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JP2000193598A - Foreign matter detector of transparent ingot and production of transparent body using the same - Google Patents

Foreign matter detector of transparent ingot and production of transparent body using the same

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JP2000193598A
JP2000193598A JP10371001A JP37100198A JP2000193598A JP 2000193598 A JP2000193598 A JP 2000193598A JP 10371001 A JP10371001 A JP 10371001A JP 37100198 A JP37100198 A JP 37100198A JP 2000193598 A JP2000193598 A JP 2000193598A
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ingot
transparent
foreign matter
transparent body
imaging
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元男 八日市屋
Akira Koike
明 小池
Yasunori Kanamori
康紀 金森
Keisuke Yamazaki
啓介 山崎
Hironobu Nakazawa
浩信 中澤
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Coorstek KK
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Toshiba Ceramics Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】効率よく異物の検出が行える透明体インゴット
の異物検出装置およびこれを用いた生産性の高い透明体
の製造方法を提供する。 【解決手段】複数枚の透明体fに切断される透明体イン
ゴットIgに検査光を照射する検査光発生手段2と、透
明体インゴットIgを撮像する撮像手段3と、この撮像
手段3により撮像される透明体インゴットIgの撮像位
置および検査光により照射される透明体インゴットIg
の照射位置を移動させる移動手段4と、撮像手段3によ
り撮像された透明体インゴットIgに存在する異物mの
異物画像信号を受け、この異物画像信号を異物情報にす
る画像処理手段5と、この画像処理手段5で求めた異物
情報を出力する出力手段6と、検査光発生手段2、撮像
手段3、移動手段4および画像処理手段5を制御する制
御手段7とを有する透明体インゴットの異物検出装置。
[PROBLEMS] To provide a foreign body ingot detecting apparatus capable of efficiently detecting a foreign body and a method of manufacturing a transparent body using the same with high productivity. An inspection light generating means for irradiating inspection light onto a transparent body ingot Ig cut into a plurality of transparent bodies f, an imaging means for imaging the transparent body ingot Ig, and an image taken by the imaging means 3 Position of transparent body ingot Ig and transparent body ingot Ig irradiated by inspection light
A moving means 4 for moving the irradiation position of the object, an image processing means 5 for receiving a foreign substance image signal of the foreign substance m present in the transparent body ingot Ig captured by the imaging means 3 and converting the foreign substance image signal into foreign substance information; Foreign matter detection of a transparent ingot having an output means 6 for outputting foreign matter information obtained by the image processing means 5 and a control means 7 for controlling the inspection light generating means 2, the imaging means 3, the moving means 4 and the image processing means 5. apparatus.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は透明体インゴットの
異物検出装置およびこれを用いた透明体の製造方法に係
わり、特に効率よく異物の検出が行える透明体インゴッ
トの異物検出装置およびこれを用いた生産性の高い透明
体の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for detecting foreign matter in a transparent ingot and a method for manufacturing a transparent body using the same, and particularly to a foreign matter detecting apparatus for a transparent ingot capable of efficiently detecting foreign matter and using the same. The present invention relates to a method for producing a transparent body having high productivity.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子デバイスや液晶の製造に使用される
透明石英ガラスからなるフォトマスク材は、電子回路等
を焼付ける原版となるため、光学的特性上、泡や金属粉
などの異物がガラス内に含まれないことが要求されてい
る。
2. Description of the Related Art Transparent quartz glass photomasks used in the manufacture of electronic devices and liquid crystals are used as masters for baking electronic circuits and the like. Is not required to be included.

【0003】従来、図16に示すように、フォトマスク
材が切出される透明石英ガラスインゴットは、切断前に
石英ガラスインゴットIgをターンテーブル61に載置
して、作業員Hと蛍光灯62間に石英ガラスインゴット
Igを配置し、石英ガラスインゴットIg中の異物検査
を目視で行っている。最初にA面から検査を行い、A面
の検査が終了したらターンテーブル61を回転させて、
B面の検査を行う。さらに同様にC面、D面の検査を行
い検査を完了する。この検査結果に基づき、異物が存在
する石英ガラスインゴットIgの部位を除外してフォト
マスク材fを切出すようにしている。
Conventionally, as shown in FIG. 16, a transparent quartz glass ingot from which a photomask material is cut out has a quartz glass ingot Ig placed on a turntable 61 before cutting, so that a worker H and a fluorescent lamp 62 are separated. A quartz glass ingot Ig is placed on the surface of the quartz glass ingot Ig, and a foreign substance in the quartz glass ingot Ig is visually inspected. First, the inspection is performed from the A side, and when the inspection of the A side is completed, the turntable 61 is rotated,
Inspect the B side. Further, the inspection of the C-plane and the D-plane is performed similarly, and the inspection is completed. Based on the inspection result, the photomask material f is cut out excluding the portion of the quartz glass ingot Ig where the foreign matter exists.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上述した異物の検査
は、作業者Hの目視により行っており、この目視検査は
小さな異物の検出には熟練を要すため、小さな異物を見
逃す可能性も高く、また異物の検出精度は作業者Hによ
りばらつきがあった。
The above-described inspection of foreign matter is performed by visual inspection of the worker H. Since this visual inspection requires skill in detecting small foreign matter, there is a high possibility that small foreign matter is missed. In addition, the detection accuracy of the foreign matter varied depending on the operator H.

【0005】このため、図17に示すように、石英ガラ
スインゴットIg内に異物mを含む部位の切断を行い、
後検査工程で内部に異物が存在するフォトマスク材を検
出した場合は、このフォトマスク材は不良品として廃棄
されるため、不必要な切断作業を実施したこととなり、
生産性の低下をきたしていた。
[0005] For this reason, as shown in FIG. 17, the portion containing the foreign matter m in the quartz glass ingot Ig is cut,
If a photomask material with a foreign substance inside is detected in the post-inspection process, this photomask material is discarded as a defective product, which means that unnecessary cutting work was performed.
This has led to a decline in productivity.

【0006】そこで、効率よく異物の検出が行える透明
体インゴットの異物検出装置およびこれを用いた生産性
の高い透明体の製造方法が要望されていた。
Therefore, there has been a demand for a foreign body ingot foreign matter detection apparatus capable of efficiently detecting foreign matter and a method of manufacturing a transparent body with high productivity using the same.

【0007】本発明は上述した事情を考慮してなされた
もので、効率よく異物の検出が行える透明体インゴット
の異物検出装置およびこれを用いた生産性の高い透明体
の製造方法を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in consideration of the above circumstances, and provides a foreign body ingot foreign matter detecting apparatus capable of efficiently detecting foreign matter, and a method of manufacturing a transparent body using the same with high productivity. With the goal.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
になされた本願請求項1の発明は、複数枚の透明体に切
断される透明体インゴットに検査光を照射する検査光発
生手段と、透明体インゴットを撮像する撮像手段と、こ
の撮像手段により撮像される透明体インゴットの撮像位
置を移動させる移動手段と、前記撮像手段により撮像さ
れた透明体インゴットに存在する異物の異物画像信号を
受け、この異物画像信号を異物情報にする画像処理手段
と、この画像処理手段で求めた異物情報を出力する出力
手段と、前記検査光発生手段、撮像手段、移動手段およ
び画像処理手段を制御する制御手段とを有することを特
徴とする透明体インゴットの異物検出装置であることを
要旨としている。
According to the first aspect of the present invention, there is provided an inspection light generating means for irradiating inspection light on a transparent body ingot cut into a plurality of transparent bodies. Imaging means for imaging the transparent ingot; moving means for moving the imaging position of the transparent ingot imaged by the imaging means; and receiving a foreign object image signal of a foreign substance present in the transparent ingot imaged by the imaging means. Image processing means for converting the foreign substance image signal into foreign substance information, output means for outputting the foreign substance information obtained by the image processing means, and control for controlling the inspection light generating means, imaging means, moving means and image processing means And a foreign matter detecting device for a transparent ingot.

【0009】本願請求項2の発明では、上記移動手段は
撮像手段により撮像される透明体インゴットの撮像位置
および検査光により照射される透明体インゴットの照射
位置を移動させることを特徴とする請求項1記載の透明
体インゴットの異物検出装置であることを要旨としてい
る。
[0009] In the invention of claim 2 of the present application, the moving means moves an imaging position of the transparent ingot imaged by the imaging means and an irradiation position of the transparent ingot irradiated by the inspection light. The gist of the invention is a foreign matter detection device for a transparent ingot according to item 1.

【0010】本願請求項3の発明では、上記移動手段は
透明体インゴットを移動させる移動装置であることを特
徴とする請求項2記載の透明体インゴットの異物検出装
置であることを要旨としている。
In the invention of claim 3 of the present application, the gist is that the moving means is a moving device for moving the transparent ingot, and is a foreign matter detecting device for a transparent ingot according to claim 2.

【0011】本願請求項4の発明では、上記移動装置は
1次元ないし3次元に移動されることを特徴とする請求
項3に記載の透明体インゴットの異物検出装置であるこ
とを要旨としている。
[0011] The invention of claim 4 of the present application is characterized in that the moving device is a foreign object detecting device for a transparent body ingot according to claim 3, wherein the moving device is moved one-dimensionally or three-dimensionally.

【0012】本願請求項5の発明では、上記検査光発生
手段は蛍光灯であり、撮像手段はCCDセンサであるこ
とを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載
の透明体インゴットの異物検出装置であることを要旨と
している。
5. The transparent body ingot according to claim 1, wherein said inspection light generating means is a fluorescent lamp, and said image pickup means is a CCD sensor. The gist of the invention is that it is a foreign matter detection device.

【0013】本願請求項6の発明では、上記検査光発生
手段はレーザ光発振装置であり、撮像手段はCCDセン
サであることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか
1項に記載の透明体インゴットの異物検出装置であるこ
とを要旨としている。
According to a sixth aspect of the present invention, the inspection light generating means is a laser light oscillating device, and the image pickup means is a CCD sensor. The gist of the invention is that the device is a foreign body detection device for a body ingot.

【0014】本願請求項7の発明では、上記CCDセン
サは2次元CCDセンサであることを特徴とする請求項
5または6に記載の透明体インゴットの異物検出装置で
あることを要旨としている。
In the invention of claim 7 of the present application, the gist of the invention is that the CCD sensor is a two-dimensional CCD sensor, and is a foreign matter detecting device for a transparent ingot according to claim 5 or 6.

【0015】本願請求項8の発明では、上記検査光発生
手段はレーザ光発振装置であり、撮像手段は赤外線撮像
装置であることを特徴とする請求項1ないし4のいずれ
か1項に記載の透明体インゴットの異物検出装置である
ことを要旨としている。
The invention according to claim 8 of the present application, wherein the inspection light generating means is a laser light oscillating device, and the imaging means is an infrared imaging device. The gist of the invention is that it is a foreign matter detection device for a transparent body ingot.

【0016】本願請求項9の発明では、上記赤外線撮像
装置は赤外線撮像カメラであることを特徴とする請求項
8記載の透明体インゴットの異物検出装置であることを
要旨としている。
In the invention of claim 9 of the present application, the gist is that the infrared imaging device is an infrared imaging camera, and is a foreign matter detection device for a transparent ingot according to claim 8.

【0017】本願請求項10の発明では、上記異物情報
は異物の位置情報であることを特徴とする請求項1ない
し9のいずれか1項に記載の透明体インゴットの異物検
出装置であることを要旨としている。
According to a tenth aspect of the present invention, the foreign matter information is the foreign matter position information of the transparent ingot according to any one of claims 1 to 9, wherein the foreign matter information is position information of the foreign matter. It is a gist.

【0018】本願請求項11の発明では、上記異物情報
は異物の種類情報であることを特徴とする請求項3また
は8または9に記載の透明体インゴットの異物検出装置
であることを要旨としている。
In the invention of claim 11 of the present application, the foreign matter information is type information of the foreign matter, and the gist is a foreign matter detecting device for a transparent ingot according to claim 3 or 8 or 9. .

【0019】本願請求項12の発明では、上記透明体イ
ンゴットは石英ガラスインゴットであり、透明体はフォ
トマスク材であることを特徴とする請求項1ないし11
のいずれか1項に記載の透明体インゴットの異物検出装
置であることを要旨としている。
In the invention according to claim 12 of the present invention, the transparent body ingot is a quartz glass ingot, and the transparent body is a photomask material.
It is a gist of the present invention, which is a device for detecting foreign matter in a transparent ingot according to any one of the above.

【0020】本願請求項13の発明は、複数枚の透明体
に切断される被検出透明体インゴットを用意して、この
透明体インゴットに検査光を照射し、撮像位置を移動さ
せながら透明体インゴット全体を撮像して透明体インゴ
ットに存在する異物を撮像し、撮像された透明体インゴ
ット中の異物の画像信号を受け、この画像信号を異物情
報にし、異物情報を出力し、この出力された異物情報に
基づき異物が存在する部位を除外するように透明体イン
ゴットから透明体を切出すことを特徴とする透明体の製
造方法であることを要旨としている。
According to a thirteenth aspect of the present invention, there is provided a transparent ingot to be detected, which is cut into a plurality of transparent bodies, irradiates the transparent ingot with inspection light, and moves the imaging position to the transparent ingot. The whole is imaged to image a foreign substance present in the transparent ingot, an image signal of the imaged foreign substance in the transparent ingot is received, the image signal is converted into foreign substance information, foreign substance information is output, and the output foreign substance is output. The gist of the present invention is to provide a method for manufacturing a transparent body, characterized by cutting a transparent body from a transparent body ingot so as to exclude a portion where a foreign substance is present based on information.

【0021】本願請求項14の発明では、上記透明体イ
ンゴットは石英ガラスインゴットであり、透明体はフォ
トマスク材であることを特徴とする請求項13に記載の
透明体の製造方法であることを要旨としている。
According to a fourteenth aspect of the present invention, the transparent body ingot is a quartz glass ingot, and the transparent body is a photomask material. It is a gist.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下、本発明に係わる透明体イン
ゴットの異物検出装置およびこれを用いた透明体の製造
方法の実施形態について添付図面に基づき説明する。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a perspective view of an apparatus for detecting a foreign substance in a transparent body ingot according to the present invention and a method of manufacturing a transparent body using the apparatus.

【0023】図1に示すように、第1の実施形態の透明
体インゴットの異物検出装置1は、複数枚の透明体、例
えばフォトマスク材に切断される透明体インゴット、例
えば石英ガラスインゴットIgに検査光を照射する検査
光発生手段、例えば蛍光灯2と、石英ガラスインゴット
Igに存在する気泡や金属粉などの異物mを撮像する撮
像手段、例えば1次元CCDセンサ3と、このCCDセ
ンサ3により撮像される透明体インゴットIgの撮像位
置および蛍光灯2により照射される透明体インゴットI
gの照射位置を移動させる移動手段、例えば移動装置で
あるリフトテーブル装置4と、CCDセンサ3から異物
の画像信号を受け、この画像信号を異物情報とする画像
処理装置5と、この画像処理装置5で求めた異物情報を
出力する出力手段、例えばディスプレイ6と、蛍光灯2
の電源2a、CCDセンサ3および画像処理装置5と制
御する制御装置7とを有している。
As shown in FIG. 1, the foreign matter detecting apparatus 1 for a transparent ingot according to the first embodiment includes a plurality of transparent bodies, for example, a transparent body ingot cut into a photomask material, for example, a quartz glass ingot Ig. Inspection light generating means for irradiating inspection light, for example, a fluorescent lamp 2, and imaging means for imaging foreign matter m such as bubbles or metal powder present in a quartz glass ingot Ig, for example, a one-dimensional CCD sensor 3, and this CCD sensor 3 The imaging position of the transparent body ingot Ig to be imaged and the transparent body ingot I irradiated by the fluorescent lamp 2
moving means for moving the irradiation position of g, for example, a lift table device 4 which is a moving device; an image processing device 5 which receives an image signal of a foreign substance from the CCD sensor 3 and uses this image signal as foreign substance information; Output means for outputting the foreign substance information obtained in step 5, for example, display 6;
And a control device 7 for controlling the power supply 2a, the CCD sensor 3 and the image processing device 5.

【0024】図2に示すように、画像処理手段である画
像処理装置5は画像処理機能部5aとカメラ制御機能部
5bを有し、CPUが所定のプログラムを処理すること
により、画像処理機能とカメラ制御機能を実現する。画
像処理機能部5aは本発明の画像処理手段に対応し、画
像処理装置5のカメラ制御機能部5bと制御装置7の制
御機能部7aが本発明の制御手段に対応する。また、出
力手段6は画像処理装置5で求めた異物情報が出力され
れば、画像処理装置5に直結されても、制御装置7を介
して画像処理装置5に接続されてもよい。
As shown in FIG. 2, the image processing device 5 as an image processing means has an image processing function unit 5a and a camera control function unit 5b. Implement camera control function. The image processing function unit 5a corresponds to the image processing unit of the present invention, and the camera control function unit 5b of the image processing device 5 and the control function unit 7a of the control device 7 correspond to the control unit of the present invention. The output unit 6 may be directly connected to the image processing device 5 or may be connected to the image processing device 5 via the control device 7 if the foreign object information obtained by the image processing device 5 is output.

【0025】なお、カメラ制御機能は制御装置7に持た
せてもよい。また、画像処理装置5と制御装置7は一体
にユニットに構成してもよい。
The camera control function may be provided in the control device 7. Further, the image processing device 5 and the control device 7 may be integrally configured as a unit.

【0026】上記蛍光灯2はCCDセンサ用として通常
用いられているもので、リフトテーブル装置4に載置さ
れた石英ガラスインゴットIgに検査光を照射するため
のものであり、上記CCDセンサ3は石英ガラスインゴ
ットIgの画像を取込むためのもので、画像取込視野が
石英ガラスインゴットIgの幅より大きい範囲を有して
いる。
The fluorescent lamp 2 is normally used for a CCD sensor, and irradiates a quartz glass ingot Ig mounted on a lift table device 4 with inspection light. This is for capturing an image of the quartz glass ingot Ig, and has a range where the image capturing field of view is larger than the width of the quartz glass ingot Ig.

【0027】蛍光灯2とCCDセンサ3は、この蛍光灯
2とCCDセンサ3間にリフトテーブル装置4を挟むよ
うに配置され、かつ同一光軸上に配置されて、蛍光灯2
により石英ガラスインゴットIgが照射された部位をC
CDセンサ3が撮像するようになっている。
The fluorescent lamp 2 and the CCD sensor 3 are arranged so as to sandwich the lift table device 4 between the fluorescent lamp 2 and the CCD sensor 3 and are arranged on the same optical axis.
The region irradiated with the quartz glass ingot Ig by C
The CD sensor 3 captures an image.

【0028】上記リフトテーブル装置4は、石英ガラス
インゴットIgに対する検査光の照射位置およびCCD
センサ3による撮像位置を垂直方向(Z軸方向)に移動
させるためのもので、石英ガラスインゴットIgが載置
されるリフトテーブル本体4aと、このリフトテーブル
本体4aを昇降させるサーボモータ4bと、リフトテー
ブル本体4aの垂直方向の位置を検知する位置検知装
置、例えばリニアスケール4cとから構成されている。
なお、このリニアスケール4cは蛍光灯2が石英ガラス
インゴットIgを照射するのに邪魔にならないようにリ
フトテーブル本体4aの一側部に設けられている。
The lift table device 4 includes an irradiation position of the inspection light to the quartz glass ingot Ig and a CCD.
A lift table main body 4a on which a quartz glass ingot Ig is mounted, a servo motor 4b for raising and lowering the lift table main body 4a, and a lift for moving an imaging position of the sensor 3 in a vertical direction (Z-axis direction). It comprises a position detecting device for detecting the vertical position of the table body 4a, for example, a linear scale 4c.
The linear scale 4c is provided on one side of the lift table body 4a so that the fluorescent lamp 2 does not hinder the irradiation of the quartz glass ingot Ig.

【0029】上記制御装置7は画像処理装置5、蛍光灯
2を制御し、さらにリニアスケール4cからの位置情報
に基づきサーボモータ4bを制御してリフトテーブル本
体4aの昇降を制御する。
The control device 7 controls the image processing device 5 and the fluorescent lamp 2, and further controls the servomotor 4b based on the position information from the linear scale 4c to control the elevation of the lift table body 4a.

【0030】次に本発明に係わる透明体インゴットの異
物検出装置を用いて検査された透明体インゴットから透
明体を製造する方法に使用される切断装置について説明
する。
Next, a cutting apparatus used in a method of manufacturing a transparent body from a transparent body ingot inspected by using the transparent body ingot foreign matter detecting apparatus according to the present invention will be described.

【0031】図3に示すように、透明体インゴットの切
断装置11は、駆動装置(図示せず)を有する切断刃
部、例えばバンドソー12と、このバンドソー12に対
向して設けられ装置基台13上に移動自在に設けられた
石英ガラスインゴットIgの取付台14と、この取付台
14を水平直線方向(X軸)に送る送り装置15とを有
している。この送り装置15は装置基台13に回動自在
に設けられ、装置基台13の底面に設けられた螺子部
(図示せず)を螺合貫通するスクリューシャフト15a
と、このスクリューシャフト15aを回動させるサーボ
モータ15bと、このサーボモータ15bおよびバンド
ソー12を制御する切断装置制御手段16を有してい
る。
As shown in FIG. 3, the transparent body ingot cutting device 11 includes a cutting blade portion having a driving device (not shown), for example, a band saw 12, and a device base 13 provided opposite to the band saw 12. It has a mount 14 for the quartz glass ingot Ig movably provided above, and a feeder 15 for feeding the mount 14 in the horizontal linear direction (X-axis). The feed device 15 is rotatably provided on the device base 13, and a screw shaft 15 a screwed through a screw portion (not shown) provided on the bottom surface of the device base 13.
And a servo motor 15b for rotating the screw shaft 15a, and a cutting device control means 16 for controlling the servo motor 15b and the band saw 12.

【0032】従って、切断装置11では、取付板17を
介して取付台14に取付られた石英ガラスインゴットI
gを切断装置制御手段16の命令によりサーボモータ1
5b、スクリューシャフト15aを動作させて所定の位
置に移動できるようになっている。さらに、切断装置制
御手段16の近傍には、上述した異物検出装置1の画像
処理装置5に接続されたディスプレイ6が配置されてい
る。
Therefore, in the cutting device 11, the quartz glass ingot I attached to the mounting base 14 via the mounting plate 17 is provided.
g by the command of the cutting device control means 16
5b, the screw shaft 15a can be operated to move to a predetermined position. Further, a display 6 connected to the image processing device 5 of the foreign matter detection device 1 described above is arranged near the cutting device control means 16.

【0033】次に第1の実施形態の透明体インゴットの
異物検出装置およびこれを用いた透明体の製造方法を説
明する。
Next, an apparatus for detecting foreign matter in a transparent ingot according to the first embodiment and a method for manufacturing a transparent body using the same will be described.

【0034】前工程において、電気炉で加熱され成形機
により成形された後、研磨されて正確な直方体に成形さ
れた石英ガラスインゴットIgは、この石英ガラスイン
ゴットIgに泡や金属粉などの異物が存在しないか、異
物検出装置1により検査される。
In the pre-process, the quartz glass ingot Ig heated in an electric furnace and molded by a molding machine and then polished to form a rectangular parallelepiped is free from foreign matter such as bubbles and metal powder. It is inspected by the foreign object detection device 1 for existence.

【0035】最初に石英ガラスインゴットIgを最下位
に位置するリフトテーブル本体4aに、石英ガラスイン
ゴットIgの切断面pが水平(リフトテーブル本体4a
と平行)になるように、長手方向を垂直にして載置す
る。次に制御装置7の命令により電源2aを介して蛍光
灯2を点灯させて石英ガラスインゴットIgの最下部位
を照射する。また、一方、制御装置7の命令により画像
処理装置5を介してCCDセンサ3は、蛍光灯2に照射
された石英ガラスインゴットIgの最下部位、例えば切
断されるフォトマスク材fの1枚目に相当する部位f1
の下端部f1eからを撮像を開始する。さらに、制御装置
7の命令によりリフトテーブル本体4aを連続的に上昇
させて、CCDセンサ3により直方体の石英ガラスイン
ゴットIgを連続的に撮像する。
First, the cut surface p of the quartz glass ingot Ig is placed horizontally (the lift table body 4a) on the lift table body 4a where the quartz glass ingot Ig is positioned at the lowest position.
(Parallel to the vertical axis) and placed vertically. Next, the fluorescent lamp 2 is turned on via the power supply 2a in accordance with a command from the control device 7 to irradiate the lowest portion of the quartz glass ingot Ig. On the other hand, the CCD sensor 3 via the image processing device 5 at the command of the control device 7 causes the lowermost portion of the quartz glass ingot Ig irradiated with the fluorescent lamp 2, for example, the first photomask material f to be cut. Site f1 corresponding to
Start imaging from the lower end f1e. Further, the lift table main body 4a is continuously raised by a command from the control device 7, and the rectangular parallelepiped quartz glass ingot Ig is continuously imaged by the CCD sensor 3.

【0036】例えば、画像処理装置5および制御装置7
でプログラムに従って演算され、フォトマスク材fの1
枚当たりの厚さ相当分毎に異物情報を出力するようにし
ておけば、撮像された部位f1 の画像信号は画像処理装
置5により画像処理されて出力され、画像処理装置5の
記憶部に記憶されると共にディスプレイ6、制御装置7
に出力される。この工程において、1枚目に相当する部
位f1 に異物が存在しない場合には、ディスプレイ6は
何らの表示もされない。
For example, the image processing device 5 and the control device 7
Is calculated in accordance with the program, and 1 of the photomask material f
If the foreign substance information is output for every thickness equivalent to a sheet, the image signal of the imaged region f1 is processed by the image processing device 5 and output, and is stored in the storage unit of the image processing device 5. Display 6 and control device 7
Is output to In this step, if there is no foreign matter in the portion f1 corresponding to the first sheet, the display 6 does not display anything.

【0037】一方、サーボモータ4bにより上昇される
リフトテーブル本体4aの上昇量はリニアスケール4c
によって検知され、石英ガラスインゴットIgの位置情
報として、制御装置7に記憶される。
On the other hand, the lift amount of the lift table body 4a which is raised by the servo motor 4b is the linear scale 4c.
And is stored in the control device 7 as position information of the quartz glass ingot Ig.

【0038】さらにCCDセンサにより蛍光灯2に照射
された2枚目に相当する部位f2 は撮像され、上述と同
様に撮像された部位f2 の画像信号は画像処理装置5に
より画像処理されて出力され、画像処理装置5の記憶部
に記憶されると共にディスプレイ6、制御装置7に出力
される。この工程において、2枚目に相当する部位f2
に異物m2 が存在する場合には、図4(a)に示すよう
に、画像処理装置5から異物情報としてディスプレイ6
に出力されると共に記憶部に異物m2 の大きさが記憶さ
れる。さらに上述と同様の工程を繰返し、3枚目に相当
する部位f3 の撮像が行われ、この工程において、3枚
目に相当する部位f3 に異物m3 が存在する場合には、
図4(b)に示すように、画像処理装置5から異物情報
としてディスプレイ6に出力されると共に記憶部に異物
m3 の大きさが記憶される。
Further, a portion f2 corresponding to the second sheet irradiated on the fluorescent lamp 2 by the CCD sensor is imaged, and an image signal of the imaged portion f2 is image-processed by the image processing device 5 and output in the same manner as described above. Are stored in the storage unit of the image processing device 5 and output to the display 6 and the control device 7. In this step, the portion f2 corresponding to the second sheet
If there is a foreign matter m2 in the image processing apparatus 5 as shown in FIG.
And the size of the foreign matter m2 is stored in the storage unit. Further, the same process as described above is repeated, and an image of the portion f3 corresponding to the third sheet is taken. In this step, when the foreign matter m3 exists in the portion f3 corresponding to the third sheet,
As shown in FIG. 4B, the size of the foreign substance m3 is output from the image processing apparatus 5 to the display 6 as foreign substance information and stored in the storage unit.

【0039】さらに上述と同様にn枚目に相当する部位
fn までの撮像を行い、石英ガラスインゴットIgの異
物検出は完了する。
In the same manner as described above, imaging is performed up to the portion fn corresponding to the n-th sheet, and the detection of foreign matter in the quartz glass ingot Ig is completed.

【0040】検出された異物mは石英ガラスインゴット
Igの立体図上では、図4(c)のように表示すること
ができる。
The detected foreign matter m can be displayed as shown in FIG. 4C on the three-dimensional view of the quartz glass ingot Ig.

【0041】上述のように本実施形態においては、石英
ガラスインゴットIgを面状に撮像するCCDセンサ
と、石英ガラスインゴットIgの撮像位置を撮像面と直
交(垂直)する方向に移動させる送り装置15の働きで
直方体の石英ガラスインゴットIgを全面に亘って異物
検出をすることができるので、異物を確実に検出するこ
とができる。
As described above, in the present embodiment, the CCD sensor for imaging the quartz glass ingot Ig in a planar manner, and the feeding device 15 for moving the imaging position of the quartz glass ingot Ig in a direction perpendicular (perpendicular) to the imaging surface. With this function, foreign substances can be detected over the entire surface of the rectangular parallelepiped quartz glass ingot Ig, so that the foreign substances can be reliably detected.

【0042】次に、第1の実施形態の透明体インゴット
の異物検出装置1により検査された石英ガラスインゴッ
トIgを用いてフォトマスク材を製造する方法を説明す
る。
Next, a method of manufacturing a photomask material using the quartz glass ingot Ig inspected by the transparent ingot foreign substance detecting device 1 of the first embodiment will be described.

【0043】異物検出が完了した石英ガラスインゴット
Igをリフトテーブル本体4aから切断装置11の取付
台14の上面に設けられた取付板17に移載し、接着剤
で取付板17に固定する。
The quartz glass ingot Ig for which foreign object detection has been completed is transferred from the lift table main body 4a to the mounting plate 17 provided on the upper surface of the mounting table 14 of the cutting device 11, and fixed to the mounting plate 17 with an adhesive.

【0044】上述した異物検出装置1により検査された
石英ガラスインゴットIgの異物検出状況は、図4
(a)および、または図4(c)に示すような状態で切
断装置制御手段16の近傍に配置されたディスプレイ6
に表示される。例えば、1枚目に相当する部位f1 には
異物が存在しないので、切断装置制御手段16を制御し
てサーボモータ15bを駆動させ、スクリューシャフト
15aを回転させる。このスクリューシャフト15aの
回転により取付台14を所定量例えばフォトマスク材の
厚さ分だけ送る。しかる後、バンドソー12を作動させ
て石英ガラスインゴットIgをフォトマスク材の厚さに
切断する。次に2枚目および3枚目に相当する部位f1
には異物m2 、m3 が存在するので、2枚目f2 と3枚
目f3 間の切断は行わず、3枚目f3 と異物が存在しな
い4枚目f間の切断を行う。以下同様に切断を行い、石
英ガラスインゴットIgからフォトマスク材fを得る。
FIG. 4 shows the foreign matter detection status of the quartz glass ingot Ig inspected by the foreign matter detecting device 1 described above.
(A) and / or the display 6 arranged near the cutting device control means 16 in the state shown in FIG.
Will be displayed. For example, since no foreign matter exists in the portion f1 corresponding to the first sheet, the cutting device control means 16 is controlled to drive the servo motor 15b and rotate the screw shaft 15a. By the rotation of the screw shaft 15a, the mount 14 is fed by a predetermined amount, for example, by the thickness of the photomask material. Thereafter, the band saw 12 is operated to cut the quartz glass ingot Ig to the thickness of the photomask material. Next, a portion f1 corresponding to the second and third sheets
Since there are foreign substances m2 and m3 in the table, cutting between the second sheet f2 and the third sheet f3 is not performed, but cutting between the third sheet f3 and the fourth sheet f where no foreign matter is present. Thereafter, cutting is performed in the same manner to obtain a photomask material f from the quartz glass ingot Ig.

【0045】この切断工程において、従来のように、異
物の検出が不十分で異物の存在を見逃して、異物m2 、
m3 が存在して不良品となるべき2枚目f2 と3枚目f
3 も異物が含まれない部位を同様に切断を行い、切断後
不良品として2枚目f2 と3枚目f3 を破棄していたの
と異なり、異物mが存在する2枚目f2 と3枚目f3の
切断を行わないので、切断作業の無駄をなくすことがで
きて、フォトマスク材の生産性を上げることが可能とな
った。
In this cutting step, as in the prior art, the detection of the foreign matter is insufficient and the presence of the foreign matter is overlooked, and the foreign matter m2,
The second sheet f2 and the third sheet f which should be defective due to the presence of m3
3 also cuts off the portion containing no foreign matter in the same way, and discards the second sheet f2 and the third sheet f3 as defective after cutting, unlike the second sheet f2 and the third sheet Since the cutting of the eye f3 is not performed, the waste of the cutting operation can be eliminated, and the productivity of the photomask material can be increased.

【0046】なお、本第1の実施形態において、出力手
段としてディスプレイ6を用いて、異物mの位置を表示
し、この異物mが存在する部位fの切断を行わないよう
にしたが、出力手段としてプリンタを用いて、この異物
mが存在する部位fを紙に打出し、異物mが存在する部
位fの切断を行わないようにしてもよい。
In the first embodiment, the position of the foreign matter m is displayed by using the display 6 as the output means, and the portion f where the foreign matter m is present is not cut. It is also possible to use a printer to print out the portion f where the foreign matter m is present on paper and not to cut the portion f where the foreign material m is present.

【0047】また、図5に示すように、異物検出装置1
の制御装置7と切断装置制御手段16とを接続して、画
像処理装置5の記憶部に記憶された異物mの位置情報を
制御装置7に取出し、切断装置制御手段16に送り、検
出された異物mを避けるようにして廃棄原料を最小限に
するようにバンドソー12の切断位置を制御すれば、作
業員を介在させることなく、自動的にバンドソー12の
切断位置設定が行えて、効率的である。
Further, as shown in FIG.
Is connected to the cutting device control means 16, and the position information of the foreign matter m stored in the storage section of the image processing device 5 is taken out to the control device 7 and sent to the cutting device control means 16 to detect the foreign matter m. If the cutting position of the band saw 12 is controlled so as to avoid the foreign matter m and minimize the waste material, the cutting position of the band saw 12 can be automatically set without the intervention of an operator, which is efficient and efficient. is there.

【0048】次に、第2の実施形態の透明体インゴット
の異物検出装置について説明する。
Next, a foreign substance detecting device for a transparent body ingot according to a second embodiment will be described.

【0049】なお、第1の実施形態の透明体インゴット
の異物検出装置1と同一部分には、同一符号を付して説
明する。
The same parts as those of the foreign matter detecting device 1 for a transparent body ingot according to the first embodiment will be described with the same reference numerals.

【0050】図6に示すように、第2の実施形態の透明
体インゴットの異物検出装置21は、石英ガラスインゴ
ットIgに検査光を照射する蛍光灯2と、2次元CCD
センサ22と、このCCDセンサ22により撮像される
石英ガラスインゴットIgの撮像位置および蛍光灯2に
より照射される石英ガラスインゴットIgの照射位置を
移動させる移動手段23と、画像処理装置5と、この画
像処理装置5で求めた異物情報を出力するディスプレイ
6と、蛍光灯2、CCDセンサ22および画像処理装置
5と制御する制御装置7とを有している。
As shown in FIG. 6, a foreign object detecting device 21 for a transparent body ingot according to the second embodiment includes a fluorescent lamp 2 for irradiating inspection light onto a quartz glass ingot Ig, and a two-dimensional CCD.
A sensor 22; a moving unit 23 for moving an imaging position of the quartz glass ingot Ig captured by the CCD sensor 22 and an irradiation position of the quartz glass ingot Ig irradiated by the fluorescent lamp 2; the image processing device 5; It has a display 6 for outputting foreign matter information obtained by the processing device 5, and a control device 7 for controlling the fluorescent lamp 2, the CCD sensor 22 and the image processing device 5.

【0051】上記移動手段23は、石英ガラスインゴッ
トIgが載置されるテーブル23aを3次元に移動可能
に形成されており、テーブル23aが摺動自在に載置さ
れるX軸テーブル23bと、テーブル23aを水平X方
向に移動させるスクリューシャフト23cと、このスク
リューシャフト23cを回動させるサーボモータ23d
とを有してテーブル23aをX方向に動かし、またX軸
テーブル23bが摺動自在に載置されるY軸テーブル2
3eを水平Y軸方向に移動させるスクリューシャフト
(図示せず)と、このスクリューシャフトを回動させる
サーボモータ(図示せず)とを有してテーブル23aを
Y軸方向に動かし、さらにX軸テーブル23bが載置さ
れるY軸テーブル23eが垂直Z軸方向に移動可能に取
付けられたZ軸テーブル23fと、このZ軸テーブル2
3fに回動自在に取付けられたスクリューシャフト23
gと、このスクリューシャフト23gを回動させるサー
ボモータ(図示せず)とを有してテーブル23aをZ軸
方向に動かすようになっている。
The moving means 23 is formed so that a table 23a on which the quartz glass ingot Ig is mounted can be moved three-dimensionally, and an X-axis table 23b on which the table 23a is slidably mounted, and a table 23a. A screw shaft 23c for moving the screw shaft 23a in the horizontal X direction, and a servo motor 23d for rotating the screw shaft 23c
And the Y-axis table 2 on which the X-axis table 23b is slidably mounted.
The table 23a is moved in the Y-axis direction by using a screw shaft (not shown) for moving the screw 3e in the horizontal Y-axis direction and a servomotor (not shown) for rotating the screw shaft. A Z-axis table 23f on which a Y-axis table 23e on which the 23b is placed is mounted so as to be movable in the vertical Z-axis direction;
Screw shaft 23 rotatably mounted on 3f
g, and a servomotor (not shown) for rotating the screw shaft 23g to move the table 23a in the Z-axis direction.

【0052】次に第2の実施形態の石英ガラスインゴッ
トの異物検出装置21を用いた石英ガラスインゴットI
gの検出方法を説明する。
Next, the quartz glass ingot I using the quartz glass ingot foreign matter detecting device 21 of the second embodiment is used.
A method for detecting g will be described.

【0053】最初に最後退位置および最下位に位置する
テーブル23aに石英ガラスインゴットIgを載置す
る。次にCCDセンサ22の焦点および蛍光灯2の照射
位置を、石英ガラスインゴットIgを小さな複数個の直
方体に想定して区分されたセル、例えば第1撮像層の1
行目3列目の撮像部位p(1、3、1)に合わせる。こ
のセルは画像処理装置5および制御装置7でプログラム
に従って演算されて想定される。
First, the quartz glass ingot Ig is placed on the table 23a located at the rearmost position and the lowest position. Next, the focal point of the CCD sensor 22 and the irradiation position of the fluorescent lamp 2 are divided into cells each of which is assumed to be a plurality of small rectangular parallelepiped quartz glass ingots Ig, for example, one of the first imaging layers.
It is adjusted to the imaging part p (1, 3, 1) in the third row and the third column. This cell is assumed to be calculated by the image processing device 5 and the control device 7 according to a program.

【0054】制御装置7によりサーボモータを作動させ
てスクリューシャフトを回転させ、X軸テーブル23b
と共にテーブル23aを後退させ、石英ガラスインゴッ
トIgの第1撮像層の1行目1列目の撮像部位p(1、
1、1)の中心部をCCDセンサ22の焦点に位置させ
る。なお、CCDセンサ22には焦点深度があり、撮像
部位p(1、1、1)の中心部に焦点を合わせることに
より撮像部位p(1、1、1)全体が鮮明に撮像され
る。しかる後、制御装置7によりCCDセンサ22を制
御して、CCDセンサ22で撮像部位p(1、1、1)
を撮像する。
The servo motor is operated by the control device 7 to rotate the screw shaft, and the X-axis table 23b
At the same time, the table 23a is retracted, and the imaging site p (1,..., 1st row, 1st column of the first imaging layer of the quartz glass ingot Ig
The center part of (1) and (1) is positioned at the focal point of the CCD sensor 22. Note that the CCD sensor 22 has a depth of focus, and the entire imaging region p (1, 1, 1) is clearly imaged by focusing on the center of the imaging region p (1, 1, 1). Thereafter, the control device 7 controls the CCD sensor 22 and the CCD sensor 22 controls the imaging part p (1, 1, 1).
Is imaged.

【0055】撮像された部位p(1、1、1)の画像信
号は画像処理装置5により画像処理されて出力され、画
像処理装置5の記憶部に記憶されると共にディスプレイ
6、制御装置7に出力される。この工程において、撮像
部位p(1、1、1)に異物が存在しない場合には、デ
ィスプレイ6には何らの表示もされず、一方、制御装置
7は画像処理装置5からの出力によりサーボモータ23
dを駆動させることによりスクリューシャフト23cを
回動させて、テーブル23aをX軸方向に移動させ、撮
像部位p(2、1、1)にCCDセンサ22の焦点を合
わせ、撮像部位p(1、1、1)の撮像と同様に撮像部
位p(2、1、1)の撮像を行い、撮像された撮像部位
p(2、1、1)の画像信号は画像処理装置5により画
像処理されて出力され、画像処理装置5の記憶部に記憶
されると共にディスプレイ6、制御装置7に出力され
る。この工程において、撮像部位p(2、1、1)に異
物mが存在する場合には、画像処理装置5から異物情報
としてディスプレイ6に出力されると共に記憶部に異物
mの存在位置と大きさが記憶される。
The image signal of the imaged region p (1,1,1) is output after being subjected to image processing by the image processing device 5, and is stored in the storage unit of the image processing device 5 and transmitted to the display 6 and the control device 7. Is output. In this step, if there is no foreign matter in the imaging part p (1, 1, 1), no display is displayed on the display 6, while the control device 7 outputs the servo motor based on the output from the image processing device 5. 23
By driving d, the screw shaft 23c is rotated, the table 23a is moved in the X-axis direction, and the imaging sensor p (2, 1, 1) is focused on the CCD sensor 22, and the imaging sensor p (1,. The imaging part p (2, 1, 1) is imaged in the same manner as the imaging of (1, 1), and the image signal of the imaged imaging part p (2, 1, 1) is subjected to image processing by the image processing device 5. The output is stored in the storage unit of the image processing device 5 and output to the display 6 and the control device 7. In this step, when the foreign matter m is present in the imaging portion p (2, 1, 1), the foreign matter information is output from the image processing device 5 to the display 6 as foreign matter information, and the location and size of the foreign matter m are stored in the storage unit. Is stored.

【0056】さらに上述と同様の工程を繰返し、撮像部
位p(n、1、1)の撮像が完了したら、制御装置7に
よりサーボモータを作動させてスクリューシャフトを回
転させ、X軸テーブル23bと共にテーブル23aをY
軸方向に前進させ、石英ガラスインゴットIgの第1撮
像層の1行目2列目の撮像部位p(1、2、1)の中心
部をCCDセンサ22の焦点に位置させる。以下上述と
同様の撮像工程を行い、撮像部位p(n、n、n)まで
撮像したら異物検出は完了する。
Further, the same steps as described above are repeated, and when the imaging of the imaging site p (n, 1, 1) is completed, the servo motor is operated by the control device 7 to rotate the screw shaft, and the table is moved together with the X-axis table 23b. 23a to Y
The central portion of the imaging region p (1, 2, 1) in the first row and second column of the first imaging layer of the quartz glass ingot Ig is positioned at the focal point of the CCD sensor 22 in the axial direction. Thereafter, the same imaging process as described above is performed, and when the imaging is performed up to the imaging site p (n, n, n), the foreign object detection is completed.

【0057】異物検出が完了した石英ガラスインゴット
Igは、上述した第1の実施形態と同様に出力手段に出
力された異物情報を活用して、切断工程の無駄がなく石
英ガラスインゴットIgからフォトマスクの切出しを行
う。
The quartz glass ingot Ig for which the foreign substance detection has been completed utilizes the foreign substance information output to the output means in the same manner as in the first embodiment, and eliminates the waste of the cutting process from the quartz glass ingot Ig to the photomask. Cut out.

【0058】第2の実施形態の異物検出装置21におい
ては、石英ガラスインゴットIg撮像部位p(1、1、
1)〜p(n、n、n)のセルに分割して撮像するの
で、より鮮明に異物mを撮像することができて、異物発
見が容易になる。
In the foreign substance detecting device 21 according to the second embodiment, a quartz glass ingot Ig imaging region p (1,1,.
1) to p (n, n, n), since the image is divided and imaged, the foreign substance m can be imaged more clearly, and the foreign substance can be easily found.

【0059】次に、第3の実施形態の透明体インゴット
の異物検出装置について説明する。
Next, a foreign substance detecting device for a transparent ingot according to a third embodiment will be described.

【0060】なお、第1および第2の実施形態の透明体
インゴットの異物検出装置1と同一部分には、同一符号
を付して説明する。
The same parts as those of the foreign matter detecting device 1 of the transparent body ingot of the first and second embodiments will be described with the same reference numerals.

【0061】図7に示すように、第3の実施形態の透明
体インゴットの異物検出装置31は、石英ガラスインゴ
ットIgに検査光を照射する検査光発生装置、例えばレ
ーザ光発振装置32と、1次元CCDセンサ33と、こ
のCCDセンサ33により撮像される石英ガラスインゴ
ットIgの撮像位置およびレーザ光により照射される石
英ガラスインゴットIgの照射位置を移動させる移動手
段34と、画像処理装置5と、この画像処理装置5から
の異物情報を出力するディスプレイ6と、レーザ光発振
装置32、CCDセンサ33および画像処理装置5を制
御する制御装置7とを有している。
As shown in FIG. 7, a foreign substance detecting device 31 for a transparent body ingot according to the third embodiment includes an inspection light generating device for irradiating a quartz glass ingot Ig with inspection light, for example, a laser light oscillation device 32, A three-dimensional CCD sensor 33, a moving means 34 for moving an imaging position of the quartz glass ingot Ig imaged by the CCD sensor 33 and an irradiation position of the quartz glass ingot Ig irradiated by the laser beam, the image processing device 5, It has a display 6 for outputting foreign substance information from the image processing device 5, and a control device 7 for controlling the laser light oscillation device 32, the CCD sensor 33 and the image processing device 5.

【0062】上記移動手段34は、石英ガラスインゴッ
トIgが摺動自在に載置されるテーブル34aと、石英
ガラスインゴットIgをテーブル34a上で水平X軸方
向に移動させる押圧板34bと、この押圧板34bを連
結子34c、螺合部34dを介して押圧するスクリュー
シャフト34eと、このスクリューシャフト34eを回
動させるサーボモータ34fとを有している。
The moving means 34 includes a table 34a on which the quartz glass ingot Ig is slidably mounted, a pressing plate 34b for moving the quartz glass ingot Ig on the table 34a in the horizontal X-axis direction, and a pressing plate 34b. It has a screw shaft 34e that presses 34b via a connector 34c and a threaded portion 34d, and a servo motor 34f that rotates the screw shaft 34e.

【0063】上記テーブル34aには、レーザ光発振装
置32とCCDセンサ33の光軸上に撮像用透孔34g
が穿設されている。
The table 34a has a through hole 34g for imaging on the optical axis of the laser beam oscillator 32 and the CCD sensor 33.
Are drilled.

【0064】次に第3の実施形態の石英ガラスインゴッ
トの異物検出装置31を用いた石英ガラスインゴットI
gの検出方法を説明する。
Next, the quartz glass ingot I using the quartz glass ingot foreign matter detecting device 31 of the third embodiment is described.
A method for detecting g will be described.

【0065】最初に最後退位置に待機している押圧板3
4bに密着させて石英ガラスインゴットIgをテーブル
34aに、長手方向を水平にして載置する。次に制御装
置7の命令によりサーボモータ34fを駆動させてスク
リューシャフト34eを回転させ、螺合部34d、連結
子34cを介して押圧板34bで石英ガラスインゴット
Igを押圧し、石英ガラスインゴットIgの最先端部
位、例えば切断されるフォトマスク材hの1枚目に相当
する部位h1に位置させる。しかる後、制御装置7によ
りレーザ光発振装置32を作動させてレーザ光Lを発振
させ、さらにCCDセンサ33により部位h1の撮像を
開始する。撮像開始に伴い、制御装置7の命令によりサ
ーボモータ34fを駆動させてスクリューシャフト34
eを回転させ、押圧板34bにより所定の速度で石英ガ
ラスインゴットIgをテーブル34aで移動させ、一
方、撮像用透孔34gを通過する部位hをレーザ光Lで
照射してCCDセンサ33で撮像する。このCCDセン
サ33による撮像工程において、CCDセンサ33から
の画像信号は画像処理装置5により画像処理されて出力
され、画像処理装置5の記憶部に記憶されると共にディ
スプレイ6、制御装置7に出力される。図8は画像処理
された出力を示すもので、泡や金属粉などの異物mが存
在すると出力レベルが増大して、石英ガラスインゴット
Igのどの部位hに異物mが存在するか明確に把握でき
る。
First, the pressing plate 3 waiting at the rearmost position
4b, the quartz glass ingot Ig is placed on the table 34a with its longitudinal direction horizontal. Next, the servo motor 34f is driven by a command from the control device 7 to rotate the screw shaft 34e, and the quartz glass ingot Ig is pressed by the pressing plate 34b via the screwing portion 34d and the connector 34c, and the quartz glass ingot Ig is removed. It is located at the forefront part, for example, a part h1 corresponding to the first sheet of the photomask material h to be cut. Thereafter, the control device 7 operates the laser light oscillation device 32 to oscillate the laser light L, and the CCD sensor 33 starts imaging the part h1. At the start of imaging, the servo motor 34f is driven by a command from the control device 7 to
e, the quartz glass ingot Ig is moved at a predetermined speed by the pressing plate 34b on the table 34a, and a portion h passing through the imaging through hole 34g is irradiated with the laser light L to be imaged by the CCD sensor 33. . In the imaging process by the CCD sensor 33, the image signal from the CCD sensor 33 is subjected to image processing by the image processing device 5 and output, and is stored in the storage unit of the image processing device 5 and output to the display 6 and the control device 7. You. FIG. 8 shows an image-processed output. When foreign matter m such as foam or metal powder is present, the output level is increased, and it is possible to clearly grasp at which part h of the quartz glass ingot Ig the foreign matter m is present. .

【0066】従って、上述した第1および第2の実施形
態と同様に異物情報を活用して、切断工程の無駄なく石
英ガラスインゴットIgからフォトマスクfの切出しを
行う。
Therefore, the photomask f is cut out from the quartz glass ingot Ig without wasting the cutting process by utilizing the foreign matter information as in the first and second embodiments.

【0067】本第3の実施形態では、石英ガラスインゴ
ットIgを移動させながらレーザ光Lを照射して、撮像
するので、迅速な異物検出が可能である。
In the third embodiment, since the laser beam L is irradiated while moving the quartz glass ingot Ig to capture an image, it is possible to detect foreign substances quickly.

【0068】次に、第4の実施形態の透明体インゴット
の異物検出装置について説明する。
Next, a foreign substance detecting device for a transparent body ingot according to a fourth embodiment will be described.

【0069】なお、第1ないし第3の実施形態の透明体
インゴットの異物検出装置1と同一部分には、同一符号
を付して説明する。
The same parts as those of the foreign object detecting device 1 of the transparent body ingot of the first to third embodiments are denoted by the same reference numerals and described.

【0070】図9に示すように、第4の実施形態の透明
体インゴットの異物検出装置41は、石英ガラスインゴ
ットIgにレーザ光を照射するレーザ光発振装置32
と、赤外線撮像装置、例えば赤外線撮像カメラ42と、
この赤外線撮像カメラ42により撮像される石英ガラス
インゴットIgの撮像位置およびレーザ光により照射さ
れる石英ガラスインゴットIgの照射位置を移動させる
移動手段43と、画像処理装置5と、この画像処理装置
5からの異物情報を出力するディスプレイ6と、レーザ
光発振装置32、赤外線撮像カメラ42および画像処理
装置5を制御する制御装置7とを有している。
As shown in FIG. 9, a foreign substance detecting device 41 for a transparent ingot according to the fourth embodiment comprises a laser light oscillating device 32 for irradiating a quartz glass ingot Ig with a laser beam.
And an infrared imaging device, for example, an infrared imaging camera 42,
A moving unit 43 for moving an imaging position of the quartz glass ingot Ig imaged by the infrared imaging camera 42 and an irradiation position of the quartz glass ingot Ig irradiated by the laser light, the image processing device 5, and the image processing device 5. And a control device 7 for controlling the laser light oscillation device 32, the infrared imaging camera 42, and the image processing device 5.

【0071】上記移動手段43は、石英ガラスインゴッ
トIgを固定したテーブル43aが摺動自在に載置され
るX軸テーブル43bと、テーブル43aを水平X方向
に移動させるスクリューシャフト43cと、このスクリ
ューシャフト43cを回動させるサーボモータ43dと
を有している。
The moving means 43 includes an X-axis table 43b on which a table 43a on which a quartz glass ingot Ig is fixed is slidably mounted, a screw shaft 43c for moving the table 43a in the horizontal X direction, and a screw shaft 43c. And a servo motor 43d for rotating 43c.

【0072】次に第4の実施形態の石英ガラスインゴッ
トの異物検出装置41を用いた石英ガラスインゴットI
gの異物検出方法を説明する。
Next, the quartz glass ingot I using the quartz glass ingot foreign matter detecting device 41 of the fourth embodiment is described.
A method for detecting a foreign substance of g will be described.

【0073】最初に最後退位置(図9中手前側)に待機
しているテーブル43aに石英ガラスインゴットIgを
載置する。次に制御装置7の命令によりサーボモータ4
3dを駆動させてスクリューシャフト43cを回転さ
せ、石英ガラスインゴットIgを移動させ、石英ガラス
インゴットIgの最先端部位、例えば切断されるフォト
マスク材の1枚目に相当する部位i1に赤外線撮像カメ
ラ42の焦点およびレーザ光Lの照射位置を合わせる。
しかる後、制御装置7によりレーザ光発振装置32を作
動させてレーザ光Lを発振させ、さらに赤外線撮像カメ
ラ42により部位i1の撮像を開始する。撮像開始に伴
い、制御装置7の命令によりサーボモータ43dを駆動
させてスクリューシャフト43cを回転させ、テーブル
43aに載置された石英ガラスインゴットIgを所定の
速度で移動させながら、レーザ光Lで照射して赤外線撮
像カメラ42で石英ガラスインゴットIgの全体に亘っ
て撮像する。この赤外線撮像カメラ42による撮像工程
において、赤外線撮像カメラ42からの画像信号は画像
処理装置5により画像処理されて出力され、画像処理装
置5の記憶部に記憶されると共にディスプレイ6、制御
装置7に出力される。
First, the quartz glass ingot Ig is placed on the table 43a waiting at the last retreat position (the front side in FIG. 9). Next, the servo motor 4 is controlled by a command from the controller 7.
By driving the screw shaft 43c by driving 3d, the quartz glass ingot Ig is moved, and the infrared imaging camera 42 is moved to the foremost part of the quartz glass ingot Ig, for example, the part i1 corresponding to the first piece of the photomask material to be cut. And the irradiation position of the laser beam L are adjusted.
Thereafter, the control device 7 activates the laser light oscillation device 32 to oscillate the laser light L, and the infrared imaging camera 42 starts imaging the part i1. At the start of imaging, the servo motor 43d is driven by the instruction of the control device 7 to rotate the screw shaft 43c, and the quartz glass ingot Ig placed on the table 43a is moved at a predetermined speed and irradiated with the laser light L. Then, the infrared imaging camera 42 takes an image of the entire quartz glass ingot Ig. In the imaging process by the infrared imaging camera 42, the image signal from the infrared imaging camera 42 is subjected to image processing by the image processing device 5 and output, stored in the storage unit of the image processing device 5, and transmitted to the display 6 and the control device 7. Is output.

【0074】図10は画像処理された出力画像を示すも
ので、泡や金属粉などの異物が存在しない状態を示すも
のであり、図11は異物mが存在する場合の出力画像を
示し、異物mがレーザ光Lにより加熱されて異物mの中
心が最も濃く放射状に色が薄くなる。なお、図12光学
式の画像取込みの出力画像を示す。
FIG. 10 shows an output image subjected to image processing, showing a state in which no foreign matter such as bubbles or metal powder is present. FIG. 11 shows an output image in the case where foreign matter m is present. m is heated by the laser light L, so that the center of the foreign matter m is darkest and the color is radially light. FIG. 12 shows an output image of the optical image capture.

【0075】従って、上述した第1ないし第3の実施形
態と同様に異物情報を活用して、切断工程の無駄がなく
石英ガラスインゴットIgからフォトマスクの切出しを
行う。
Therefore, the photomask is cut out from the quartz glass ingot Ig without waste of the cutting step by utilizing the foreign matter information as in the first to third embodiments described above.

【0076】本第4の実施形態では異物mの熱分布が異
物mの周囲にも影響を及ぼすため、異物mの大きさより
も大きく画像として表示されるので、異物mの大きさそ
のものを画像として取込む図12に示すような光学式画
像認識よりも、異物mの発見が容易である。
In the fourth embodiment, since the heat distribution of the foreign matter m also affects the periphery of the foreign matter m, the image is displayed as an image larger than the size of the foreign matter m. It is easier to find the foreign matter m than the optical image recognition as shown in FIG.

【0077】次に、第5の実施形態の透明体インゴット
の異物検出装置について説明する。
Next, an apparatus for detecting foreign matter in a transparent ingot according to a fifth embodiment will be described.

【0078】なお、第2および第4の実施形態の透明体
インゴットの異物検出装置1と同一部分には、同一符号
を付して説明する。
The same parts as those of the foreign object detecting device 1 of the transparent ingot of the second and fourth embodiments are denoted by the same reference numerals and described.

【0079】図13に示すように、第5の実施形態の石
英ガラスインゴットの異物検出装置51は、石英ガラス
インゴットIgにレーザ光Lを照射するレーザ光発振装
置32と、赤外線撮像装置、例えば赤外線撮像カメラ4
2と、この赤外線撮像カメラ42により撮像される石英
ガラスインゴットIgの撮像位置およびレーザ光Lによ
り照射される石英ガラスインゴットIgの照射位置を移
動させる移動手段23と、画像処理装置5と、この画像
処理装置5からの異物情報を出力するディスプレイ6
と、レーザ光発振装置32、赤外線撮像カメラ42およ
び画像処理装置5を制御する制御装置7とを有してい
る。
As shown in FIG. 13, a foreign substance detecting device 51 for a quartz glass ingot according to the fifth embodiment includes a laser light oscillating device 32 for irradiating a laser beam L to a quartz glass ingot Ig, and an infrared imaging device, for example, an infrared ray Imaging camera 4
2, moving means 23 for moving the imaging position of the quartz glass ingot Ig imaged by the infrared imaging camera 42 and the irradiation position of the quartz glass ingot Ig irradiated by the laser light L, the image processing device 5, and the image Display 6 for outputting foreign matter information from processing device 5
And a control device 7 for controlling the laser light oscillation device 32, the infrared imaging camera 42, and the image processing device 5.

【0080】上記移動手段23は、図6に示すような第
2の実施形態の移動手段と同様の構造を有し、テーブル
23aと、X軸テーブル23bと、スクリューシャフト
23cと、サーボモータ23dと、Y軸テーブル23e
と、スクリューシャフト23hと、サーボモータ23i
と、Z軸テーブル23fと、スクリューシャフト23g
と、サーボモータ(図示せず)とを有して、テーブル2
3aを3次元に動かせるようになっている。
The moving means 23 has the same structure as the moving means of the second embodiment as shown in FIG. 6, and includes a table 23a, an X-axis table 23b, a screw shaft 23c, a servomotor 23d, , Y-axis table 23e
, Screw shaft 23h, servo motor 23i
, Z-axis table 23f, and screw shaft 23g
And a servo motor (not shown).
3a can be moved three-dimensionally.

【0081】次に第5の実施形態の石英ガラスインゴッ
トの異物検出装置51を用いた石英ガラスインゴットI
gの検出方法を説明する。
Next, the quartz glass ingot I using the quartz glass ingot foreign matter detecting device 51 of the fifth embodiment will be described.
A method for detecting g will be described.

【0082】また、図13に示すように、最初にX軸の
最後退位置、Y軸の中間位置およびZ軸の最下位に位置
するテーブル23aに石英ガラスインゴットIgを載置
する。次に赤外線撮像カメラ42の焦点およびレーザ光
Lの照射位置を石英ガラスインゴットIgのフォトマス
ク材の1枚目に相当する部位f1 の最上位置、中央部、
例えば撮像部位j(1、k、1)に合わせる。制御装置
7によりサーボモータを作動させてスクリューシャフト
を回転させて、X軸テーブル23bと共にテーブル23
aをY軸方向に後退させ、石英ガラスインゴットIgの
第1撮像層の1行目1列目の撮像部位j(1、1、1)
の中心部に赤外線撮像カメラ42の焦点を合わせる。
As shown in FIG. 13, the quartz glass ingot Ig is first placed on the table 23a located at the rearmost position on the X-axis, the intermediate position on the Y-axis, and the lowest position on the Z-axis. Next, the focal point of the infrared imaging camera 42 and the irradiation position of the laser beam L are set at the uppermost position, the center, and the position of the portion f1 corresponding to the first sheet of the photomask material of the quartz glass ingot Ig.
For example, it is adjusted to the imaging part j (1, k, 1). The control device 7 operates the servo motor to rotate the screw shaft, and the X-axis table 23b and the table 23 are rotated.
a is retracted in the Y-axis direction, and the imaging region j (1, 1, 1) in the first row and first column of the first imaging layer of the quartz glass ingot Ig.
The focus of the infrared imaging camera 42 is adjusted to the center of the camera.

【0083】しかる後、制御装置7により赤外線撮像カ
メラ42を制御して、赤外線撮像カメラ42で撮像部位
j(1、1、1)を撮像する。撮像された撮像部位j
(1、1、1)の画像信号は画像処理装置5により画像
処理されて出力され、画像処理装置5の記憶部に記憶さ
れると共にディスプレイ6、制御装置7に出力される。
この工程において、撮像部位j(1、1、1)に異物が
存在しない場合には、ディスプレイ6は何らの表示もさ
れず、一方、制御装置7は画像処理装置5からの出力に
よりサーボモータ23iを駆動させることによりスクリ
ューシャフト23hを回動させて、テーブル23aをY
軸方向に移動させ、撮像部位j(1、2、1)に赤外線
撮像カメラ42の焦点を合わせ、撮像部位j(1、1、
1)の撮像と同様に撮像部位j(1、2、1)の撮像を
行い、撮像された撮像部位j(1、2、1)の画像信号
は画像処理装置5により画像処理されて出力され、画像
処理装置5の記憶部に記憶されると共にディスプレイ
6、制御装置7に出力される。この工程において、撮像
部位j(1、2、1)に異物mが存在する場合には、画
像処理装置5から異物情報としてディスプレイ6に出力
として、異物mの存在位置、大きさ、数量および材質が
表示されると共に記憶部にも異物情報が記憶される。
Thereafter, the control device 7 controls the infrared imaging camera 42, and the infrared imaging camera 42 images the imaging site j (1, 1, 1). Imaged part j imaged
The (1, 1, 1) image signal is subjected to image processing by the image processing device 5 and output, and is stored in the storage unit of the image processing device 5 and output to the display 6 and the control device 7.
In this step, if there is no foreign matter in the imaging part j (1, 1, 1), the display 6 does not display any information, while the control device 7 outputs the servo motor 23i based on the output from the image processing device 5. Is driven to rotate the screw shaft 23h to move the table 23a to Y.
The imaging part j (1, 1, 1) is moved in the axial direction, and the infrared imaging camera 42 is focused on the imaging part j (1, 2, 1).
The imaging part j (1, 2, 1) is imaged similarly to the imaging of 1), and the image signal of the imaged imaging part j (1, 2, 1) is subjected to image processing by the image processing device 5 and output. Are stored in the storage unit of the image processing device 5 and output to the display 6 and the control device 7. In this step, when the foreign matter m exists in the imaging part j (1, 2, 1), the position, size, quantity, and material of the foreign matter m are output from the image processing device 5 to the display 6 as foreign matter information. Is displayed and the foreign substance information is also stored in the storage unit.

【0084】異物mの存在位置は移動手段23の送り量
から判明する撮像部位j(k、k、k)として表示さ
れ、異物mの大きさは赤外線撮像カメラ42と撮像部位
j(k、k、k)の距離およびセルと異物の画素数の比
から演算されて求められ、異物mの数量は大きさが演算
された個数をカウントして求められ、材質は熱分布によ
って求められる材質の比熱と予め求められ記憶されてい
る材質の比熱を比較することにより求められる。
The location of the foreign matter m is displayed as an imaging part j (k, k, k) determined from the feed amount of the moving means 23, and the size of the foreign matter m is determined by the infrared imaging camera 42 and the imaging part j (k, k). , K) is calculated from the distance and the ratio between the cell and the number of pixels of the foreign matter, the quantity of the foreign matter m is determined by counting the number of which the size is calculated, and the material is the specific heat of the material determined by the heat distribution. And the specific heat of the material previously obtained and stored.

【0085】図14に示すように、上述したと同様の工
程を繰返し、撮像部位j(1、n、n)の撮像が完了し
たら、制御装置7によりサーボモータ23dを作動させ
てスクリューシャフト23cを回転させ、Y軸、Z軸方
向の位置を保ったまま、X軸テーブル23bと共にテー
ブル23aをX軸方向に前進させ、石英ガラスインゴッ
トIgのフォトマスク材の2枚目に相当する部位の撮像
部位j(2、n、n)の中心部を赤外線撮像カメラ42
の焦点を合わせる。上述したX=1の部位(フォトマス
ク材の1枚目に相当する部位)とは、逆の順序で各セル
の撮像を行い、撮像部位j(n、n、n)まで撮像した
ら異物検出は完了する。
As shown in FIG. 14, the same steps as described above are repeated, and when the imaging of the imaging site j (1, n, n) is completed, the controller 7 operates the servomotor 23d to drive the screw shaft 23c. While rotating, the table 23a is advanced in the X-axis direction together with the X-axis table 23b while maintaining the positions in the Y-axis and Z-axis directions, and the imaging part corresponding to the second piece of the photomask material of the quartz glass ingot Ig The center of j (2, n, n) is located at the infrared imaging camera 42.
Focus on. The image of each cell is taken in the reverse order with respect to the above-described portion of X = 1 (the portion corresponding to the first photomask material). Complete.

【0086】第5の実施形態の異物検出装置51におい
ては、異物mの存在位置、大きさ、数量および材質を図
15に示すようにが表示することができる。また、検出
された異物mは石英ガラスインゴットIgの立体図上で
は、図4(c)のように表示することもできる。
In the foreign substance detection device 51 of the fifth embodiment, the position, size, quantity and material of the foreign substance m can be displayed as shown in FIG. Further, the detected foreign matter m can be displayed as shown in FIG. 4C on the three-dimensional view of the quartz glass ingot Ig.

【0087】さらに、異物材質名表示の以外の表示方法
として、異物の存在量、異物の大きさ、異物の材質によ
ってセルの色分け表示を行うことで、より容易に石英ガ
ラスインゴットIg内の異物の存在位置、存在量、材質
を判別することができて、石英ガラスインゴットIg内
の異物mを避けてフォトマスク材を生産性よく切出すこ
とができる。
Further, as a display method other than the display of the foreign material name, the color of the cell is displayed according to the amount of the foreign material, the size of the foreign material, and the material of the foreign material, so that the foreign material in the quartz glass ingot Ig can be more easily displayed. The existence position, the existence amount, and the material can be determined, and the photomask material can be cut out with high productivity while avoiding the foreign matter m in the quartz glass ingot Ig.

【0088】[0088]

【発明の効果】以上に述べたように本発明に係わる透明
体インゴットの異物検出装置によれば、透明体インゴッ
トに存在する異物を確実に検出することができる。
As described above, according to the apparatus for detecting foreign matter in a transparent ingot according to the present invention, foreign matter present in the transparent ingot can be reliably detected.

【0089】また、本発明に係わる透明体の製造方法に
よれば、透明体インゴットから透明体の切出しを無駄な
く生産性よく行うことができる。
Further, according to the method for manufacturing a transparent body according to the present invention, the transparent body can be cut out from the transparent body ingot with high productivity without waste.

【0090】移動手段により撮像位置および照射位置を
移動させるようにすれば、直方体の透明体インゴットの
異物を容易に検出できる。
If the image pickup position and the irradiation position are moved by the moving means, foreign matters in the rectangular parallelepiped transparent ingot can be easily detected.

【0091】移動手段を1次元ないし3次元に移動する
載置台とすれば、1次元撮像装置を用いても、直方体の
透明体インゴットの異物を容易に検出できる。
If the moving means is a mounting table that moves one-dimensionally or three-dimensionally, foreign substances in a rectangular parallelepiped transparent ingot can be easily detected even by using a one-dimensional imaging device.

【0092】検査光発生手段に蛍光灯を用い、撮像手段
にCCDセンサを用いれば、確実かつ効率的に透明体の
異物を検出できる。
If a fluorescent lamp is used for the inspection light generating means and a CCD sensor is used for the image pickup means, the transparent foreign matter can be detected reliably and efficiently.

【0093】検査光発生手段にレーザ光を用い、撮像手
段にCCDセンサを用いれば確実かつ効率的に透明体の
異物を検出できる。
If a laser beam is used for the inspection light generating means and a CCD sensor is used for the image pickup means, it is possible to reliably and efficiently detect the foreign matter on the transparent body.

【0094】CCDセンサに2次元CCDセンサを用い
れば、透明体の移動装置を簡単にしても、直方体の透明
体インゴットの異物を容易かつ確実に検出できる。
If a two-dimensional CCD sensor is used as the CCD sensor, foreign matter in a rectangular parallelepiped transparent ingot can be detected easily and reliably even if the moving device for the transparent body is simplified.

【0095】検査光発生手段にレーザ光を用い、撮像手
段に赤外線撮像装置を用いれば、異物の位置、大きさの
みならず、異物の材質まで知ることができる。
If laser light is used for the inspection light generating means and an infrared imaging device is used for the imaging means, not only the position and size of the foreign matter but also the material of the foreign matter can be known.

【0096】赤外線撮像装置に赤外線撮像カメラを用い
れば、透明体の移動装置を簡単にしても、異物の位置、
大きさのみならず、異物の材質まで知ることができる。
If an infrared imaging camera is used as the infrared imaging device, the position of foreign matter,
Not only the size but also the material of the foreign matter can be known.

【0097】異物情報が異物の位置情報であれば、異物
が存在する部位を避けて透明体の切出しを行うことがで
きて、透明体製造の生産性を上げることができる。
If the foreign substance information is the positional information of the foreign substance, the transparent body can be cut out while avoiding the part where the foreign substance exists, and the productivity of the transparent body production can be improved.

【0098】異物情報が異物の種類情報であるが、異物
が存在する部位を避けて透明体の切出しを行うことがで
きると共に、異物の混入工程を見付け出すのに便利であ
る。
Although the foreign substance information is the type information of the foreign substance, the transparent body can be cut out while avoiding the part where the foreign substance is present, and it is convenient to find the step of mixing the foreign substance.

【0099】透明体インゴットが石英ガラスインゴット
であり、透明体がフォトマスク材である場合には、特に
微細な異物の存在も許されないフォトマスク材の製造の
生産性を上げることができる。
In the case where the transparent body ingot is a quartz glass ingot and the transparent body is a photomask material, it is possible to increase the productivity of the production of a photomask material in which the presence of particularly fine foreign substances is not allowed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係わる透明体インゴットの異物検出装
置の第1の実施形態の説明図。
FIG. 1 is an explanatory view of a first embodiment of a foreign matter detecting device for a transparent ingot according to the present invention.

【図2】本発明に係わる透明体インゴットの異物検出装
置の第1の実施形態に用いられる画像処理・制御装置の
説明図。
FIG. 2 is an explanatory diagram of an image processing / control device used in the first embodiment of the foreign object detecting device for a transparent ingot according to the present invention.

【図3】本発明に係わる透明体の製造方法に使用される
切断装置の説明図。
FIG. 3 is an explanatory view of a cutting device used in the method of manufacturing a transparent body according to the present invention.

【図4】出力装置に出力された異物の表示状態を示す説
明図。
FIG. 4 is an explanatory diagram illustrating a display state of a foreign object output to an output device.

【図5】本発明に係わる透明体インゴットの異物検出装
置と切断装置の説明図。
FIG. 5 is an explanatory view of a foreign matter detecting device and a cutting device for a transparent body ingot according to the present invention.

【図6】本発明に係わる透明体インゴットの異物検出装
置の第2の実施形態の説明図。
FIG. 6 is an explanatory view of a second embodiment of the foreign object detecting device for a transparent ingot according to the present invention.

【図7】本発明に係わる透明体インゴットの異物検出装
置の第3の実施形態の説明図。
FIG. 7 is an explanatory view of a third embodiment of the foreign matter detecting device for a transparent ingot according to the present invention.

【図8】本発明に係わる透明体インゴットの異物検出装
置の第3の実施形態により検出された異物の部位を示す
説明図。
FIG. 8 is an explanatory diagram showing a portion of a foreign object detected by a third embodiment of the foreign object detection device for a transparent ingot according to the present invention.

【図9】本発明に係わる透明体インゴットの異物検出装
置の第4の実施形態の説明図。
FIG. 9 is an explanatory diagram of a fourth embodiment of the foreign matter detecting device for a transparent ingot according to the present invention.

【図10】本発明に係わる透明体インゴットの異物検出
装置の第4の実施形態による出力図。
FIG. 10 is an output diagram according to a fourth embodiment of the apparatus for detecting foreign matter in a transparent ingot according to the present invention.

【図11】本発明に係わる透明体インゴットの異物検出
装置の第4の実施形態により検出された異物の出力図。
FIG. 11 is an output diagram of foreign matter detected by a foreign matter detecting device for a transparent ingot according to a fourth embodiment of the present invention.

【図12】光学式による透明体インゴットの異物の出力
図。
FIG. 12 is an output diagram of foreign matters in a transparent ingot by an optical system.

【図13】本発明に係わる透明体インゴットの異物検出
装置の第5の実施形態の説明図。
FIG. 13 is an explanatory view of a fifth embodiment of the foreign matter detecting device for a transparent ingot according to the present invention.

【図14】本発明に係わる透明体インゴットの異物検出
装置の第5の実施形態の撮像順序を示す説明図。
FIG. 14 is an explanatory diagram showing an imaging order of a fifth embodiment of the foreign object detecting device for a transparent ingot according to the present invention.

【図15】本発明に係わる透明体インゴットの異物検出
装置の第5の実施形態により検出された異物の状態を示
す説明図。
FIG. 15 is an explanatory view showing a state of foreign matter detected by a fifth embodiment of the foreign matter detecting apparatus for a transparent ingot according to the present invention.

【図16】従来の異物検出方法の説明図。FIG. 16 is an explanatory diagram of a conventional foreign matter detection method.

【図17】石英ガラスインゴットからフォトマスク材を
切出す状態を示す説明図。
FIG. 17 is an explanatory view showing a state in which a photomask material is cut out from a quartz glass ingot.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 透明体インゴットの異物検出装置 2 蛍光灯 3 1次元CCDセンサ 4 リフトテーブル装置 4a リフトテーブル本体 4b サーボモータ 4c リニアスケール 5 画像処理装置 6 ディスプレイ 7 制御装置 Ig 石英ガラスインゴット 11 透明体インゴットの切断装置 12 バンドソー 13 装置基台 14 取付台 15a 送り装置スクリューシャフト 15b サーボモータ 16 切断装置制御手段 17 取付板 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Foreign substance detection device of transparent ingot 2 Fluorescent lamp 3 One-dimensional CCD sensor 4 Lift table device 4a Lift table main body 4b Servo motor 4c Linear scale 5 Image processing device 6 Display 7 Control device Ig Quartz glass ingot 11 Transparent device ingot cutting device DESCRIPTION OF SYMBOLS 12 Band saw 13 Device base 14 Mounting stand 15a Feeding device screw shaft 15b Servo motor 16 Cutting device control means 17 Mounting plate

─────────────────────────────────────────────────────
────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成11年7月7日(1999.7.7)[Submission date] July 7, 1999 (July 7, 1999)

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図5[Correction target item name] Fig. 5

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図5】 FIG. 5

フロントページの続き (72)発明者 金森 康紀 神奈川県秦野市曽屋30番地 東芝セラミッ クス株式会社開発研究所内 (72)発明者 山崎 啓介 神奈川県秦野市曽屋30番地 東芝セラミッ クス株式会社開発研究所内 (72)発明者 中澤 浩信 神奈川県秦野市曽屋30番地 東芝セラミッ クス株式会社開発研究所内 Fターム(参考) 2G051 AA56 AA61 AB06 AC04 BA10 CB02 DA07 EA12 3C069 AA01 CA04 CB05 EA01 Continuing on the front page (72) Inventor Yasunori Kanamori 30 Soya, Hadano-shi, Kanagawa Prefecture, Toshiba Ceramics Co., Ltd. (72) Inventor Keisuke Yamazaki 30 Soya, Hadano-shi, Kanagawa Toshiba Ceramics Co., Ltd. ) Inventor Hironobu Nakazawa 30 Soya, Hadano-shi, Kanagawa F-term in the development laboratory of Toshiba Ceramics Co., Ltd. (reference) 2G051 AA56 AA61 AB06 AC04 BA10 CB02 DA07 EA12 3C069 AA01 CA04 CB05 EA01

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数枚の透明体に切断される透明体イン
ゴットに検査光を照射する検査光発生手段と、透明体イ
ンゴットを撮像する撮像手段と、この撮像手段により撮
像される透明体インゴットの撮像位置を移動させる移動
手段と、前記撮像手段により撮像された透明体インゴッ
トに存在する異物の異物画像信号を受け、この異物画像
信号を異物情報にする画像処理手段と、この画像処理手
段で求めた異物情報を出力する出力手段と、前記検査光
発生手段、撮像手段、移動手段および画像処理手段を制
御する制御手段とを有することを特徴とする透明体イン
ゴットの異物検出装置。
1. An inspection light generating means for irradiating inspection light to a transparent body ingot cut into a plurality of transparent bodies, an imaging means for imaging the transparent body ingot, and a transparent body ingot imaged by the imaging means. Moving means for moving the imaging position, image processing means for receiving a foreign object image signal of a foreign substance present in the transparent body ingot imaged by the imaging means, and converting the foreign object image signal into foreign substance information; And a control unit for controlling the inspection light generating unit, the image pickup unit, the moving unit, and the image processing unit.
【請求項2】 上記移動手段は撮像手段により撮像され
る透明体インゴットの撮像位置および検査光により照射
される透明体インゴットの照射位置を移動させることを
特徴とする請求項1記載の透明体インゴットの異物検出
装置。
2. The transparent body ingot according to claim 1, wherein the moving means moves an imaging position of the transparent body ingot imaged by the imaging means and an irradiation position of the transparent body ingot irradiated by the inspection light. Foreign matter detection device.
【請求項3】 上記移動手段は透明体インゴットを移動
させる移動装置であることを特徴とする請求項2記載の
透明体インゴットの異物検出装置。
3. The apparatus for detecting foreign matter in a transparent ingot according to claim 2, wherein said moving means is a moving device for moving the transparent ingot.
【請求項4】 上記移動装置は1次元ないし3次元に移
動されることを特徴とする請求項3に記載の透明体イン
ゴットの異物検出装置。
4. The apparatus for detecting foreign matter in a transparent ingot according to claim 3, wherein the moving device is moved one-dimensionally or three-dimensionally.
【請求項5】 上記検査光発生手段は蛍光灯であり、撮
像手段はCCDセンサであることを特徴とする請求項1
ないし4のいずれか1項に記載の透明体インゴットの異
物検出装置。
5. The apparatus according to claim 1, wherein the inspection light generating means is a fluorescent lamp, and the imaging means is a CCD sensor.
5. The foreign matter detection device for a transparent body ingot according to any one of items 4 to 4.
【請求項6】 上記検査光発生手段はレーザ光発振装置
であり、撮像手段はCCDセンサであることを特徴とす
る請求項1ないし4のいずれか1項に記載の透明体イン
ゴットの異物検出装置。
6. The apparatus for detecting foreign matter in a transparent ingot according to claim 1, wherein said inspection light generating means is a laser light oscillating device, and said imaging means is a CCD sensor. .
【請求項7】 上記CCDセンサは2次元CCDセンサ
であることを特徴とする請求項5または6に記載の透明
体インゴットの異物検出装置。
7. The apparatus for detecting foreign matter in a transparent ingot according to claim 5, wherein the CCD sensor is a two-dimensional CCD sensor.
【請求項8】 上記検査光発生手段はレーザ光発振装置
であり、撮像手段は赤外線撮像装置であることを特徴と
する請求項1ないし4のいずれか1項に記載の透明体イ
ンゴットの異物検出装置。
8. The foreign matter detection of a transparent body ingot according to claim 1, wherein said inspection light generation means is a laser light oscillation device, and said imaging means is an infrared imaging device. apparatus.
【請求項9】 上記赤外線撮像装置は赤外線撮像カメラ
であることを特徴とする請求項8記載の透明体インゴッ
トの異物検出装置。
9. The apparatus according to claim 8, wherein the infrared imaging device is an infrared imaging camera.
【請求項10】 上記異物情報は異物の位置情報である
ことを特徴とする請求項1ないし9のいずれかに1項に
記載の透明体インゴットの異物検出装置。
10. The apparatus for detecting foreign matter in a transparent ingot according to claim 1, wherein the foreign matter information is position information of a foreign matter.
【請求項11】 上記異物情報は異物の種類情報である
ことを特徴とする請求項3または8または9に記載の透
明体インゴットの異物検出装置。
11. The foreign matter detecting device for a transparent ingot according to claim 3, wherein the foreign matter information is type information of the foreign matter.
【請求項12】 上記透明体インゴットは石英ガラスイ
ンゴットであり、透明体はフォトマスク材であることを
特徴とする請求項1ないし11のいずれか1項に記載の
透明体インゴットの異物検出装置。
12. The apparatus for detecting foreign matter in a transparent ingot according to claim 1, wherein the transparent ingot is a quartz glass ingot, and the transparent body is a photomask material.
【請求項13】 複数枚の透明体に切断される被検出透
明体インゴットを用意して、この透明体インゴットに検
査光を照射し、撮像位置を移動させながら透明体インゴ
ット全体を撮像して透明体インゴットに存在する異物を
撮像し、撮像された透明体インゴット中の異物の画像信
号を受け、この画像信号を異物情報にし、異物情報を出
力し、この出力された異物情報に基づき異物が存在する
部位を除外するように透明体インゴットから透明体を切
出すことを特徴とする透明体の製造方法。
13. A transparent body ingot to be detected, which is cut into a plurality of transparent bodies, is prepared, an inspection light is irradiated on the transparent body ingot, and the entire transparent body ingot is imaged while moving the imaging position to obtain a transparent body. A foreign object present in the body ingot is imaged, an image signal of the imaged foreign object in the transparent body ingot is received, the image signal is converted into foreign object information, foreign object information is output, and a foreign object is detected based on the output foreign object information. A method for manufacturing a transparent body, comprising cutting a transparent body from a transparent body ingot so as to exclude a part to be transparentized.
【請求項14】 上記透明体インゴットは石英ガラスイ
ンゴットであり、透明体はフォトマスク材であることを
特徴とする請求項13に記載の透明体の製造方法。
14. The method for manufacturing a transparent body according to claim 13, wherein the transparent body ingot is a quartz glass ingot, and the transparent body is a photomask material.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007041312A (en) * 2005-08-03 2007-02-15 Hoya Corp Method for manufacturing glass substrate for mask blank, method for manufacturing mask blank, method for manufacturing exposure mask, and defect inspection device
WO2010058759A1 (en) * 2008-11-20 2010-05-27 旭硝子株式会社 Transparent body inspecting device

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007041312A (en) * 2005-08-03 2007-02-15 Hoya Corp Method for manufacturing glass substrate for mask blank, method for manufacturing mask blank, method for manufacturing exposure mask, and defect inspection device
JP4688150B2 (en) * 2005-08-03 2011-05-25 Hoya株式会社 Mask blank glass substrate manufacturing method, mask blank manufacturing method, exposure mask manufacturing method, and defect inspection apparatus
WO2010058759A1 (en) * 2008-11-20 2010-05-27 旭硝子株式会社 Transparent body inspecting device
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