な範囲の中央位置にある状態、すなわちX軸スライダ35AとX軸スライダ35BとがY軸スライダ33の上面においてX軸方向での中央位置でY軸方向に整列している状態(図4等参照)を、両X軸駆動機構34による駆動制御(X軸方向への移動)の基準位置としている。 In each X-axis drive mechanism 34, the corresponding X-axis slider 35 (35A or 35B) is moved to the Y-axis by appropriately applying an attractive repulsion force due to the magnetic force between the X-axis movable element 34c and the X-axis stator 34a. The slider 33 can be appropriately moved in the X-axis direction. For this reason, in this embodiment, the X-axis direction functions as the second direction along the reference plane and is inclined with respect to the first direction, each X-axis drive mechanism 34 functions as the second drive mechanism, and each X-axis The slider 35 functions as a second slider. In order to detect the position of each X-axis slider 35A, 35B on the Y-axis slider 33, a position detection element is provided although not shown. In this embodiment, the X-axis slider 35A and the X-axis slider 35B are in the center position of the movable range in the X-axis direction, that is, the X-axis slider 35A and the X-axis slider 35B are in the Y-axis slider 33. The state of alignment in the Y-axis direction at the center position in the X-axis direction on the upper surface (see FIG. 4 etc.) is used as the reference position for drive control (movement in the X-axis direction) by both X-axis drive mechanisms 34. .
載置ステージ30では、その内方に設けられた駆動制御部43(図14参照)により、各X軸可動子34cへの印加電流が個別に制御されて、X軸可動子34cとX軸固定子34aとの間での磁力による吸引反発力を適宜作用させることにより、X軸可動子34cが固定されたX軸スライダ35(35Aもしくは35B)がY軸スライダ33に対して適宜個別にもしくは一体的に移動される。このとき、駆動制御部43では、この移動が磁力による吸引反発力を利用するものであることから、設定した移動目標位置へと適切に移動するように、位置検出素子(図示せず)からの位置情報に基づいてサーボ制御を行う。この2つのX軸スライダ35を架け渡すように、XY調整板36が設けられている(図5参照)。 In the mounting stage 30, the drive control unit 43 (see FIG. 14) provided inside the mounting stage 30 individually controls the current applied to each X-axis movable element 34 c, thereby fixing the X-axis movable element 34 c and the X-axis fixed. The X-axis slider 35 (35A or 35B), to which the X-axis movable element 34c is fixed, is appropriately individually or integrally formed with the Y-axis slider 33 by appropriately applying an attractive repulsion force due to the magnetic force with the child 34a. Moved. At this time, since this movement uses the attractive repulsion force due to the magnetic force, the drive control unit 43 uses a position detection element (not shown) so as to appropriately move to the set movement target position. Servo control is performed based on the position information. An XY adjustment plate 36 is provided so as to bridge the two X-axis sliders 35 (see FIG. 5).
XY調整板36は、対象ワーク22(図1参照)のX−Y方向での位置およびX−Y平面に沿う回転姿勢の設定(調整)のために設けられている。このXY調整板36は、図5に示すように、板状を呈し、両X軸スライダ35の上方で、当該X軸スライダ35AとX軸スライダ35Bとを基準平面に沿って架け渡すように、延在されている。XY調整板36は、基本的には、第1連結部51でX軸スライダ35Aに連結されるとともに、第2連結部52でX軸スライダ35Bに連結されている。本実施例では、その第1連結部51および第2連結部52に加えて、第3連結部53でX軸スライダ35Aに連結されるとともに、第4連結部54でX軸スライダ35Bに連結されている。この各連結部(51、52、53、54)は、Z軸方向に延在されており、上側の一端でXY調整板36に接続するとともに、下側の他端でX軸スライダ35(35A、35B)に接続している。 The XY adjustment plate 36 is provided for setting (adjusting) the position of the target work 22 (see FIG. 1) in the XY direction and the rotational posture along the XY plane. As shown in FIG. 5, the XY adjustment plate 36 has a plate shape and bridges the X-axis slider 35 </ b> A and the X-axis slider 35 </ b> B along the reference plane above both the X-axis sliders 35. Has been extended. The XY adjustment plate 36 is basically connected to the X-axis slider 35 </ b> A by the first connecting portion 51 and is connected to the X-axis slider 35 </ b> B by the second connecting portion 52. In this embodiment, in addition to the first connecting portion 51 and the second connecting portion 52, the third connecting portion 53 is connected to the X-axis slider 35A, and the fourth connecting portion 54 is connected to the X-axis slider 35B. ing. Each of the connecting portions (51, 52, 53, 54) extends in the Z-axis direction, and is connected to the XY adjustment plate 36 at one upper end, and the X-axis slider 35 (35A) at the other lower end. , 35B).
ここで、図6に示すように、XY調整板36において、第1連結部51が接続された箇所を板側第1支持点Sb1とし、第2連結部52が接続された箇所を板側第2支持点Sb2とし、第3連結部53が接続された箇所を板側第3支持点Sb3とし、第4連結部54が接続された箇所を板側第4支持点Sb4とする。また、X軸スライダ35Aにおいて、第1連結部51が接続された箇所をスライダ側第1支持点Ss1とし、第3連結部53が接続された箇所をスライダ側第3支持点Ss3とする。さらに、X軸スライダ35Bにおいて、第2連結部52が接続された箇所をスライダ側第2支持点Ss2とし、第4連結部54が接続された箇所をスライダ側第4支持点Ss4とする。本実施例では、XY調整板36における各支持点(Sb1、Sb2、Sb3、Sb4)は、Z軸方向からみると、正方形を描くように配置されている。 Here, as shown in FIG. 6, in the XY adjustment plate 36, a portion where the first connecting portion 51 is connected is a plate side first support point Sb <b> 1, and a portion where the second connecting portion 52 is connected is the plate side first. The second support point Sb2 is the plate side third support point Sb3 where the third connecting portion 53 is connected, and the plate side fourth support point Sb4 is the location where the fourth connecting portion 54 is connected. Further, in the X-axis slider 35A, a portion where the first connecting portion 51 is connected is referred to as a slider-side first support point Ss1, and a portion where the third connecting portion 53 is connected is referred to as a slider-side third support point Ss3. Further, in the X-axis slider 35B, a portion where the second connecting portion 52 is connected is a slider-side second support point Ss2, and a portion where the fourth connecting portion 54 is connected is a slider-side fourth support point Ss4. In this embodiment, the support points (Sb1, Sb2, Sb3, Sb4) on the XY adjustment plate 36 are arranged so as to draw a square when viewed from the Z-axis direction.
その第1連結部51は、板側第1支持点Sb1とスライダ側第1支持点Ss1とをZ軸方向で見て同一直線上に位置させつつ相対的な位置関係を固定した状態で、両支持点Sb1、Ss1を含む基準軸線Ba回りにX軸スライダ35AとXY調整板36とが相対的に回転することを許容するように、X軸スライダ35AとXY調整板36とを連結する。本実施例では、第1連結部51は、図7に示すように、X軸スライダ35Aに固定されZ軸方向に延出された連結基部分51aと、その延出端部分51bに対して回転可能に設けられた回転部分51cと、を有する。この連結基部分51aは、全体に円筒状を呈し、その中心軸線(Ba)がZ軸方向に沿うものとされている。この回転部分51cは、連結基部分51aの延出端部分51bを取り囲む環状を呈し、延出端部分51bに対して連結基部分51aの中心軸線(Ba)回りに回転自在とされている。第1連結部51では、回転部分51cがXY調整板36に固定的に取り付けられている。 The first connecting portion 51 is arranged in a state where the plate-side first support point Sb1 and the slider-side first support point Ss1 are positioned on the same straight line when viewed in the Z-axis direction and the relative positional relationship is fixed. The X-axis slider 35A and the XY adjustment plate 36 are coupled so as to allow the X-axis slider 35A and the XY adjustment plate 36 to rotate relative to each other around the reference axis line Ba including the support points Sb1 and Ss1. In the present embodiment, as shown in FIG. 7, the first connecting portion 51 rotates with respect to a connecting base portion 51a fixed to the X-axis slider 35A and extending in the Z-axis direction, and its extending end portion 51b. A rotating portion 51c provided in a possible manner. The connecting base portion 51a has a cylindrical shape as a whole, and its central axis (Ba) is along the Z-axis direction. The rotating portion 51c has an annular shape surrounding the extending end portion 51b of the connecting base portion 51a, and is rotatable about the central axis (Ba) of the connecting base portion 51a with respect to the extending end portion 51b. In the first connecting portion 51, the rotating portion 51 c is fixedly attached to the XY adjustment plate 36.
この第1連結部51では、連結基部分51aの中心軸線(Ba)回りに、連結基部分51aと回転部分51cとの相対的な回転が可能であることから、連結基部分51aが設けられたX軸スライダ35Aと、回転部分51cが設けられたXY調整板36と、の上記中心軸線(Ba)回りの相対的な回転を許容しつつ、X軸スライダ35AとXY調整板36とを連結している。このため、第1連結部51では、連結基部分51aの中心軸線が基準軸線Baとなり、連結基部分51aの中心位置がスライダ側第1支持点Ss1となり、回転部分51cの中心位置が板側第1支持点Sb1となる。 In this 1st connection part 51, since the relative rotation of the connection base part 51a and the rotation part 51c is possible around the central axis (Ba) of the connection base part 51a, the connection base part 51a was provided. The X-axis slider 35A and the XY adjustment plate 36 are connected to each other while allowing relative rotation around the central axis (Ba) of the X-axis slider 35A and the XY adjustment plate 36 provided with the rotating portion 51c. ing. For this reason, in the 1st connection part 51, the center axis line of the connection base part 51a turns into the reference axis line Ba, the center position of the connection base part 51a becomes the slider side 1st support point Ss1, and the center position of the rotation part 51c is plate side 1st. One support point Sb1 is obtained.
第2連結部52は、板側第2支持点Sb2とスライダ側第2支持点Ss2とをX−Y平面に沿う第3方向への相対的な位置の変化を許容し、かつZ軸方向回りにX軸スライダ35BとXY調整板36とが相対的に回転することを許容するように、X軸スライダ35BとXY調整板36とを連結する(図6等参照)。この第2連結部52は、本実施例では、図8に示すように、X軸スライダ35Bに固定されZ軸方向に延出された連結基部分52aと、その連結基部分52aに対して回転可能とされた連結回転部分52bと、その上端面に固定されたレール保持部分52cと、そのレール保持部分52cに摺動可能に保持されるレール52dと、そのレール52dに固定された取付部分52eと、を有する。この連結基部分52aは、全体に円筒状を呈し、その中心軸線がZ軸方向に沿うものとされている。連結回転部分52bは、連結基部分52aよりも小さな径寸法の円柱状を呈し、その連結基部分52a上の同心位置に設けられている。この連結回転部分52bは、連結基部分52aに対して当該連結基部分52aの中心軸線回りに回転自在とされている。レール保持部分52cは、X−Y平面に沿う方向であって、X軸方向(第2方向)およびY軸方向(第1方向)に対して傾斜する第3方向へと摺動可能にレール52dを保持することが可能とされている。レール52dは、第3方向に延在された棒状を呈し、取付部分52eに固定されている。取付部分52eは、全体に円柱状を呈し、XY調整板36に固定的に取り付けられている。このため、レール52dは、取付部分52eを介してXY調整板36に固定されていることとなる。このレール52dの延在方向すなわち第3方向は、本実施例では、XY調整板36上において板側第2支持点Sb2と板側第1支持点Sb1とを結ぶ線分の延在方向に一致するものとされており、各支持点(Sb1、Sb2、Sb3、Sb4)が描く正方形の対角線と一致されている。このため、第3方向は、両X軸駆動機構34が駆動制御の基準位置とされると、X軸方向(第2方向)およびY軸方向(第1方向)に対して45度の傾斜を有するものとなる。なお、第3方向は、本実施例では、XY調整板36に対して固定されているが、X軸スライダ35Bに対して固定されているものであってもよい。 The second connecting portion 52 allows the relative position change of the plate-side second support point Sb2 and the slider-side second support point Ss2 in the third direction along the XY plane, and rotates around the Z-axis direction. The X-axis slider 35B and the XY adjustment plate 36 are coupled so that the X-axis slider 35B and the XY adjustment plate 36 are allowed to rotate relative to each other (see FIG. 6 and the like). In this embodiment, as shown in FIG. 8, the second connecting portion 52 is fixed to the X-axis slider 35B and extended in the Z-axis direction, and rotates with respect to the connecting base portion 52a. The connected rotation part 52b made possible, the rail holding part 52c fixed to the upper end surface thereof, the rail 52d slidably held by the rail holding part 52c, and the mounting part 52e fixed to the rail 52d And having. The connecting base portion 52a has a cylindrical shape as a whole, and its central axis is along the Z-axis direction. The connection rotation part 52b has a cylindrical shape with a smaller diameter than the connection base part 52a, and is provided at a concentric position on the connection base part 52a. The connection rotation portion 52b is rotatable about the central axis of the connection base portion 52a with respect to the connection base portion 52a. The rail holding portion 52c is a direction along the XY plane, and is slidable in a third direction inclined with respect to the X-axis direction (second direction) and the Y-axis direction (first direction). It is possible to hold. The rail 52d has a rod shape extending in the third direction, and is fixed to the attachment portion 52e. The attachment portion 52e has a columnar shape as a whole, and is fixedly attached to the XY adjustment plate 36. For this reason, the rail 52d is fixed to the XY adjustment plate 36 via the attachment portion 52e. In this embodiment, the extending direction of the rail 52d, that is, the third direction coincides with the extending direction of the line connecting the plate-side second support point Sb2 and the plate-side first support point Sb1 on the XY adjustment plate 36. It corresponds to a square diagonal line drawn by each support point (Sb1, Sb2, Sb3, Sb4). For this reason, in the third direction, when both the X-axis drive mechanisms 34 are set as the reference positions for drive control, the inclination is 45 degrees with respect to the X-axis direction (second direction) and the Y-axis direction (first direction). It will have. The third direction is fixed to the XY adjustment plate 36 in this embodiment, but may be fixed to the X-axis slider 35B.
この第2連結部52では、レール52dとレール保持部分52cとの第3方向への相対的な移動が可能であるとともに、そのレール保持部分52cが設けられた連結回転部分52bの中心軸線回りに、連結回転部分52bと連結基部分52aとの相対的な回転が可能である。このため、第2連結部52は、連結基部分52aが設けられたX軸スライダ35Bと、レール52d(取付部分52e)が設けられたXY調整板36と、の第3方向への相対的な変位を許容し、かつ連結基部分52a(連結回転部分52b)の中心軸線回りのX軸スライダ35BとXY調整板36との相対的な回転を許容しつつ、X軸スライダ35BとXY調整板36とを連結している。このため、第2連結部52では、連結基部分52aの中心位置がスライダ側第2支持点Ss2となり、レール52d(取付部分52e)の中心位置が板側第2支持点Sb2となる。この第2連結部52は、X軸スライダ35AとX軸スライダ35Bとが駆動制御の基準位置とされた際、板側第2支持点Sb2とスライダ側第2支持点Ss2とをZ軸方向で見て同一直線上に位置させる(レール52dの中心位置(取付部分52eの中心軸線)と連結基部分52aの中心軸線とが一致する)基準位置となるように位置設定されて、X軸スライダ35BとXY調整板36とにそれぞれ設けられている。 In the second connecting portion 52, the rail 52d and the rail holding portion 52c can move relative to each other in the third direction, and around the central axis of the connecting rotary portion 52b provided with the rail holding portion 52c. The relative rotation of the connection rotation portion 52b and the connection base portion 52a is possible. For this reason, the second connecting portion 52 has a relative relationship in the third direction between the X-axis slider 35B provided with the connecting base portion 52a and the XY adjusting plate 36 provided with the rail 52d (mounting portion 52e). The X-axis slider 35B and the XY adjustment plate 36 allow displacement and allow relative rotation between the X-axis slider 35B and the XY adjustment plate 36 around the central axis of the connection base portion 52a (connection rotation portion 52b). Are linked. For this reason, in the 2nd connection part 52, the center position of the connection base part 52a becomes slider side 2nd support point Ss2, and the center position of the rail 52d (attachment part 52e) becomes plate side 2nd support point Sb2. The second connecting portion 52 connects the plate-side second support point Sb2 and the slider-side second support point Ss2 in the Z-axis direction when the X-axis slider 35A and the X-axis slider 35B are set to the drive control reference positions. The X-axis slider 35B is set so as to be a reference position (the center position of the rail 52d (the center axis of the mounting portion 52e) and the center axis of the coupling base portion 52a coincide). And the XY adjustment plate 36.
第3連結部53は、板側第3支持点Sb3とスライダ側第3支持点Ss3とをX−Y平面に沿う方向への相対的な位置の変化を許容し、かつZ軸方向回りにX軸スライダ35AとXY調整板36とが相対的に回転することを許容するように、X軸スライダ35AとXY調整板36とを連結する(図6等参照)。本実施例では、第3連結部53は、図9に示すように、X軸スライダ35Aに固定された第1レール53aと、その第1レール53aを摺動可能に保持する第1レール保持部分53bと、その第1レール保持部分53bに固定された固定板部分53cと、その固定板部分53cに固定された第2レール保持部分53dと、その第2レール保持部分53dに摺動可能に保持される第2レール53eと、その第2レール53eに固定された回転軸部分53fと、その回転軸部分53fに対して回転可能に設けられた回転部分53gと、を有する。この第1レール53aは、Y軸方向に延在された棒状を呈する。第1レール保持部分53bは、第1レール53aの延在方向へと摺動可能に第1レール53aを保持することが可能とされている。固定板部分53cは、板状を呈し、下面側に第1レール保持部分53bが設けられるとともに、上面側に第2レール保持部分53dが設けられており、第1レール保持部分53bと第2レール保持部分53dとの位置関係を固定している。第2レール保持部分53dは、X軸方向へと摺動可能に第2レール53eを保持することが可能とされている。第2レール53eは、X軸方向に延在された棒状を呈し、その延在方向に移動自在に第2レール保持部分53dに保持されている。回転軸部分53fは、全体に円柱状を呈し、中心軸線がZ軸方向に沿うように第2レール53eに固定されている。回転部分53gは、回転軸部分53fを取り囲む環状を呈し、その回転軸部分53fに対して当該回転軸部分53fの中心軸線回りに回転自在とされている。第3連結部53では、回転部分53gがXY調整板36に固定的に取り付けられている。 The third connecting portion 53 allows a relative position change between the plate-side third support point Sb3 and the slider-side third support point Ss3 in the direction along the XY plane, and X around the Z-axis direction. The X-axis slider 35A and the XY adjustment plate 36 are coupled so as to allow the shaft slider 35A and the XY adjustment plate 36 to rotate relative to each other (see FIG. 6 and the like). In the present embodiment, as shown in FIG. 9, the third connecting portion 53 includes a first rail 53a fixed to the X-axis slider 35A and a first rail holding portion that slidably holds the first rail 53a. 53b, a fixed plate portion 53c fixed to the first rail holding portion 53b, a second rail holding portion 53d fixed to the fixed plate portion 53c, and slidably held on the second rail holding portion 53d A second rail 53e, a rotary shaft portion 53f fixed to the second rail 53e, and a rotary portion 53g provided to be rotatable with respect to the rotary shaft portion 53f. The first rail 53a has a rod shape extending in the Y-axis direction. The first rail holding portion 53b can hold the first rail 53a so as to be slidable in the extending direction of the first rail 53a. The fixed plate portion 53c has a plate shape, the first rail holding portion 53b is provided on the lower surface side, and the second rail holding portion 53d is provided on the upper surface side, and the first rail holding portion 53b and the second rail are provided. The positional relationship with the holding portion 53d is fixed. The second rail holding portion 53d can hold the second rail 53e so as to be slidable in the X-axis direction. The second rail 53e has a rod shape extending in the X-axis direction, and is held by the second rail holding portion 53d so as to be movable in the extending direction. The rotation shaft portion 53f has a columnar shape as a whole, and is fixed to the second rail 53e so that the center axis is along the Z-axis direction. The rotating portion 53g has an annular shape surrounding the rotating shaft portion 53f, and is rotatable about the central axis of the rotating shaft portion 53f with respect to the rotating shaft portion 53f. In the third connecting portion 53, the rotating portion 53 g is fixedly attached to the XY adjustment plate 36.
この第3連結部53では、第1レール53aと第1レール保持部分53b(それが固定板部分53cを介して固定された第2レール保持部分53d)とのY軸方向への相対的な移動が可能であり、かつ第2レール保持部分53dと第2レール53eとのX軸方向への相対的な移動が可能であり、しかもその第2レール53eに設けられた回転軸部分53fの中心軸線回りに、回転軸部分53fと回転部分53gとの相対的な回転が可能である。このため、第3連結部53は、第1レール53aが設けられたX軸スライダ35Aと、回転部分53gが設けられたXY調整板36と、のX−Y平面に沿う方向への相対的な変位を許容し、かつ回転軸部分53fの中心軸線回りの相対的な回転を許容しつつ、X軸スライダ35AとXY調整板36とを連結している。このため、第3連結部53では、第1レール53aの中心位置がスライダ側第3支持点Ss3となり、回転部分53gの中心位置が板側第3支持点Sb3となる。この第3連結部53は、X軸スライダ35AとX軸スライダ35Bとが駆動制御の基準位置とされた際、板側第3支持点Sb3とスライダ側第3支持点Ss3とをZ軸方向で見て同一直線上に位置させる(回転軸部分53fの中心軸線と第1レール53aの中心位置を含むZ軸方向に沿う直線とが一致する)基準位置となるように位置設定されて、X軸スライダ35AとXY調整板36とにそれぞれ設けられている。すなわち、第3連結部53は、板側第3支持点Sb3とスライダ側第3支持点Ss3とのZ軸方向で見た間隔を変動させることなく(当該間隔を所定の大きさ寸法に維持しつつ)、板側第3支持点Sb3とスライダ側第3支持点Ss3とのX−Y平面に沿う方向への相対的な位置の変動を可能とするものである。 In the third connecting portion 53, relative movement in the Y-axis direction between the first rail 53a and the first rail holding portion 53b (the second rail holding portion 53d that is fixed via the fixing plate portion 53c). And the relative movement of the second rail holding portion 53d and the second rail 53e in the X-axis direction is possible, and the central axis of the rotary shaft portion 53f provided on the second rail 53e Around the rotating shaft portion 53f and the rotating portion 53g, relative rotation is possible. For this reason, the 3rd connection part 53 is relative to the direction along the XY plane of X axis slider 35A provided with the 1st rail 53a, and XY adjustment board 36 provided with rotation part 53g. The X-axis slider 35A and the XY adjustment plate 36 are connected while allowing displacement and allowing relative rotation around the central axis of the rotary shaft portion 53f. For this reason, in the 3rd connection part 53, the center position of the 1st rail 53a becomes the slider side 3rd support point Ss3, and the center position of the rotation part 53g becomes the board side 3rd support point Sb3. The third connecting portion 53 connects the plate-side third support point Sb3 and the slider-side third support point Ss3 in the Z-axis direction when the X-axis slider 35A and the X-axis slider 35B are set to the drive control reference position. The position is set to be a reference position (the center axis of the rotation shaft portion 53f and the straight line along the Z-axis direction including the center position of the first rail 53a coincide with each other). The slider 35A and the XY adjustment plate 36 are provided respectively. That is, the third connecting portion 53 does not change the distance between the plate-side third support point Sb3 and the slider-side third support point Ss3 as viewed in the Z-axis direction (the distance is maintained at a predetermined size). However, it is possible to change the relative positions of the plate-side third support point Sb3 and the slider-side third support point Ss3 in the direction along the XY plane.
第4連結部54は、板側第4支持点Sb4とスライダ側第4支持点Ss4とをX−Y平面に沿う方向への相対的な位置の変化を許容し、かつZ軸方向回りにX軸スライダ35BとXY調整板36とが相対的に回転することを許容するように、X軸スライダ35BとXY調整板36とを連結する(図6等参照)。本実施例では、第4連結部54は、図10に示すように、X軸スライダ35Bに固定された第1レール54aと、その第1レール54aを摺動可能に保持する第1レール保持部分54bと、その第1レール保持部分54bに固定された固定板部分54cと、その固定板部分54cに固定された第2レール保持部分54dと、その第2レール保持部分54dに摺動可能に保持される第2レール54eと、その第2レール54eに固定された回転軸部分54fと、その回転軸部分54fに対して回転可能に設けられた回転部分54gと、を有する。この第1レール54aは、X軸方向に延在された棒状を呈する。第1レール保持部分54bは、第1レール54aの延在方向へと摺動可能に第1レール54aを保持することが可能とされている。固定板部分54cは、板状を呈し、下面側に第1レール保持部分54bが設けられるとともに、上面側に第2レール保持部分54dが設けられており、第1レール保持部分54bと第2レール保持部分54dとの位置関係を固定している。第2レール保持部分54dは、Y軸方向へと摺動可能に第2レール54eを保持することが可能とされている。第2レール54eは、Y軸方向に延在された棒状を呈し、その延在方向に移動自在に第2レール保持部分54dに保持されている。回転軸部分54fは、全体に円柱状を呈し、中心軸線がZ軸方向に沿うように第2レール54eに固定されている。回転部分54gは、回転軸部分54fを取り囲む環状を呈し、その回転軸部分54fに対して当該回転軸部分54fの中心軸線回りに回転自在とされている。第4連結部54では、回転部分54gがXY調整板36に固定的に取り付けられている。 The fourth connecting portion 54 allows the relative position change of the plate-side fourth support point Sb4 and the slider-side fourth support point Ss4 in the direction along the XY plane, and X around the Z-axis direction. The X-axis slider 35B and the XY adjustment plate 36 are coupled so as to allow the shaft slider 35B and the XY adjustment plate 36 to rotate relatively (see FIG. 6 and the like). In the present embodiment, as shown in FIG. 10, the fourth connecting portion 54 includes a first rail 54a fixed to the X-axis slider 35B and a first rail holding portion that slidably holds the first rail 54a. 54b, a fixed plate portion 54c fixed to the first rail holding portion 54b, a second rail holding portion 54d fixed to the fixed plate portion 54c, and slidably held on the second rail holding portion 54d A second rail 54e, a rotary shaft portion 54f fixed to the second rail 54e, and a rotary portion 54g provided to be rotatable with respect to the rotary shaft portion 54f. The first rail 54a has a rod shape extending in the X-axis direction. The first rail holding portion 54b can hold the first rail 54a so as to be slidable in the extending direction of the first rail 54a. The fixed plate portion 54c has a plate shape, the first rail holding portion 54b is provided on the lower surface side, and the second rail holding portion 54d is provided on the upper surface side, and the first rail holding portion 54b and the second rail are provided. The positional relationship with the holding portion 54d is fixed. The second rail holding portion 54d can hold the second rail 54e so as to be slidable in the Y-axis direction. The second rail 54e has a rod shape extending in the Y-axis direction, and is held by the second rail holding portion 54d so as to be movable in the extending direction. The rotating shaft portion 54f has a cylindrical shape as a whole, and is fixed to the second rail 54e so that the center axis line is along the Z-axis direction. The rotating portion 54g has an annular shape surrounding the rotating shaft portion 54f, and is rotatable about the central axis of the rotating shaft portion 54f with respect to the rotating shaft portion 54f. In the fourth connecting portion 54, the rotating portion 54 g is fixedly attached to the XY adjustment plate 36.
この第4連結部54では、第1レール54aと第1レール保持部分54b(それが固定板部分54cを介して固定された第2レール保持部分54d)とのX軸方向への相対的な移動が可能であり、かつ第2レール保持部分54dと第2レール54eとのY軸方向への相対的な移動が可能であり、しかもその第2レール54eに設けられた回転軸部分54fの中心軸線回りに、回転軸部分54fと回転部分54gとの相対的な回転が可能である。このため、第4連結部54は、第1レール54aが設けられたX軸スライダ35Bと、回転部分54gが設けられたXY調整板36と、のX−Y平面に沿う方向への相対的な変位を許容し、かつ回転軸部分54fの中心軸線回りの相対的な回転を許容しつつ、X軸スライダ35BとXY調整板36とを連結している。このため、第4連結部54では、第1レール54aの中心位置がスライダ側第4支持点Ss4となり、回転部分54gの中心位置が板側第4支持点Sb4となる。この第4連結部54は、X軸スライダ35AとX軸スライダ35Bとが駆動制御の基準位置とされた際、板側第4支持点Sb4とスライダ側第4支持点Ss4とをZ軸方向で見て同一直線上に位置させる(回転軸部分54fの中心軸線と第1レール54aの中心位置を含むZ軸方向に沿う直線とが一致する)基準位置となるように位置設定されて、X軸スライダ35BとXY調整板36とにそれぞれ設けられている。すなわち、第4連結部54は、板側第4支持点Sb4とスライダ側第4支持点Ss4とのZ軸方向で見た間隔を変動させることなく(当該間隔を所定の大きさ寸法に維持しつつ)、板側第4支持点Sb4とスライダ側第4支持点Ss4とのX−Y平面に沿う方向への相対的な位置の変動を可能とするものである。 In the fourth connecting portion 54, the relative movement in the X-axis direction between the first rail 54a and the first rail holding portion 54b (the second rail holding portion 54d that is fixed via the fixing plate portion 54c). And the relative movement of the second rail holding portion 54d and the second rail 54e in the Y-axis direction is possible, and the central axis of the rotary shaft portion 54f provided on the second rail 54e. Around the rotating shaft portion 54f and the rotating portion 54g, relative rotation is possible. For this reason, the 4th connection part 54 is relative to the direction along the XY plane of X-axis slider 35B provided with the 1st rail 54a, and XY adjustment board 36 provided with rotation part 54g. The X-axis slider 35B and the XY adjustment plate 36 are connected while allowing displacement and allowing relative rotation around the central axis of the rotary shaft portion 54f. For this reason, in the 4th connection part 54, the center position of the 1st rail 54a becomes slider side 4th support point Ss4, and the center position of the rotation part 54g becomes plate | board side 4th support point Sb4. The fourth connecting portion 54 connects the plate-side fourth support point Sb4 and the slider-side fourth support point Ss4 in the Z-axis direction when the X-axis slider 35A and the X-axis slider 35B are set to the drive control reference positions. The position is set to be a reference position (the center axis of the rotating shaft portion 54f and the straight line along the Z-axis direction including the center position of the first rail 54a coincide with each other). The slider 35B and the XY adjustment plate 36 are provided respectively. In other words, the fourth connecting portion 54 does not change the distance seen in the Z-axis direction between the plate-side fourth support point Sb4 and the slider-side fourth support point Ss4 (the distance is maintained at a predetermined size). However, it is possible to change the relative positions of the plate-side fourth support point Sb4 and the slider-side fourth support point Ss4 in the direction along the XY plane.
このため、XY調整板36は、ベース部材31上において、Y軸スライダ33をY軸方向に適宜移動させることによりY軸方向の位置の調整が可能であるとともに、両X軸スライダ35(35A、35B)を一体的にX軸方向に適宜移動させることによりX軸方向の位置の調整が可能であり、X−Y平面に沿う移動が自在とされている。また、XY調整板36は、図6に示すように、ベース部材31上において、X軸スライダ35AとX軸スライダ35Bとを個別にX軸方向に適宜移動させること(X軸方向で見た相対的な位置関係)により、基準軸線Baを回転中心としてZ軸方向回りで見た回転姿勢を適宜調整することが可能とされている(矢印A1参照)。このとき、XY調整板36では、基準軸線Baを基点とする回転に起因する板側第2支持点Sb2およびスライダ側第2支持点Ss2と、板側第3支持点Sb3およびスライダ側第3支持点Ss3と、板側第4支持点Sb4およびスライダ側第4支持点Ss4と、のX−Y平面に沿う方向での変動分が、第2連結部52における第3方向への変位と、第3連結部53および第4連結部54におけるX−Y平面に沿う方向への変位と、で、吸収されることにより、両X軸スライダ35(35A、35B)による支持が可能とされている。また、XY調整板36では、第2連結部52が第3方向への変位のみを許容する構成とされていることから、X軸スライダ35Aに対するX軸スライダ35Bの位置関係とXY調整板36の基準軸線Ba回りの回転姿勢とを一対一で対応させることができる。このため、本実施例では、XY調整板36が平面調整板として機能し、両X軸駆動機構34と両X軸スライダ35とが回転駆動機構としての機能も有する。 For this reason, the XY adjustment plate 36 can adjust the position in the Y-axis direction by appropriately moving the Y-axis slider 33 on the base member 31 in the Y-axis direction, and both the X-axis sliders 35 (35A, 35A, The position in the X-axis direction can be adjusted by appropriately moving the unit 35B) integrally in the X-axis direction, and can be moved along the XY plane. Further, as shown in FIG. 6, the XY adjustment plate 36 moves the X-axis slider 35A and the X-axis slider 35B individually on the base member 31 appropriately in the X-axis direction (relative relative to the X-axis direction). Therefore, the rotational posture viewed around the Z-axis direction with the reference axis Ba as the center of rotation can be appropriately adjusted (see arrow A1). At this time, in the XY adjustment plate 36, the plate-side second support point Sb2 and the slider-side second support point Ss2 resulting from the rotation with the reference axis Ba as the base point, the plate-side third support point Sb3, and the slider-side third support The variation in the direction along the XY plane of the point Ss3, the plate-side fourth support point Sb4, and the slider-side fourth support point Ss4 is the displacement in the third direction at the second connecting portion 52, and By being absorbed by the displacement in the direction along the XY plane in the third connecting portion 53 and the fourth connecting portion 54, support by both X-axis sliders 35 (35A, 35B) is possible. Further, in the XY adjustment plate 36, since the second connecting portion 52 is configured to allow only displacement in the third direction, the positional relationship of the X-axis slider 35B with respect to the X-axis slider 35A and the XY adjustment plate 36 The rotational attitude around the reference axis Ba can be made to correspond one-to-one. For this reason, in this embodiment, the XY adjustment plate 36 functions as a plane adjustment plate, and both the X-axis drive mechanism 34 and both the X-axis sliders 35 also have a function as a rotation drive mechanism.
このXY調整板36には、中心位置を取り囲むように設けられた3つの支持部挿通孔36a、36b、36cと、その中央に設けられた中央貫通孔36dと、が設けられている。3つの支持部挿通孔36a、36b、36cは、3つのZ軸駆動機構37に対応して設けられている。中央貫通孔36dは、Z軸方向から見てY軸スライダ33の貫通孔33aよりも小さな大きさ寸法とされており、X軸スライダ35AとX軸スライダ35Bとが駆動制御の基準位置とされた際、当該貫通孔33aの中心に位置するものとされている。 The XY adjustment plate 36 is provided with three support portion insertion holes 36a, 36b, 36c provided so as to surround the center position, and a central through hole 36d provided in the center thereof. The three support part insertion holes 36 a, 36 b, and 36 c are provided corresponding to the three Z-axis drive mechanisms 37. The central through hole 36d has a size smaller than that of the through hole 33a of the Y-axis slider 33 when viewed from the Z-axis direction, and the X-axis slider 35A and the X-axis slider 35B are used as reference positions for drive control. At this time, the center of the through hole 33a is located.
その3つのZ軸駆動機構37は、XY調整板36の下側(裏面側)に設けられている(図11および図12参照)。各Z軸駆動機構37は、対象ワーク22(図1参照)のZ軸方向での位置およびZ軸方向に対する傾斜の設定(調整)のために設けられている。この3つのZ軸駆動機構37は、本実施例では、図11に示すように、1つ(個別に述べるときは37Aとする)がX軸スライダ35Aの上方に位置されており、残りの2つ(個別に述べるときは37B、37Cとする)がX軸スライダ35Bの上方に位置されている。この各Z軸駆動機構37は、基本的な構成は等しいものであることから、Z軸駆動機構37Aの概略的な構成を説明し、他については省略する。 The three Z-axis drive mechanisms 37 are provided on the lower side (back side) of the XY adjustment plate 36 (see FIGS. 11 and 12). Each Z-axis drive mechanism 37 is provided for setting (adjusting) the position of the target workpiece 22 (see FIG. 1) in the Z-axis direction and the inclination with respect to the Z-axis direction. In the present embodiment, as shown in FIG. 11, one of these three Z-axis drive mechanisms 37 (37A when individually described) is positioned above the X-axis slider 35A, and the remaining two Z-axis drive mechanisms 37 are two. Two (37B and 37C when individually described) are positioned above the X-axis slider 35B. Since each Z-axis drive mechanism 37 has the same basic configuration, a schematic configuration of the Z-axis drive mechanism 37A will be described, and the others will be omitted.
Z軸駆動機構37Aは、図12に示すように、駆動モータ37aと、変換部37bと、伝達軸37cと、スライド軸受部37dと、第1移動部37eと、第1ガイド部37fと、第2ガイド部37gと、第2ガイド保持部37hと、第2移動部37iと、第3ガイド部37jと、第3ガイド保持部37kと、ボールジョイント軸37lと、球面軸受部37mと、Z軸移動部37nと、を有する。 As shown in FIG. 12, the Z-axis drive mechanism 37A includes a drive motor 37a, a conversion unit 37b, a transmission shaft 37c, a slide bearing unit 37d, a first moving unit 37e, a first guide unit 37f, 2 guide portion 37g, second guide holding portion 37h, second moving portion 37i, third guide portion 37j, third guide holding portion 37k, ball joint shaft 37l, spherical bearing portion 37m, Z axis And a moving part 37n.
駆動モータ37aは、載置ステージ30の内方に設けられた駆動制御部43(図14参照)により、印加電流が適宜制御されて、回転制御される。この駆動モータ37aは、本実施例では、ステッピングモータが用いられている。この駆動モータ37aの出力軸は、変換部37bに接続されている。この変換部37bには、伝達軸37cも接続されており、駆動モータ37a(その出力軸)の回転運動を、伝達軸37cのY軸方向への進退運動に変換する。その伝達軸37cは、Y軸方向に延在された棒状を呈し、スライド軸受部37dにY軸方向への進退自在に保持されている。そのスライド軸受部37dは、XY調整板36の裏面(下側の面)に固定されており、駆動モータ37aから駆動力が付与された伝達軸37cが、Y軸方向に進退移動することを補助する。 The drive motor 37a is rotationally controlled by appropriately controlling the applied current by a drive control unit 43 (see FIG. 14) provided inside the mounting stage 30. In this embodiment, a stepping motor is used as the drive motor 37a. The output shaft of the drive motor 37a is connected to the conversion unit 37b. A transmission shaft 37c is also connected to the conversion unit 37b, and the rotational movement of the drive motor 37a (its output shaft) is converted into a forward / backward movement of the transmission shaft 37c in the Y-axis direction. The transmission shaft 37c has a rod shape extending in the Y-axis direction, and is held by the slide bearing portion 37d so as to be movable back and forth in the Y-axis direction. The slide bearing portion 37d is fixed to the back surface (lower surface) of the XY adjustment plate 36, and assists the transmission shaft 37c applied with the driving force from the drive motor 37a to move forward and backward in the Y-axis direction. To do.
その伝達軸37cに、第1移動部37eが固定されている。この第1移動部37eは、上面がX−Y平面に沿いかつ下面がX−Y平面に対して傾斜する所謂くさび形状を呈し、上面部で第1ガイド部37fを摺動自在に保持している。その第1ガイド部37fは、Y軸方向に延在された棒状を呈し、XY調整板36の裏面(下側の面)に固定されている。このため、第1移動部37eは、伝達軸37cのY軸方向への進退移動に伴って、Y軸方向への進退移動することが可能とされている。 The first moving part 37e is fixed to the transmission shaft 37c. The first moving portion 37e has a so-called wedge shape in which the upper surface is along the XY plane and the lower surface is inclined with respect to the XY plane, and the first guide portion 37f is slidably held on the upper surface portion. Yes. The first guide portion 37f has a rod shape extending in the Y-axis direction, and is fixed to the back surface (lower surface) of the XY adjustment plate 36. For this reason, the 1st moving part 37e can be moved forward and backward in the Y-axis direction as the transmission shaft 37c moves forward and backward in the Y-axis direction.
この第1移動部37eの下面に沿うように、第2ガイド部37gが固定されている。この第2ガイド部37gは、棒状を呈し、Y−Z平面に沿いかつY軸に傾斜する方向に延在している。この第2ガイド部37gは、第2ガイド保持部37hに保持される。その第2ガイド保持部37hは、第2ガイド部37gを延在方向に摺動自在に保持可能とされており、第2移動部37iに固定されている。 A second guide portion 37g is fixed along the lower surface of the first moving portion 37e. The second guide portion 37g has a rod shape and extends in a direction along the YZ plane and inclined to the Y axis. The second guide portion 37g is held by the second guide holding portion 37h. The second guide holding portion 37h can hold the second guide portion 37g so as to be slidable in the extending direction, and is fixed to the second moving portion 37i.
その第2移動部37iは、全体に柱状を呈し、Y軸方向に延出する腕部分37oを有する。腕部分37oの上面は、第1移動部37eの下面と平行とされている。この腕部分37oの上面に、第2ガイド保持部37hが固定されている。第2移動部37iには、Y軸方向で見て腕部分37oが延出された側とは反対側に、第3ガイド部37jが固定されている。この第3ガイド部37jは、棒状を呈し、Z軸方向に延在している。第3ガイド部37jは、第3ガイド保持部37kに保持される。この第3ガイド保持部37kは、第3ガイド部37jを延在方向に摺動自在に保持可能とされており、XY調整板36の延出壁36eに固定されている。この延出壁36eは、XY調整板36の裏面(下側の面)から、Z軸方向に沿って下側へと延出されている。 The second moving portion 37i has a columnar shape as a whole and has an arm portion 37o extending in the Y-axis direction. The upper surface of the arm portion 37o is parallel to the lower surface of the first moving part 37e. A second guide holding portion 37h is fixed to the upper surface of the arm portion 37o. A third guide portion 37j is fixed to the second moving portion 37i on the side opposite to the side on which the arm portion 37o is extended when viewed in the Y-axis direction. The third guide portion 37j has a rod shape and extends in the Z-axis direction. The third guide part 37j is held by the third guide holding part 37k. The third guide holding portion 37k can hold the third guide portion 37j so as to be slidable in the extending direction, and is fixed to the extending wall 36e of the XY adjusting plate 36. The extension wall 36e extends downward from the back surface (lower surface) of the XY adjustment plate 36 along the Z-axis direction.
このため、第2移動部37iは、第1移動部37eがY軸方向へと進退移動されると、その第1移動部37eに第2ガイド部37gおよび第2ガイド保持部37hを介して接続されていることにより、第3ガイド保持部37kと第3ガイド部37jとの案内方向であるZ軸方向へと進退移動される。すなわち、第2移動部37iは、伝達軸37cが最も進出する(第1移動部37eが駆動モータ37aから離間する)と、Z軸方向で下側へと移動し、伝達軸37cが最も後退する(第1移動部37eが駆動モータ37aに接近する)と、Z軸方向で上側へと移動する。このことから、各Z軸駆動機構37は、所謂クサビ機構とされている。このZ軸方向に進退移動される第2移動部37iおよび第3ガイド部37jと、XY調整板36に固定されてZ軸方向の高さ位置が一定とされた延出壁36eおよび第3ガイド保持部37kと、は、下部がX軸スライダ35AとX軸スライダ35Bとの間の空間に位置されている。 Therefore, the second moving part 37i is connected to the first moving part 37e via the second guide part 37g and the second guide holding part 37h when the first moving part 37e is moved forward and backward in the Y-axis direction. Thus, the third guide holding portion 37k and the third guide portion 37j are moved back and forth in the Z-axis direction, which is the guide direction. That is, the second moving part 37i moves downward in the Z-axis direction when the transmission shaft 37c is most advanced (the first moving part 37e is separated from the drive motor 37a), and the transmission shaft 37c is most retracted. When the first moving unit 37e approaches the drive motor 37a, the first moving unit 37e moves upward in the Z-axis direction. Therefore, each Z-axis drive mechanism 37 is a so-called wedge mechanism. The second moving portion 37i and the third guide portion 37j moved forward and backward in the Z-axis direction, the extending wall 36e fixed to the XY adjustment plate 36 and the height position in the Z-axis direction fixed, and the third guide The lower portion of the holding portion 37k is located in a space between the X-axis slider 35A and the X-axis slider 35B.
この第2移動部37iの上部にボールジョイント軸37lが設けられている。このボールジョイント軸37lは、Z軸方向に延出されて設けられており、その延出端が球状(37p)とされている。ボールジョイント軸37lの球状部37pは、球面軸受部37mにより保持されている。この球面軸受部37mは、ボールジョイント軸37lの球状部37pを、その球面形状に沿って摺動自在に保持している。球面軸受部37mの上方にZ軸移動部37nが設けられている。このZ軸移動部37nは、柱状を呈している。Z軸移動部37nは、第2移動部37iに対して、ボールジョイント軸37lの球状部37pの中心位置回りに、揺動自在とされている。 A ball joint shaft 371 is provided above the second moving portion 37i. The ball joint shaft 37l is provided so as to extend in the Z-axis direction, and its extending end is spherical (37p). The spherical portion 37p of the ball joint shaft 37l is held by a spherical bearing portion 37m. The spherical bearing portion 37m holds the spherical portion 37p of the ball joint shaft 37l slidably along the spherical shape. A Z-axis moving part 37n is provided above the spherical bearing part 37m. The Z-axis moving part 37n has a columnar shape. The Z-axis moving part 37n is swingable around the center position of the spherical part 37p of the ball joint shaft 37l with respect to the second moving part 37i.
このため、Z軸駆動機構37Aでは、駆動モータ37aが適宜回転駆動されることにより第1移動部37eがY軸方向へと進退移動し、この第1移動部37eのY軸方向への進退移動に伴って第2移動部37iがZ軸方向へと進退移動し、その第2移動部37iにボールジョイント軸37lおよび球面軸受部37mを介して取り付けられたZ軸移動部37nが、スライド軸受部37d、第1移動部37eおよび第3ガイド保持部37kを介して取り付けられたXY調整板36に対してZ軸方向で進退移動する。 Therefore, in the Z-axis drive mechanism 37A, when the drive motor 37a is appropriately driven to rotate, the first moving part 37e moves forward and backward in the Y-axis direction, and the first moving part 37e moves forward and backward in the Y-axis direction. Accordingly, the second moving portion 37i moves forward and backward in the Z-axis direction, and the Z-axis moving portion 37n attached to the second moving portion 37i via the ball joint shaft 37l and the spherical bearing portion 37m is a slide bearing portion. It moves forward and backward in the Z-axis direction with respect to the XY adjustment plate 36 attached via 37d, the first moving part 37e and the third guide holding part 37k.
各Z軸駆動機構37は、上述したように、XY調整板36の各支持部挿通孔(36a、36b、36c)に個別に対応して設けられている。具体的には、図11に示すように、Z軸駆動機構37AのZ軸移動部37nは、支持部挿通孔36aに挿通されており、Z軸駆動機構37BのZ軸移動部37nは、支持部挿通孔36bに挿通されており、Z軸駆動機構37CのZ軸移動部37nは、支持部挿通孔36cに挿通されている。各Z軸駆動機構37では、Z軸移動部37nの上方に、Z軸調整板38の支持のための調整板支持部(37q、37r、37s)が設けられている。このため、本実施例では、Z軸方向が基準平面に直交する第4方向となり、Z軸調整板38が第4方向調整板として機能し、各Z軸駆動機構37が第4方向駆動機構として機能する。また、各Z軸駆動機構37では、駆動モータ37a、変換部37b、伝達軸37c、スライド軸受部37d、第1移動部37e、第1ガイド部37f、第2ガイド部37g、第2ガイド保持部37h、第2移動部37i、第3ガイド部37j、第3ガイド保持部37k、ボールジョイント軸37l、球面軸受部37mおよびZ軸移動部37nが駆動本体部として機能する。 As described above, each Z-axis drive mechanism 37 is provided corresponding to each support portion insertion hole (36a, 36b, 36c) of the XY adjustment plate 36 individually. Specifically, as shown in FIG. 11, the Z-axis moving part 37n of the Z-axis driving mechanism 37A is inserted into the support part insertion hole 36a, and the Z-axis moving part 37n of the Z-axis driving mechanism 37B is supported. The Z-axis moving part 37n of the Z-axis drive mechanism 37C is inserted into the support part insertion hole 36c. In each Z-axis drive mechanism 37, adjustment plate support portions (37q, 37r, 37s) for supporting the Z-axis adjustment plate 38 are provided above the Z-axis moving portion 37n. For this reason, in this embodiment, the Z-axis direction is the fourth direction orthogonal to the reference plane, the Z-axis adjustment plate 38 functions as a fourth direction adjustment plate, and each Z-axis drive mechanism 37 serves as the fourth direction drive mechanism. Function. In each Z-axis drive mechanism 37, a drive motor 37a, a conversion unit 37b, a transmission shaft 37c, a slide bearing unit 37d, a first moving unit 37e, a first guide unit 37f, a second guide unit 37g, and a second guide holding unit. 37h, the second moving portion 37i, the third guide portion 37j, the third guide holding portion 37k, the ball joint shaft 37l, the spherical bearing portion 37m, and the Z-axis moving portion 37n function as a drive main body portion.
Z軸駆動機構37AのZ軸移動部37n上に設けられる調整板支持部37qは、全体に円柱状を呈し、Z軸調整板38の裏面(下側の面)に対して所定の位置で固定される。すなわち、調整板支持部37qは、ボールジョイント軸37lと球面軸受部37mとにより揺動自在とされたZ軸移動部37n上に設けられていることから、Z軸調整板38のX−Y平面に対する傾斜の変化を許容(支持角度を変更自在に)しつつZ軸調整板38の所定の位置を固定的に支持している。このため、調整板支持部37qは、第4方向駆動機構における第1支持部として機能する。 The adjustment plate support portion 37q provided on the Z-axis movement portion 37n of the Z-axis drive mechanism 37A has a cylindrical shape as a whole and is fixed at a predetermined position with respect to the back surface (lower surface) of the Z-axis adjustment plate 38. Is done. That is, since the adjustment plate support portion 37q is provided on the Z-axis movement portion 37n that is swingable by the ball joint shaft 37l and the spherical bearing portion 37m, the XY plane of the Z-axis adjustment plate 38 is provided. A predetermined position of the Z-axis adjusting plate 38 is fixedly supported while allowing a change in inclination with respect to (allowing to change the support angle). For this reason, the adjustment plate support part 37q functions as a first support part in the fourth direction drive mechanism.
Z軸駆動機構37BのZ軸移動部37n上に設けられる調整板支持部37rは、長尺なガイドレールを有し、図示は略すがZ軸調整板38の裏面に設けられたガイドレール保持部により摺動可能に当該ガイドレールが保持されることにより、Z軸調整板38の裏面に接続される。このガイドレールは、延在方向の延長線上にZ軸駆動機構37Aの調整板支持部37q(Z軸移動部37n)の軸線が位置するように、換言すると、当該軸線へ向けて延在するように、位置設定されている。この調整板支持部37rは、ボールジョイント軸37lと球面軸受部37mとにより揺動自在とされたZ軸移動部37n上に設けられていることから、Z軸調整板38のX−Y平面に対する傾斜の変化を許容(支持角度を変更自在に)しつつZ軸調整板38の裏面をガイドレールの延在方向へと変位自在に支持している。このため、調整板支持部37rは、第4方向駆動機構における第2支持部として機能する。 The adjustment plate support portion 37r provided on the Z-axis moving portion 37n of the Z-axis drive mechanism 37B has a long guide rail, and although not shown, a guide rail holding portion provided on the back surface of the Z-axis adjustment plate 38. The guide rail is held so as to be slidable by the movement, so that it is connected to the back surface of the Z-axis adjusting plate 38. This guide rail extends so that the axis of the adjustment plate support portion 37q (Z-axis moving portion 37n) of the Z-axis drive mechanism 37A is positioned on the extension line in the extending direction, in other words, toward the axis. The position is set. Since the adjusting plate support portion 37r is provided on the Z-axis moving portion 37n that can be swung by the ball joint shaft 37l and the spherical bearing portion 37m, the adjusting plate support portion 37r with respect to the XY plane of the Z-axis adjusting plate 38 is provided. The rear surface of the Z-axis adjusting plate 38 is supported so as to be displaceable in the extending direction of the guide rail while allowing the change in inclination (the support angle can be changed freely). For this reason, the adjustment plate support part 37r functions as a second support part in the fourth direction drive mechanism.
Z軸駆動機構37CのZ軸移動部37n上に設けられる調整板支持部37sは、全体に円柱状を呈し、Z軸調整板38の裏面に摺動自在に当接される。すなわち、調整板支持部37sは、ボールジョイント軸37lと球面軸受部37mとにより揺動自在とされたZ軸移動部37n上に設けられていることから、Z軸調整板38のX−Y平面に対する傾斜の変化を許容(支持角度を変更自在に)しつつZ軸調整板38を移動自在に支持している。このため、調整板支持部37sは、第4方向駆動機構における第3支持部として機能する。 The adjustment plate support portion 37s provided on the Z-axis moving portion 37n of the Z-axis drive mechanism 37C has a cylindrical shape as a whole, and is slidably brought into contact with the back surface of the Z-axis adjustment plate 38. That is, since the adjustment plate support portion 37s is provided on the Z-axis movement portion 37n that is swingable by the ball joint shaft 37l and the spherical bearing portion 37m, the XY plane of the Z-axis adjustment plate 38 is provided. The Z-axis adjusting plate 38 is movably supported while allowing a change in inclination with respect to the angle (the support angle can be changed freely). For this reason, the adjustment plate support portion 37s functions as a third support portion in the fourth direction drive mechanism.
そのZ軸調整板38は、図2に示すように、対象ワーク22(図1参照)を吸着保持するチャックプレート40の固定的な載置を可能とする板状部材である。Z軸調整板38は、各Z軸駆動機構37を同期させて駆動することにより、Z軸方向で見た高さ位置が調整される。また、Z軸調整板38は、各Z軸駆動機構37を適宜個別に駆動することにより、X−Y平面に対する傾斜が調整される。このとき、Z軸調整板38では、Z軸駆動機構37Aの調整板支持部37qが固定された箇所が基点となり、その調整板支持部37q、Z軸駆動機構37Bの調整板支持部37rおよびZ軸駆動機構37Cの調整板支持部37sの高さ位置の差異に起因するそれぞれの間隔の変動分が、調整板支持部37rにおけるガイドレールの延在方向への変位と、調整板支持部37sにおける変位と、で、吸収されることにより、各Z軸駆動機構37による支持が可能とされている。また、Z軸調整板38では、Z軸駆動機構37Bの調整板支持部37rがガイドレールの延在方向への変位のみを許容する構成とされていることから、Z軸駆動機構37Aの調整板支持部37qが固定された箇所を基点として、Z軸方向回りに回動することが防止されている。 As shown in FIG. 2, the Z-axis adjusting plate 38 is a plate-like member that enables a fixed placement of the chuck plate 40 that sucks and holds the target workpiece 22 (see FIG. 1). The Z-axis adjusting plate 38 adjusts the height position seen in the Z-axis direction by driving each Z-axis drive mechanism 37 in synchronization. Further, the Z-axis adjusting plate 38 adjusts the inclination with respect to the XY plane by appropriately driving each Z-axis drive mechanism 37 individually. At this time, in the Z-axis adjustment plate 38, a position where the adjustment plate support portion 37q of the Z-axis drive mechanism 37A is fixed becomes a base point, and the adjustment plate support portion 37q, the adjustment plate support portion 37r of the Z-axis drive mechanism 37B, and the Z Variations in the distances due to the difference in height position of the adjustment plate support portion 37s of the shaft drive mechanism 37C are caused by the displacement of the adjustment plate support portion 37r in the extending direction of the guide rail and the adjustment plate support portion 37s. By being absorbed by the displacement, the support by each Z-axis drive mechanism 37 is possible. Further, in the Z-axis adjustment plate 38, the adjustment plate support portion 37r of the Z-axis drive mechanism 37B is configured to permit only displacement in the extending direction of the guide rail, and therefore the adjustment plate of the Z-axis drive mechanism 37A. It is prevented that the support portion 37q is rotated around the Z-axis direction from the location where the support portion 37q is fixed.
このZ軸調整板38には、図3に示すように、工具顕微鏡41と超音波センサ42とが設けられている。この工具顕微鏡41と超音波センサ42とは、図示は略すが中央挿通孔38aの内周縁部に固定されている。その工具顕微鏡41は、中央挿通孔38aから下方へと、XY調整板36の中央貫通孔36dおよびX軸スライダ35AとX軸スライダ35Bとの間の空間に延在されている。工具顕微鏡41は、露光装置10の投影光学系に対するZ軸調整板38(XY調整板36)の基準位置の調整に用いる顕微鏡であり、光軸方向が中央挿通孔38aを介して固定されたZ軸調整板38が基準姿勢とされた状態においてZ軸方向に等しいものとされている。このZ軸調整板38の基準姿勢は、各Z軸駆動機構37(調整板支持部(37q、37r、37s))による支持の高さ位置が等しいものとされた状態、すなわちベース部材31を基準としてX−Y平面に沿う状態をいう。この工具顕微鏡41は、光軸を露光装置10の投影光学系の投影光軸と一致させることにより、露光装置10の投影光学系に対するX−Y平面に沿う方向で見たZ軸調整板38(XY調整板36)の位置を基準位置とするように配置されている。また、工具顕微鏡41は、チャックプレート40上に対象ワーク22が吸着保持された際、当該対象ワーク22を基準平面に沿うものとすべく、チャックプレート40が取り付けられるZ軸調整板38のZ軸方向で見た位置(高さ位置)の調整のためにも用いることが可能とされている。 The Z-axis adjusting plate 38 is provided with a tool microscope 41 and an ultrasonic sensor 42 as shown in FIG. Although not shown, the tool microscope 41 and the ultrasonic sensor 42 are fixed to the inner peripheral edge of the central insertion hole 38a. The tool microscope 41 extends downward from the central insertion hole 38a into the central through hole 36d of the XY adjustment plate 36 and the space between the X-axis slider 35A and the X-axis slider 35B. The tool microscope 41 is a microscope used for adjusting the reference position of the Z-axis adjustment plate 38 (XY adjustment plate 36) with respect to the projection optical system of the exposure apparatus 10, and the optical axis direction is fixed through the central insertion hole 38a. In the state where the axis adjustment plate 38 is in the reference posture, it is equal to the Z-axis direction. The reference posture of the Z-axis adjustment plate 38 is a state in which the height positions of the supports by the respective Z-axis drive mechanisms 37 (adjustment plate support portions (37q, 37r, 37s)) are equal, that is, the base member 31 is used as a reference. The state along the XY plane. The tool microscope 41 has a Z-axis adjusting plate 38 (as viewed in the direction along the XY plane with respect to the projection optical system of the exposure apparatus 10 by matching the optical axis with the projection optical axis of the projection optical system of the exposure apparatus 10. The position of the XY adjustment plate 36) is arranged as a reference position. Further, the tool microscope 41 has a Z-axis of the Z-axis adjusting plate 38 to which the chuck plate 40 is attached so that the target work 22 is along the reference plane when the target work 22 is sucked and held on the chuck plate 40. It can also be used to adjust the position (height position) seen in the direction.
超音波センサ42は、Z軸調整板38の中央挿通孔38aから下方へと、XY調整板36の中央貫通孔36dおよびX軸スライダ35AとX軸スライダ35Bとの間の空間に延在されている。この超音波センサ42は、チャックプレート40上に対象ワーク22が吸着保持(載置)されているか否かの判別のために設けられている。超音波センサ42は、検出方向が、Z軸調整板38が基準姿勢とされた状態においてZ軸方向に等しいものとされている。 The ultrasonic sensor 42 extends downward from the central insertion hole 38a of the Z-axis adjustment plate 38 into the central through hole 36d of the XY adjustment plate 36 and the space between the X-axis slider 35A and the X-axis slider 35B. Yes. The ultrasonic sensor 42 is provided for determining whether or not the target workpiece 22 is sucked and held (placed) on the chuck plate 40. The ultrasonic sensor 42 has a detection direction equal to the Z-axis direction when the Z-axis adjustment plate 38 is in the reference posture.
図2および図3に示すように、Z軸調整板38の下方に、リフト機構39(図2および図3参照)が設けられている。このリフト機構39は、チャックプレート40上で、対象ワーク22(図1参照)をZ軸方向(正確には、Z軸調整板38すなわち後述する載置面40bに直交する方向であり、Z軸を含む高さ方向)に移動させるものである。リフト機構39は、図13に示すように、リフトベース39aと、複数のリフトピン39bと、上下駆動部39cと、リフトピン第1吸引部39d(図14参照)と、リフトピン第2吸引部39e(図14参照)と、を有する。リフトベース39aは、上下駆動部39cによりZ軸方向へと変位自在に保持された枠部材である。この上下駆動部39cは、図示は略すが上端面がZ軸調整板38の裏面(下側の面)に固定されて当該Z軸調整板38に取り付けられている。このため、リフトベース39aは、Z軸調整板38のX−Y平面に対する傾斜に拘らず、上下駆動部39cにより、Z軸調整板38とXY調整板36との間で、Z軸調整板38の板面に直交する方向で見た当該Z軸調整板38に対する位置(Z軸を含む高さ方向の位置)が変位自在とされている。このリフトベース39aに各リフトピン39bが設けられている。 As shown in FIGS. 2 and 3, a lift mechanism 39 (see FIGS. 2 and 3) is provided below the Z-axis adjusting plate 38. The lift mechanism 39 moves the target workpiece 22 (see FIG. 1) on the chuck plate 40 in the Z-axis direction (more precisely, the direction perpendicular to the Z-axis adjusting plate 38, that is, a mounting surface 40b described later). In the height direction including). As shown in FIG. 13, the lift mechanism 39 includes a lift base 39a, a plurality of lift pins 39b, a vertical drive unit 39c, a lift pin first suction unit 39d (see FIG. 14), and a lift pin second suction unit 39e (see FIG. 13). 14). The lift base 39a is a frame member that is held by the vertical drive unit 39c so as to be displaceable in the Z-axis direction. Although not shown, the upper and lower drive unit 39c is attached to the Z-axis adjustment plate 38 with its upper end surface fixed to the back surface (lower surface) of the Z-axis adjustment plate 38. For this reason, the lift base 39a is moved between the Z-axis adjustment plate 38 and the XY adjustment plate 36 by the vertical drive unit 39c regardless of the inclination of the Z-axis adjustment plate 38 with respect to the XY plane. The position relative to the Z-axis adjusting plate 38 (the position in the height direction including the Z-axis) viewed in a direction perpendicular to the plate surface is freely displaceable. Each lift pin 39b is provided on the lift base 39a.
各リフトピン39bは、リフトベース39aからZ軸方向の上側に突起された筒状部材であり、上端にリフトピン吸着面39fが設けられている。このリフトピン吸着面39fは、可撓性を有する材料から形成されており、上方を開口するボウル形状(お碗形状)を呈する(図15A等参照)。各リフトピン39bには、図示は略すが、リフトピン第1吸引部39dまたはリフトピン第2吸引部39e(図14参照)が接続されている。このリフトピン第1吸引部39dまたはリフトピン第2吸引部39eは、対応する各リフトピン39bの基端部からその内方の空間に連通し、当該空間の真空引きおよびその解除が可能とされている。この各リフトピン39bでは、対象ワーク22(図1参照)がリフトピン吸着面39fに載置された状態で内方の空間がリフトピン第1吸引部39dまたはリフトピン第2吸引部39eで真空引きされることにより、その対象ワーク22(図1参照)の吸着保持が可能とされている。本実施例では、リフトピン39bは、リフトベース39a上において、内方に2つ(リフトピン39b1とも言う)配置されるとともに、外方に4つ(リフトピン39b2とも言う)配置されており、2つのリフトピン39b1にはリフトピン第1吸引部39dが接続され、4つのリフトピン39b2にはリフトピン第2吸引部39e(図14参照)が接続されている。このため、リフト機構39では、2つのリフトピン39b1と4つのリフトピン39b2とを別々に真空引きすることが可能とされている。 Each lift pin 39b is a cylindrical member protruding upward from the lift base 39a in the Z-axis direction, and a lift pin suction surface 39f is provided at the upper end. The lift pin adsorbing surface 39f is made of a flexible material and has a bowl shape (a bowl shape) that opens upward (see FIG. 15A and the like). Although not shown, each lift pin 39b is connected to a first lift pin suction portion 39d or a second lift pin suction portion 39e (see FIG. 14). The lift pin first suction portion 39d or the lift pin second suction portion 39e communicates with the inner space from the base end portion of each corresponding lift pin 39b, and the space can be evacuated and released. In each lift pin 39b, the inner space is evacuated by the lift pin first suction portion 39d or the lift pin second suction portion 39e in a state where the target work 22 (see FIG. 1) is placed on the lift pin suction surface 39f. Thus, the suction work of the target work 22 (see FIG. 1) can be held. In this embodiment, two lift pins 39b are arranged on the lift base 39a inward (also referred to as lift pins 39b1) and four outward (also referred to as lift pins 39b2). A lift pin first suction portion 39d is connected to 39b1, and a lift pin second suction portion 39e (see FIG. 14) is connected to the four lift pins 39b2. For this reason, in the lift mechanism 39, the two lift pins 39b1 and the four lift pins 39b2 can be evacuated separately.
この各リフトピン39bは、Z軸調整板38に設けられたピン挿通孔38b(図3等参照)およびチャックプレート40に設けられたピン挿通孔40a(図3および図15A等参照)を経て、チャックプレート40(その後述する載置面40b)の上方へと突出可能とされている。このリフト機構39は、載置ステージ30の内方に設けられた駆動制御部43(図14参照)により制御される。この駆動制御部43は、図14に示すように、両Y軸駆動機構32、両X軸駆動機構34、各Z軸駆動機構37、リフト機構39、後述する固定吸着機構60および平面吸着機構70を制御することが可能とされており、後述する姿勢取得機構44からの検出信号を取得可能とされている。リフト機構39は、各リフトピン39bをチャックプレート40の上方へと突出させた状態(図15参照)で、当該各リフトピン39bの上端面に載置された対象ワーク22(図1参照)を吸着保持し、その後リフトベース39aを下降させて各リフトピン39bをチャックプレート40側へと引き込む(図16参照)ことにより、吸着保持した対象ワーク22をチャックプレート40(後述する載置面40b)上に載置させることができる。 Each lift pin 39b passes through a pin insertion hole 38b (see FIG. 3 and the like) provided in the Z-axis adjusting plate 38 and a pin insertion hole 40a (see FIG. 3 and FIG. 15A and the like) provided in the chuck plate 40, thereby The plate 40 (the mounting surface 40b described later) can protrude upward. The lift mechanism 39 is controlled by a drive control unit 43 (see FIG. 14) provided inside the mounting stage 30. As shown in FIG. 14, the drive control unit 43 includes both Y-axis drive mechanisms 32, both X-axis drive mechanisms 34, each Z-axis drive mechanism 37, a lift mechanism 39, a fixed suction mechanism 60 and a plane suction mechanism 70 described later. And a detection signal from a posture acquisition mechanism 44 described later can be acquired. The lift mechanism 39 sucks and holds the target work 22 (see FIG. 1) placed on the upper end surface of each lift pin 39b in a state where each lift pin 39b protrudes above the chuck plate 40 (see FIG. 15). Thereafter, the lift base 39a is lowered and each lift pin 39b is pulled toward the chuck plate 40 (see FIG. 16), so that the target work 22 held by suction is placed on the chuck plate 40 (a mounting surface 40b described later). Can be placed.
そのチャックプレート40は、図15および図16に示すように、全体に矩形の板状を呈し、高い精度で平坦とされた上面で対象ワーク22(図1参照)の載置のための載置面40bを形成する。チャックプレート40は、Z軸調整板38が基準姿勢とされた状態において、載置面40bが基準平面(X−Y平面)に沿うものとなるように設定されている。そのチャックプレート40には、固定吸着機構60と平面吸着機構70とが設けられている。 As shown in FIGS. 15 and 16, the chuck plate 40 has a rectangular plate shape as a whole and is placed on the upper surface which is flat with high accuracy for placing the target work 22 (see FIG. 1). Surface 40b is formed. The chuck plate 40 is set so that the mounting surface 40b is along the reference plane (XY plane) in a state where the Z-axis adjustment plate 38 is in the reference posture. The chuck plate 40 is provided with a fixed suction mechanism 60 and a flat suction mechanism 70.
固定吸着機構60は、基本的に、リフト機構39(その各リフトピン39b)により吸着保持された対象ワーク22(図1参照)を、チャックプレート40の載置面40b上への載置のために、姿勢変化を招くことなく載置面40bに対する位置を固定して保持するものである。この固定吸着機構60は、固定吸着部としての複数のリップ吸着部61を有する。この各リップ吸着部61は、図15Aに示すように、載置面40bを凹ますようにチャックプレート40に設けられた各吸着凹所40cに個別に設けられている。各リップ吸着部61は、全体に筒状を呈し、上端がリップ吸着面61aとされており、後述するリップ吸引部(62〜65(図14参照))の作用により、リップ吸着面61aでの対象ワーク22(図1参照)の吸着保持が可能とされている。この各リップ吸着部61は、対象ワーク22を吸着保持した状態でのリップ吸着面61a(保持位置)の載置面40bに沿う方向での変位を可能とし、かつリップ吸着面61a(保持位置)を載置面40bからその直交方向(Z軸を含む高さ方向)に突出した状態での対象ワーク22の吸着保持が可能であるとともに、対象ワーク22を吸着保持した状態でリップ吸着面61a(保持位置)を載置面40bと面一とすることが可能とされている。各リップ吸着部61は、本実施例では、可撓性を有する樹脂材料から形成され、載置面40bの直交方向(Z軸を含む高さ方向)に延在する蛇腹状の筒部材とされている。 The fixed suction mechanism 60 basically serves to place the target work 22 (see FIG. 1) sucked and held by the lift mechanism 39 (the lift pins 39b) on the placement surface 40b of the chuck plate 40. The position relative to the mounting surface 40b is fixed and held without causing a change in posture. The fixed suction mechanism 60 has a plurality of lip suction portions 61 as fixed suction portions. As shown in FIG. 15A, each lip suction portion 61 is individually provided in each suction recess 40c provided in the chuck plate 40 so as to dent the mounting surface 40b. Each lip adsorbing portion 61 has a tubular shape as a whole, and an upper end is a lip adsorbing surface 61a. By the action of a lip adsorbing portion (62 to 65 (see FIG. 14)) to be described later, The target work 22 (see FIG. 1) can be sucked and held. Each lip suction portion 61 enables displacement of the lip suction surface 61a (holding position) in a direction along the placement surface 40b in a state where the target workpiece 22 is suctioned and held, and the lip suction surface 61a (holding position). Can be sucked and held from the mounting surface 40b in the orthogonal direction (the height direction including the Z axis), and the lip suction surface 61a ( The holding position) can be flush with the placement surface 40b. In the present embodiment, each lip adsorbing portion 61 is formed of a flexible resin material and is a bellows-like cylindrical member extending in a direction orthogonal to the placement surface 40b (a height direction including the Z axis). ing.
このリップ吸着部61は、図15および図16に示すように、本実施例では、載置面40bの各辺に沿うように3つずつすなわち合計12個設けられており、それぞれの辺毎の4つのグループに分けられている。以下では、グループ毎にリップ吸着部61を述べるときは、図17に示すように、便宜上第n群リップ吸着部61A、61B、61C、61D(nは、1〜4の整数)と言う。すなわち、第1群リップ吸着部61A、第2群リップ吸着部61B、第3群リップ吸着部61C、第4群リップ吸着部61Dは、それぞれ3つのリップ吸着部61を有している。 As shown in FIGS. 15 and 16, in the present embodiment, three lip adsorbing portions 61 are provided along each side of the mounting surface 40b, that is, a total of twelve lip adsorbing portions 61. Divided into four groups. Hereinafter, when describing the lip adsorbing portion 61 for each group, as shown in FIG. 17, it is referred to as an n-th group lip adsorbing portion 61A, 61B, 61C, 61D (n is an integer of 1 to 4) for convenience. That is, the first group lip suction part 61A, the second group lip suction part 61B, the third group lip suction part 61C, and the fourth group lip suction part 61D each have three lip suction parts 61.
各リップ吸着部61には、図示は略すが、リップ吸引部(62〜65(図14参照))が接続されている。このリップ吸引部(62〜65)は、対応する各リップ吸着部61の基端部からその内方の空間に連通し、当該空間の真空引きおよびその解除が可能とされている。この各リップ吸着部61では、対象ワーク22(図1参照)がリップ吸着面61aに載置された状態で内方の空間がリップ吸引部(62〜65)で真空引きされることにより、その対象ワーク22(図1参照)の吸着保持が可能とされている。このとき、各リップ吸着部61では、可撓性を有する蛇腹状の筒部材とされていることから、リップ吸着面61a(保持位置)の載置面40bに沿う方向での変位が可能であるとともに、リップ吸引部(62〜65)による吸引により軸線方向に折り畳むように縮むことが可能とされている。本実施例では、各リップ吸着部61は、上述したように、折り畳むように縮むことにより、リップ吸着面61a(保持位置)を載置面40bと面一とすることが可能とされている。 Although not shown, each lip suction portion 61 is connected to a lip suction portion (62 to 65 (see FIG. 14)). The lip suction portions (62 to 65) communicate with the inner space from the base end portions of the corresponding lip suction portions 61, and the space can be evacuated and released. In each lip suction part 61, the inner space is evacuated by the lip suction part (62 to 65) in a state where the target work 22 (see FIG. 1) is placed on the lip suction surface 61a. The target work 22 (see FIG. 1) can be sucked and held. At this time, since each lip suction portion 61 is a flexible bellows-like cylindrical member, the lip suction surface 61a (holding position) can be displaced in the direction along the mounting surface 40b. At the same time, it can be shrunk so as to be folded in the axial direction by suction by the lip suction part (62 to 65). In the present embodiment, as described above, each lip adsorbing portion 61 is contracted to be folded so that the lip adsorbing surface 61a (holding position) can be flush with the mounting surface 40b.
本実施例では、図14に示すように、第1群リップ吸着部61Aには、リップ第1吸引部62が接続され、第2群リップ吸着部61Bには、リップ第2吸引部63が接続され、第3群リップ吸着部61Cには、リップ第3吸引部64が接続され、第4群リップ吸着部61Dにはリップ第4吸引部65が接続されている。このため、固定吸着機構60では、各第n群リップ吸着部61A、61B、61C、61D(nは、1〜4の整数)を別々に真空引きすることが可能とされている。固定吸着機構60では、図15および図16に示すように、複数のリップ吸着部61(少なくとも2つ)で対象ワーク22を吸着保持することにより、対象ワーク22の姿勢が変化することを防止することができる。ここで対象ワーク22の姿勢とは、基準平面に対する対象ワーク22のX、Y、Z軸方向への傾斜を言う。なお、各リップ吸着部61におけるリップ吸着面61a(保持位置)の載置面40bに沿う方向での変位は、吸着保持した対象ワーク22自体に載置面40bに沿う方向の力が作用しない限り移動方向が揃うことはなくかつ弾性的なものであることから、吸着保持した対象ワーク22をX−Y平面に沿う方向へと移動させるものではない。これにより、固定吸着機構60は、対象ワーク22を吸着保持した各リップ吸着部61における保持箇所の載置面40bに沿う方向での変位を許容しつつ、載置面40bに直交する方向で載置面40b側に移動させることができる。このため、固定吸着機構60は、載置面40bから離間させて吸着保持した対象ワーク22を載置面40b上に載置させることができる。 In the present embodiment, as shown in FIG. 14, the lip first suction part 62 is connected to the first group lip suction part 61A, and the lip second suction part 63 is connected to the second group lip suction part 61B. The lip third suction part 64 is connected to the third group lip suction part 61C, and the lip fourth suction part 65 is connected to the fourth group lip suction part 61D. For this reason, in the fixed suction mechanism 60, each of the n-th group lip suction portions 61A, 61B, 61C, 61D (n is an integer of 1 to 4) can be evacuated separately. In the fixed suction mechanism 60, as shown in FIGS. 15 and 16, the target work 22 is sucked and held by a plurality of lip suction portions 61 (at least two), thereby preventing the posture of the target work 22 from changing. be able to. Here, the posture of the target workpiece 22 refers to the inclination of the target workpiece 22 in the X, Y, and Z axis directions with respect to the reference plane. In addition, the displacement in the direction along the mounting surface 40b of the lip suction surface 61a (holding position) in each lip suction part 61 is as long as the force in the direction along the mounting surface 40b does not act on the suctioned and held target workpiece 22 itself. Since the moving directions are not uniform and elastic, the attracted and held target workpiece 22 is not moved in the direction along the XY plane. As a result, the fixed suction mechanism 60 is mounted in a direction perpendicular to the mounting surface 40b while allowing displacement of the holding location in each lip suction portion 61 holding the target workpiece 22 in the direction along the mounting surface 40b. It can be moved to the placement surface 40b side. For this reason, the fixed suction mechanism 60 can place the target work 22 that is attracted and held away from the placement surface 40b on the placement surface 40b.
平面吸着機構70は、載置面40b上に載置された対象ワーク22を平坦な状態として、載置面40b上で吸着保持するものである。この平面吸着機構70は、複数の平面吸着孔71を有する。この各平面吸着孔71は、高さ方向にチャックプレート40を貫通する貫通孔であり(図3参照)、載置面40bの全領域に渡って設けられている。本実施例では、各平面吸着孔71は、載置面40bに設けられた複数の環状溝72上に設けられており、同一の環状溝72上に位置するもの同士が連通されている(図15A等参照)。この各環状溝72は、載置面40bの中心位置を中心とする矩形状を呈し、載置面40bにおける中央近傍位置から各辺近傍位置にかけて段階的に内方の面積を拡大させるように設けられている。各環状溝72を個別に言う場合には、内側から順に環状溝72A〜環状溝72Gとする。 The flat suction mechanism 70 sucks and holds the target work 22 placed on the placement surface 40b on the placement surface 40b in a flat state. The flat suction mechanism 70 has a plurality of flat suction holes 71. Each flat suction hole 71 is a through-hole penetrating the chuck plate 40 in the height direction (see FIG. 3), and is provided over the entire area of the mounting surface 40b. In the present embodiment, each planar suction hole 71 is provided on a plurality of annular grooves 72 provided on the mounting surface 40b, and those located on the same annular groove 72 are communicated with each other (FIG. 15A etc.). Each annular groove 72 has a rectangular shape centered on the center position of the mounting surface 40b, and is provided so as to gradually increase the inner area from a position near the center of the mounting surface 40b to a position near each side. It has been. When each annular groove 72 is said individually, it is referred to as an annular groove 72A to an annular groove 72G in order from the inside.
各平面吸着孔71には、図示は略すが、平面孔吸引部(73〜75(図14参照))が接続されている。この平面孔吸引部(73〜75(図14参照))は、チャックプレート40の裏面側で、対応する各平面吸着孔71に連通し、その内方の空間の真空引きおよびその解除が可能とされている。この各平面吸着孔71では、対象ワーク22(図1参照)が載置面40bに載置された状態で内方の空間が平面孔吸引部(73〜75(図14参照))で真空引きされることにより、その対象ワーク22(図1参照)の載置面40b上での吸着保持が可能とされている。本実施例では、各平面吸着孔71が環状溝72A〜環状溝72G上に設けられていることから、各環状溝72A〜環状溝72Gは、各平面吸着孔71が平面孔吸引部(73〜75(図14参照))で真空引きされることにより、対象ワーク22(図1参照)を載置面40bに吸着保持させることができる。このため、チャックプレート40は、固定吸着機構60および平面吸着機構70により、対象ワーク22(図1参照)を載置面40b上で吸着により保持することができる吸着ステージとして機能する。 Each flat suction hole 71 is connected to a flat hole suction part (73 to 75 (see FIG. 14)), although not shown. These flat hole suction portions (73 to 75 (see FIG. 14)) communicate with the corresponding flat surface suction holes 71 on the back surface side of the chuck plate 40, and can evacuate and release the inner space. Has been. In each planar suction hole 71, the inner space is evacuated by the planar hole suction part (73 to 75 (see FIG. 14)) while the target work 22 (see FIG. 1) is placed on the placement surface 40b. As a result, the target workpiece 22 (see FIG. 1) can be sucked and held on the placement surface 40b. In the present embodiment, each planar suction hole 71 is provided on the annular groove 72A to the annular groove 72G. Therefore, each planar suction hole 71 has a planar hole suction portion (73 to 72-G). 75 (see FIG. 14)), the target workpiece 22 (see FIG. 1) can be sucked and held on the placement surface 40b. Therefore, the chuck plate 40 functions as a suction stage that can hold the target workpiece 22 (see FIG. 1) by suction on the placement surface 40b by the fixed suction mechanism 60 and the flat suction mechanism 70.
各環状溝72は、本実施例では、図18に示すように、内側の環状溝72A〜環状溝72Cと、中間の環状溝72D〜環状溝72Fと、外側の環状溝72Gと、の3つのグループ(符号77、78、79参照)に分けられている。このため、本実施例では、各グループに対応して3つの平面孔吸引部73、74、75(図14参照)が設けられており、内側の環状溝72A〜環状溝72Cには、平面第1孔吸引部73が接続され、中間の環状溝72D〜環状溝72Fには、平面第2孔吸引部74が接続され、外側の環状溝72Gには、平面第3孔吸引部75が接続されている。この接続のために、チャックプレート40の裏面側に複数の吸引室76(図19参照)が形成されている。 In this embodiment, as shown in FIG. 18, each annular groove 72 includes three inner annular grooves 72A to 72C, an intermediate annular groove 72D to an annular groove 72F, and an outer annular groove 72G. It is divided into groups (see reference numerals 77, 78, 79). For this reason, in this embodiment, three plane hole suction portions 73, 74, and 75 (see FIG. 14) are provided corresponding to each group. A one-hole suction part 73 is connected, a planar second hole suction part 74 is connected to the intermediate annular groove 72D to the annular groove 72F, and a planar third hole suction part 75 is connected to the outer annular groove 72G. ing. For this connection, a plurality of suction chambers 76 (see FIG. 19) are formed on the back side of the chuck plate 40.
各吸引室76は、図19に示すように、チャックプレート40の裏面が凹状とされつつリブ部で区画された凹所が、図示を略す封止部材で閉鎖されることにより形成されている。この各吸引室76は、本実施例では、内側の吸引室76Aと、それを取り巻く吸引室76Bと、その各辺を取り巻く4つの吸引室76Cと、を有する。図示は略すが、吸引室76Aは、環状溝72A〜環状溝72C上の各平面吸着孔71(図18等参照)に連通し、吸引室76Bは、環状溝72D〜環状溝72F上の各平面吸着孔71(図18等参照)に連通し、4つの吸引室76Cは、環状溝72G上の各平面吸着孔71(図18等参照)に連通している。また、図示は略すが、吸引室76Aには、平面第1孔吸引部73が接続され、吸引室76Bには、平面第2孔吸引部74が接続され、吸引室76Cには、平面第3孔吸引部75が接続されている(図14参照)。 As shown in FIG. 19, each suction chamber 76 is formed by closing a recess defined by a rib portion while the back surface of the chuck plate 40 is concave with a sealing member (not shown). In the present embodiment, each suction chamber 76 includes an inner suction chamber 76A, a suction chamber 76B surrounding the suction chamber 76A, and four suction chambers 76C surrounding each side. Although not shown, the suction chamber 76A communicates with each flat surface suction hole 71 (see FIG. 18 and the like) on the annular groove 72A to the annular groove 72C, and the suction chamber 76B includes each plane on the annular groove 72D to the annular groove 72F. The four suction chambers 76C communicate with the suction holes 71 (see FIG. 18 and the like) and communicate with the respective planar suction holes 71 (see FIG. 18 and the like) on the annular groove 72G. Although not shown in the drawing, the flat first hole suction part 73 is connected to the suction chamber 76A, the flat second hole suction part 74 is connected to the suction chamber 76B, and the flat third hole suction part 76C is connected to the suction chamber 76C. A hole suction portion 75 is connected (see FIG. 14).
このため、平面吸着機構70では、図18に示すように、平面第1孔吸引部73(図14参照)で真空引きすることにより、吸引室76A(図19参照)およびそこに連通する各平面吸着孔71を介して環状溝72A〜環状溝72C内を真空引きすることができる。このとき、環状溝72A〜環状溝72Cが、載置面40b上において互いに隣接しつつ中心位置を取り囲んでいることから、載置面40bの中心位置から環状溝72Cの周辺位置までの所定の領域(第1吸着区画77とする)で、載置面40bとそこに載置された対象ワーク22との間が真空引きされることとなる。これにより、平面吸着機構70では、平面第1孔吸引部73で真空引きすることにより、載置面40bの中心位置から環状溝72Cの周辺位置までの第1吸着区画77において、載置面40bとの協働により対象ワーク22を吸着保持することができる。同様に、平面吸着機構70では、平面第2孔吸引部74で真空引きすることにより、吸引室76Bおよびそこに連通する各平面吸着孔71を介して環状溝72D〜環状溝72F内を真空引きし、第1吸着区画77の外方から環状溝72Fの周辺位置までの第2吸着区画78において、載置面40bとの協働により対象ワーク22を吸着保持することができる。また、同様に、平面吸着機構70では、平面第3孔吸引部75で真空引きすることにより、4つの吸引室76Cおよびそこに連通する各平面吸着孔71を介して環状溝72G内を真空引きし、第2吸着区画78の外方から環状溝72Gの周辺位置までの第3吸着区画79において、載置面40bとの協働により対象ワーク22を吸着保持することができる。 Therefore, in the flat surface suction mechanism 70, as shown in FIG. 18, the vacuum chamber 76A (see FIG. 19) and each plane communicating therewith are evacuated by the flat first hole suction part 73 (see FIG. 14). The inside of the annular grooves 72A to 72C can be evacuated through the suction holes 71. At this time, since the annular groove 72A to the annular groove 72C surround the center position while being adjacent to each other on the placement surface 40b, a predetermined region from the center position of the placement surface 40b to the peripheral position of the annular groove 72C. In (the first suction section 77), the space between the placement surface 40b and the target workpiece 22 placed thereon is evacuated. Thus, in the flat suction mechanism 70, the mounting surface 40b is placed in the first suction section 77 from the center position of the mounting surface 40b to the peripheral position of the annular groove 72C by evacuating the flat first hole suction part 73. The target workpiece 22 can be sucked and held in cooperation with the above. Similarly, in the flat surface suction mechanism 70, the inside of the annular grooves 72D to 72F is evacuated through the suction chamber 76B and the respective flat surface suction holes 71 communicated therewith by evacuating the flat second hole suction part 74. In the second suction section 78 from the outside of the first suction section 77 to the peripheral position of the annular groove 72F, the target work 22 can be sucked and held in cooperation with the placement surface 40b. Similarly, in the flat suction mechanism 70, the inside of the annular groove 72G is evacuated via the four suction chambers 76C and the flat suction holes 71 communicating therewith by vacuuming with the flat third hole suction part 75. In the third suction section 79 from the outside of the second suction section 78 to the peripheral position of the annular groove 72G, the target work 22 can be sucked and held in cooperation with the placement surface 40b.
なお、本実施例では、リフト機構39、固定吸着機構60および平面吸着機構70における各吸引部(39d、39e、62〜65、73〜75)は、図示は略すが、単一の真空ポンプとそこに接続された複数の配管と各配管に設けられた弁機構とにより構成されており、当該弁機構を適宜開閉動作させることにより各吸引部における個別の真空引きおよびその解除が行われる。この平面吸着機構70の動作は、リフト機構39および固定吸着機構60の動作とともに、載置ステージ30の内方に設けられた駆動制御部43の制御下で行われる(図14参照)。この制御については、後に詳細に説明する。 In the present embodiment, each suction part (39d, 39e, 62 to 65, 73 to 75) in the lift mechanism 39, the fixed suction mechanism 60, and the flat suction mechanism 70 is not illustrated, but is a single vacuum pump. A plurality of pipes connected thereto and valve mechanisms provided in the respective pipes are configured, and individual vacuuming and releasing thereof are performed in each suction portion by appropriately opening and closing the valve mechanisms. The operation of the flat suction mechanism 70 is performed under the control of the drive control unit 43 provided inside the mounting stage 30 together with the operations of the lift mechanism 39 and the fixed suction mechanism 60 (see FIG. 14). This control will be described in detail later.
この載置ステージ30では、チャックプレート40の上方へと突出させた各リフトピン39bの上端面に載置された対象ワーク22(図1参照)を吸着保持し、その対象ワーク22を、リフト機構39の動作により、チャックプレート40による吸着保持へと移行する。その後、載置ステージ30では、チャックプレート40で吸着保持した対象ワーク22の姿勢に応じて、当該対象ワーク22を露光装置10の投影光学系の結像面(基準平面)に沿う適切な姿勢としつつ当該投影光学系に対する適切な位置とする。具体的には、ベース部材31上において、両Y軸スライダ33をY軸方向に、かつ両X軸スライダ35(35A、35B)をX軸方向に適宜移動させることにより、チャックプレート40、Z軸調整板38および各Z軸駆動機構37を介してXY調整板36に設けられた対象ワーク22のX−Y平面に沿う位置および回転姿勢を調整する。また、各Z軸駆動機構37による支持位置を適宜変更することにより、チャックプレート40およびZ軸調整板38を介してXY調整板36に設けられた対象ワーク22のZ軸方向での位置(高さ位置)およびX−Y平面に対する傾斜を調整する。これにより、露光装置10では、対象ワーク22にマスクパターン像を適切に露光することができる。 In the mounting stage 30, the target work 22 (see FIG. 1) placed on the upper end surface of each lift pin 39 b that protrudes upward from the chuck plate 40 is sucked and held, and the target work 22 is held by the lift mechanism 39. With this operation, the operation shifts to suction holding by the chuck plate 40. Thereafter, in the mounting stage 30, the target workpiece 22 is set to an appropriate posture along the imaging plane (reference plane) of the projection optical system of the exposure apparatus 10 according to the posture of the target workpiece 22 sucked and held by the chuck plate 40. However, the position is appropriate for the projection optical system. Specifically, on the base member 31, by moving both Y-axis sliders 33 in the Y-axis direction and both X-axis sliders 35 (35A, 35B) in the X-axis direction as appropriate, the chuck plate 40, Z-axis The position and rotational attitude of the target workpiece 22 provided on the XY adjustment plate 36 along the XY plane are adjusted via the adjustment plate 38 and each Z-axis drive mechanism 37. Further, by appropriately changing the support position by each Z-axis drive mechanism 37, the position (high height) of the target workpiece 22 provided on the XY adjustment plate 36 via the chuck plate 40 and the Z-axis adjustment plate 38 is increased. Position) and tilt relative to the XY plane. As a result, the exposure apparatus 10 can appropriately expose the mask pattern image on the target workpiece 22.
次に、リフト機構39、固定吸着機構60および平面吸着機構70により、対象ワーク22を平坦な状態としてチャックプレート40(その載置面40b)で吸着保持する工程について、図1ないし図19を参照しつつ説明する。なお、この工程は、上述したように、載置ステージ30の内方に設けられた駆動制御部43(図14参照)の制御下で行われる。また、図2、図3および、図15ないし図18では、構成および動作の理解容易のために対象ワーク22の図示は省略している。 Next, with reference to FIGS. 1 to 19, the process of sucking and holding the target workpiece 22 by the chuck plate 40 (the mounting surface 40 b) by the lift mechanism 39, the fixed suction mechanism 60 and the flat suction mechanism 70 will be described with reference to FIGS. 1 to 19. However, it will be explained. Note that this step is performed under the control of the drive control unit 43 (see FIG. 14) provided inside the placement stage 30 as described above. Further, in FIGS. 2, 3 and 15 to 18, the illustration of the target work 22 is omitted for easy understanding of the configuration and operation.
載置ステージ30に載置される対象ワーク22(図1参照)は、図示は略すが、搬送ハンド(搬送アーム)により保持された状態で、チャックプレート40上に搬送される。この搬送ハンドは、公知の構成とされており、対象ワーク22を下方から支持するように吸着保持することが可能とされ、その保持状態を維持しつつ移動可能とされている。対象ワーク22が、搬送ハンド(搬送アーム)によりチャックプレート40上に搬送されたことは、超音波センサ42(図3参照)により検出することができる。 The target workpiece 22 (see FIG. 1) placed on the placement stage 30 is transported onto the chuck plate 40 while being held by a transport hand (transport arm), although not shown. The transport hand has a known configuration, and can suck and hold the target work 22 so as to support it from below, and can move while maintaining the holding state. The ultrasonic sensor 42 (see FIG. 3) can detect that the target workpiece 22 has been transferred onto the chuck plate 40 by the transfer hand (transfer arm).
その対象ワーク22がチャックプレート40上に搬送されると、載置ステージ30では、図15に示すように、リフト機構39が、各リフトピン39bをチャックプレート40(載置面40b)の上方へと突出させて、各リフトピン吸着面39fを対象ワーク22の裏面に当接させる。その後、リフト機構39では、リフトピン第1吸引部39d(図14参照)での真空引きにより2つのリフトピン39b1で対象ワーク22の中央近傍を吸着保持し、続いてリフトピン第2吸引部39e(図14参照)での真空引きにより4つのリフトピン39b2で対象ワーク22の4つの隅部近傍を吸着保持する。これにより、リフト機構39では、搬送ハンド(図示せず)に吸着保持されている対象ワーク22の姿勢を維持したまま、各リフトピン39b(そのリフトピン吸着面39f)で吸着保持することができる。なお、本実施例の露光装置10では、対象ワーク22が搬送ハンド(図示せず)に吸着保持されている状態において、その対象ワーク22の姿勢を姿勢取得機構44(図14参照)で取得する。その後、リフト機構39は、図16に示すように、各リフトピン39bをチャックプレート40側へと引き込んで、吸着保持した対象ワーク22の裏面に各リップ吸着部61のリップ吸着面61aを当接させる。 When the target workpiece 22 is transferred onto the chuck plate 40, the lift mechanism 39 moves the lift pins 39b upward of the chuck plate 40 (mounting surface 40b) on the mounting stage 30, as shown in FIG. Each lift pin suction surface 39f is brought into contact with the back surface of the target workpiece 22 by projecting. Thereafter, the lift mechanism 39 sucks and holds the vicinity of the center of the target workpiece 22 with the two lift pins 39b1 by evacuation by the lift pin first suction portion 39d (see FIG. 14), and then the lift pin second suction portion 39e (FIG. 14). The four corners of the workpiece 22 are sucked and held by the four lift pins 39b2 by evacuation in (see). Thereby, the lift mechanism 39 can suck and hold each lift pin 39b (the lift pin suction surface 39f) while maintaining the posture of the target workpiece 22 sucked and held by the transport hand (not shown). In the exposure apparatus 10 of the present embodiment, the posture of the target workpiece 22 is acquired by the posture acquisition mechanism 44 (see FIG. 14) in a state where the target workpiece 22 is sucked and held by a transport hand (not shown). . Thereafter, as shown in FIG. 16, the lift mechanism 39 pulls each lift pin 39 b toward the chuck plate 40, and brings the lip suction surface 61 a of each lip suction portion 61 into contact with the back surface of the target work 22 held by suction. .
すると、載置ステージ30では、図16および図17に示すように、固定吸着機構60が、各リップ吸引部62〜65(図14参照)での真空引きを行って、各リップ吸着部61(そのリップ吸着面61a)で対象ワーク22を吸着保持する。その後、リフト機構39は、各リフトピン39bによる吸着保持を解除して、各リフトピン39bをチャックプレート40内へと引き込む。固定吸着機構60は、各リップ吸引部62〜65での真空引きを継続し、対象ワーク22を吸着保持した状態でリップ吸着面61a(保持位置)を載置面40bと面一となる高さ位置まで、各リップ吸着部61を収縮させる(折り畳ませる)。これにより、固定吸着機構60では、リフト機構39に吸着保持されていた対象ワーク22の姿勢を維持したまま、各リップ吸着部61で吸着保持しつつ対象ワーク22を載置面40b上に載置することができる。なお、固定吸着機構60では、第n群リップ吸着部61A、61B、61C、61D(nは、1〜4の整数)にグループ分けされた構成とされていたが、本実施例では、総ての吸着動作を一斉に行うものとしている。 Then, in the mounting stage 30, as shown in FIGS. 16 and 17, the fixed suction mechanism 60 performs evacuation by the lip suction parts 62 to 65 (see FIG. 14), and each lip suction part 61 ( The target work 22 is sucked and held by the lip suction surface 61a). Thereafter, the lift mechanism 39 releases the suction holding by the lift pins 39 b and pulls the lift pins 39 b into the chuck plate 40. The fixed suction mechanism 60 continues to be evacuated by each of the lip suction parts 62 to 65, and the height at which the lip suction surface 61a (holding position) is flush with the placement surface 40b in a state where the target workpiece 22 is suctioned and held. Each lip suction part 61 is contracted (folded) to the position. As a result, in the fixed suction mechanism 60, the target work 22 is placed on the placement surface 40b while being held by the lip suction portions 61 while maintaining the posture of the target work 22 held by the lift mechanism 39. can do. In addition, in the fixed adsorption | suction mechanism 60, although it was set as the structure divided into the nth group lip adsorption | suction part 61A, 61B, 61C, 61D (n is an integer of 1-4), in a present Example, all The adsorption operation is performed all at once.
その後、載置ステージ30では、平面吸着機構70による段階的な吸着動作を開始する。平面吸着機構70では、本実施例では、図18に示すように、先ず、平面第1孔吸引部73(図14参照)での真空引きにより、載置面40bの第1吸着区画77での対象ワーク22の吸着保持を行う。これにより、平面吸着機構70では、固定吸着機構60に吸着保持されている対象ワーク22の姿勢を維持したまま、当該対象ワーク22を載置面40bの第1吸着区画77に吸着させることができる。次に、平面吸着機構70では、平面第2孔吸引部74(図14参照)での真空引きにより、載置面40bの第2吸着区画78での対象ワーク22の吸着保持を行う。次に、平面吸着機構70では、平面第3孔吸引部75(図14参照)での真空引きにより、載置面40bの第3吸着区画79での対象ワーク22の吸着保持を行う。この平面吸着機構70による段階的な吸着動作により、対象ワーク22が、固定吸着機構60に吸着保持されていた姿勢を維持しつつ平坦な状態とされて載置面40b(チャックプレート40)に吸着される。これについて以下で説明する。 Thereafter, the stage 30 starts a stepwise suction operation by the flat suction mechanism 70. In the flat suction mechanism 70, in this embodiment, as shown in FIG. 18, first, the first suction section 77 of the mounting surface 40b is evacuated by evacuation in the flat first hole suction portion 73 (see FIG. 14). The target workpiece 22 is sucked and held. Thereby, in the plane suction mechanism 70, the target work 22 can be sucked to the first suction section 77 of the placement surface 40b while maintaining the posture of the target work 22 sucked and held by the fixed suction mechanism 60. . Next, in the flat suction mechanism 70, the target work 22 is sucked and held in the second suction section 78 of the placement surface 40b by evacuation by the flat second hole suction part 74 (see FIG. 14). Next, in the flat suction mechanism 70, the target workpiece 22 is sucked and held in the third suction section 79 of the placement surface 40b by evacuation by the flat third hole suction portion 75 (see FIG. 14). By the stepwise suction operation by the flat suction mechanism 70, the target work 22 is made flat while maintaining the posture held by the fixed suction mechanism 60 and sucked to the mounting surface 40b (chuck plate 40). Is done. This will be described below.
対象ワーク22では、リフト機構39(その各リフトピン39b)に保持されている状態において撓みが生じている場合がある。この撓みとは、全体的か部分的かは問わず平板状の対象ワーク22自体が湾曲していることを言い、うねりや反りとも言うことができる。この撓みは、露光装置10の投影光学系によるマスクパターン像の適切な露光の妨げとなってしまうことから、解消した状態とすること、すなわち対象ワーク22を平坦な状態として載置面40b(チャックプレート40)で保持することが望まれている。 The target workpiece 22 may be bent while being held by the lift mechanism 39 (the lift pins 39b). This bending means that the flat target workpiece 22 itself is curved regardless of whether it is whole or partial, and can also be called swell or warp. Since this bending hinders appropriate exposure of the mask pattern image by the projection optical system of the exposure apparatus 10, it is set in a canceled state, that is, the mounting surface 40b (chuck) with the target workpiece 22 in a flat state. It is desired to hold on the plate 40).
平面吸着機構70では、上述したように、最初に、対象ワーク22を平坦な載置面40bの第1吸着区画77に吸着させる。これは、対象ワーク22は、固定吸着機構60に吸着保持されている状態において、自身の重さにより中央が垂れ下がるように湾曲している撓みが生じていることが考えられることによる。これにより、対象ワーク22は、固定吸着機構60に吸着保持されている姿勢が維持されて、中央近傍が載置面40bに吸着されて平坦とされる。その後、平面吸着機構70では、第1吸着区画77での吸着を維持したまま、対象ワーク22を載置面40bの第2吸着区画78に吸着させる。すると、対象ワーク22では、先に吸着された中央近傍から放射方向外側が、載置面40bに吸着されることとなるので、中央近傍を中心として撓みによる余剰分を放射方向外側へと逃がすように、中央近傍を取り囲む箇所(第2吸着区画78に相当する領域)が載置面40bに吸着されて平坦とされる。このとき、対象ワーク22は、固定吸着機構60の各リップ吸着部61により吸着保持されているが、その各リップ吸着部61が可撓性を有する蛇腹状の筒部材とされてリップ吸着面61a(保持位置)の載置面40bに沿う方向での変位を許容していることから、各リップ吸着部61による吸着保持が問題となることはない。その後、平面吸着機構70では、第1吸着区画77および第2吸着区画78での吸着を維持したまま対象ワーク22を載置面40bの第3吸着区画79に吸着させる。すると、対象ワーク22では、先に吸着された中央近傍およびその外方から放射方向外側が、載置面40bに吸着されることとなるので、吸着された箇所を中心として撓みによる余剰分を放射方向外側へと逃がすように、中央近傍を取り囲む箇所(第3吸着区画79に相当する領域)が載置面40bに吸着されて平坦とされる。すなわち、本実施例では、載置面40bにおける中心位置から放射方向外側の外周縁部へ向けて、順に吸着動作を開始していることとなる。 In the flat suction mechanism 70, as described above, the target work 22 is first sucked into the first suction section 77 of the flat placement surface 40b. This is because the target work 22 is considered to be bent so that the center hangs down due to its own weight in a state where the target work 22 is sucked and held by the fixed suction mechanism 60. As a result, the posture of the target work 22 being sucked and held by the fixed suction mechanism 60 is maintained, and the vicinity of the center is sucked and flattened by the placement surface 40b. Thereafter, in the planar suction mechanism 70, the target work 22 is sucked to the second suction section 78 of the placement surface 40b while maintaining the suction in the first suction section 77. Then, in the target workpiece 22, the radially outer side from the vicinity of the center attracted first is attracted to the placement surface 40b, so that the surplus due to the deflection around the center near is released outward in the radial direction. In addition, a portion surrounding the center (a region corresponding to the second suction section 78) is sucked and flattened by the placement surface 40b. At this time, the target workpiece 22 is sucked and held by each lip sucking portion 61 of the fixed sucking mechanism 60, but each lip sucking portion 61 is a flexible bellows-like cylindrical member, and the lip sucking surface 61a. Since the displacement of the (holding position) in the direction along the mounting surface 40b is allowed, suction holding by each lip suction portion 61 does not become a problem. Thereafter, in the planar suction mechanism 70, the target workpiece 22 is sucked to the third suction section 79 of the placement surface 40b while maintaining the suction in the first suction section 77 and the second suction section 78. Then, in the object work 22, since the vicinity of the center previously sucked and the outside in the radial direction from the outside are sucked to the mounting surface 40b, the surplus due to the bending is radiated around the sucked portion. A portion (region corresponding to the third suction section 79) surrounding the vicinity of the center is attracted to the placement surface 40b so as to escape to the outside in the direction and is flattened. That is, in the present embodiment, the suction operation is started in order from the center position on the mounting surface 40b toward the outer peripheral edge on the radially outer side.
これにより、チャックプレート40では、搬送ハンド(図示せず)により吸着保持されている対象ワーク22の姿勢を変化させることなく、当該対象ワーク22を平坦な状態として、載置面40bに吸着させる(吸着保持する)ことができる。 Thereby, in the chuck plate 40, the target workpiece 22 is made to be in a flat state and sucked to the mounting surface 40b without changing the posture of the target workpiece 22 held by suction by a transport hand (not shown) ( Adsorption holding).
本実施例の載置ステージ30では、上述したように、搬送ハンド(図示せず)により吸着保持されている状態での対象ワーク22の姿勢を姿勢取得機構44(図14参照)で取得している。その取得した対象ワーク22の姿勢は、上述したように、リフト機構39および固定吸着機構60を経て平面吸着機構70により平坦な状態とされても変化することはない。このため、載置ステージ30では、対象ワーク22をチャックプレート40で吸着保持した後、姿勢取得機構44(図14参照)で取得した当該対象ワーク22の姿勢に基づいて、ベース部材31上において、両Y軸スライダ33をY軸方向にかつ両X軸スライダ35(35A、35B)をX軸方向に適宜移動させつつ、各Z軸駆動機構37による支持位置を適宜変更することにより、対象ワーク22において露光装置10の投影光学系により露光を行う箇所を、その結像面となる基準平面上に適切な状態で位置させることができる。これにより、露光装置10では、対象ワーク22にマスクパターン像を適切に露光することができる。 In the mounting stage 30 of the present embodiment, as described above, the posture of the target workpiece 22 in a state of being held by suction by a transport hand (not shown) is acquired by the posture acquisition mechanism 44 (see FIG. 14). Yes. As described above, the acquired posture of the target workpiece 22 does not change even if the flat state is obtained by the flat suction mechanism 70 via the lift mechanism 39 and the fixed suction mechanism 60. For this reason, after the target workpiece 22 is sucked and held by the chuck plate 40 in the mounting stage 30, on the base member 31, based on the posture of the target workpiece 22 acquired by the posture acquisition mechanism 44 (see FIG. 14). By appropriately changing the support position by each Z-axis drive mechanism 37 while appropriately moving both Y-axis sliders 33 in the Y-axis direction and both X-axis sliders 35 (35A, 35B) in the X-axis direction, the target workpiece 22 is changed. In FIG. 5, the position where the projection optical system of the exposure apparatus 10 performs exposure can be positioned in an appropriate state on the reference plane serving as the imaging plane. As a result, the exposure apparatus 10 can appropriately expose the mask pattern image on the target workpiece 22.
このように、本発明に係る吸着ステージとしてのチャックプレート40では、平面吸着機構70が、載置面40bにおいて、中心位置を含む第1吸着区画77から、第2吸着区画78を経て第3吸着区画79へと外周縁部へ向けて、順に吸着動作を開始することから、対象ワーク22に撓みが生じている場合であっても、その撓みによる余剰分を放射方向外側へと逃がすことができるので、対象ワーク22を適切に平坦な載置面40bに吸着させることができる。これにより、対象ワーク22を平坦な状態として吸着保持することができる。 As described above, in the chuck plate 40 as the suction stage according to the present invention, the planar suction mechanism 70 has the third suction from the first suction section 77 including the center position on the placement surface 40b through the second suction section 78. Since the suction operation is started in order toward the outer peripheral edge portion toward the section 79, even if the target work 22 is bent, the surplus due to the bending can be released outward in the radial direction. Therefore, the target workpiece 22 can be appropriately adsorbed on the flat mounting surface 40b. Thereby, the target workpiece 22 can be sucked and held in a flat state.
また、チャックプレート40では、平面吸着機構70が、載置面40bを開口する複数の平面吸着孔71で吸引(真空引き)することにより、対象ワーク22を平坦な状態とするものであることから、製品精度の低下を招いてしまうことを防止することができる。これは、例えば、載置面40b上で対象ワーク22を爪で押さえつけることにより平坦な状態とする構成とした場合、当該爪で対象ワーク22の表面にキズを付けてしまったり、当該爪の動作に起因して対象ワーク22に塵埃を付着させてしまったりして、製品精度の低下を招いてしまう虞があることによる。 In the chuck plate 40, the flat suction mechanism 70 sucks (evacuates) the plurality of flat suction holes 71 that open the mounting surface 40b, thereby bringing the target workpiece 22 into a flat state. Therefore, it is possible to prevent the product accuracy from being lowered. This is because, for example, when the target work 22 is pressed down on the placement surface 40b with a nail to be in a flat state, the surface of the target work 22 may be scratched by the nail, or the operation of the nail This is because dust may adhere to the target work 22 due to the above, and the product accuracy may be reduced.
さらに、チャックプレート40では、平面吸着機構70が、載置面40bを開口する複数の平面吸着孔71で吸引(真空引き)することにより、対象ワーク22を平坦な状態とするものであることから、対象ワーク22が載置面40b上に載置されると直ちに各平面吸着孔71での吸引(真空引き)を開始することができるので、マスクパターンの形成に要する時間(スループット)の短縮を図ることができる。これは、例えば、載置面40b上で対象ワーク22を爪で押さえつけることにより平坦な状態とする構成とした場合、載置面40bに載置された対象ワーク22上へと当該爪を出し入れする必要があることから、マスクパターンの形成に要する時間を増大させる要因となってしまうことによる。 Further, in the chuck plate 40, the flat suction mechanism 70 sucks (vacuums) the plurality of flat suction holes 71 that open the mounting surface 40b, thereby bringing the target workpiece 22 into a flat state. As soon as the target workpiece 22 is placed on the placement surface 40b, the suction (evacuation) in each flat suction hole 71 can be started, so that the time (throughput) required for forming the mask pattern can be shortened. Can be planned. For example, when the target work 22 is pressed down on the placement surface 40b with a nail so as to be in a flat state, the nail is put in and out of the target work 22 placed on the placement surface 40b. This is because it is necessary to increase the time required for forming the mask pattern.
チャックプレート40では、平面吸着機構70が、対象ワーク22における撓みによる余剰分を矩形状の第3吸着区画79の外方へと逃がすものであることから、寄せられる余剰分を分散することができるので、固定吸着機構60の各リップ吸着部61の吸着により決められた位置および姿勢を維持しつつ平坦化することができる。特に、本実施例では、当該余剰分を、載置面40bの中心位置から放射方向外側へと逃がすものであることから、寄せられる余剰分に偏りが生じることをより抑制することができるので、固定吸着機構60の各リップ吸着部61の吸着により決められた位置および姿勢をより確実に維持しつつ平坦化することができる。 In the chuck plate 40, the flat suction mechanism 70 allows the surplus due to the bending of the target work 22 to escape to the outside of the rectangular third suction section 79, so that the surplus that is approached can be dispersed. Therefore, it is possible to flatten while maintaining the position and posture determined by the suction of each lip suction portion 61 of the fixed suction mechanism 60. In particular, in the present embodiment, since the surplus is released from the center position of the mounting surface 40b to the outside in the radial direction, it is possible to further suppress the occurrence of a bias in the surplus that is approached. The position and posture determined by the suction of each lip suction portion 61 of the fixed suction mechanism 60 can be flattened while maintaining more reliably.
チャックプレート40では、平面吸着機構70において、複数の吸着区画(上記した実施例では77〜79)を設けることにより、吸着動作の開始のための制御を吸着区画毎に行うこととすることができるので、簡易な制御で対象ワーク22を平坦な状態とすることができる。 In the chuck plate 40, by providing a plurality of suction sections (77 to 79 in the above-described embodiments) in the flat surface suction mechanism 70, control for starting the suction operation can be performed for each suction section. Therefore, the target workpiece 22 can be made flat by simple control.
チャックプレート40では、平面吸着機構70としての各平面吸着孔71が、載置面40bの全領域に渡って設けられていることから、対象ワーク22をより適切に平坦な状態としつつ吸着保持することができる。 In the chuck plate 40, each flat surface suction hole 71 as the flat surface suction mechanism 70 is provided over the entire area of the mounting surface 40b, so that the target workpiece 22 is suctioned and held while being more appropriately flat. be able to.
チャックプレート40では、平面吸着機構70において、載置面40bを開口する複数の平面吸着孔71が環状溝72により連通されていることから、各平面孔吸引部(73〜75(図14参照))での負担の増加を招くことなく、載置面40b上において広範な領域で対象ワーク22を吸着することができる。 In the chuck plate 40, in the flat surface suction mechanism 70, a plurality of flat surface suction holes 71 that open the mounting surface 40 b are communicated by the annular groove 72, so that each flat hole suction portion (73 to 75 (see FIG. 14)). ), The target workpiece 22 can be adsorbed in a wide area on the placement surface 40b.
チャックプレート40では、平面吸着機構70において、複数の環状溝72(上記した実施例では72A〜72G)が設けられていることから、簡易な構成で、載置面40b上において少なくとも1つの平面吸着孔71を有する複数の吸着区画(上記した実施例では77〜79)を形成することができる。 In the chuck plate 40, since the plurality of annular grooves 72 (72A to 72G in the above-described embodiments) are provided in the flat suction mechanism 70, at least one flat suction is provided on the mounting surface 40b with a simple configuration. A plurality of adsorption sections having holes 71 (77 to 79 in the above-described embodiments) can be formed.
チャックプレート40では、平面吸着機構70において、同心状に複数の環状溝72(上記した実施例では72A〜72G)が設けられていることから、簡易な構成で、載置面40bにおける中心位置から放射方向外側へ向けて順に吸着動作を開始させることができる。 In the chuck plate 40, a plurality of annular grooves 72 (72A to 72G in the above-described embodiments) are provided concentrically in the flat surface suction mechanism 70. Therefore, the chuck plate 40 can be configured with a simple configuration from the center position on the mounting surface 40b. The adsorption operation can be started in order toward the outside in the radial direction.
チャックプレート40では、固定吸着機構60の各リップ吸着部61が、対象ワーク22を吸着保持した状態においてリップ吸着面61a(保持位置)の載置面40bに沿う方向での変位を許容していることから、対象ワーク22の姿勢を維持しつつ、平面吸着機構70による段階的な吸着動作により対象ワーク22において撓みによる余剰分を放射方向外側へと逃がすことの妨げとなることを防止することができる。 In the chuck plate 40, each lip suction portion 61 of the fixed suction mechanism 60 allows displacement of the lip suction surface 61a (holding position) in the direction along the mounting surface 40b in a state where the target workpiece 22 is suctioned and held. Therefore, while maintaining the posture of the target workpiece 22, it is possible to prevent the surplus due to bending in the target workpiece 22 from being prevented from escaping radially outward by the stepwise suction operation by the flat suction mechanism 70. it can.
チャックプレート40では、固定吸着機構60の各リップ吸着部61が、リップ吸着面61a(保持位置)を載置面40bからその直交方向(Z軸を含む高さ方向)に突出した状態での対象ワーク22の吸着保持が可能であることから、リフト機構39との間での対象ワーク22の吸着保持状態の移行の際の当該対象ワーク22への負荷を抑制することができる。 In the chuck plate 40, each lip suction portion 61 of the fixed suction mechanism 60 is a target in a state where the lip suction surface 61a (holding position) protrudes from the mounting surface 40b in the orthogonal direction (the height direction including the Z axis). Since the workpiece 22 can be sucked and held, it is possible to suppress a load on the target workpiece 22 during the transition of the suction holding state of the target workpiece 22 to and from the lift mechanism 39.
チャックプレート40では、固定吸着機構60の各リップ吸着部61が、リップ吸着面61a(保持位置)を載置面40bからその直交方向(Z軸を含む高さ方向)に突出した状態での対象ワーク22の吸着保持が可能であるとともに、対象ワーク22を吸着保持した状態でリップ吸着面61a(保持位置)を載置面40bと面一とすることが可能とされていることから、対象ワーク22の姿勢を維持しつつ当該対象ワーク22を静かに載置面40b上に載置することができる。 In the chuck plate 40, each lip suction portion 61 of the fixed suction mechanism 60 is a target in a state where the lip suction surface 61a (holding position) protrudes from the mounting surface 40b in the orthogonal direction (the height direction including the Z axis). The workpiece 22 can be sucked and held, and the lip suction surface 61a (holding position) can be flush with the placement surface 40b in a state where the target workpiece 22 is sucked and held. The target workpiece 22 can be quietly placed on the placement surface 40b while maintaining the posture of 22.
チャックプレート40では、固定吸着機構60において、複数のリップ吸着部61で対象ワーク22を吸着保持することから、対象ワーク22の姿勢が変化することを防止することができる。 In the chuck plate 40, since the target workpiece 22 is sucked and held by the plurality of lip suction portions 61 in the fixed suction mechanism 60, the posture of the target workpiece 22 can be prevented from changing.
チャックプレート40では、固定吸着機構60が、リフト機構39の各リフトピン39bにより吸着保持された状態の対象ワーク22を、複数のリップ吸着部61で吸着保持することから、リフト機構39により吸着保持された対象ワーク22の姿勢を維持したまま当該対象ワーク22を吸着保持することができる。 In the chuck plate 40, the fixed suction mechanism 60 sucks and holds the target work 22 in a state of being sucked and held by the lift pins 39 b of the lift mechanism 39 by the plurality of lip suction parts 61. The target workpiece 22 can be sucked and held while maintaining the posture of the target workpiece 22.
チャックプレート40では、平面吸着機構70が、固定吸着機構60の各リップ吸着部61により吸着保持された状態の対象ワーク22を、複数の平面吸着孔71で吸着保持することから、固定吸着機構60により吸着保持された対象ワーク22の姿勢すなわちリフト機構39により吸着保持された対象ワーク22の姿勢を維持したまま当該対象ワーク22を吸着保持することができる。 In the chuck plate 40, the flat suction mechanism 70 sucks and holds the target work 22 in a state of being sucked and held by the lip suction portions 61 of the fixed suction mechanism 60 through the plurality of flat suction holes 71. The target workpiece 22 can be sucked and held while maintaining the posture of the target workpiece 22 held by suction, that is, the posture of the target workpiece 22 sucked and held by the lift mechanism 39.
チャックプレート40では、リフト機構39が、搬送ハンド(図示せず)により吸着保持された状態の対象ワーク22を、複数のリフトピン39bで吸着保持することから、搬送ハンド(図示せず)により吸着保持された対象ワーク22の姿勢を維持したまま当該対象ワーク22を吸着保持することができる。 In the chuck plate 40, the lift mechanism 39 sucks and holds the target work 22 in a state of being sucked and held by a transport hand (not shown) by a plurality of lift pins 39b, so that it is sucked and held by the transport hand (not shown). The target workpiece 22 can be sucked and held while the posture of the target workpiece 22 is maintained.
チャックプレート40では、固定吸着機構60の各リップ吸着部61が、可撓性を有する樹脂材料から形成され、載置面40bの直交方向に延在する蛇腹状の筒部材とされていることから、簡易な構成で、対象ワーク22を吸着保持した状態でのリップ吸着面61a(保持位置)の載置面40bに沿う方向での変位を可能とし、かつリップ吸着面61a(保持位置)を載置面40bからその直交方向(Z軸を含む高さ方向)に突出した状態での対象ワーク22の吸着保持が可能であるとともに、対象ワーク22を吸着保持した状態でリップ吸着面61a(保持位置)を載置面40bと面一とすることを可能とすることができる。 In the chuck plate 40, each lip adsorbing portion 61 of the fixed adsorbing mechanism 60 is formed of a flexible resin material and is a bellows-like cylindrical member extending in a direction orthogonal to the placement surface 40b. With a simple configuration, the lip suction surface 61a (holding position) can be displaced in the direction along the mounting surface 40b in a state where the target workpiece 22 is sucked and held, and the lip suction surface 61a (holding position) is mounted. The target workpiece 22 can be sucked and held from the placement surface 40b in a state of projecting in the orthogonal direction (the height direction including the Z axis), and the lip suction surface 61a (holding position) can be held while the target workpiece 22 is sucked and held. ) Can be made flush with the mounting surface 40b.
チャックプレート40では、上方に対象ワーク22が搬送されたか否かの判別のために、超音波センサ42を用いていることから、チャックプレート40上での高さ位置(Z軸方向で見た位置)に拘らず対象ワーク22の有無を検出することができる。 Since the ultrasonic sensor 42 is used in the chuck plate 40 to determine whether or not the target workpiece 22 has been conveyed upward, the height position on the chuck plate 40 (the position viewed in the Z-axis direction). ), The presence or absence of the target workpiece 22 can be detected.
露光装置10では、チャックプレート40において、対象ワーク22が極めて高い精度で平坦な状態とされていることから、対象ワーク22にマスクパターン像を適切に露光することができる。 In the exposure apparatus 10, since the target work 22 is in a flat state with extremely high accuracy on the chuck plate 40, the mask pattern image can be appropriately exposed on the target work 22.
露光装置10では、搬送ハンド(図示せず)により吸着保持されている状態での対象ワーク22の姿勢を姿勢取得機構44(図14参照)で取得し、当該対象ワーク22をチャックプレート40で吸着保持した後、姿勢取得機構44で取得した当該対象ワーク22の姿勢に基づいて、ベース部材31上において、両Y軸スライダ33をY軸方向にかつ両X軸スライダ35(35A、35B)をX軸方向に適宜移動させつつ、各Z軸駆動機構37による支持位置を適宜変更することにより、対象ワーク22において露光装置10の投影光学系により露光を行う箇所を、その結像面となる基準平面上に適切な状態で位置させることができるので、マスクパターンの形成に要する時間(スループット)の短縮を図ることができる。 In the exposure apparatus 10, the posture of the target workpiece 22 while being sucked and held by a transport hand (not shown) is acquired by the posture acquisition mechanism 44 (see FIG. 14), and the target workpiece 22 is sucked by the chuck plate 40. After the holding, based on the posture of the target workpiece 22 acquired by the posture acquisition mechanism 44, both the Y-axis sliders 33 are moved in the Y-axis direction and both the X-axis sliders 35 (35A, 35B) are X on the base member 31. By appropriately changing the support position by each Z-axis drive mechanism 37 while appropriately moving in the axial direction, a position on the target workpiece 22 where exposure is performed by the projection optical system of the exposure apparatus 10 becomes a reference plane serving as an imaging plane. Since it can be positioned in an appropriate state, the time (throughput) required for forming the mask pattern can be shortened.
したがって、本発明に係るチャックプレート40(吸着ステージ)では、作業時間の増大や製品制度の低下を招くことなく、平坦な状態で対象ワーク22を保持することができる。 Therefore, in the chuck plate 40 (suction stage) according to the present invention, the target workpiece 22 can be held in a flat state without causing an increase in working time or a reduction in product system.
なお、上記した実施例では、本発明に係る吸着ステージの一例としてのチャックプレート40について説明したが、露光光が結像されて所定のマスクパターンが露光される対象ワークを平坦な載置面上で保持する吸着ステージであって、前記載置面に対する前記対象ワークの姿勢を固定すべく該対象ワークを吸着可能な固定吸着機構と、前記載置面と面当接させるべく該対象ワークを吸着可能な平面吸着機構と、を備え、該平面吸着機構は、前記載置面を開口する複数の平面吸着孔を有し、前記載置面上における任意の一点から外縁へ向けて順に該各平面吸着孔による吸着動作を開始することを特徴とする吸着ステージであればよく、上記した実施例に限定されるものではない。 In the above-described embodiment, the chuck plate 40 as an example of the suction stage according to the present invention has been described. However, a target workpiece on which exposure light is imaged and a predetermined mask pattern is exposed is placed on a flat mounting surface. A suction stage that holds the target workpiece with respect to the placement surface, and a fixed suction mechanism that can suck the target workpiece to fix the posture of the target workpiece with respect to the placement surface; A flat suction mechanism, the flat suction mechanism having a plurality of flat suction holes that open the placement surface, and each plane in order from an arbitrary point on the placement surface toward the outer edge. Any suction stage that starts the suction operation using the suction holes may be used, and the present invention is not limited to the above-described embodiment.
また、上記した実施例では、平面吸着機構70が載置面40b上を3つの吸着区画77〜79に分けて順に吸着動作を開始する構成とされていたが、載置面40b上において任意の1点から外縁へ向けて順に各平面吸着孔71による吸着動作を開始するものであれば、撓みによる余剰分を外側へと逃がすことができるので、吸着区画を設けなくてもよく、上記した実施例に限定されるものではない。載置面40b上において任意の1点から外縁へ向けるとは、例えば、上記した実施例のように載置面40bが矩形状であるものとして、任意の1点が載置面40bの中心位置であれば、当該中心位置からの間隔が小さいものから大きいものへと向かう(中心位置からの放射方向)ことを言い、任意の1点が載置面40bの隅部近傍であれば、図20に矢印A2で示すように、全体として対角線方向へ向かうことを言い、任意の1点が載置面40bの辺部近傍であれば、図20に矢印A3で示すように、全体としてそこに対向する辺部へ向かうことを言う。 Further, in the above-described embodiment, the flat suction mechanism 70 is configured to start the suction operation in order by dividing the placement surface 40b into the three suction sections 77 to 79. As long as the suction operation by each flat suction hole 71 is started in order from one point to the outer edge, the surplus due to bending can be released to the outside, so there is no need to provide a suction section. It is not limited to examples. The direction from the arbitrary point on the mounting surface 40b toward the outer edge means, for example, that the mounting surface 40b is rectangular as in the above-described embodiment, and the arbitrary one point is the center position of the mounting surface 40b. Then, it means that the distance from the central position is small to large (radiating direction from the central position), and if any one point is near the corner of the mounting surface 40b, FIG. As shown by the arrow A2, the heading is directed in the diagonal direction as a whole. If any one point is in the vicinity of the side portion of the mounting surface 40b, the whole is opposed thereto as shown by the arrow A3 in FIG. Say to head to the side.
さらに、上記した実施例では、平面吸着機構70が、載置面40b上を3つの吸着区画77〜79に分けるとともに、第1吸着区画77、第2吸着区画78、第3吸着区画79の順に吸着動作を開始する構成とされていたが、載置面40b上において任意の1点から外縁へ向けて順に吸着動作を開始するものであれば、吸着区画(但し、少なくとも1つの平面吸着孔71を有する)の数および吸着動作の移行の方向は適宜設定(例えば、対象ワーク22に生じる撓みの傾向に応じて設定する等)すればよく、上記した実施例に限定されるものではない。 Furthermore, in the above-described embodiment, the flat surface suction mechanism 70 divides the placement surface 40b into three suction sections 77 to 79, and in the order of the first suction section 77, the second suction section 78, and the third suction section 79. Although the suction operation is configured to start, any suction section (however, at least one flat suction hole 71 may be used as long as the suction operation is started in order from one arbitrary point toward the outer edge on the placement surface 40b). And the direction of transition of the suction operation may be set as appropriate (for example, set in accordance with the tendency of bending generated in the target workpiece 22), and is not limited to the above-described embodiment.
上記した実施例では、平面吸着機構70において、各平面吸着孔71が複数の環状溝72(72A〜72G)により連通されていたが、この各環状溝72は設けなくてもよく、上記した実施例に限定されるものではない。 In the above-described embodiment, in the plane suction mechanism 70, each plane suction hole 71 is communicated with a plurality of annular grooves 72 (72A to 72G). However, each of the annular grooves 72 may not be provided. It is not limited to examples.
上記した実施例では、平面吸着機構70において、同心状に複数の環状溝72(上記した実施例では72A〜72G)が設けられていたが、この環状溝は吸着区画を形成すべく複数の平面吸着孔71を連通させるものであれば、形状および本数は適宜設定すればよく、上記した実施例に限定されるものではない。 In the above-described embodiment, the planar suction mechanism 70 is provided with a plurality of concentric annular grooves 72 (72A to 72G in the above-described embodiments). However, the annular grooves are provided with a plurality of flat surfaces to form suction sections. As long as the suction holes 71 communicate with each other, the shape and the number of the suction holes 71 may be set as appropriate, and are not limited to the above-described embodiments.
上記した実施例では、平面吸着機構70において、単に、第1吸着区画77、第2吸着区画78、第3吸着区画79の順に吸着動作を開始する構成とされていたが、吸着動作を開始した吸着区画における吸着状態に応じて、次の吸着区画の吸着動作を開始する構成としてもよい。これは、例えば、図14に二点鎖線で示すように、各吸着区画における吸着状態を取得可能な吸着状態取得機構45を設け、その吸着状態取得機構45からの出力信号すなわち適切に吸着しているか否かに応じて、駆動制御部43(図14参照)が各平面孔吸引部73、74、75(図14参照)を駆動制御することにより、実現することができる。この吸着状態取得機構45は、例えば、各平面吸着孔71、各平面孔吸引部73、74、75もしくは各吸引室76における圧力変動を検出することにより、簡易な構成で実現することができる。このような構成とした場合、先に吸着動作が開始された吸着区画において、対象ワーク22が載置面40bに適切に吸着されてから、次の吸着区画での吸着動作を開始することができるので、より適切に対象ワーク22を平坦な状態とすることができる。 In the above-described embodiment, in the planar suction mechanism 70, the suction operation is simply started in the order of the first suction section 77, the second suction section 78, and the third suction section 79, but the suction operation is started. It is good also as a structure which starts the adsorption | suction operation | movement of the next adsorption | suction division according to the adsorption | suction state in an adsorption | suction division. For example, as shown by a two-dot chain line in FIG. 14, an adsorption state acquisition mechanism 45 that can acquire an adsorption state in each adsorption section is provided, and an output signal from the adsorption state acquisition mechanism 45, that is, an appropriate adsorption is performed. This can be realized by the drive control unit 43 (see FIG. 14) driving and controlling the flat hole suction units 73, 74, and 75 (see FIG. 14) depending on whether or not there is. The suction state acquisition mechanism 45 can be realized with a simple configuration, for example, by detecting a pressure fluctuation in each flat suction hole 71, each flat hole suction part 73, 74, 75 or each suction chamber 76. In such a configuration, the suction operation in the next suction section can be started after the target work 22 is appropriately sucked on the placement surface 40b in the suction section where the suction operation has been started first. Therefore, the target workpiece 22 can be more appropriately flattened.
上記した実施例では、平面吸着機構70において、載置面40bを同心状の3つの吸着区画77〜79に分けて、第1吸着区画77、第2吸着区画78、第3吸着区画79の順に吸着動作を開始する構成とされていたが、載置面40b上において任意の1点から外縁へ向けて順に吸着動作を開始することを前提として、載置面40bを任意の吸着区画に分けるとともに、搬送ハンド(図示せず)、リフト機構39もしくは固定吸着機構60に吸着保持されている対象ワーク22の撓みに応じて、各吸着区画における吸着動作を開始する順番を適宜設定する構成としてもよい。この場合、少なくとも2つ以上の吸着区画が載置面40bの外縁を含むように載置面40bを区画するか、載置面40bの中心位置からの間隔が同一であってもX軸方向および/またはY軸方向での位置が異なる少なくとも2つ以上の吸着区画に分ければよい。また、対象ワーク22の撓みは、姿勢取得機構44(図14参照)や照射光学系でのピント調整のための光学系(図示せず)を用いて検出すればよい。このような構成の場合、対象ワーク22における撓みの位置や方向性に応じて、駆動制御部43(図14参照)が各吸着区画に対応する平面孔吸引部を適宜駆動制御することにより、実現することができる。このような構成とした場合、対象ワーク22の撓みに応じた順に、各吸着区画における吸着動作が開始されるので、より適切に対象ワーク22を平坦な状態とすることができる。このことは、吸着区画を設けることなく複数の平面吸着孔71による吸着動作を順に開始する場合であっても同様である。 In the above-described embodiment, in the plane suction mechanism 70, the placement surface 40b is divided into three concentric suction sections 77 to 79, and the first suction section 77, the second suction section 78, and the third suction section 79 are arranged in this order. While the suction operation is started, the placement surface 40b is divided into arbitrary suction sections on the premise that the suction operation is sequentially started from any one point toward the outer edge on the placement surface 40b. Further, the order of starting the suction operation in each suction section may be appropriately set according to the bending of the target work 22 sucked and held by the transport hand (not shown), the lift mechanism 39 or the fixed suction mechanism 60. . In this case, the placement surface 40b is partitioned so that at least two suction partitions include the outer edge of the placement surface 40b, or even if the distance from the center position of the placement surface 40b is the same, What is necessary is just to divide into the at least 2 or more adsorption | suction division from which the position in a Y-axis direction differs. Further, the bending of the target workpiece 22 may be detected using an attitude acquisition mechanism 44 (see FIG. 14) or an optical system (not shown) for adjusting the focus in the irradiation optical system. In the case of such a configuration, the drive control unit 43 (see FIG. 14) appropriately drives and controls the plane hole suction unit corresponding to each suction section according to the position and direction of bending in the target work 22, and this is realized. can do. In such a configuration, the suction operation in each suction section is started in the order corresponding to the bending of the target work 22, so that the target work 22 can be more appropriately flattened. This is the same even when the suction operation by the plurality of flat suction holes 71 is sequentially started without providing a suction section.
上記した実施例では、固定吸着機構60において、6つのリップ吸着部61が設けられていたが、対象ワーク22の姿勢を維持する観点から少なくとも2つのリップ吸着部61を有するものであればよく、上記した実施例に限定されるものではない。 In the above-described embodiment, the six suction lip suction portions 61 are provided in the fixed suction mechanism 60. However, the fixed suction mechanism 60 may have at least two lip suction portions 61 from the viewpoint of maintaining the posture of the target workpiece 22, The present invention is not limited to the above-described embodiments.
上記した実施例では、固定吸着機構60において、4つの第n群リップ吸着部61A、61B、61C、61D(nは、1〜4の整数)での吸着動作を一斉に行うものとしていたが、現実の対象ワーク22の撓みや対象ワーク22における撓みの傾向に応じて、順に吸着動作を行うものとしてもよく、上記した実施例に限定されるものではない。 In the above-described embodiment, in the fixed suction mechanism 60, the suction operation in the four n-th group lip suction portions 61A, 61B, 61C, 61D (n is an integer of 1 to 4) is performed all at once. The suction operation may be sequentially performed in accordance with the actual bending of the target workpiece 22 or the bending tendency of the target workpiece 22, and is not limited to the above-described embodiment.
上記した実施例では、固定吸着機構60の各リップ吸着部61が、可撓性を有する樹脂材料から形成され、載置面40bの直交方向に延在する蛇腹状の筒部材とされていたが、対象ワーク22を吸着保持した状態でのリップ吸着面61a(保持位置)の載置面40bに沿う方向での変位を可能とし、かつリップ吸着面61a(保持位置)を載置面40bからその直交方向(Z軸を含む高さ方向)に突出した状態での対象ワーク22の吸着保持が可能であるとともに、対象ワーク22を吸着保持した状態でリップ吸着面61a(保持位置)を載置面40bと面一とすることを可能とするものであれば、例えば、弾性変形可能な中空の球体にリップ吸着面としての吸着孔と真空引きのための引き孔とを設けて構成してもよく、上記した実施例に限定されるものではない。 In the above-described embodiment, each lip adsorbing portion 61 of the fixed adsorbing mechanism 60 is formed of a flexible resin material and is a bellows-like cylindrical member extending in the direction perpendicular to the placement surface 40b. The lip suction surface 61a (holding position) can be displaced in the direction along the mounting surface 40b in a state where the target workpiece 22 is suctioned and held, and the lip suction surface 61a (holding position) is moved from the mounting surface 40b to The target workpiece 22 can be sucked and held in a state protruding in the orthogonal direction (the height direction including the Z axis), and the lip suction surface 61a (holding position) is placed on the mounting surface while the target workpiece 22 is sucked and held. For example, a hollow sphere that can be elastically deformed may be provided with a suction hole as a lip suction surface and a suction hole for vacuuming as long as it can be flush with 40b. Limited to the above embodiment Not intended to be.
以上、本発明の吸着ステージ、それを用いた載置ステージおよびそれを用いた露光装置を実施例に基づき説明してきたが、具体的な構成については、この実施例に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない限り、設計の変更や追加等は許容される。 As described above, the suction stage of the present invention, the mounting stage using the suction stage, and the exposure apparatus using the same have been described based on the embodiments. However, the specific configuration is not limited to the embodiments. Design changes and additions are allowed without departing from the scope of the invention.
10 露光装置
22 対象ワーク
30 載置ステージ
39b リフトピン
40 (吸着ステージとしの)チャックプレート
40b 載置面
60 固定吸着機構
61 (固定吸着部としての)リップ吸着部
70 平面吸着機構
71 平面吸着孔
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Exposure apparatus 22 Target workpiece 30 Placement stage 39b Lift pin 40 Chuck plate 40b (As adsorption stage) Placement surface 60 Fixed adsorption mechanism 61 Lip adsorption part (As fixed adsorption part) 70 Flat adsorption mechanism 71 Flat adsorption hole
Claims (11)
前記載置面に対する前記対象ワークの姿勢を固定すべく該対象ワークを吸着可能な固定吸着機構と、前記載置面と面当接させるべく該対象ワークを吸着可能な平面吸着機構と、を備え、
該平面吸着機構は、前記載置面を開口する複数の平面吸着孔を有し、前記載置面上における任意の一点から外縁へ向けて順に該各平面吸着孔による吸着動作を開始することを特徴とする吸着ステージ。 A suction stage that holds a target workpiece on which a predetermined mask pattern is exposed by forming an image of exposure light on a flat mounting surface,
A fixed suction mechanism capable of sucking the target work to fix the posture of the target work with respect to the placement surface; and a flat suction mechanism capable of sucking the target work to make surface contact with the placement surface. ,
The planar suction mechanism has a plurality of planar suction holes that open the placement surface, and starts the suction operation by each planar suction hole in order from an arbitrary point on the placement surface toward the outer edge. Characteristic adsorption stage.
さらに、前記載置面に対して該載置面に直交する直交方向へと進退自在とされ、上端に吸着面を有するリフトピンを備え、
前記各固定吸着部は、前記載置面から前記上端面を前記直交方向に突出した状態で前記対象ワークを吸着保持可能であるとともに、前記対象ワークを吸着保持した状態で前記上端面を前記載置面と面一とすることが可能であることを特徴とする吸着ステージ。 The adsorption stage according to claim 3 or claim 4, wherein
Furthermore, it is capable of moving back and forth in a direction orthogonal to the placement surface with respect to the placement surface, and includes a lift pin having a suction surface at the upper end,
Each of the fixed suction units can suck and hold the target work in a state where the upper end surface protrudes in the orthogonal direction from the placement surface, and the upper end face is in the state of sucking and holding the target work. A suction stage characterized by being flush with a placement surface.
An exposure apparatus using the suction stage according to any one of claims 1 to 9.
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2011010902A JP2012151418A (en) | 2011-01-21 | 2011-01-21 | Suction stage |
| KR1020120004373A KR20120085195A (en) | 2011-01-21 | 2012-01-13 | Absorption stage, placing stage and exposure apparatus |
| CN2012100155925A CN102608872A (en) | 2011-01-21 | 2012-01-18 | Absorption stage, placing stage and exposure apparatus |
| TW101102704A TW201303514A (en) | 2011-01-21 | 2012-01-20 | Absorption stage |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2011010902A JP2012151418A (en) | 2011-01-21 | 2011-01-21 | Suction stage |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2012151418A true JP2012151418A (en) | 2012-08-09 |
Family
ID=46526342
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2011010902A Pending JP2012151418A (en) | 2011-01-21 | 2011-01-21 | Suction stage |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2012151418A (en) |
| KR (1) | KR20120085195A (en) |
| CN (1) | CN102608872A (en) |
| TW (1) | TW201303514A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014188572A1 (en) * | 2013-05-23 | 2014-11-27 | 株式会社ニコン | Substrate holding method, substrate holding apparatus, exposure method, and exposure apparatus |
| TWI571366B (en) * | 2015-12-01 | 2017-02-21 | 亞智科技股份有限公司 | Absorption assembly and absorption conveying device |
| JP2020046686A (en) * | 2016-02-24 | 2020-03-26 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | Substrate handling system and lithographic apparatus |
| CN112589281A (en) * | 2020-12-03 | 2021-04-02 | 长江大学 | Laser cutting equipment for keys of computer keyboard |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102232691B1 (en) * | 2013-06-26 | 2021-03-29 | 삼성디스플레이 주식회사 | Substrate processing apparatus, deposition apparatus comprising the same, processing method of substrate, and deposition method |
| JP6535206B2 (en) * | 2014-05-08 | 2019-06-26 | 株式会社ブイ・テクノロジー | Exposure method and exposure apparatus |
| US9740109B2 (en) | 2014-11-28 | 2017-08-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Holding device, lithography apparatus, and method for manufacturing item |
| JP6732429B2 (en) * | 2014-11-28 | 2020-07-29 | キヤノン株式会社 | Substrate holding apparatus, lithographic apparatus, and article manufacturing method |
| KR101912885B1 (en) * | 2015-12-11 | 2018-10-29 | 에이피시스템 주식회사 | Support chuck and substrate treating apparatus |
| CN106148892B (en) * | 2016-07-25 | 2019-04-02 | 京东方科技集团股份有限公司 | Throw the net method and mask plate, substrate, the display device of one seed mask plate |
| CN108074848B (en) * | 2016-11-10 | 2020-07-03 | 致茂电子(苏州)有限公司 | Spacer, wafer stacking structure, suction type moving device and wafer moving method |
| CN109318009B (en) * | 2018-10-10 | 2020-11-13 | 东莞长盈精密技术有限公司 | Self-locking clamping device |
| CN114516536A (en) * | 2020-11-19 | 2022-05-20 | 日本电产三协(浙江)有限公司 | Adsorption pad and industrial robot |
| CN116423061B (en) * | 2023-05-12 | 2025-09-30 | 江苏七维工控科技有限公司 | Laser etching device and etching method for graphene pattern |
| CN116741677B (en) * | 2023-08-14 | 2023-10-27 | 上海图双精密装备有限公司 | Apparatus and method for pin position detection |
Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5680141A (en) * | 1979-12-04 | 1981-07-01 | Seiko Epson Corp | Manufacture device of semiconductor |
| JPH0312948A (en) * | 1989-06-12 | 1991-01-21 | Nikon Corp | Substrate holder |
| JPH0464216A (en) * | 1990-07-04 | 1992-02-28 | Canon Inc | Substrate chuck device |
| JPH0758191A (en) * | 1993-08-13 | 1995-03-03 | Toshiba Corp | Wafer stage device |
| JP2001313246A (en) * | 2000-04-28 | 2001-11-09 | Nikon Corp | Exposure method, exposure apparatus, device manufacturing method and device |
| JP2002217276A (en) * | 2001-01-17 | 2002-08-02 | Ushio Inc | Stage equipment |
| JP2003045944A (en) * | 2001-07-27 | 2003-02-14 | Canon Inc | Substrate holding device, substrate delivery method, exposure apparatus using the same, and device manufacturing method |
| JP2004158610A (en) * | 2002-11-06 | 2004-06-03 | Nikon Corp | Exposure apparatus and exposure method |
| JP2007273693A (en) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Nikon Corp | Substrate holding member, substrate holding method, substrate holding apparatus, exposure apparatus, and exposure method |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07183366A (en) * | 1993-12-22 | 1995-07-21 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | Air absorption method for large glass substrates |
| TWI226298B (en) * | 2002-11-21 | 2005-01-11 | Hitachi Int Electric Inc | Method for positioning a substrate and inspecting apparatus using same |
| US7532310B2 (en) * | 2004-10-22 | 2009-05-12 | Asml Netherlands B.V. | Apparatus, method for supporting and/or thermally conditioning a substrate, a support table, and a chuck |
| JP4899469B2 (en) * | 2005-12-22 | 2012-03-21 | ウシオ電機株式会社 | Flat stage device |
| JP5219599B2 (en) * | 2008-04-14 | 2013-06-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Proximity exposure apparatus, substrate adsorption method for proximity exposure apparatus, and display panel substrate manufacturing method |
| JP5142818B2 (en) * | 2008-05-20 | 2013-02-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Proximity exposure apparatus, method for adjusting chuck height of proximity exposure apparatus, and method for manufacturing display panel substrate |
| JP2010039227A (en) * | 2008-08-06 | 2010-02-18 | Hitachi High-Technologies Corp | Exposure apparatus, exposure method and substrate-mounting method |
-
2011
- 2011-01-21 JP JP2011010902A patent/JP2012151418A/en active Pending
-
2012
- 2012-01-13 KR KR1020120004373A patent/KR20120085195A/en not_active Ceased
- 2012-01-18 CN CN2012100155925A patent/CN102608872A/en active Pending
- 2012-01-20 TW TW101102704A patent/TW201303514A/en unknown
Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5680141A (en) * | 1979-12-04 | 1981-07-01 | Seiko Epson Corp | Manufacture device of semiconductor |
| JPH0312948A (en) * | 1989-06-12 | 1991-01-21 | Nikon Corp | Substrate holder |
| JPH0464216A (en) * | 1990-07-04 | 1992-02-28 | Canon Inc | Substrate chuck device |
| JPH0758191A (en) * | 1993-08-13 | 1995-03-03 | Toshiba Corp | Wafer stage device |
| JP2001313246A (en) * | 2000-04-28 | 2001-11-09 | Nikon Corp | Exposure method, exposure apparatus, device manufacturing method and device |
| JP2002217276A (en) * | 2001-01-17 | 2002-08-02 | Ushio Inc | Stage equipment |
| JP2003045944A (en) * | 2001-07-27 | 2003-02-14 | Canon Inc | Substrate holding device, substrate delivery method, exposure apparatus using the same, and device manufacturing method |
| JP2004158610A (en) * | 2002-11-06 | 2004-06-03 | Nikon Corp | Exposure apparatus and exposure method |
| JP2007273693A (en) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Nikon Corp | Substrate holding member, substrate holding method, substrate holding apparatus, exposure apparatus, and exposure method |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014188572A1 (en) * | 2013-05-23 | 2014-11-27 | 株式会社ニコン | Substrate holding method, substrate holding apparatus, exposure method, and exposure apparatus |
| TWI571366B (en) * | 2015-12-01 | 2017-02-21 | 亞智科技股份有限公司 | Absorption assembly and absorption conveying device |
| JP2020046686A (en) * | 2016-02-24 | 2020-03-26 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | Substrate handling system and lithographic apparatus |
| CN112589281A (en) * | 2020-12-03 | 2021-04-02 | 长江大学 | Laser cutting equipment for keys of computer keyboard |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN102608872A (en) | 2012-07-25 |
| TW201303514A (en) | 2013-01-16 |
| KR20120085195A (en) | 2012-07-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2012151418A (en) | Suction stage | |
| JP5677025B2 (en) | Placement stage | |
| TWI548023B (en) | Movable body apparatus, object processing device, exposure apparatus, flat-panel display manufacturing method, and device manufacturing method | |
| JP6638774B2 (en) | Exposure method and exposure apparatus, device manufacturing method, and flat panel display manufacturing method | |
| TW574632B (en) | Stage apparatus and exposure apparatus | |
| WO2014084229A1 (en) | Transfer system, exposure apparatus, transfer method, exposure method, device manufacturing method, and suction apparatus | |
| EP3065165A1 (en) | Substrate-holding apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method | |
| US20120064461A1 (en) | Movable body apparatus, exposure apparatus, device manufacturing method, flat-panel display manufacturing method, and object exchange method | |
| TW201220419A (en) | Movable body apparatus, object processing device, exposure apparatus, flat-panel display manufacturing method, and device manufacturing method | |
| KR20160013916A (en) | Substrate holding method, substrate holding apparatus, exposure method, and exposure apparatus | |
| JPWO2004109780A1 (en) | STAGE APPARATUS, FIXING METHOD, EXPOSURE APPARATUS, EXPOSURE METHOD, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD | |
| JP2020190740A (en) | Exposure apparatus, manufacturing method of flat-panel display, device manufacturing method, and exposure method | |
| US6842226B2 (en) | Flexure supported wafer table | |
| JP2015018927A (en) | Substrate holding method and device and exposure method and device | |
| JP6885335B2 (en) | Mobile device, exposure device, flat panel display manufacturing method, device manufacturing method, and object moving method | |
| JP2001093808A (en) | Exposure method and exposure apparatus | |
| JP2005012009A (en) | Substrate holding apparatus, stage apparatus and exposure apparatus | |
| JP2005044882A (en) | Conveying apparatus and exposure apparatus | |
| JP4635364B2 (en) | Exposure apparatus and exposure method | |
| JP6485687B2 (en) | Holding apparatus, object support apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method | |
| US20060033043A1 (en) | Stacked six degree-of-freedom table | |
| JP2014038225A (en) | Exposure method, exposure apparatus, flat panel display manufacturing method, and device manufacturing method | |
| JP5644416B2 (en) | Optical unit, optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method | |
| JP3004045B2 (en) | Exposure equipment | |
| TW201138009A (en) | Stage apparatus, exposure apparatus, driving method, exposing method, and device fabricating method |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130926 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140331 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140520 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20141007 |