+

JP2007059510A - 照明光学装置、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法 - Google Patents

照明光学装置、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2007059510A
JP2007059510A JP2005240893A JP2005240893A JP2007059510A JP 2007059510 A JP2007059510 A JP 2007059510A JP 2005240893 A JP2005240893 A JP 2005240893A JP 2005240893 A JP2005240893 A JP 2005240893A JP 2007059510 A JP2007059510 A JP 2007059510A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
illumination
light
light sources
secondary light
systems
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005240893A
Other languages
English (en)
Inventor
Shuji Takenaka
修二 竹中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2005240893A priority Critical patent/JP2007059510A/ja
Publication of JP2007059510A publication Critical patent/JP2007059510A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

【課題】複数の光源からの光のバランスを保ちつつ最適な照明条件でマスクを照明する照明光学装置を提供する。
【解決手段】複数の光源41,42からの光束に基づいて、所定中心に対して偏心した複数の2次光源を形成する2次光源形成手段141,142と、前記2次光源形成手段からの光を被照明面に導くコンデンサ光学系200と、前記複数の2次光源をそれぞれ形成する照明光または前記複数の2次光源からのそれぞれの照明光を計測する光量計測手段181,182と、前記光量計測手段の計測結果に基づいて、前記複数の2次光源をそれぞれ形成する照明光または前記複数の2次光源からのそれぞれの照明光に対する補正値を算出する算出手段と、前記算出手段により算出された各補正値に基づいて、前記複数の2次光源をそれぞれ形成する照明光または前記複数の2次光源からのそれぞれの照明光における光量を補正する補正手段を備える。
【選択図】 図2

Description

この発明は、半導体集積回路、液晶表示素子等の製造に用いられる照明光学装置、該照明光学装置を備えた露光装置及び該露光装置を用いたマイクロデバイスの製造方法に関するものである。
マイクロデバイスの一つである液晶表示素子は、通常、ガラス基板(プレート)上に透明薄膜電極をフォトリソグラフィの手法で所望の形状にパターニングして、TFT(Thin Film Transistor)等のスイッチング素子及び電極配線を形成して製造される。このフォトリソグラフィの手法を用いた製造工程では、マスク上に形成された原画となるパターンを、投影光学系を介してフォトレジスト等の感光剤が塗布されたプレート上に投影露光する投影露光装置が用いられている。
従来、マスクとプレートとの相対的な位置合わせを行った後に、マスクに形成されたパターンをプレート上に設定された1つのショット領域に一括して転写し、転写後にプレートをステップ移動させて他のショット領域の露光を行うステップ・アンド・リピート方式の投影露光装置(所謂、ステッパー)が多用されていた。
近年、液晶表示素子の大面積かが要求されており、これに伴ってフォトリソグラフィ工程において用いられる投影露光装置の露光領域の拡大が望まれている。投影露光装置の露光領域を拡大するためには投影光学系を大型化する必要があるが、残存収差を極力低減した大型の投影光学系を設計及び製造するには多大な製造コストを必要としていた。従って、投影光学系の大型化を避けるために、投影光学系の物体面側(マスク側)における投影光学系の有効径と同程度に長手方向の長さが設定されたスリット状の光が投影光学系を介してプレートに照射されている状態で、マスクとプレートとを投影光学系に対して相対的に移動させて走査し、マスクに形成されたパターンの一部を順次プレートに設定された一つのショット領域に転写し、転写後にプレートを移動させて他のショット領域に対する露光を同様に行なう、所謂ステップ・アンド・スキャン方式の投影露光装置が案出されている(特許文献1参照)。
特開平5−161588号公報
上述の投影露光装置においては、プレートの大型化に伴いプレートに生じる撓みに基づく焦点ずれの問題が生じており、焦点深度を増大させるために変形照明が用いられている。また、露光装置の大型化を避けつつ高スループットによる露光を実現するために複数の光源及び各光源からの光をマスクに導く複数の光学系を備えた投影露光装置が存在する。このような投影露光装置においては、複数の光源からの光のバランスを保ちつつ最適な照明条件でマスクを照明する必要がある。
この発明の課題は、複数の光源からの光のバランスを保ちつつ最適な照明条件でマスクを照明する照明光学装置、該照明光学装置を備えた露光装置及び該露光装置を用いたマイクロデバイスの製造方法を提供することである。
この発明の照明光学装置は、複数の光源からの光束に基づいて、所定中心に対して偏心した複数の2次光源を形成する2次光源形成手段と、前記2次光源形成手段からの光を被照明面に導くコンデンサ光学系と、前記複数の2次光源をそれぞれ形成する照明光または前記複数の2次光源からのそれぞれの照明光を計測する光量計測手段と、前記光量計測手段の計測結果に基づいて、前記複数の2次光源をそれぞれ形成する照明光または前記複数の2次光源からのそれぞれの照明光に対する補正値を算出する算出手段と、前記算出手段により算出された各補正値に基づいて、前記複数の2次光源をそれぞれ形成する照明光または前記複数の2次光源からのそれぞれの照明光における光量を補正する補正手段とを備えることを特徴とする。
この発明の照明光学装置によれば、複数の2次光源をそれぞれ形成する照明光または複数の2次光源からのそれぞれの照明光を計測した結果に基づいて、複数の2次光源をそれぞれ形成する照明光または複数の2次光源からのそれぞれの照明光における光量を補正するため、複数の光源からの照明光の光量のバランスを保ちながら被照明面を照明することができる。
また、この発明の照明光学装置は、複数の光源からの光束に基づいて、所定中心に対して偏心した複数の2次光源を形成する複数の光学系を有する2次光源形成手段と、前記2次光源形成手段からの光を被照明面に導くコンデンサ光学系と、前記複数の2次光源からのそれぞれの照明光を計測して前記複数の光学系に関する照明条件をそれぞれ計測する計測手段と、前記計測手段の計測結果に基づいて、前記複数の2次光源による照明条件に関する補正値をそれぞれ算出する算出手段と、前記算出手段により算出された各補正値に基づいて、前記複数の光学系に関する照明条件を補正する補正手段とを備えることを特徴とする。
この発明の照明光学装置によれば、複数の光学系に関する照明条件をそれぞれ計測した結果に基づいて、複数の光学系に関する照明条件を補正するため、複数の光学系における照明条件のバランスを保ちながら被照明面を照明することができる。
この発明のマイクロデバイスの製造方法は、この発明の露光装置を用いて所定のパターンを感光性基板上に露光する露光工程と、前記露光工程により露光された前記感光性基板を現像する現像工程とを含むことを特徴とする。
この発明のマイクロデバイスの製造方法によれば、良好なマイクロデバイスを製造することができる。
この発明の照明光学装置によれば、複数の光源からの照明光の光量のバランスを保ちながら被照明面を照明することができる。また、複数の光学系における照明条件のバランスを保ちながら被照明面を照明することができる。また、この発明のマイクロデバイスの製造方法によれば、良好なマイクロデバイスを製造することができる。
以下、図面を参照して、この発明の第1の実施の形態について説明を行う。図1は、この発明の第1の実施の形態にかかる露光装置の全体の概略構成を示す図である。図1に示すように、この実施の形態にかかる露光装置は、光源から射出される光束によりマスク(被照明面)Mを照明するための照明光学装置IL、マスクMのパターン像を感光性材料(レジスト)が塗布された外径が500mmよりも大きいフラットパネルディスプレイ用のプレート(感光性基板)P上に投影露光するための投影光学系PLを備えている。なお、外径が500mmよりも大きいとは、一辺若しくは対角線が500mmよりも大きいことをいう。
図2は、この実施の形態にかかる露光装置に備えられている照明光学装置IL及びマスクMの概略構成を示す図である。以下の説明においては、図2中に示したXYZ直交座標系を設定し、このXYZ直交座標系を参照しつつ各部材の位置関係について説明する。XYZ直交座標系は、X軸及びY軸がプレートPに対して平行となるよう設定され、Z軸がプレートPに対して直交する方向に設定されている。
照明光学装置ILは、4つの光源(光源41,42及び図示しない2つの光源)及び各光源からの光をコンデンサレンズ200に導く4つの照明系(照明系IL1,IL2,及び図示しない2つの照明系)を有する。図においては、所定中心(コンデンサレンズの光軸)に対してX方向に偏心した照明系IL1,IL2及び照明系IL1,IL2に対して照明光を供給する光源41,42のみを示し、所定中心に対してY方向に偏心した2つの照明系及びこの2つの照明系に対して照明光を供給する2つの光源の図示を省略している。
図2に示すように光源41から射出された照明光は、照明系IL1に供給される。光源41は、楕円鏡(凹面鏡)21の第1焦点位置に配置されており、波長365nmの光を含む波長域(i線)の光を射出する超高圧水銀ランプから構成されている。光源41から射出された光束は、楕円鏡21により反射されることにより楕円鏡21の第2焦点位置に集光し光源像を形成する。楕円鏡21の第2焦点位置またはその近傍にはシャッタ61が配置されている。
楕円鏡21の第2焦点位置に形成された光源像からの発散光束は、リレーレンズ81によってほぼ平行光束に変換され波長選択フィルタ101に入射する。波長選択フィルタ101は所望の波長域の光束のみを透過させるものである。波長選択フィルタ101を透過した光束は、透過率分布フィルタ121に入射する。透過率分布フィルタ121は、照明光の全体の透過量を増減させるものである。
透過率分布フィルタ121を介した光束は、フライアイインテグレータ(オプティカルインテグレータ)141に入射する。フライアイインテグレータ141は、多数の正レンズエレメントをその中心軸線が照明系IL1の光軸に沿って延びるように縦横に且つ稠密に配列することによって構成されている。従って、フライアイインテグレータ141に入射した光束は、多数のレンズエレメントにより波面分割され、その後側焦点面(即ち、射出面の近傍)にレンズエレメントの数と同数の光源像からなる二次光源を形成する。即ち、フライアイインテグレータ141の後側焦点面には、実質的な面光源が形成される。
フライアイインテグレータ141の後側焦点面に形成された多数の二次光源からの光束は、ハーフミラー161に入射する。ハーフミラー161により反射された光束は、光量検出装置181に入射する。
図3は、光量検出装置の構成を示す図である。ハーフミラー161により反射された光束は、レンズ30に入射し、レンズ30により略平行な光束に変換されてハーフミラー31に入射する。ハーフミラー31により反射された光は、光量を計測するセンサ32に入射する。また、ハーフミラー31を通過した光は、レンズ33により集光されて光量の重心を計測するセンサ34に入射する。
センサ32は、プレートPと光学的に共役な位置の光量を検出するためのセンサであり、このセンサ32により、露光中においてもスループットを低下させることなくプレートP上の光学系IL1に基づく光量を検出することができる。また、センサ34は、光学系IL1に基づく、光量の重心を計測するセンサであり、この計測結果に基づいて、光学系IL1のテレセントリシティが算出される。
一方、ハーフミラー161を透過した光束は、コンデンサレンズ200に入射する。コンデンサレンズ200を介した光束は、パターンが形成されたマスクMを斜入射照明する。
光源42及び照明系IL2は、光源41及び照明系IL1と同様の構成を有している。即ち、光源42から射出された照明光は、楕円鏡(凹面鏡)22により反射され、楕円鏡22の第2焦点位置に集光し光源像を形成する。楕円鏡22の第2焦点位置またはその近傍にはシャッタ62が配置されている。楕円鏡22の第2焦点位置に形成された光源像からの発散光束は、リレーレンズ82、波長選択フィルタ102、透過率分布フィルタ122を介してフライアイインテグレータ142に入射する。
フライアイインテグレータ142の後側焦点面に形成された多数の二次光源からの光束は、ハーフミラー162に入射する。ハーフミラー162により反射された光束は、光量検出装置182に入射する。一方、ハーフミラー162を透過した光束は、コンデンサレンズ200に入射する。コンデンサレンズ200を介した光束は、パターンが形成されたマスクMを斜入射照明する。
また、図示を省略している所定中心に対してY方向に偏心した2つの照明系及びこの2つの照明系に対して照明光を供給する2つの光源も、光源41,42及び照明系IL1,IL2と同様な構成を有し、照明光の光量の検出を行なうと共に、コンデンサレンズ200に照明光を入射させ、コンデンサレンズ200を介した光束により、パターンが形成されたマスクMを斜入射照明する。
図4は、フライアイインテグレータ141、142及び図2において図示を省略した2つのフライアイインテグレータの射出面を示す図である。照明光学装置ILにおいては、照明系IL1,IL2及び図示を省略した2つの照明系により4つの二次光源が形成され、各二次光源からの光がコンデンサレンズ200に入射し、コンデンサレンズ200を介した光束によりパターンが形成されたマスクMが斜入射照明される。
図5は、照明系IL1のリレーレンズ81からフライアイインテグレータ141までを示す図である。照明系IL1は、図5に示すように、リレーレンズ81を照明系IL1の光軸に垂直な方向に移動させるための駆動装置51及びフライアイインテグレータ141を照明系IL1の光軸方向に移動させるための駆動装置52を備えている。駆動装置51、52は、制御装置500により制御される。制御装置500には、光量検出装置181から検出結果が入力される。また、制御装置500は、光源41に対して電力値を制御するための制御信号の出力を行なう。
なお、制御装置500には、照明系IL2の光量検出装置182から検出結果が入力され、図示しない2つの照明系の光量検出装置から検出結果が入力される。また、制御装置500は、照明系IL2の光源42及び図示しない2つの照明系の光源に対して電力値を制御するための制御信号の出力を行なう。また、制御装置500は、照明系IL2のリレーレンズ82を照明系IL2の光軸に垂直な方向に移動させるための駆動装置及びフライアイインテグレータ142を照明系IL2の光軸方向に移動させるための駆動装置に対して制御信号の出力を行なう。また、図示しない2つの照明系のリレーレンズを照明系の光軸に垂直な方向に移動させるための駆動装置及びフライアイインテグレータを照明系の光軸方向に移動させるための駆動装置に対して制御信号の出力を行なう。
この照明光学装置ILにおいては、照明系IL1、IL2の光量検出装置181,182及び図示しない2つの照明系の光量検出装置による検出結果が制御装置500に入力されると、制御装置500は、検出結果の内、光量の検出値に基づいて、照明系IL1、IL2及び図示しない2つの照明系の2次光源からのそれぞれの照明光に対する補正値を算出し、算出された各補正値に基づいて、照明系IL1、IL2及び図示しない2つの照明系の2次光源からのそれぞれの照明光における光量を補正する。例えば、制御装置500は、算出された各補正値に基づいて、光源41,42及び図示しない2つの光源に対して電力値を制御するための制御信号の出力を行なう。なお、照明系IL1、IL2及び図示しない2つの照明系の2次光源からのそれぞれの照明光の光量の補正を行なうために、透過領域により透過率の異なる透過率分布フィルタを備え、算出された各補正値に基づいて、照明光の透過する領域を変更することにより、照明系IL1、IL2及び図示しない2つの照明系の2次光源からのそれぞれの照明光の光量を補正するようにしてもよい。
また、制御装置500においては、照明系IL1、IL2の光量検出装置181,182及び図示しない2つの照明系の光量検出装置による検出結果の内、光量重心の値に基づいて、照明系IL1、IL2及び図示しない2つの照明系の照明条件であるテレセントリシティ(倍率テレセントリシティ及び傾斜テレセントリシティ)を算出して、照明系IL1、IL2及び図示しない2つの照明系に対する倍率テレセントリシティ及び傾斜テレセントリシティの補正値を算出し、算出された各補正値に基づいて、照明系IL1、IL2及び図示しない2つの照明系の倍率テレセントリシティ及び傾斜テレセントリシティを補正する。
例えば、制御装置500は、算出された各補正値に基づいて、照明系IL1、IL2及び図示しない2つの照明系のリレーレンズを照明系の光軸に垂直な方向に移動させるための駆動装置に対して制御信号を出力し、照明系IL1、IL2及び図示しない2つの照明系のそれぞれの傾斜テレセントリシティの補正を行う。また、制御装置500は、算出された各補正値に基づいて、照明系IL1、IL2及び図示しない2つの照明系のフライアイインテグレータを照明系の光軸方向に移動させるための駆動装置に対して制御信号を出力し、照明系IL1、IL2及び図示しない2つの照明系のそれぞれの倍率テレセントリシティの補正を行う。
この第1の実施の形態に係る照明光学装置によれば、複数の2次光源からのそれぞれの照明光を計測した結果に基づいて、複数の2次光源からのそれぞれの照明光における光量を補正するため、複数の光源からの照明光の光量のバランスを保ちながら被照明面を照明することができる。
また、複数の光学系に関する照明条件をそれぞれ計測した結果に基づいて、複数の光学系に関する照明条件を補正するため、複数の光学系における照明条件のバランスを保ちながら被照明面を照明することができる。
次に、図面を参照して、この発明の第2の実施の形態について説明を行う。図6は、この発明の実施の形態にかかる露光装置に備えられている照明光学装置IL10及びマスクM1の概略構成を示す図である。以下の説明においては、図6中に示したXYZ直交座標系を設定し、このXYZ直交座標系を参照しつつ各部材の位置関係について説明する。XYZ直交座標系は、X軸及びY軸がプレートPに対して平行となるよう設定され、Z軸がプレートPに対して直交する方向に設定されている。
照明光学装置IL10は、3つの光源(光源43,44,45)及び各光源からの光を光ファイババンドル70へ導く部分照明系71,72,73及びファイババンドル70から射出された光をコンデンサレンズ201に導く4つの部分照明系(部分照明系74,75,及び図示しない2つの部分照明系)を有する。図においては、4つの部分照明系のうち所定中心(コンデンサレンズの光軸)に対してX方向に偏心した部分照明系74,75のみを示し、所定中心に対してY方向に偏心した2つの部分照明系の図示を省略している。
光源43から射出された照明光は、楕円鏡23により反射され楕円鏡23の第2焦点位置に集光し光源像を形成する。楕円鏡23の第2焦点位置またはその近傍にはシャッタ63が配置されている。
楕円鏡23の第2焦点位置に形成された光源像からの発散光束は、リレーレンズ71aによってほぼ平行光束に変換され波長選択フィルタ71bに入射する。波長選択フィルタ71bを透過した光束は、集光レンズ71cにより集光されて3つの入射端を有するファイババンドル70の第1の入射端70aに入射する。
なお、部分照明系72,73は、部分照明系71と同様な構成を有する。光源44及び光源45から射出された照明光は、部分照明系72,73を介してファイババンドル70の第2の入射端70b及び第3の入射端70cに入射する。
ファイババンドル70は、多数のファイバ素線をランダムに束ねて構成されたランダムライトガイドファイバであって、3つの入射端70a,70b,70cと4つの射出端(射出端70d,70e及び図示しない2つの射出端)を備えている。ファイババンドル70の入射端に入射した光は、ファイババンドル70の内部を伝播することによりミキシングされ、ファイババンドル70の射出端70d,70e及び図示しない2つの射出端から射出する。
ファイババンドル70の射出端70dから射出した光束は、コリメートレンズ74a及び透過率分布フィルタ74bを介して、フライアイインテグレータ74cに入射する。ここで透過率分布フィルタ74bは、照明光が透過する領域ごとに透過率が異なるフィルタである。フライアイインテグレータ74cの後側焦点面に形成された二次光源からの光束は、ハーフミラー74dに入射する。ハーフミラー74dにより反射された光束は、光量検出装置183に入射する。一方、ハーフミラー74dを透過した光束は、コンデンサレンズ201に入射する。コンデンサレンズ201を介した光束は、パターンが形成されたマスクM1を斜入射照明する。
また、ファイババンドル70の射出端70eから射出した光束は、コリメートレンズ75a及び透過率分布フィルタ75bを介して、フライアイインテグレータ75cに入射する。フライアイインテグレータ75cの後側焦点面に形成された二次光源からの光束は、ハーフミラー75dに入射する。ハーフミラー75dにより反射された光束は、光量検出装置184に入射する。一方、ハーフミラー75dを透過した光束は、コンデンサレンズ201に入射する。コンデンサレンズ201を介した光束は、パターンが形成されたマスクM1を斜入射照明する。
なお、ファイババンドル70の図示しない2つの射出端から射出した光束は、図示しない2つの部分照明系に入射する。部分照明系においては、コリメートレンズ及び透過率分布フィルタを介して、フライアイインテグレータに入射する。フライアイインテグレータの後側焦点面に形成された二次光源からの光束は、ハーフミラーに入射する。ハーフミラーにより反射された光束は、光量検出装置に入射する。ここで光量検出装置183,184及び図示しない2つの光量検出装置は、第1の実施の形態に係る光量検出装置181,182と同様の構成を有する。一方、ハーフミラーを透過した光束は、コンデンサレンズ201に入射する。コンデンサレンズ201を介した光束は、パターンが形成されたマスクM1を斜入射照明する。
この照明光学装置IL10においては、部分照明系74,75の光量検出装置183,184及び図示しない2つの部分照明系の光量検出装置による検出結果が制御装置(図示せず)に入力されると、制御装置は、検出結果の内、光量の検出値に基づいて、部分照明系74,75及び図示しない2つの部分照明系の2次光源からのそれぞれの照明光に対する補正値を算出し、算出された各補正値に基づいて、部分照明系74,75及び図示しない2つの照明系の2次光源からのそれぞれの照明光における光量を補正する。例えば、制御装置は、算出された各補正値に基づいて、部分照明系74,75及び図示しない2つの部分照明系の2次光源からのそれぞれの照明光の光量の補正を行なうために、透過率分布フィルタにおける照明光の透過する領域をそれぞれ変更することにより、部分照明系74,75及び図示しない2つの部分照明系の2次光源からのそれぞれの照明光の光量を補正する。
また、制御装置においては、部分照明系74,75の光量検出装置183,184及び図示しない2つの照明系の光量検出装置による検出結果の内、光量重心の値に基づいて、部分照明系74,75及び図示しない2つの部分照明系のテレセントリシティ(倍率テレセントリシティ及び傾斜テレセントリシティ)を算出して、部分照明系74,75及び図示しない2つの部分照明系に対する倍率テレセントリシティ及び傾斜テレセントリシティの補正値を算出し、算出された各補正値に基づいて、部分照明系74,75及び図示しない2つの部分照明系の倍率テレセントリシティ及び傾斜テレセントリシティを補正する。
例えば、制御装置は、算出された各補正値に基づいて、部分照明系74,75及び図示しない2つの部分照明系のリレーレンズを部分照明系の光軸に垂直な方向に移動させるための駆動装置(図示せず)に対して制御信号を出力し、部分照明系74,75及び図示しない2つの部分照明系のそれぞれの傾斜テレセントリシティの補正を行う。また、制御装置は、算出された各補正値に基づいて、部分照明系74,75及び図示しない2つの部分照明系のフライアイインテグレータを部分照明系の光軸方向に移動させるための駆動装置(図示せず)に対して制御信号を出力し、部分照明系74,75及び図示しない2つの照明系のそれぞれの倍率テレセントリシティの補正を行う。
この第2の実施の形態に係る照明光学装置によれば、複数の2次光源からのそれぞれの照明光を計測した結果に基づいて、複数の2次光源からのそれぞれの照明光における光量を補正するため、複数の光源からの照明光の光量のバランスを保ちながら被照明面を照明することができる。
また、複数の光学系に関する照明条件をそれぞれ計測した結果に基づいて、複数の光学系に関する照明条件を補正するため、複数の光学系における照明条件のバランスを保ちながら被照明面を照明することができる。
次に、図面を参照して、この発明の第3の実施の形態について説明を行う。図7は、この発明の第3の実施の形態にかかる露光装置に備えられている照明光学装置IL20及びマスクM2の概略構成を示す図である。以下の説明においては、図7中に示したXYZ直交座標系を設定し、このXYZ直交座標系を参照しつつ各部材の位置関係について説明する。XYZ直交座標系は、X軸及びY軸がプレートPに対して平行となるよう設定され、Z軸がプレートPに対して直交する方向に設定されている。
照明光学装置IL20は、4つの光源(光源46,47及び図示しない2つの光源)及び各光源からの光をコンデンサレンズ202に導く4つの照明系(照明系IL3,IL4,及び図示しない2つの照明系)を有する。図においては、所定中心(コンデンサレンズの光軸)に対してX方向に偏心した照明系IL3,IL4及び照明系IL3,IL4に対して照明光を供給する光源46,47のみを示し、所定中心に対してY方向に偏心した2つの照明系及びこの2つの照明系に対して照明光を供給する2つの光源の図示を省略している。
図7に示すように光源46から射出された照明光は、照明系IL3に供給される。光源46は、発光ダイオード(固体光源)をアレイ状に配列した発光ダイオードアレイにより構成されている。光源46から射出された光束は、リレーレンズ83によってほぼ平行光束に変換され波長選択フィルタ103に入射する。波長選択フィルタ103は所望の波長域の光束のみを透過させるものである。波長選択フィルタ103を透過した光束は、フライアイインテグレータ(オプティカルインテグレータ)143に入射する。フライアイインテグレータ143の後側焦点面に形成された多数の二次光源からの光束は、ハーフミラー163に入射する。ハーフミラー163により反射された光束は、光量検出装置185に入射する。一方、ハーフミラー163を透過した光束は、コンデンサレンズ202に入射する。コンデンサレンズ202を介した光束は、パターンが形成されたマスクM2を斜入射照明する。
光源47及び照明系IL4は、光源46及び照明系IL3と同様の構成を有している。即ち、光源47から射出された照明光は、リレーレンズ84、波長選択フィルタ104を介してフライアイインテグレータ144に入射する。
フライアイインテグレータ144の後側焦点面に形成された多数の二次光源からの光束は、ハーフミラー164に入射する。ハーフミラー164により反射された光束は、光量検出装置186に入射する。一方、ハーフミラー164を透過した光束は、コンデンサレンズ202に入射する。コンデンサレンズ202を介した光束は、パターンが形成されたマスクM2を斜入射照明する。
また、図示を省略している所定中心に対してY方向に偏心した2つの照明系及びこの2つの照明系に対して照明光を供給する2つの光源も、光源46,47及び照明系IL3,IL4と同様な構成を有し、照明光の光量を検出すると共に、コンデンサレンズ202に照明光を入射させ、コンデンサレンズ202を介した光束により、パターンが形成されたマスクM2を斜入射照明する。
この照明光学装置IL20においては、照明系IL3、IL4の光量検出装置185,186及び図示しない2つの照明系の光量検出装置による検出結果が制御装置(図示せず)に入力されると、制御装置は、検出結果の内、光量の検出値に基づいて、照明系IL3、IL4及び図示しない2つの照明系の2次光源からのそれぞれの照明光に対する補正値を算出し、算出された各補正値に基づいて、照明系IL3、IL4及び図示しない2つの照明系の2次光源からのそれぞれの照明光における光量を補正する。例えば、制御装置は、算出された各補正値に基づいて、光源46,47及び図示しない2つの光源に対して電力値を制御するための制御信号の出力を行なう。なお、照明系IL3、IL4及び図示しない2つの照明系の2次光源からのそれぞれの照明光の光量の補正を行なうために、透過領域により透過率の異なる透過率分布フィルタを備え、算出された各補正値に基づいて、照明光の透過する領域を変更することにより、照明系IL3、IL4及び図示しない2つの照明系の2次光源からのそれぞれの照明光の光量を補正するようにしてもよい。
また、制御装置においては、照明系IL3、IL4の光量検出装置185,186及び図示しない2つの照明系の光量検出装置による検出結果の内、光量重心の値に基づいて、照明系IL3、IL4及び図示しない2つの照明系のテレセントリシティ(倍率テレセントリシティ及び傾斜テレセントリシティ)を算出して、照明系IL3、IL4及び図示しない2つの照明系に対する倍率テレセントリシティ及び傾斜テレセントリシティの補正値を算出し、算出された各補正値に基づいて、照明系IL3、IL4及び図示しない2つの照明系の倍率テレセントリシティ及び傾斜テレセントリシティを補正する。
例えば、制御装置は、算出された各補正値に基づいて、照明系IL3、IL4及び図示しない2つの照明系のリレーレンズを照明系の光軸に垂直な方向に移動させるための駆動装置(図示せず)に対して制御信号を出力し、照明系IL3、IL4及び図示しない2つの照明系のそれぞれの傾斜テレセントリシティの補正を行う。また、制御装置は、算出された各補正値に基づいて、照明系IL3、IL4及び図示しない2つの照明系のフライアイインテグレータを照明系の光軸方向に移動させるための駆動装置(図示せず)に対して制御信号を出力し、照明系IL3、IL4及び図示しない2つの照明系のそれぞれの倍率テレセントリシティの補正を行う。
この第3の実施の形態に係る照明光学装置によれば、複数の2次光源からのそれぞれの照明光を計測した結果に基づいて、複数の2次光源からのそれぞれの照明光における光量を補正するため、複数の光源からの照明光の光量のバランスを保ちながら被照明面を照明することができる。
また、複数の光学系に関する照明条件をそれぞれ計測した結果に基づいて、複数の光学系に関する照明条件を補正するため、複数の光学系における照明条件のバランスを保ちながら被照明面を照明することができる。
なお、上述の各実施の形態においては、各フライアイインテグレータの下流側で照明光をハーフミラーで分岐して照明光の光量を計測している。即ち、複数の2次光源からのそれぞれの照明光を計測しているが、各フライアイインテグレータの上流側で照明光をハーフミラーにより分岐して照明光の光量を計測してもよい。即ち、複数の2次光源をそれぞれ形成する照明光を計測するようにしてもよい。この場合には、計測結果に基づいて複数の2次光源をそれぞれ形成する照明光に対する補正値を算出して、算出された各補正値に基づいて、複数の2次光源をそれぞれ形成する照明光の光 量を補正する。
また、上述の実施の形態においては、照明条件としてテレセントリシティの計測を行なっているが、複数の2次光源からのそれぞれの照明光を計測することにより複数の光学系に関する照明むらをそれぞれ計測し、計測結果に基づいて、複数の2次光源による照明むらに関する補正値をそれぞれ算出し、算出された各補正値に基づいて、複数の光学系に関する照明むらを補正するようにしてもよい。
また、複数光源を用いてもファイバを用いない実施の形態については、複数光源の点灯動作をシャッタの動作に同期させて制御することが望ましい。例えば、複数光源の点灯および消灯の制御、若しくは、複数光源からの光を任意に遮光する制御をシャッタに同期させて行なうことが良い。
上述の実施の形態にかかる露光装置では、照明光学装置によってマスクを照明し(照明工程)、投影光学系を用いてマスクに形成された転写用のパターンを感光性基板(ウエハ)に露光する(露光工程)ことにより、マイクロデバイス(半導体素子、撮像素子、液晶表示素子、薄膜磁気ヘッド等)を製造することができる。以下、上述の実施の形態にかかる露光装置を用いて感光性基板としてもプレート等に所定の回路パターンを形成することによって、マイクロデバイスとしての半導体デバイスを得る際の手法の一例につき図8のフローチャートを参照して説明する。
先ず、図8のステップS301において、1ロットのプレート上に金属膜が蒸着される。次のステップS302において、その1ロットのプレート上の金属膜上にフォトレジストが塗布される。次に、ステップS303において、上述の実施の形態にかかる露光装置を用いて、レチクル(マスク)上のパターンの像がその投影光学系を介して、その1ロットのプレート上の各ショット領域に順次露光転写される。その後、ステップS304において、その1ロットのプレート上のフォトレジストの現像が行われた後、ステップS305において、その1ロットのプレート上でレジストパターンをマスクとしてエッチングを行うことによって、マスク上のパターンに対応する回路パターンが、各プレート上の各ショット領域に形成される。
その後、更に上のレイヤの回路パターンの形成等を行うことによって、半導体素子等のデバイスが製造される。上述の半導体デバイス製造方法によれば、上述の実施の形態に係る照明光学装置、即ち照明光をバランスよく供給することができる照明光学装置を備える露光装置を用いて露光を行なっているため、極めて微細な回路パターンを有する半導体デバイスをスループット良く得ることができる。なお、ステップS301〜ステップS305では、プレート上に金属を蒸着し、その金属膜上にレジストを塗布、そして露光、現像、エッチングの各工程を行っているが、これらの工程に先立って、プレート上にシリコンの酸化膜を形成後、そのシリコンの酸化膜上にレジストを塗布、そして露光、現像、エッチング等の各工程を行っても良いことはいうまでもない。
また、上述の実施の形態にかかる露光装置では、プレート(ガラス基板)上に所定のパターン(回路パターン、電極パターン等)を形成することによって、マイクロデバイスとしての液晶表示素子を得ることもできる。以下、図9のフローチャートを参照して、このときの手法の一例につき説明する。次に、図9において、パターン形成工程S401では、上述の実施の形態にかかる露光装置を用いてマスクのパターンを感光性基板(レジストが塗布されたガラス基板等)に転写露光する、所謂光リソグラフィ工程が実行される。この光リソグラフィ工程によって、感光性基板上には多数の電極等を含む所定パターンが形成される。その後、露光された基板は、現像工程、エッチング工程、レジスト剥離工程等の各工程を経ることによって、基板上に所定のパターンが形成され、次のカラーフィルタ形成工程S402へ移行する。
次に、カラーフィルタ形成工程S402では、R(Red)、G(Green)、B(Blue)に対応した3つのドットの組がマトリックス状に多数配列されたり、またはR、G、Bの3本のストライプのフィルタの組を複数水平走査線方向に配列されたりしたカラーフィルタを形成する。そして、カラーフィルタ形成工程S402の後に、セル組み立て工程S403が実行される。セル組み立て工程S403では、パターン形成工程S401にて得られた所定パターンを有する基板、およびカラーフィルタ形成工程S402にて得られたカラーフィルタ等を用いて液晶パネル(液晶セル)を組み立てる。セル組み立て工程S403では、例えば、パターン形成工程S401にて得られた所定パターンを有する基板とカラーフィルタ形成工程S402にて得られたカラーフィルタとの間に液晶を注入して、液晶パネル(液晶セル)を製造する。
その後、モジュール組み立て工程S404にて、組み立てられた液晶パネル(液晶セル)の表示動作を行わせる電気回路、バックライト等の各部品を取り付けて液晶表示素子として完成させる。上述の液晶表示素子の製造方法によれば、上述の実施の形態に係る照明光学装置、即ち、照明光をバランスよく供給することができる照明光学装置を備える露光装置を用いて露光しているため、極めて微細な回路パターンを有する液晶表示素子をスループット良く得ることができる。
第1の実施の形態にかかる露光装置の概略構成を示す図である。 第1の実施の形態にかかる照明光学装置の概略構成を示す図である。 第1の実施の形態にかかる光量検出装置の概略構成を示す図である。 第1の実施の形態にかかるフライアイインテグレータの射出面を示す図である。 第1の実施の形態にかかる照明光学装置のリレーレンズからフライアイインテグレータまでを示す図である。 第2の実施の形態にかかる照明光学装置の概略構成を示す図である。 第3の実施の形態にかかる照明光学装置の概略構成を示す図である。 実施の形態にかかるマイクロデバイスとしての半導体デバイスを製造する方法を示すフローチャートである。 実施の形態にかかるマイクロデバイスとしての液晶表示素子を製造する方法を示すフローチャートである。
符号の説明
41〜47…光源、141,142,143,144,74c、75c…フライアイインテグレータ、181〜186…光量検出装置、200,201,202…コンデンサレンズ、IL…照明光学装置、IL1〜IL4…照明系、71〜75…部分照明系、PL…投影光学系、M,M1,M2・・・マスク、P…プレート

Claims (8)

  1. 複数の光源からの光束に基づいて、所定中心に対して偏心した複数の2次光源を形成する2次光源形成手段と、
    前記2次光源形成手段からの光を被照明面に導くコンデンサ光学系と、
    前記複数の2次光源をそれぞれ形成する照明光または前記複数の2次光源からのそれぞれの照明光を計測する光量計測手段と、
    前記光量計測手段の計測結果に基づいて、前記複数の2次光源をそれぞれ形成する照明光または前記複数の2次光源からのそれぞれの照明光に対する補正値を算出する算出手段と、
    前記算出手段により算出された各補正値に基づいて、前記複数の2次光源をそれぞれ形成する照明光または前記複数の2次光源からのそれぞれの照明光における光量を補正する補正手段と、
    を備えることを特徴とする照明光学装置。
  2. 前記2次光源形成手段は、複数光源からの光束に基づいて、所定中心に対して偏心した複数の2次光源を形成するための複数の光学系を有することを特徴とする請求項1記載の照明光学装置。
  3. 複数の光源からの光束に基づいて、所定中心に対して偏心した複数の2次光源を形成する複数の光学系を有する2次光源形成手段と、
    前記2次光源形成手段からの光を被照明面に導くコンデンサ光学系と、
    前記複数の2次光源からのそれぞれの照明光を計測して前記複数の光学系に関する照明条件をそれぞれ計測する計測手段と、
    前記計測手段の計測結果に基づいて、前記複数の2次光源による照明条件に関する補正値をそれぞれ算出する算出手段と、
    前記算出手段により算出された各補正値に基づいて、前記複数の光学系に関する照明条件を補正する補正手段と、
    を備えることを特徴とする照明光学装置。
  4. 前記照明条件は、テレセントリシティまたは照明むらを含むことを特徴とする請求項3記載の照明光学装置。
  5. 光源から射出される照明光により照明された所定のパターンを投影光学系を介して感光性基板上に露光する露光装置において、
    請求項1乃至請求項4の何れか一項に記載の照明光学装置を備えることを特徴とする露光装置。
  6. 前記感光性基板は、外径が500mmよりも大きいことを特徴とする請求項5記載の露光装置。
  7. 前記感光性基板は、フラットパネルディスプレイ用であることを特徴とする請求項5または請求項6に記載の露光装置。
  8. 請求項5乃至請求項7の何れか一項に記載の露光装置を用いて所定のパターンを感光性基板上に露光する露光工程と、
    前記露光工程により露光された前記感光性基板を現像する現像工程と、
    を含むことを特徴とするマイクロデバイスの製造方法。
JP2005240893A 2005-08-23 2005-08-23 照明光学装置、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法 Pending JP2007059510A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005240893A JP2007059510A (ja) 2005-08-23 2005-08-23 照明光学装置、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005240893A JP2007059510A (ja) 2005-08-23 2005-08-23 照明光学装置、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007059510A true JP2007059510A (ja) 2007-03-08

Family

ID=37922757

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005240893A Pending JP2007059510A (ja) 2005-08-23 2005-08-23 照明光学装置、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007059510A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008242173A (ja) * 2007-03-28 2008-10-09 Orc Mfg Co Ltd 露光描画装置
JP2008268888A (ja) * 2007-03-28 2008-11-06 Orc Mfg Co Ltd 露光描画装置
JP2010118383A (ja) * 2008-11-11 2010-05-27 Nikon Corp 照明装置、露光装置、及びデバイス製造方法
WO2017126500A1 (ja) * 2016-01-20 2017-07-27 ウシオ電機株式会社 光源装置
JP2018087929A (ja) * 2016-11-29 2018-06-07 ウシオ電機株式会社 光源装置の光軸調整用器具、光源装置、及び光源装置の光軸調整方法
JPWO2019146448A1 (ja) * 2018-01-24 2021-01-07 株式会社ニコン 露光装置及び露光方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008242173A (ja) * 2007-03-28 2008-10-09 Orc Mfg Co Ltd 露光描画装置
JP2008268888A (ja) * 2007-03-28 2008-11-06 Orc Mfg Co Ltd 露光描画装置
JP2010118383A (ja) * 2008-11-11 2010-05-27 Nikon Corp 照明装置、露光装置、及びデバイス製造方法
WO2017126500A1 (ja) * 2016-01-20 2017-07-27 ウシオ電機株式会社 光源装置
JP2017130363A (ja) * 2016-01-20 2017-07-27 ウシオ電機株式会社 光源装置
CN108368978A (zh) * 2016-01-20 2018-08-03 优志旺电机株式会社 光源装置
US10845010B2 (en) 2016-01-20 2020-11-24 Ushio Denki Kabushiki Kaisha Light source device
JP2018087929A (ja) * 2016-11-29 2018-06-07 ウシオ電機株式会社 光源装置の光軸調整用器具、光源装置、及び光源装置の光軸調整方法
JPWO2019146448A1 (ja) * 2018-01-24 2021-01-07 株式会社ニコン 露光装置及び露光方法
JP2022051810A (ja) * 2018-01-24 2022-04-01 株式会社ニコン 露光装置および露光方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8654310B2 (en) Exposure method, exposure apparatus, photomask and method for manufacturing photomask
JP5326259B2 (ja) 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
KR101695034B1 (ko) 공간 광 변조기의 검사 장치, 조명 광학계, 노광 장치, 검사 방법, 조명 광학계의 조정 방법, 조명 방법, 노광 방법, 및 디바이스 제조 방법
JP5071382B2 (ja) 走査露光装置及びマイクロデバイスの製造方法
JPWO2007058188A1 (ja) 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法
JP2013191901A (ja) パターン形成方法及びパターン形成装置、並びにデバイス製造方法
JP7210249B2 (ja) 光源装置、照明装置、露光装置及び物品の製造方法
JP2010004008A (ja) 光学ユニット、照明光学装置、露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法
JP4692862B2 (ja) 検査装置、該検査装置を備えた露光装置、およびマイクロデバイスの製造方法
KR101769091B1 (ko) 노광 장치, 노광 방법 및 디바이스 제조 방법
JP4655332B2 (ja) 露光装置、露光装置の調整方法、およびマイクロデバイスの製造方法
JP2007059510A (ja) 照明光学装置、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法
JP2007101592A (ja) 走査型露光装置及びマイクロデバイスの製造方法
KR20190095518A (ko) 조명장치, 노광장치, 노광방법 및 디바이스 제조방법
US11698589B2 (en) Light source device, illuminating apparatus, exposing apparatus, and method for manufacturing article
JP2013021265A (ja) 照明装置、露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法
JP4505666B2 (ja) 露光装置、照明装置及びマイクロデバイスの製造方法
JP2009093054A (ja) 光ファイバ束、光ファイバ束組品、照明装置、露光装置及びデバイス製造方法
WO2013168456A1 (ja) 面位置計測装置、露光装置、およびデバイス製造方法
JP4807100B2 (ja) 露光装置、露光方法及びデバイス製造方法
TW202431029A (zh) 照明光學系統、曝光裝置及元件的製造方法
JP2009032749A (ja) 露光装置およびデバイス製造方法
JP2008166650A (ja) 走査型露光装置、デバイスの製造方法及びマスク
JP5007538B2 (ja) 露光装置、デバイスの製造方法及び露光方法
JP5682799B2 (ja) 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
点击 这是indexloc提供的php浏览器服务,不要输入任何密码和下载